JP2808875B2 - Semiconductor device adsorption, separation and assembly equipment - Google Patents

Semiconductor device adsorption, separation and assembly equipment

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JP2808875B2 JP25316690A JP25316690A JP2808875B2 JP 2808875 B2 JP2808875 B2 JP 2808875B2 JP 25316690 A JP25316690 A JP 25316690A JP 25316690 A JP25316690 A JP 25316690A JP 2808875 B2 JP2808875 B2 JP 2808875B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、トランジスタ、ダイオード等の半導体素子
の電極極性を判別し、この極性及び形成せんとする回路
構成に応じて、素子取付用の組立用治具内に半導体素子
を組み合わせて挿入する半導体組立装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention determines the electrode polarity of a semiconductor element such as a transistor or a diode, and assembles the element according to the polarity and the circuit configuration to be formed. The present invention relates to a semiconductor assembling apparatus for combining and inserting semiconductor elements into a jig.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、トランジスタ、ダイオード等の半導体素子を回
路基板上に搭載する製造工程においては、形成される回
路構成に応じて予め半導体チップを組立用治具内に配列
挿入し、この組立用治具と回路基板とを組み合わせた状
態で過熱して半田等を溶融し、その後冷却して、回路基
板上に各半導体チップを設置していた。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a manufacturing process of mounting semiconductor elements such as transistors and diodes on a circuit board, semiconductor chips are arranged and inserted in an assembly jig in advance according to a circuit configuration to be formed, and the assembly jig and the circuit In the state where the semiconductor chip is combined with the board, the solder and the like are melted by overheating, and then cooled, and each semiconductor chip is placed on the circuit board.

上記の工程では、半導体素子の電極の極性を判別する
段階と、その極性及び回路構成に応じた配置及び配列
で、半導体素子を組立用治具内に挿入する段階とを要す
るが、これら極性判定及び組立用治具内への挿入作業は
人が手作業で行なっているのが現状である。この作業で
は、半導体装置を保持するための真空吸着装置と、多数
の半導体素子を1つずつ整列分離するための振動式分離
装置とを個別に用いる場合がある。この真空吸着装置
を、真空装置に接続された吸入チューブ等の先端部に吸
着ノズルを設けたもので、この吸着ノズルを半導体素子
に接触させて、大気圧との圧力差により半導体素子を吸
着保持するものである。この場合、吸着ノズルと半導体
素子の吸着を解除する際には、吸着ノズル内の圧力を大
気圧に戻すか、又は、逆に吸着ノズル内を若干の過圧状
態とすることによって行なう。一方、振動式の分離装置
とは、例えば、螺旋状に上昇する溝が設けられた容器内
に多数の半導体素子を収め、この容器に振動を与えるこ
とによって、半導体素子がその螺旋状の溝内を1つずつ
整列した状態で上昇してくるようにしたものである。
The above process requires a step of determining the polarity of the electrode of the semiconductor element and a step of inserting the semiconductor element into the assembly jig in an arrangement and arrangement according to the polarity and the circuit configuration. At present, humans manually perform the insertion work into the assembly jig. In this operation, a vacuum suction device for holding a semiconductor device and a vibration type separation device for aligning and separating a large number of semiconductor elements one by one may be used separately. This vacuum suction device is provided with a suction nozzle at the tip of a suction tube or the like connected to the vacuum device. The suction nozzle is brought into contact with the semiconductor element, and the semiconductor element is suction-held by a pressure difference from the atmospheric pressure. Is what you do. In this case, when the suction between the suction nozzle and the semiconductor element is released, the pressure in the suction nozzle is returned to the atmospheric pressure, or conversely, the pressure in the suction nozzle is slightly increased. On the other hand, a vibration type separation device is, for example, a method in which a large number of semiconductor elements are placed in a container provided with a spirally rising groove, and the semiconductor element is placed in the spiral groove by applying vibration to the container. Are raised one by one in an aligned state.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

しかしながら、上記従来の真空吸着装置では、吸着ノ
ズル内を大気圧に戻した場合でも、半導体素子、吸着ノ
ズルが帯電し、その静電気力で両者の吸着が解除されな
いという問題が発生する。また、これを避けるために吸
着ノズル内を若干の過圧状態とする場合には、半導体素
子がその圧力差によって吹き飛んでしまうという問題が
ある。
However, in the above-described conventional vacuum suction device, even when the pressure inside the suction nozzle is returned to the atmospheric pressure, there is a problem that the semiconductor element and the suction nozzle are charged and the suction of the two is not released by the electrostatic force. Further, when the inside of the suction nozzle is slightly overpressurized to avoid this, there is a problem that the semiconductor element is blown off due to the pressure difference.

一方、振動式の分離装置は本来的に分離効率が低い上
に、半導体素子が絡み合ったり、分離するために長い時
間を要するという問題点があり、更に、その振動によっ
て半導体素子に傷、欠け等が生じ、逆にこれらの傷、欠
けの発生を防止せんとして振動量を減少させると、半導
体素子の分離効率が更に低下する。
On the other hand, the vibration type separation device has a problem that the separation efficiency is inherently low, the semiconductor elements are entangled, and a long time is required to separate the semiconductor elements. When the amount of vibration is reduced to prevent the occurrence of these scratches and chips, the separation efficiency of the semiconductor element is further reduced.

更に、上記の吸着装置及び分離装置があるとは言え、
半導体素子の極性判定や組立用治具への挿入作業などは
作業者の手作業で行なわれているため、作業効率が悪い
うえに半導体素子の破損、半導体素子の組合せ不良等が
多発していた。
Furthermore, although there are the above adsorption devices and separation devices,
Since the polarity determination of the semiconductor element and the work of inserting the semiconductor element into the assembly jig are manually performed by an operator, the work efficiency is poor, and the semiconductor element is damaged, and the semiconductor element is not properly combined. .

そこで、本発明は上記問題点を解決するものであり、
その課題は、機械的な吸着解除手段を設けることによ
り、吸着解除を確実かつ静穏に行なえる吸着装置とし、
間欠回転を利用した分離装置とすることにより、半導体
素子を破損せずに高い分離効率を達成し、また、この吸
着装置の組合せ及び分離装置とにより、半導体素子の極
性判定と、組立用治具への挿入を自動的に行なう半導体
組立装置を提供することにある。
Therefore, the present invention is to solve the above problems,
The problem is to provide a suction device that can perform suction release reliably and quietly by providing mechanical suction release means,
The separation device utilizing intermittent rotation achieves high separation efficiency without damaging the semiconductor element. In addition, the combination of the adsorption device and the separation device enables the polarity determination of the semiconductor element and the jig for assembly. It is an object of the present invention to provide a semiconductor assembling apparatus for automatically inserting a semiconductor device.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

上記課題を解決するために、本発明が講じた手段は、
以下の通りである。
Means taken by the present invention to solve the above problems are:
It is as follows.

半導体素子吸着装置としては、内部に吸入孔と、該吸
入孔の先端部に設けられた吸着ノズルと、該吸入孔内に
挿入された可動軸と、該可動軸を前記吸入孔の軸線方向
に移動させるべき可動軸駆動手段と、を有しており、前
記可動軸は、その軸周表面に螺旋状の溝が形成されてい
ることを特徴とする 次に、半導体組立装置としては、底面と該底面の周縁
部に形成された側面とを有し、該底面上に外周に沿って
並列した複数の素子固定用凹部を有する回転テーブル
を、水平面から所定角度傾けて設置し、該回転テーブル
を所定回転角度及び所定速度で間欠的に回転さすべき間
欠回転駆動手段を備えた半導体素子分離装置と、導体製
の前記吸着ノズルを備えた前記半導体素子吸着装置とを
用いて成り、前記半導体素子吸着装置の2組が並列設置
され、該半導体素子吸着装置の下方には前記半導体素子
分離装置を有し、前記半導体素子吸着装置の2組の前記
吸着ノズルに半導体素子の極性判定用電圧を供給して該
半導体素子の電流特性を検出すべき2つの端子をもつ極
性判定装置を備えており、2組の前記半導体素子吸着装
置のそれぞれに対して、旋回移動させるべき旋回駆動手
段と、上下移動させるべき昇降駆動手段と、水平方向に
移動させるべき並進駆動手段とを有することを特徴とす
る 〔作用〕 かかる手段によれば、半導体素子吸着装置において
は、吸入孔内に可動軸を設置し、これを軸線方向に移動
する可動軸駆動手段を設けたので、吸着解除時には、ノ
ズル内の圧力を大気圧に戻した上で、この可動軸を先端
部の吸着ノズル内から突出させて、吸着ノズルに接して
いる半導体素子を静かに押し離すことができる。この結
果、従来問題になっていた静電気による吸着解除不能、
及び加圧による半導体素子の離散を防止できる。特に、
可動軸の軸周表面に螺旋状の溝が形成されているため、
その螺旋状の溝が吸入断面を実質的に増加させることに
なるので、吸着力を確保又は増大させることができ、吸
着ノズルの先細化を実現できる。このため、細小な半導
体素子の吸着も押し離しも可能となる。
As the semiconductor element suction device, a suction hole is provided therein, a suction nozzle provided at a tip end of the suction hole, a movable shaft inserted into the suction hole, and the movable shaft is moved in the axial direction of the suction hole. And a movable shaft driving means to be moved, wherein the movable shaft has a spiral groove formed on a peripheral surface of the shaft. A rotary table having a plurality of element fixing recesses arranged in parallel along the outer periphery on the bottom surface, the rotary table having a side surface formed at the peripheral portion of the bottom surface, and being installed at a predetermined angle from a horizontal plane, A semiconductor element separation device including an intermittent rotation driving means for intermittently rotating at a predetermined rotation angle and a predetermined speed; and the semiconductor element suction device including the conductor-made suction nozzle, the semiconductor element suction device comprising: Two sets of equipment are installed in parallel The semiconductor device separating device is provided below the semiconductor device sucking device, and a voltage for determining the polarity of the semiconductor device is supplied to two sets of the suction nozzles of the semiconductor device sucking device to change the current characteristic of the semiconductor device. A polarity judging device having two terminals to be detected, a turning drive means for turning and a lifting drive means for moving up and down, and a horizontal direction for each of the two sets of the semiconductor element suction devices; According to such means, in the semiconductor device suction device, a movable shaft is provided in the suction hole, and the movable shaft is moved in the axial direction. Since the driving means is provided, when the suction is released, the pressure in the nozzle is returned to the atmospheric pressure, and then the movable shaft is protruded from the suction nozzle at the front end, so that the semiconductor element in contact with the suction nozzle is released. It can be separated gently press. As a result, it was impossible to release adsorption due to static electricity,
In addition, the semiconductor elements can be prevented from being separated by pressurization. Especially,
Since a spiral groove is formed on the peripheral surface of the movable shaft,
Since the spiral groove substantially increases the suction cross section, the suction force can be secured or increased, and the suction nozzle can be tapered. For this reason, it becomes possible to adsorb and push small semiconductor elements.

半導体素子分離装置では、従来の振動の代わりに、回
転テーブルの間欠運動による回転開始時及び回転停止時
の慣性力及び遠心力により、回転テーブル上で半導体素
子を円周方向及び外周方向に向かって移動させることが
できる。回転テーブルは水平面から所定角度で傾斜して
いるので、半導体素子は回転テーブルの底面上の最も低
い位置に集積されるが、間欠回転に基づく移動により、
半導体素子は底面の外周に沿って形成された凹部に1つ
ずつ嵌入し、間欠回転に伴って高い位置に少しずつ上昇
していくことになる。この場合、半導体素子の分離効率
は間欠回転の回転速度、間欠角度を調整することによっ
て容易に高めることができるが、回転による遠心力は回
転テーブルの動径方向に沿って半導体素子を自然に分離
する方向に力を及ぼすこと、間欠運動による慣性力は集
積されている各半導体素子に対し同一方向に作用するた
め半導体素子間の衝突が振動式よりも少なくかつ弱いこ
と、分離後は半導体素子が凹部に1つずつ嵌入して回転
していくことから半導体素子の破壊要因の一つである分
離後の半導体素子間の衝突がないことなどの理由によ
り、上記間欠回転の条件に加えて回転テーブルの傾斜角
を適切に調整することで分離効率を落とさずに半導体素
子の傷、欠け等を少なくすることが可能である。
In the semiconductor device separating apparatus, instead of the conventional vibration, the semiconductor device is moved in the circumferential direction and the outer circumferential direction on the rotary table by the inertial force and the centrifugal force at the time of rotation start and rotation stop due to the intermittent motion of the rotary table. Can be moved. Since the rotary table is inclined at a predetermined angle from the horizontal plane, the semiconductor elements are integrated at the lowest position on the bottom surface of the rotary table, but by the movement based on the intermittent rotation,
The semiconductor elements are fitted one by one into recesses formed along the outer periphery of the bottom surface, and gradually rise to higher positions with intermittent rotation. In this case, the separation efficiency of the semiconductor element can be easily increased by adjusting the rotation speed and the intermittent angle of the intermittent rotation, but the centrifugal force due to the rotation naturally separates the semiconductor element along the radial direction of the rotary table. In other words, the inertial force due to the intermittent motion acts on the integrated semiconductor elements in the same direction, so that collisions between the semiconductor elements are smaller and weaker than the vibration type. In addition to the above-mentioned intermittent rotation conditions, the rotary table is added to the above-described intermittent rotation because, for example, there is no collision between the separated semiconductor elements, which is one of the causes of destruction of the semiconductor elements because the semiconductor elements are inserted one by one into the recesses and rotated. By appropriately adjusting the inclination angle of the semiconductor device, it is possible to reduce scratches, chipping, and the like of the semiconductor element without lowering the separation efficiency.

上記の半導体素子吸着装置及び半導体素子分離装置を
用いた半導体組立装置では、並列設置されている2組の
半導体素子吸着装置のうち、片方の吸着装置の吸着ノズ
ルにより分離装置の回転テーブル上から分離された半導
体素子を吸着保持し、旋回駆動手段により2組の吸着ノ
ズルの先端を対向する位置に旋回移動させることによ
り、該半導体素子が2組の吸着ノズルによって挟持され
た状態とすることができる。ここで、これらの吸着ノズ
ルは導体製であり、極性判定装置の2つの端子にそれぞ
れ接続されていることから、上記の状態で半導体装置の
極性判定を行なうことができる。この極性判定は、両吸
着ノズル間に正負の電圧を印加して半導体素子の整流特
性等を測定検出することによってなされるものである。
この極性判定の結果と半導体素子の組立用治具への挿入
方向との兼ね合いにより、両吸着ノズルのうち何れの吸
着ノズルで把持するかを判断して、必要であれば、当初
把持していた吸着ノズルからもう一方の吸着ノズルに持
ち替えるた後、再び、旋回駆動手段により両吸着ノズル
を離反させ、この後、半導体素子を保持している吸着ノ
ズルを昇降駆動手段又は並進駆動手段により移動させ
て、組立用治具の所定挿入部まで半導体素子を運び、最
後に可動軸の操作により吸着を解除して、組立用治具内
に半導体素子を挿入することができる。
In the semiconductor assembling apparatus using the above-described semiconductor device suction device and the semiconductor device separation device, of the two sets of semiconductor device suction devices installed in parallel, the separation nozzle is separated from the rotary table of the separation device by the suction nozzle of one of the suction devices. By holding the semiconductor element thus sucked and rotating the tip ends of the two sets of suction nozzles to opposing positions by the turning drive means, the semiconductor element can be brought into a state of being sandwiched by the two sets of suction nozzles. . Here, these suction nozzles are made of a conductor and are connected to the two terminals of the polarity determination device, respectively, so that the polarity of the semiconductor device can be determined in the above state. This polarity determination is performed by applying a positive or negative voltage between the two suction nozzles and measuring and detecting the rectification characteristics and the like of the semiconductor element.
Based on the result of this polarity determination and the direction in which the semiconductor element is inserted into the jig for assembly, it is determined which of the two suction nozzles is to be gripped. After switching from the suction nozzle to the other suction nozzle, the two suction nozzles are separated again by the turning drive means, and thereafter, the suction nozzle holding the semiconductor element is moved by the lifting drive means or the translation drive means. The semiconductor element can be carried to a predetermined insertion portion of the assembly jig, and finally, the suction can be released by operating the movable shaft, and the semiconductor element can be inserted into the assembly jig.

この組立装置によれば、半導体素子の極性判定から組
立用治具への挿入までを一連の動作で行なうことがで
き、また、極性判定の結果と組立用治具への挿入方向に
応じて、半導体素子の保持面を持ち替えを要する場合が
あるが、上記のように、この持ち替えの要否に拘わらず
全く同一の動作で対処できることから、作業効率を著し
く向上させることができる。
According to this assembling apparatus, from the polarity determination of the semiconductor element to the insertion into the assembly jig can be performed in a series of operations, and according to the result of the polarity determination and the direction of insertion into the assembly jig, In some cases, it is necessary to change the holding surface of the semiconductor element, but as described above, the operation can be dealt with by exactly the same operation irrespective of the necessity of the change, so that the working efficiency can be significantly improved.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の実施例を添付図面に基づいて説明す
る。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

第1図(a)及び(b)に本発明による半導体素子吸
着装置の実施例の構造を示す。ここで、第1図(a)に
示す吸着装置Aにおいては、ブロック1に挿入固定さ
れ、又は、所定のストロークで上下に摺動可能に取付け
られた導体製の円筒部材2の先端部には、これも導体製
の吸着ノズル3が嵌入されており、この円筒部材2の吸
入孔2aと吸着ノズル3内には、螺旋溝4aをその外周表面
に有する可動軸4が挿入されている。可動軸4は支承部
材6と一体化されており、円筒部材2と支承部材6間に
は、可動軸4を支持するためのスプリング5が配置さ
れ、この支承部材6は、その上方にあるエアーシリンダ
7によって、上下に移動されるようになっている。円筒
部材2には、真空装置から延長するチューブ8がブロッ
ク1を介して吸入孔2aに接続されている。
1 (a) and 1 (b) show the structure of an embodiment of a semiconductor device suction apparatus according to the present invention. Here, in the suction device A shown in FIG. 1 (a), the tip of a cylindrical member 2 made of a conductor, which is inserted and fixed to the block 1 or is slidably mounted vertically with a predetermined stroke, Also, a suction nozzle 3 made of a conductor is fitted therein, and a movable shaft 4 having a spiral groove 4a on its outer peripheral surface is inserted into the suction hole 2a and the suction nozzle 3 of the cylindrical member 2. The movable shaft 4 is integrated with a support member 6, and a spring 5 for supporting the movable shaft 4 is disposed between the cylindrical member 2 and the support member 6, and the support member 6 is provided with air above it. The cylinder 7 can be moved up and down. A tube 8 extending from the vacuum device is connected to the cylindrical member 2 via the block 1 to the suction hole 2a.

また、第1図(b)に示す吸着装置A′のように、吸
着ノズル3′がスプリング5′によって弾力的に上下に
摺動可能に取付けられる場合もある。
Further, as in a suction device A 'shown in FIG. 1 (b), the suction nozzle 3' may be attached by a spring 5 'so as to be elastically slidable up and down.

この吸着装置AまたはA′によれば、吸着ノズル3ま
たは3′の先端部に半導体素子の電極面を接触させる
と、吸入孔2a内の負圧によって、本導体素子を吸着し保
持することができる。ここで、吸着装置Aでは円筒部材
2の摺動により、又、吸着装置A′では、吸着ノズル
3′の摺動により、半導体素子をソフトに吸着すること
ができ、しかも異なる厚さをもった半導体素子に対応す
ることが可能となる。
According to the suction device A or A ', when the electrode surface of the semiconductor element is brought into contact with the tip of the suction nozzle 3 or 3', the present conductor element can be sucked and held by the negative pressure in the suction hole 2a. it can. Here, the semiconductor device can be softly sucked by the sliding of the cylindrical member 2 in the suction device A and by the sliding of the suction nozzle 3 'in the suction device A', and have different thicknesses. It is possible to correspond to a semiconductor element.

一方、吸着ノズル3または3′の径は通常1.5mmΦ程
度の半導体素子に合わせて充分に細く形成されしかも可
動軸4が挿入されていることから、吸入断面積が少なく
なり吸着力が弱くなるおそれがある。しかし、可動軸4
の吸入孔2a内に挿入されている部分には螺旋溝4aが切ら
れているため、実質的な吸入断面積が増加し、充分な吸
着力を確保することができる。
On the other hand, the diameter of the suction nozzle 3 or 3 'is usually sufficiently small to fit a semiconductor element having a diameter of about 1.5 mm, and since the movable shaft 4 is inserted, the suction cross-sectional area is reduced and the suction power may be weakened. There is. However, the movable shaft 4
Since the spiral groove 4a is cut in a portion inserted into the suction hole 2a, a substantial suction cross-sectional area increases, and a sufficient suction force can be secured.

半導体素子の吸着を解除する場合には、エアシリンダ
ー7によって可動軸4を下降させ、半導体素子の吸着面
を押し離すことにより、静かに半導体素子を離脱させる
ことができる。
When the suction of the semiconductor element is released, the movable shaft 4 is lowered by the air cylinder 7 and the suction surface of the semiconductor element is pushed away, whereby the semiconductor element can be gently released.

次に、第2図(a)〜(c)を参照して、半導体素子
分離装置Bの構造を説明する。間欠駆動式のモーターの
中空孔11aをもつ回転部11が台座10上に設置されてお
り、この回転部11にはテーブルフランジ12がボルト13に
よって固定されている。このテーブルフランジ12の内部
には軸承部材14が固着され、この軸承部材14には、上端
に係合部15aをもつ支承軸15が通入されている。テーブ
ルフランジ12の上には回転テーブル18が載置される。回
転テーブル18の裏面に圧入されたボルト19は支承軸15の
係合部15a内に差し込まれ、また、テーブルフランジ12
に支持されたボルト20を回転テーブル18の側壁部に当接
させることによって、回転テーブル18はテーブルフラン
ジ12と一体に回転するように固定されている。回転テー
ブル18の外周部下面側には位置決め用ピン18aが設置さ
れており、台座10上に固定された支持部材21に支持され
ている位置検出センサ22により、その位置決め用ピン18
aの存否を検出できるようになっている。
Next, the structure of the semiconductor element isolation device B will be described with reference to FIGS. A rotating part 11 having a hollow hole 11a of an intermittent drive type motor is provided on a pedestal 10, and a table flange 12 is fixed to the rotating part 11 by bolts 13. A bearing member 14 is fixed inside the table flange 12, and a bearing shaft 15 having an engaging portion 15a at an upper end is inserted into the bearing member 14. A rotary table 18 is mounted on the table flange 12. The bolt 19 press-fitted on the back surface of the rotary table 18 is inserted into the engagement portion 15a of the support shaft 15, and the table flange 12
The rotary table 18 is fixed so as to rotate integrally with the table flange 12 by contacting the bolt 20 supported by the rotary table 18 with the side wall of the rotary table 18. A positioning pin 18a is provided on the lower surface side of the outer peripheral portion of the rotary table 18, and the positioning pin 18a is provided by a position detection sensor 22 supported by a support member 21 fixed on the pedestal 10.
The existence of a can be detected.

第2図(b)に示すように、回転テーブル18の上部
は、底面18bと側面18cで形成された素子受容部を備えて
おり、その底面18bの外周部には、第2図(c)に示す
半導体素子23が充分に収まる形状の凹部24が回転中心に
対して対称に16個又は32個配列されている。この凹部24
は、側面18cから1mm離れた位置に、深さが半導体素子の
厚さの半分となるように形成されている。
As shown in FIG. 2 (b), the upper portion of the turntable 18 has an element receiving portion formed by a bottom surface 18b and side surfaces 18c. 16 or 32 concave portions 24 are arranged symmetrically with respect to the center of rotation. This recess 24
Is formed at a position 1 mm away from the side surface 18c so that the depth is half the thickness of the semiconductor element.

この回転テーブル18は、その底面18bが水平面から25
〜35度の範囲の角度で傾斜して回転させることが望まし
い。この角度が大きすぎる場合には半導体素子23が回転
テーブル18上から飛び出すおそれがあり、逆に、角度が
小さいと半導体素子23の分離が不可能になる。このため
に台座10は装置本体に対して傾斜角度を調整できるよう
になっている。このように底面18bが傾斜していること
により、回転テーブル18上に載せられた半導体素子23
は、底面18b上の最も低い位置に集積しているが、この
状態でモーターを1サイクル0.2〜0.5秒で間欠的に駆動
させる。1サイクルの回転角度は、底面18b上に形成さ
れた凹部24が16個形成されている場合には22.5度、36個
形成されている場合には10度であり、各凹部24間の1間
隔に対応して回転するようになっている。この間欠回転
の起動及び停止時における慣性力により、底面18bの下
部に集積していた半導体素子23が底面18b上を少しずつ
移動して、分散しながら凹部24に1つずつ嵌入されると
ともに、その嵌入された半導体素子23は、間欠回転に伴
って回転テーブルの傾斜によりその上部側に移動してく
る。このようにして各凹部24ごとに分離された半導体素
子23は、従来の振動式の分離装置と異なり、半導体素子
23に与える衝撃が弱く、半導体素子23の傷、欠けの発生
を防止することができる。しかし、回転に基づく遠心力
の発生により底面18b上の最下部に集積していた半導体
素子23が底面18bの外周に沿って拡がること、凹部24に
嵌入して分離された半導体素子23は、間欠回転によっ
て、極めて早く上部側に移動すること等により、その分
離効率(例えば、単位時間当たりに分離可能な半導体素
子23の数)を従来装置以上に保つことができる。しか
も、間欠回転の角度、回転速度及び回転テーブルの傾斜
角度を調整することにより、この分離効率と半導体素子
23へのダメージの少なさの双方を高いレベルで両立させ
ることができる。
The turntable 18 has a bottom surface 18b that is 25 degrees above a horizontal plane.
It is desirable to rotate at an angle in the range of ~ 35 degrees. If the angle is too large, the semiconductor element 23 may jump out of the turntable 18. Conversely, if the angle is small, the semiconductor element 23 cannot be separated. For this purpose, the pedestal 10 can adjust the inclination angle with respect to the apparatus main body. Since the bottom surface 18b is inclined as described above, the semiconductor element 23 placed on the turntable 18 is
Are integrated at the lowest position on the bottom surface 18b, but in this state, the motor is intermittently driven in one cycle of 0.2 to 0.5 seconds. The rotation angle of one cycle is 22.5 degrees when 16 recesses 24 formed on the bottom surface 18b are formed, and 10 degrees when 36 recesses 24 are formed. It is designed to rotate in response to. Due to the inertial force at the time of starting and stopping the intermittent rotation, the semiconductor elements 23 integrated at the lower portion of the bottom surface 18b move little by little on the bottom surface 18b and are fitted one by one into the concave portions 24 while being dispersed, The fitted semiconductor element 23 moves to the upper side due to the inclination of the turntable with the intermittent rotation. The semiconductor element 23 separated for each recess 24 in this way is different from the conventional vibration type separation device,
The impact given to the semiconductor element 23 is weak, and it is possible to prevent the semiconductor element 23 from being damaged or chipped. However, due to the centrifugal force generated due to the rotation, the semiconductor element 23 integrated at the bottom on the bottom surface 18b expands along the outer periphery of the bottom surface 18b, and the semiconductor element 23 fitted and separated into the concave portion 24 is intermittent. The separation efficiency (for example, the number of semiconductor elements 23 that can be separated per unit time) can be kept higher than that of the conventional device by moving to the upper side very quickly by rotation. In addition, by adjusting the angle of the intermittent rotation, the rotation speed, and the inclination angle of the rotary table, the separation efficiency and the semiconductor element can be improved.
Both low damage to 23 can be balanced at a high level.

次に、本発明の半導体組立装置の実施例を第3図〜第
7図を参照して説明する。
Next, an embodiment of a semiconductor assembling apparatus according to the present invention will be described with reference to FIGS.

第3図には、第1図に示した吸着装置Aの半導体組立
装置に対する接続部分を示す。第3図(a)に示すよう
に、吸着装置Aのブロック1は、スライドベアリング30
を介して支持ブロック31に接続され、この支持ブロック
31はボルト32により旋回軸33に固定されている。また、
吸着装置Aをスライドベアリング30により上下に移動可
能とするために、第3図(b)に示すように調整ネジ34
により位置を変えられる調整ブロック35を介して、支持
ブロック31に昇降エアシリンダ36が取り付けられ、その
昇降軸37の移動に伴って固定部材38の固着したブロック
1が移動するようになっている。
FIG. 3 shows a connection portion of the suction device A shown in FIG. 1 to a semiconductor assembly device. As shown in FIG. 3A, the block 1 of the suction device A includes a slide bearing 30.
This support block is connected to the support block 31 via
31 is fixed to a turning shaft 33 by bolts 32. Also,
In order to move the suction device A up and down by the slide bearing 30, as shown in FIG.
An elevating air cylinder 36 is attached to the support block 31 via an adjustment block 35 whose position can be changed by, and the block 1 to which the fixing member 38 is fixed moves as the elevating shaft 37 moves.

一方、第3図(a)に示された旋回軸33は、第4図に
示す旋回ユニットCに接続され、これによって、吸着装
置Aが旋回軸33を中心に90度の範囲内で回転できるよう
になっている。この旋回ユニットCは、旋回軸33を旋回
ベアリング42を介して旋回ブロック41及び旋回ナット43
で支持し、カップリング44によりロータリーシリンダ45
に接続して回転させるものである。この背面部には、回
転範囲を限定するためにストッパ板46及びストッパ47が
設置されている。更に、この旋回ユニットCは、上下エ
アシリンダ50の上下軸51及び取付ブロック49に固定され
ており、この取付ブロック49は、上下エアシリンダ50の
本体に固定された上下ブロック52に対しスライドベアリ
ング53を介して摺動自在に設置されている。これらの上
下エアシリンダ50、上下軸51、上下ブロック52及びスラ
イドベアリング53は、吸着装置A及び旋回ユニットCを
上下に移動させるための上下ユニットDを構成してい
る。
On the other hand, the turning shaft 33 shown in FIG. 3A is connected to the turning unit C shown in FIG. 4, so that the suction device A can rotate around the turning shaft 33 within a range of 90 degrees. It has become. The swivel unit C includes a swivel shaft 33 and a swivel block 41 and a swivel nut 43 via a swivel bearing 42.
And a rotary cylinder 45 with a coupling 44.
It is connected to and rotated. A stopper plate 46 and a stopper 47 are provided on the rear surface to limit the rotation range. Further, the revolving unit C is fixed to the upper and lower shafts 51 of the upper and lower air cylinders 50 and a mounting block 49, and the mounting block 49 is provided with a slide bearing 53 with respect to the upper and lower blocks 52 fixed to the main body of the upper and lower air cylinders 50. It is slidably installed through the. The upper and lower air cylinders 50, the upper and lower shafts 51, the upper and lower blocks 52 and the slide bearings 53 constitute an upper and lower unit D for moving the suction device A and the turning unit C up and down.

次に、この上下ユニットDの上下ブロック52は、第5
図(a)に示すスライドユニットEのスライドベース64
に接続されている。このスライドユニットEは、吸着装
置A、旋回ユニットC及び上下ユニットDの全体を水平
方向に移動させるためのものである。第5図(a)はそ
の側面図、第5図(b)は第5図(a)のA−A′平面
から見た矢視図である。上面ベース60、サイドベース6
1、62で囲まれた内部には、スライドベース64に固定さ
れたスライドブロック63がスライド軸65に対して摺動可
能に取り付けられており、スライドベース64は、シリン
ダ取付部材66を介して上面ベースに固定されたスライド
エアシリンダ67の駆動軸68によって、左右に移動するよ
うになっている。この移動量は、スライドブロック63に
固定されたスロッパ69と、マイクロメータ71及び固定ネ
ジ72により位置調整可能なストッパ板70とによって制限
される。
Next, the upper and lower blocks 52 of the upper and lower unit D
The slide base 64 of the slide unit E shown in FIG.
It is connected to the. The slide unit E is for moving the suction device A, the turning unit C and the vertical unit D as a whole in the horizontal direction. FIG. 5 (a) is a side view thereof, and FIG. 5 (b) is a view as seen from an AA 'plane of FIG. 5 (a). Top base 60, side base 6
A slide block 63 fixed to a slide base 64 is slidably mounted on a slide shaft 65 in the interior surrounded by 1 and 62. The slide base 64 is mounted on a top surface via a cylinder mounting member 66. The drive shaft 68 of the slide air cylinder 67 fixed to the base moves left and right. This movement amount is limited by a dropper 69 fixed to the slide block 63 and a stopper plate 70 whose position can be adjusted by a micrometer 71 and a fixing screw 72.

このスライドユニットEには、第6図に示すように、
同一の吸着装置A、旋回ユニットC、上下ユニットDか
らなる構成部材が2組接続され、その片方の構成部分に
は、これらの下方に設置される分離装置Bの回転テーブ
ル18上から半導体素子23を取り上げるために、回転軸75
が設けられており、フック76を介して接続されたエアシ
リンダ77の駆動軸78によって、回転軸75を中心として30
度程度、構成部分全体を移動できるようになっている。
ここで、エアシリンダ77は、L金具79を介してスライド
ユニットEとの接続部分に固定されている。
This slide unit E has, as shown in FIG.
Two sets of components including the same suction device A, turning unit C, and upper and lower unit D are connected, and one of the components is connected to the semiconductor device 23 from the rotary table 18 of the separation device B installed below these components. To take up the axis of rotation 75
Is provided, and a drive shaft 78 of an air cylinder 77 connected through a hook 76 allows a rotation about a rotation shaft 75 as a center.
The entire component can be moved about a degree.
Here, the air cylinder 77 is fixed to a connection portion with the slide unit E via an L fitting 79.

この構成部分の作動状態を以下に説明する。 The operation of this component will be described below.

エアシリンダ77を作動させ、第6図のaの位置で回転
テーブル18の凹部24から半導体素子23を左側の吸着ノズ
ル3で取り上げた後、一度図中のbの位置まで吸着ノズ
ル3を戻し、ここから旋回ユニットCを作動させて、b
からcの位置まで吸着ノズル3を移動する。この状態で
右側の吸着ノズル3も同様に旋回させて、半導体素子23
が左右の吸着ノズル3に挟まれた状態とする。ここで、
左右の吸着ノズル3は極性判定機の2つの判定用端子に
接続されており、吸着ノズル3を電極として半導体素子
23の極性判定を行なうことができる。この極性判定は、
2つの判定用端子間に所定電圧を印加し、その電圧極性
を反転させた場合の半導体素子23のインピーダンス値等
を測定することによって行なわれる。この極性判定が終
了した後、その判定結果及び組立用治具に挿入する方向
に応じて、左右どちらかの吸着ノズル3を選択して吸着
させた状態とし、再び旋回ユニットを作動させて左右の
吸着ノズル3を離反させる。この後は、その左右何れか
の吸着ノズル3に保持された半導体素子23を組立用治具
上に運搬し、吸着装置Aの可動軸4を移動させて、半導
体素子23の組立用治具内に挿入する。
After operating the air cylinder 77 and picking up the semiconductor element 23 from the concave portion 24 of the turntable 18 with the suction nozzle 3 on the left side at the position a in FIG. 6, the suction nozzle 3 is returned to the position b in FIG. From here, the swing unit C is operated, and b
The suction nozzle 3 is moved from the position to the position c. In this state, the suction nozzle 3 on the right side is also swirled in the same manner so that the semiconductor element 23
Is sandwiched between the left and right suction nozzles 3. here,
The left and right suction nozzles 3 are connected to two determination terminals of a polarity determination device, and the suction nozzle 3 is used as an electrode to form a semiconductor element.
23 polarity determinations can be made. This polarity judgment is
This is performed by applying a predetermined voltage between the two determination terminals and measuring the impedance value and the like of the semiconductor element 23 when the voltage polarity is inverted. After the polarity determination is completed, one of the left and right suction nozzles 3 is selected and sucked in accordance with the result of the determination and the direction of insertion into the assembly jig. The suction nozzle 3 is moved away. Thereafter, the semiconductor element 23 held by one of the suction nozzles 3 on the left and right sides is transported onto an assembling jig, and the movable shaft 4 of the suction device A is moved to move the semiconductor element 23 into the assembling jig. Insert

最後に、上記の吸着装置A、分離装置B、旋回ユニッ
トC、上下ユニットD、及びスライドユニットEを用い
た半導体組立装置の全体を第7図に示す。この図に示し
た装置では、1つのスライドユニットEに対して、吸着
装置A、旋回ユニットC及び上下ユニットDを2組接続
した構成部分Xを、図の紙面に対して垂直方向に移動さ
せるために、支柱81に設置された移動ユニットFに固定
している。この移動ユニットFは、極性判定の終了した
半導体素子23を装置の基台80上にセットされた組立用治
具(図示せず)まで運搬するためのものである。なお、
移動ユニットFの側面部には、吸着装置A用の真空発生
装置82が設置されており、また、基台8の下には、極性
判定装置Gが配置されている。
Finally, FIG. 7 shows an entire semiconductor assembly apparatus using the above-mentioned suction device A, separation device B, turning unit C, vertical unit D, and slide unit E. In the apparatus shown in this figure, the component X, in which two sets of the suction device A, the turning unit C and the vertical unit D are connected to one slide unit E, is moved in the direction perpendicular to the plane of the drawing. In addition, it is fixed to the moving unit F installed on the support column 81. The moving unit F is for transporting the semiconductor element 23 whose polarity has been determined to an assembly jig (not shown) set on a base 80 of the apparatus. In addition,
A vacuum generator 82 for the suction device A is installed on the side surface of the moving unit F, and a polarity determination device G is arranged below the base 8.

本実施例においては、上記の構成部分Xは基台80上に
設置された分離装置Bの上方において互いに対向するよ
うに2組設置されており、これらは交互に作動してその
作業効率を高めるように設計されているが、この構成部
分Xが1組のみ設置されている場合にも、本発明の範囲
内に含まれることは勿論である。また、第6図の全体に
示すように、構成部分Xに備えられた2組の吸着装置A
は、左右両側の吸着ノズル3が対向した位置で半導体素
子23を挟持できるように所定間隔に固定されているが、
両吸着装置Aの相互間隔を変更できるように、それぞれ
別個のスライドユニットに支持された構造とすることも
できる。
In this embodiment, two sets of the above-mentioned components X are installed so as to be opposed to each other above the separation device B installed on the base 80, and they are operated alternately to increase the work efficiency. Although it is designed as described above, it goes without saying that a case where only one set of the component X is installed is included in the scope of the present invention. Further, as shown in the whole of FIG. 6, two sets of suction devices A provided in the component X are provided.
Are fixed at predetermined intervals so that the semiconductor element 23 can be held at a position where the suction nozzles 3 on the left and right sides face each other.
The two suction devices A may be supported by separate slide units so that the distance between the two suction devices A can be changed.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように、本発明は以下の効果を奏する。 As described above, the present invention has the following effects.

本発明の半導体素子吸着装置においては、可動軸の
軸周表面に螺旋状の溝が形成されているため、その螺旋
状の溝が吸入断面を実質的に増加させることになるの
で、吸着力を確保又は増大させることができ、吸着ノズ
ルの先細化を実現できる。このため、細小な半導体素子
の吸着も押し離しも可能となる。
In the semiconductor device suction device of the present invention, since the spiral groove is formed on the peripheral surface of the movable shaft, the spiral groove substantially increases the suction cross section. This can be secured or increased, and the suction nozzle can be tapered. For this reason, it becomes possible to adsorb and push small semiconductor elements.

本発明の半導体組立装置においては、2つの対向す
る吸着ノズルによって半導体素子を挟持し、吸着ノズル
を電極として極性判定をするようにしたので、半導体素
子の運搬、極性判定、組立治具への挿入方向の設定、及
び組立治具への挿入を一連の同一動作で行なうことがで
きるので、従来よりも作業効率が著しく向上する。
In the semiconductor assembling apparatus of the present invention, the semiconductor element is sandwiched between the two opposing suction nozzles, and the polarity is determined using the suction nozzle as an electrode. Therefore, the semiconductor element is transported, the polarity is determined, and the semiconductor element is inserted into the assembly jig. Since the setting of the direction and the insertion into the assembling jig can be performed by a series of the same operation, the working efficiency is remarkably improved as compared with the related art.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図(a)及び(b)は本発明の半導体素子吸着装置
の実施例の構造を示す一部切断正面図である。 第2図(a)は本発明の半導体組立装置に用いる半導体
素子分離装置の構造を示す断面図、第2図(b)は同半
導体素子分離装置の回転テーブルの外周部分の構造を示
す拡大断面図、第2図(c)は半導体素子の概略構造を
示す平面図及び側面図である。 第3図(a)は本発明の半導体組立装置の実施例に半導
体素子吸着装置を接続した部分の構造を示す正面図、第
3図(b)は同部分の側面図である。 第4図は同半導体素子吸着装置を駆動するための旋回ユ
ニットと上下ユニットの構造を示す一部切断正面図であ
る。 第5図(a)は同実施例におけるスライドユニットの構
造を示す正面図、第5図(b)は第5図(a)のA−
A′平面で切断した断面矢視図である。 第6図は2つの半導体素子用吸着装置の並列接続部分の
構造を示す側面図である。 第7図は同実施例の全体の構成を示す正面図である。 〔主要符号の説明〕 A,A′……吸着装置 B……分離装置 C……旋回ユニット D……上下ユニット E……スライドユニット F……移動ユニット G……極性判定機 2……円筒部材 2a……吸入孔 3,3′……吸着ノズル 4……可動軸 4a……螺旋軸 5,5′……スプリング 6……支承部材 7……エアシリンダ 10……台座 11……回転部 12……テーブルフランジ 18……回転テーブル 18b……底面 23……半導体素子 24……凹部 33……旋回軸 36……昇降エアシリンダ 45……ロータリーシリンダ 50……上下エアシリンダ 67……スライドエアシリンダ 75……回転軸。
1 (a) and 1 (b) are partially cut front views showing the structure of an embodiment of a semiconductor device suction apparatus according to the present invention. FIG. 2A is a cross-sectional view showing the structure of a semiconductor element separating apparatus used in the semiconductor assembling apparatus of the present invention, and FIG. 2B is an enlarged cross-sectional view showing the structure of the outer periphery of a rotary table of the semiconductor element separating apparatus. FIG. 2 (c) is a plan view and a side view showing a schematic structure of the semiconductor element. FIG. 3 (a) is a front view showing a structure of a portion where a semiconductor element suction device is connected to the embodiment of the semiconductor assembling apparatus of the present invention, and FIG. 3 (b) is a side view of the same portion. FIG. 4 is a partially cutaway front view showing the structure of a turning unit and an upper and lower unit for driving the semiconductor element suction device. FIG. 5 (a) is a front view showing the structure of the slide unit in the embodiment, and FIG. 5 (b) is a view taken on line A- of FIG. 5 (a).
FIG. 3 is a cross-sectional arrow view cut along the A ′ plane. FIG. 6 is a side view showing the structure of a parallel connection portion of two semiconductor device suction devices. FIG. 7 is a front view showing the entire configuration of the embodiment. [Explanation of Main Symbols] A, A ': Adsorbing device B: Separating device C: Revolving unit D: Vertical unit E: Slide unit F: Moving unit G: Polarity determining device 2: Cylindrical member 2a ... Suction hole 3,3 '... Suction nozzle 4 ... Movable shaft 4a ... Spiral shaft 5,5' ... Spring 6 ... Support member 7 ... Air cylinder 10 ... Pedestal 11 ... Rotating part 12 … Table flange 18… Rotating table 18b… Bottom surface 23… Semiconductor element 24… Recess 33… Rotating shaft 36… Elevating air cylinder 45… Rotary cylinder 50… Vertical air cylinder 67… Slide air cylinder 75 ... Rotary axis.

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】内部に吸入孔と、該吸入孔の先端部に設け
られた吸着ノズルと、該吸入孔内に挿入された可動軸
と、該可動軸を前記吸入孔の軸線方向に移動させるべき
可動軸駆動手段と、を有しており、前記可動軸は、その
軸周表面に螺旋状の溝が形成されていることを特徴とす
る半導体素子吸着装置。
1. A suction hole inside, a suction nozzle provided at a tip end of the suction hole, a movable shaft inserted into the suction hole, and moving the movable shaft in an axial direction of the suction hole. And a movable shaft driving means, wherein the movable shaft has a helical groove formed on a peripheral surface of the shaft.
【請求項2】底面と該底面の周縁部に形成された側面と
を有し、該底面上に外周に沿って並列した複数の素子固
定用凹部を有する回転テーブルを、水平面から所定角度
傾けて設置し、該回転テーブルを所定回転角度及び所定
速度で間欠的に回転さすべき間欠回転駆動手段を備えた
半導体素子分離装置と、導体製の前記吸着ノズルを備え
た請求項第1項に規定する半導体素子吸着装置とを用い
て成り、前記半導体素子吸着装置の2組が並列設置さ
れ、該半導体素子吸着装置の下方には前記半導体素子分
離装置を有し、前記半導体素子吸着装置の2組の前記吸
着ノズルに半導体素子の極性判定用電圧を供給して該半
導体素子の電流特性を検出すべき2つの端子をもつ極性
判定装置を備えており、2組の前記半導体素子吸着装置
のそれぞれに対して、旋回移動させるべき旋回駆動手段
と、上下移動させるべき昇降駆動手段と、水平方向に移
動させるべき並進駆動手段とを有することを特徴とする
半導体組立装置。
2. A rotary table having a bottom surface and side surfaces formed on a peripheral portion of the bottom surface, and having a plurality of element fixing recesses arranged in parallel along the outer periphery on the bottom surface and inclined at a predetermined angle from a horizontal plane. A semiconductor device separating device provided with intermittent rotation driving means for installing and rotating the rotary table intermittently at a predetermined rotation angle and a predetermined speed, and the suction nozzle made of a conductor are provided in claim 1. A semiconductor device suction device, two sets of the semiconductor device suction devices are installed in parallel, the semiconductor device separation device is provided below the semiconductor device suction device, and two sets of the semiconductor device suction devices are provided. A polarity determining device having two terminals for supplying a polarity determining voltage of the semiconductor element to the suction nozzle and detecting a current characteristic of the semiconductor element is provided. hand A rotation driving means to be pivotal movement, a lifting drive means to be moved vertically, semiconductor fabrication apparatus characterized by having a translation drive means to be moved in the horizontal direction.
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