JPH06123614A - 電磁波による被測定物測定装置 - Google Patents

電磁波による被測定物測定装置

Info

Publication number
JPH06123614A
JPH06123614A JP27317292A JP27317292A JPH06123614A JP H06123614 A JPH06123614 A JP H06123614A JP 27317292 A JP27317292 A JP 27317292A JP 27317292 A JP27317292 A JP 27317292A JP H06123614 A JPH06123614 A JP H06123614A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wave
output
measured
medium
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP27317292A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2795099B2 (ja
Inventor
Munehiro Ishida
宗大 石田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nireco Corp
Original Assignee
Nireco Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nireco Corp filed Critical Nireco Corp
Priority to JP4273172A priority Critical patent/JP2795099B2/ja
Publication of JPH06123614A publication Critical patent/JPH06123614A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2795099B2 publication Critical patent/JP2795099B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ノイズの影響を少なくする。 【構成】 送信器5と受信器6の間に被測定物20を配置
して間欠発振回路2より間欠的に発振し、ピークホール
ド回路10は受信器6よりの信号をタイミング回路3で設
定した期間のピーク値をホールドし、サンプルホールド
回路11はピークホールド回路10の信号のうちタイミング
回路3で指定されたタイミングの値をホールドする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、中波又は長波の電磁波
を用いて被測定物を測定する装置に関する。
【0002】
【従来の技術】中波又は長波数の電磁波を水分を含有す
るものに照射すると共振減衰が生じる。このことを利用
して紙などの枚数変化や厚さ変化、水分含有量の変化、
糊の付着量や紙などに付着した処理液量などの検出を行
うことができる。
【0003】電磁波を被測定物に照射し、その減衰の程
度から被測定物の厚みや付着量などを調べる技術が特公
平2-57017 号公報、特公平4-34100 号公報、特公平4-48
168号公報等に開示されている。これらは送信器と受信
器の間に被測定物をおき、電磁波を照射してその減衰し
た出力により被測定物の厚みやその存在などを検出して
いる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところでこのような測
定にはノイズが必ず入り測定精度を低下させる。このよ
うなノイズは発信される電磁波に入ることもあるが、特
に被測定物で減衰した微弱な受信波は外部からのノイズ
の影響を受けやすい。また従来、受信波をコイルを用い
た共振回路で増幅する場合が多く、この場合、共振回路
は温度変化により共振の中心周波数が変化するので出力
が一定しないことが多い。
【0005】本発明は、上述の問題点に鑑みてなされた
もので、ノイズの影響を少なくした電磁波による被測定
物測定装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、中波又は長波送信器と中波又は長波受信器との間に
まず基準物を介在させて前記中波又は長波受信器の出力
を記憶し、次に被測定物を介在させ前記中波又は長波受
信器の出力を求め、この被測定物の出力と前記基準物の
出力との比較から前記被測定物の測定を行う電磁波によ
る被測定物測定装置において、前記中波又は長波送信器
より中波又は長波を間欠的に発信し、この間欠発信に対
応した前記中波又は長波受信器の出力により被測定物の
測定を行うようにしたものである。
【0007】また、前記間欠発信に対応した前記中波又
は長波受信器の出力のうち特定した時間の出力のみを取
り出すようにしたものである。
【0008】
【作用】ノイズはランダムに進入すると考えられる。こ
のため、連続的に中波又は長波を発信し、これを受信す
る場合、ノイズが進入する確率が高くなる。それ故ある
時間を限ってその間だけ発信し、この発信に対応して受
信するようにすればノイズの進入する確率はかなり小さ
くなり、測定精度が向上する。
【0009】なお、受信した信号にもノイズが入る可能
が大きいので受信後の特定した時間の信号のみを取り出
すようにすれば、その特定した時間にノイズが進入する
確率は小さくなるのでノイズの入る確率をさらに小さく
することができる。
【0010】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図1は本発明の実施例の構成を示すブロック図で
ある。発振回路1は中波又は長波数の電磁波を発振す
る。ここで中波又は長波数とは30KHz から3MHz の
中波又は長波数をいう。本実施例では100 KHz 前後を
用いた。間欠発振回路2は発振回路1で発振した中波又
は長波数を一定の間隔で間欠的に出力する。タイミング
回路3は発振回路1に同期して、出力データを得るタイ
ミングを出力し、リセット回路4は発振回路1に同期し
て、後述するピークホールド回路10のリセット信号を出
力する。
【0011】送信器5は間欠発振回路2の出力を電極よ
り被測定物20に対して送信し、受信器6は被測定物20を
透過して減衰した信号を受信する。被測定物20は押さえ
治具21によって送受信電極間の一定の位置を保つように
押さえられる。測定中に被測定物20が送受信電極間で電
極方向に移動すると受信器6の出力が変動するのでこれ
を防止するため押さえ治具21が用いられる。
【0012】ボルテージフォロワ7は入力抵抗が非常に
大きく、出力抵抗はほぼ0に近く電圧増幅度は1の非反
転増幅回路で電圧を変えずインピーダンスを極めて小さ
な値に変換する。バンドパスフィルタ8は出力信号の存
在する範囲の周波数のみ通過させ、検波回路9は出力信
号の高周波成分を除く。ピークホールド回路10はリセッ
ト回路4のリセット信号により前のデータをクリアし、
タイミング回路3からのタイミング信号が出力されてい
る間の出力信号のピーク値を保持する。サンプルホール
ド回路11はピークホールド回路10の出力のうちタイミン
グ回路3で指示されたときの値を保持する。
【0013】比較回路12は基準測定物のデータを記憶し
ておき、この値とサンプルホールド回路11の出力とを比
較し測定対象物20の枚数、厚み、糊などの場合の付着状
況などを判断し、この結果を出力回路13より出力すると
ともに表示回路14で表示する。
【0014】次に図2により各信号の波形を説明する。
図2のA〜Hは図1のA〜Hにおける波形を示す。Aは
発振回路の波形で一定の周期の連続波形であり、Bは間
欠発振回路2の波形で一定の周期で波形Aの一部を繰り
返す。Cは受信器6、ボルテージフォロワ7を通り、バ
ンドパスフィルタ8を通過した信号波形である。Dはリ
セット回路4より出力されたリセット信号でCの信号波
を受け入れる前にピークホールド回路10の初期化をする
ための信号である。Eはタイミング回路3より出力さ
れ、間欠波形Bが出力されている期間のうち受信波形の
よい受信信号の部分を選択してピークホールド回路10で
ホールドするための信号である。
【0015】Fはピークホールド回路10でホールドされ
たピーク値を示す。Gはタイミング回路3より出力され
ピークホールド回路10の出力値の内この信号の出された
時の値をサンプルホールド回路11でホールドするための
信号である。これにより特定した時刻における受信信号
のみ得ることができる。Hはサンプルホールド回路11の
出力を示す。この値はGの出力されたときの出力信号で
ある。このように発振するときおよび受信時を限定して
データを得ているので、この時以外にノイズが進入して
も測定値には何らの影響も与えず、ノイズの少ない精度
よい測定値を得ることができる。
【0016】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
は送信信号を間欠発信させることによりS/N比を向上
させ、さらに受信信号を間欠的にピークホールド、サン
プルホールドすることによりS/N比を向上させたので
被測定物を精度よく測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の構成を示すブロック図であ
る。
【図2】図1に示す各回路の波形を示す図である。
【符号の説明】
1 発振回路 2 間欠発振回路 3 タイミング回路 5 送信器 6 受信器 10 ピークホールド回路 11 サンプルホールド回路 20 被測定物

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 中波又は長波送信器と中波又は長波受信
    器との間にまず基準物を介在させて前記中波又は長波受
    信器の出力を記憶し、次に被測定物を介在させ前記中波
    又は長波受信器の出力を求め、この被測定物の出力と前
    記基準物の出力との比較から前記被測定物の測定を行う
    電磁波による被測定物測定装置において、前記中波又は
    長波送信器より中波又は長波を間欠的に発信し、この間
    欠発信に対応した前記中波又は長波受信器の出力により
    被測定物の測定を行うことを特徴とする電磁波による被
    測定物測定装置。
  2. 【請求項2】 前記間欠発信に対応した前記中波又は長
    波受信器の出力のうち特定した時間の出力のみを取り出
    すようにしたことを特徴とする請求項1記載の電磁波に
    よる被測定物測定装置。
JP4273172A 1992-10-12 1992-10-12 電磁波による被測定物測定装置 Expired - Fee Related JP2795099B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4273172A JP2795099B2 (ja) 1992-10-12 1992-10-12 電磁波による被測定物測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4273172A JP2795099B2 (ja) 1992-10-12 1992-10-12 電磁波による被測定物測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06123614A true JPH06123614A (ja) 1994-05-06
JP2795099B2 JP2795099B2 (ja) 1998-09-10

Family

ID=17524107

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4273172A Expired - Fee Related JP2795099B2 (ja) 1992-10-12 1992-10-12 電磁波による被測定物測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2795099B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1988002759A1 (en) * 1986-10-20 1988-04-21 The B.F. Goodrich Company Rubbery acrylic polymer, latex and preparation thereof
US4879364A (en) * 1986-10-20 1989-11-07 The B.F. Goodrich Company Film of carboxylated acrylate latex, and article made therefrom
JP2009116462A (ja) * 2007-11-02 2009-05-28 Nichiro Kogyo Co Ltd 積層枚数計数方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0197206U (ja) * 1987-12-18 1989-06-28
JPH0265107U (ja) * 1988-11-02 1990-05-16
JPH0448206A (ja) * 1990-06-15 1992-02-18 Matsushita Electric Works Ltd 超音波パルス式物体検知器

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0197206U (ja) * 1987-12-18 1989-06-28
JPH0265107U (ja) * 1988-11-02 1990-05-16
JPH0448206A (ja) * 1990-06-15 1992-02-18 Matsushita Electric Works Ltd 超音波パルス式物体検知器

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1988002759A1 (en) * 1986-10-20 1988-04-21 The B.F. Goodrich Company Rubbery acrylic polymer, latex and preparation thereof
US4879364A (en) * 1986-10-20 1989-11-07 The B.F. Goodrich Company Film of carboxylated acrylate latex, and article made therefrom
AU604469B2 (en) * 1986-10-20 1990-12-20 B.F. Goodrich Company, The Rubbery acrylic polymer, latex and preparation thereof
JP2009116462A (ja) * 2007-11-02 2009-05-28 Nichiro Kogyo Co Ltd 積層枚数計数方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2795099B2 (ja) 1998-09-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2280226A (en) Flaw detecting device and measuring instrument
US6044332A (en) Surface acoustic wave harmonic analysis
US4429575A (en) Method for inspecting a non-metallic object by means of impact elastic waves and its apparatus
US5012668A (en) Inclined electrode surface acoustic wave substance sensor
CA1158061A (en) Industrial process control instrument employing a resonant sensor
US5955669A (en) Method and apparatus for acoustic wave measurement
JPS61167889A (ja) 距離測定装置
US6614719B1 (en) Ultrasonic doppler effect speed measurement
US6831875B2 (en) Apparatus for ultrasonically detecting position of web edge and method of doing the same
JPH06123614A (ja) 電磁波による被測定物測定装置
Keprt et al. A comparison of AE sensor calibration methods
SU819709A2 (ru) Акустический способ дефектоскопии
RU2075074C1 (ru) Устройство для ультразвукового контроля материалов
SU396547A1 (ru) Бесконтактный ультразвуковой толщиномер
SU1631400A1 (ru) Способ ультразвукового контрол качества материалов и устройство дл его осуществлени
SU1288589A1 (ru) Устройство дл определени прочности бетона
SU1716422A1 (ru) Устройство выборки акустических сигналов
SU1126867A1 (ru) Устройство дл испытани ультразвуковых дефектоскопов
SU1188641A1 (ru) Способ измерени скорости распространени акустических волн в диэлектриках и устройство его реализующее
SU1173298A1 (ru) Устройство дл измерени механической добротности микроизделий методом свободных колебаний
EP0300782B1 (en) Coin discriminator
SU1366932A1 (ru) Способ вихретокового контрол материалов и изделий
SU1548752A1 (ru) Устройство дл определени прочности бетона
SU714158A1 (ru) Способ измерени количества вещества в емкости и устройство дл его осуществлени
SU1111097A1 (ru) Устройство дл определени прочности бетона

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees