JP2795099B2 - 電磁波による被測定物測定装置 - Google Patents
電磁波による被測定物測定装置Info
- Publication number
- JP2795099B2 JP2795099B2 JP4273172A JP27317292A JP2795099B2 JP 2795099 B2 JP2795099 B2 JP 2795099B2 JP 4273172 A JP4273172 A JP 4273172A JP 27317292 A JP27317292 A JP 27317292A JP 2795099 B2 JP2795099 B2 JP 2795099B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wave
- output
- medium
- long
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、中波又は長波の電磁波
を用いて被測定物を測定する装置に関する。
を用いて被測定物を測定する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】中波又は長波の電磁波を水分を含有する
ものに照射すると共振減衰が生じる。このことを利用し
て紙などの枚数変化や厚さ変化、水分含有量の変化、糊
の付着量や紙などに付着した処理液量などの検出を行う
ことができる。
ものに照射すると共振減衰が生じる。このことを利用し
て紙などの枚数変化や厚さ変化、水分含有量の変化、糊
の付着量や紙などに付着した処理液量などの検出を行う
ことができる。
【０００３】電磁波を被測定物に照射し、その減衰の程
度から被測定物の厚みや付着量などを調べる技術が特公
平2-57017 号公報、特公平4-34100 号公報、特公平4-48
168号公報等に開示されている。これらは送信器と受信
器の間に被測定物をおき、電磁波を照射してその減衰し
た出力により被測定物の厚みやその存在などを検出して
いる。
度から被測定物の厚みや付着量などを調べる技術が特公
平2-57017 号公報、特公平4-34100 号公報、特公平4-48
168号公報等に開示されている。これらは送信器と受信
器の間に被測定物をおき、電磁波を照射してその減衰し
た出力により被測定物の厚みやその存在などを検出して
いる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところでこのような測
定にはノイズが必ず入り測定精度を低下させる。このよ
うなノイズは発信される電磁波に入ることもあるが、特
に被測定物で減衰した微弱な受信波は外部からのノイズ
の影響を受けやすい。また従来、受信波をコイルを用い
た共振回路で増幅する場合が多く、この場合、共振回路
は温度変化により共振の中心周波数が変化するので出力
が一定しないことが多い。
定にはノイズが必ず入り測定精度を低下させる。このよ
うなノイズは発信される電磁波に入ることもあるが、特
に被測定物で減衰した微弱な受信波は外部からのノイズ
の影響を受けやすい。また従来、受信波をコイルを用い
た共振回路で増幅する場合が多く、この場合、共振回路
は温度変化により共振の中心周波数が変化するので出力
が一定しないことが多い。
【０００５】本発明は、上述の問題点に鑑みてなされた
もので、ノイズの影響を少なくした電磁波による被測定
物測定装置を提供することを目的とする。
もので、ノイズの影響を少なくした電磁波による被測定
物測定装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、中波又は長波送信器と中波又は長波受信器との間に
まず基準物を介在させて前記中波又は長波受信器の出力
を記憶し、次に被測定物を介在させ前記中波又は長波受
信器の出力を求め、この被測定物の出力と前記基準物の
出力との比較から前記被測定物の測定を行う電磁波によ
る被測定物測定装置において、前記中波又は長波送信器
より中波又は長波を間欠的に発信し、この間欠発信に対
応した前記中波又は長波受信器の出力のうち特定期間内
の出力を求め、次にこの特定期間内の出力の内の特定時
刻における出力のみを取り出すようにして被測定物の測
定を行うようにしたものである。
め、中波又は長波送信器と中波又は長波受信器との間に
まず基準物を介在させて前記中波又は長波受信器の出力
を記憶し、次に被測定物を介在させ前記中波又は長波受
信器の出力を求め、この被測定物の出力と前記基準物の
出力との比較から前記被測定物の測定を行う電磁波によ
る被測定物測定装置において、前記中波又は長波送信器
より中波又は長波を間欠的に発信し、この間欠発信に対
応した前記中波又は長波受信器の出力のうち特定期間内
の出力を求め、次にこの特定期間内の出力の内の特定時
刻における出力のみを取り出すようにして被測定物の測
定を行うようにしたものである。
【０００７】
【０００８】
【作用】ノイズはランダムに進入すると考えられる。こ
のため、連続的に中波又は長波を発信し、これを受信す
る場合、ノイズが進入する確率が高くなる。それ故ある
時間を限ってその間だけ発信し、この発信に対応して受
信するようにすればノイズの進入する確率はかなり小さ
くなり、測定精度が向上する。
のため、連続的に中波又は長波を発信し、これを受信す
る場合、ノイズが進入する確率が高くなる。それ故ある
時間を限ってその間だけ発信し、この発信に対応して受
信するようにすればノイズの進入する確率はかなり小さ
くなり、測定精度が向上する。
【０００９】なお、受信した信号にもノイズが入る可能
性が大きいので受信後の特定期間内の出力を求め、次に
この特定期間内の出力の内の特定時刻における出力のみ
を取り出すようにすれば、その特定した時刻にノイズが
進入する確率は小さくなるのでノイズの入る確率をさら
に小さくすることができる。
性が大きいので受信後の特定期間内の出力を求め、次に
この特定期間内の出力の内の特定時刻における出力のみ
を取り出すようにすれば、その特定した時刻にノイズが
進入する確率は小さくなるのでノイズの入る確率をさら
に小さくすることができる。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図１は本発明の実施例の構成を示すブロック図で
ある。発振回路１は中波又は長波の電磁波を発振する。
ここで中波又は長波とは30ＫＨz から３ＭＨz の中波又
は長波をいう。本実施例では100 ＫＨz 前後を用いた。
間欠発振回路２は発振回路１で発振した中波又は長波を
一定の間隔で間欠的に出力する。タイミング回路３は発
振回路１に同期して、出力データを得るタイミングを出
力し、リセット回路４は発振回路１に同期して、後述す
るピークホールド回路10のリセット信号を出力する。
する。図１は本発明の実施例の構成を示すブロック図で
ある。発振回路１は中波又は長波の電磁波を発振する。
ここで中波又は長波とは30ＫＨz から３ＭＨz の中波又
は長波をいう。本実施例では100 ＫＨz 前後を用いた。
間欠発振回路２は発振回路１で発振した中波又は長波を
一定の間隔で間欠的に出力する。タイミング回路３は発
振回路１に同期して、出力データを得るタイミングを出
力し、リセット回路４は発振回路１に同期して、後述す
るピークホールド回路10のリセット信号を出力する。
【００１１】送信器５は間欠発振回路２の出力を電極よ
り被測定物20に対して送信し、受信器６は被測定物20を
透過して減衰した信号を受信する。被測定物20は押さえ
治具21によって送受信電極間の一定の位置を保つように
押さえられる。測定中に被測定物20が送受信電極間で電
極方向に移動すると受信器６の出力が変動するのでこれ
を防止するため押さえ治具21が用いられる。
り被測定物20に対して送信し、受信器６は被測定物20を
透過して減衰した信号を受信する。被測定物20は押さえ
治具21によって送受信電極間の一定の位置を保つように
押さえられる。測定中に被測定物20が送受信電極間で電
極方向に移動すると受信器６の出力が変動するのでこれ
を防止するため押さえ治具21が用いられる。
【００１２】ボルテージフォロワ７は入力抵抗が非常に
大きく、出力抵抗はほぼ０に近く電圧増幅度は１の非反
転増幅回路で電圧を変えずインピーダンスを極めて小さ
な値に変換する。バンドパスフィルタ８は出力信号の存
在する範囲の周波数のみ通過させ、検波回路９は出力信
号の高周波成分を除く。ピークホールド回路10はリセッ
ト回路４のリセット信号により前のデータをクリアし、
タイミング回路３からのタイミング信号が出力されてい
る間の出力信号のピーク値を保持する。サンプルホール
ド回路11はピークホールド回路10の出力のうちタイミン
グ回路３で指示されたときの値を保持する。
大きく、出力抵抗はほぼ０に近く電圧増幅度は１の非反
転増幅回路で電圧を変えずインピーダンスを極めて小さ
な値に変換する。バンドパスフィルタ８は出力信号の存
在する範囲の周波数のみ通過させ、検波回路９は出力信
号の高周波成分を除く。ピークホールド回路10はリセッ
ト回路４のリセット信号により前のデータをクリアし、
タイミング回路３からのタイミング信号が出力されてい
る間の出力信号のピーク値を保持する。サンプルホール
ド回路11はピークホールド回路10の出力のうちタイミン
グ回路３で指示されたときの値を保持する。
【００１３】比較回路12は基準測定物のデータを記憶し
ておき、この値とサンプルホールド回路11の出力とを比
較し測定対象物20の枚数、厚み、糊などの場合の付着状
況などを判断し、この結果を出力回路13より出力すると
ともに表示回路14で表示する。
ておき、この値とサンプルホールド回路11の出力とを比
較し測定対象物20の枚数、厚み、糊などの場合の付着状
況などを判断し、この結果を出力回路13より出力すると
ともに表示回路14で表示する。
【００１４】次に図２により各信号の波形を説明する。
図２のＡ〜Ｈは図１のＡ〜Ｈにおける波形を示す。Ａは
発振回路の波形で一定の周期の連続波形であり、Ｂは間
欠発振回路２の波形で一定の周期で波形Ａの一部を繰り
返す。Ｃは受信器６、ボルテージフォロワ７を通り、バ
ンドパスフィルタ８を通過した信号波形である。Ｄはリ
セット回路４より出力されたリセット信号でＣの信号波
を受け入れる前にピークホールド回路10の初期化をする
ための信号である。Ｅはタイミング回路３より出力さ
れ、間欠波形Ｂが出力されている期間のうち受信波形の
よい受信信号の部分を選択してピークホールド回路10で
ホールドするための信号である。
図２のＡ〜Ｈは図１のＡ〜Ｈにおける波形を示す。Ａは
発振回路の波形で一定の周期の連続波形であり、Ｂは間
欠発振回路２の波形で一定の周期で波形Ａの一部を繰り
返す。Ｃは受信器６、ボルテージフォロワ７を通り、バ
ンドパスフィルタ８を通過した信号波形である。Ｄはリ
セット回路４より出力されたリセット信号でＣの信号波
を受け入れる前にピークホールド回路10の初期化をする
ための信号である。Ｅはタイミング回路３より出力さ
れ、間欠波形Ｂが出力されている期間のうち受信波形の
よい受信信号の部分を選択してピークホールド回路10で
ホールドするための信号である。
【００１５】Ｆはピークホールド回路10でホールドされ
たピーク値を示す。Ｇはタイミング回路３より出力され
ピークホールド回路10の出力値の内この信号の出された
時の値をサンプルホールド回路11でホールドするための
信号である。これにより特定した時刻における受信信号
のみ得ることができる。Ｈはサンプルホールド回路11の
出力を示す。この値はＧの出力されたときの出力信号で
ある。このように発振するときおよび受信時を限定して
データを得ているので、この時以外にノイズが進入して
も測定値には何らの影響も与えず、ノイズの少ない精度
よい測定値を得ることができる。
たピーク値を示す。Ｇはタイミング回路３より出力され
ピークホールド回路10の出力値の内この信号の出された
時の値をサンプルホールド回路11でホールドするための
信号である。これにより特定した時刻における受信信号
のみ得ることができる。Ｈはサンプルホールド回路11の
出力を示す。この値はＧの出力されたときの出力信号で
ある。このように発振するときおよび受信時を限定して
データを得ているので、この時以外にノイズが進入して
も測定値には何らの影響も与えず、ノイズの少ない精度
よい測定値を得ることができる。
【００１６】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
は送信信号を間欠発信させることによりＳ／Ｎ比を向上
させ、さらに受信信号を間欠的にピークホールドして特
定期間内の出力をもとめ、サンプルホールドでこの特定
期間内の出力の内の特定時刻における出力を求めること
によりＳ／Ｎ比を向上させたので被測定物を精度よく測
定することができる。
は送信信号を間欠発信させることによりＳ／Ｎ比を向上
させ、さらに受信信号を間欠的にピークホールドして特
定期間内の出力をもとめ、サンプルホールドでこの特定
期間内の出力の内の特定時刻における出力を求めること
によりＳ／Ｎ比を向上させたので被測定物を精度よく測
定することができる。
【図１】本発明の実施例の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】図１に示す各回路の波形を示す図である。
【符号の説明】 １ 発振回路 ２ 間欠発振回路 ３ タイミング回路 ５ 送信器 ６ 受信器 10 ピークホールド回路 11 サンプルホールド回路 20 被測定物
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01B 15/02 G01B 17/02 G01B 7/06 - 7/10 G01N 22/00 - 22/04
Claims (1)
- 【請求項１】 中波又は長波送信器と中波又は長波受信
器との間にまず基準物を介在させて前記中波又は長波受
信器の出力を記憶し、次に被測定物を介在させ前記中波
又は長波受信器の出力を求め、この被測定物の出力と前
記基準物の出力との比較から前記被測定物の測定を行う
電磁波による被測定物測定装置において、前記中波又は
長波送信器より中波又は長波を間欠的に発信し、この間
欠発信に対応した前記中波又は長波受信器の出力のうち
特定期間内の出力を求め、次にこの特定期間内の出力の
内の特定時刻における出力のみを取り出すようにして被
測定物の測定を行うことを特徴とする電磁波による被測
定物測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4273172A JP2795099B2 (ja) | 1992-10-12 | 1992-10-12 | 電磁波による被測定物測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4273172A JP2795099B2 (ja) | 1992-10-12 | 1992-10-12 | 電磁波による被測定物測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06123614A JPH06123614A (ja) | 1994-05-06 |
| JP2795099B2 true JP2795099B2 (ja) | 1998-09-10 |
Family
ID=17524107
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4273172A Expired - Fee Related JP2795099B2 (ja) | 1992-10-12 | 1992-10-12 | 電磁波による被測定物測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2795099B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2588182B2 (ja) * | 1986-10-20 | 1997-03-05 | ザ ビーエフグッドリッチ カンパニー | ゴム状アクリル重合体の製法 |
| US4879364A (en) * | 1986-10-20 | 1989-11-07 | The B.F. Goodrich Company | Film of carboxylated acrylate latex, and article made therefrom |
| JP5069084B2 (ja) * | 2007-11-02 | 2012-11-07 | ニチロ工業株式会社 | 積層枚数計数方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0197206U (ja) * | 1987-12-18 | 1989-06-28 | ||
| JPH0265107U (ja) * | 1988-11-02 | 1990-05-16 | ||
| JP2749963B2 (ja) * | 1990-06-15 | 1998-05-13 | 松下電工株式会社 | 超音波パルス式物体検知器 |
-
1992
- 1992-10-12 JP JP4273172A patent/JP2795099B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06123614A (ja) | 1994-05-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3952578A (en) | Scanning ultrasonic spectrograph for fluid analysis | |
| US4679426A (en) | Wave shape chemical analysis apparatus and method | |
| US6295873B1 (en) | Ultrasonic sensor and method of use | |
| US6614719B1 (en) | Ultrasonic doppler effect speed measurement | |
| JP2795099B2 (ja) | 電磁波による被測定物測定装置 | |
| JPS6314762B2 (ja) | ||
| US20040081022A1 (en) | Apparatus for ultrasonically detecting position of web edge and method of doing the same | |
| JPS61278767A (ja) | 共振周波数測定方法 | |
| JP2001343365A (ja) | 金属薄板の厚み共振スペクトル測定方法及び金属薄板の電磁超音波計測方法 | |
| Keprt et al. | A comparison of AE sensor calibration methods | |
| JPH0547212B2 (ja) | ||
| JP3151752B2 (ja) | 部分放電測定方法 | |
| EP0028855B1 (en) | Method and apparatus for ultrasonic non-destructive testing of a metal workpiece | |
| SU819709A2 (ru) | Акустический способ дефектоскопии | |
| RU2075074C1 (ru) | Устройство для ультразвукового контроля материалов | |
| JPH03257361A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JPS6245502B2 (ja) | ||
| SU1183886A1 (ru) | Устройство дл измерени концентрации нерастворенного газа в жидкости | |
| RU2208223C2 (ru) | Измеритель скорости звука в жидких средах | |
| SU1288589A1 (ru) | Устройство дл определени прочности бетона | |
| SU1126867A1 (ru) | Устройство дл испытани ультразвуковых дефектоскопов | |
| SU879788A1 (ru) | Устройство дл измерени амплитудно-частотных характеристик четырехполюсника | |
| SU855974A1 (ru) | Формирователь зондирующих импульсов | |
| JPH0735734A (ja) | 超音波測定方法 | |
| RU2210764C1 (ru) | Способ определения плотности жидкостей и устройство для его осуществления |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |