JP2765347B2 - 部品実装基板の検査装置 - Google Patents
部品実装基板の検査装置Info
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- JP2765347B2 JP2765347B2 JP4062708A JP6270892A JP2765347B2 JP 2765347 B2 JP2765347 B2 JP 2765347B2 JP 4062708 A JP4062708 A JP 4062708A JP 6270892 A JP6270892 A JP 6270892A JP 2765347 B2 JP2765347 B2 JP 2765347B2
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- plate
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- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、部品が実装された回路
基板を検査するための装置に関するものである。
基板を検査するための装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、部品が実装された回路基板（部品
実装基板）は、次のようにして検査されていた。 （１）回路基板上の部品の配置、プリント配線、半田の
状態などを目で見たり、さらに部品を手で動かしたりし
て検査する。 （２）回路基板上に構成された電気回路に、その入力端
子よりなんらかの信号を入力し、そのとき電気回路がそ
の出力端子より出力する信号のレベル、波形などを調
べ、電気回路が正常な場合と比較して検査する。 （３）部品あるいはプリント配線ごとに直流電流を流し
て抵抗を測定し、接続状態を検査する。 （４）回路基板上に構成された電気回路の各部分ごとに
なんらかの信号を入力し、そのとき各部分が出力する信
号のレベル、波形などを調べ、各部分が正常な場合と比
較して検査する。
実装基板）は、次のようにして検査されていた。 （１）回路基板上の部品の配置、プリント配線、半田の
状態などを目で見たり、さらに部品を手で動かしたりし
て検査する。 （２）回路基板上に構成された電気回路に、その入力端
子よりなんらかの信号を入力し、そのとき電気回路がそ
の出力端子より出力する信号のレベル、波形などを調
べ、電気回路が正常な場合と比較して検査する。 （３）部品あるいはプリント配線ごとに直流電流を流し
て抵抗を測定し、接続状態を検査する。 （４）回路基板上に構成された電気回路の各部分ごとに
なんらかの信号を入力し、そのとき各部分が出力する信
号のレベル、波形などを調べ、各部分が正常な場合と比
較して検査する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような検
査方法では次のような問題がある。 （１）目で見ただけでは配線状態が判らない場合が多
く、特に細かな部品が集まっている場合には、外見上だ
けではほとんど検査不可能である。また、配線が完全に
切断されているといった不具合しか発見できず、部品や
配線が他の回路に電気的な悪影響を与えている場合、そ
のことを見つけることは困難である。 （２）電気回路の全体的な状態しか判定できず、仮にそ
の検査で合格となっても、部分的に不具合が生じている
場合もありえる。 （３）交流あるいは過渡電流に対して正常か否かは検査
できない。 （４）電気回路の部分的な状態しか判定できず、全体の
状態を判定するためには、部分を変えて何度も検査を行
う必要がある。
査方法では次のような問題がある。 （１）目で見ただけでは配線状態が判らない場合が多
く、特に細かな部品が集まっている場合には、外見上だ
けではほとんど検査不可能である。また、配線が完全に
切断されているといった不具合しか発見できず、部品や
配線が他の回路に電気的な悪影響を与えている場合、そ
のことを見つけることは困難である。 （２）電気回路の全体的な状態しか判定できず、仮にそ
の検査で合格となっても、部分的に不具合が生じている
場合もありえる。 （３）交流あるいは過渡電流に対して正常か否かは検査
できない。 （４）電気回路の部分的な状態しか判定できず、全体の
状態を判定するためには、部分を変えて何度も検査を行
う必要がある。
【０００４】本発明の目的は、このような問題を解決
し、すべての部分を短時間で確実に検査できる部品実装
基板の検査装置を提供することにある。
し、すべての部分を短時間で確実に検査できる部品実装
基板の検査装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の部品実装基板の
検査装置は、液晶板と、この液晶板に配置した電極から
得られる信号にもとづき、液晶の２次元的な状態変化を
表す信号を生成する信号生成手段と、前記液晶板上に配
置された偏向板とを備えたことを特徴とする。
検査装置は、液晶板と、この液晶板に配置した電極から
得られる信号にもとづき、液晶の２次元的な状態変化を
表す信号を生成する信号生成手段と、前記液晶板上に配
置された偏向板とを備えたことを特徴とする。
【０００６】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。図１に本発明による部品実装基板の検査装置
の一例を示す。２は検査板であり、液晶板と偏向板とを
張り合わせて構成されており、偏向板は図面上で液晶板
の上側に配置されている。検査板２の液晶板には、その
一つの辺に電極４が配置され、直交するもう一つの辺に
は電極５が配置されている。制御部６は、これら電極
４，５間に微弱電流を流し、液晶板における液晶の状態
変化に伴う微弱電流の変化にもとづき、液晶の２次元的
な状態変化を表すマトリクス信号を生成し、出力する。
このマトリクス信号は、検査板２上にＸ軸およびＹ軸を
設定したとき、各座標点（Ｘ，Ｙ）における液晶の状態
変化を表す信号である。ディスプレイ７はマトリクス信
号を受け取って、画面に液晶の２次元的な状態変化を表
示する。また、フロッピーディスク処理部８は制御部６
より受け取ったマトリクス信号を記憶し、プリンタは制
御部６より受け取ったマトリクス信号により、液晶の２
次元的な状態変化を表す画像を印刷したり、あるいはマ
トリクス信号の数値を印刷する。
説明する。図１に本発明による部品実装基板の検査装置
の一例を示す。２は検査板であり、液晶板と偏向板とを
張り合わせて構成されており、偏向板は図面上で液晶板
の上側に配置されている。検査板２の液晶板には、その
一つの辺に電極４が配置され、直交するもう一つの辺に
は電極５が配置されている。制御部６は、これら電極
４，５間に微弱電流を流し、液晶板における液晶の状態
変化に伴う微弱電流の変化にもとづき、液晶の２次元的
な状態変化を表すマトリクス信号を生成し、出力する。
このマトリクス信号は、検査板２上にＸ軸およびＹ軸を
設定したとき、各座標点（Ｘ，Ｙ）における液晶の状態
変化を表す信号である。ディスプレイ７はマトリクス信
号を受け取って、画面に液晶の２次元的な状態変化を表
示する。また、フロッピーディスク処理部８は制御部６
より受け取ったマトリクス信号を記憶し、プリンタは制
御部６より受け取ったマトリクス信号により、液晶の２
次元的な状態変化を表す画像を印刷したり、あるいはマ
トリクス信号の数値を印刷する。
【０００７】このような検査装置で部品実装基板１を検
査する場合には、まず、基板１の電気回路の入力端子に
なんらかの信号を入力し、電気回路を動作状態とする。
その状態で、検査板２を基板１上に一定の間隔を保って
近接して配置する。電気回路１は動作状態にあるので、
基板１に実装された部品あるいはプリント配線の近辺に
は、瞬間的にあるいは継続的に電界が発生している。従
って、検査板２の各部の液晶は、その電界の影響を受
け、基板１のどの部位に対向しているかに応じて状態が
変化する。この液晶の状態変化３は、検査板２を構成す
る偏向板を通すことにより、目で見ることができる。す
なわち、この検査装置によって基板１上の２次元的な電
界分布を目で見ることができる。そして、基板１に異常
があれば電界分布に変化が生じるので、正常な場合の電
界分布と比較することにより、どの部分の異常であって
も、直ちに、そして確実に見つけることができる。
査する場合には、まず、基板１の電気回路の入力端子に
なんらかの信号を入力し、電気回路を動作状態とする。
その状態で、検査板２を基板１上に一定の間隔を保って
近接して配置する。電気回路１は動作状態にあるので、
基板１に実装された部品あるいはプリント配線の近辺に
は、瞬間的にあるいは継続的に電界が発生している。従
って、検査板２の各部の液晶は、その電界の影響を受
け、基板１のどの部位に対向しているかに応じて状態が
変化する。この液晶の状態変化３は、検査板２を構成す
る偏向板を通すことにより、目で見ることができる。す
なわち、この検査装置によって基板１上の２次元的な電
界分布を目で見ることができる。そして、基板１に異常
があれば電界分布に変化が生じるので、正常な場合の電
界分布と比較することにより、どの部分の異常であって
も、直ちに、そして確実に見つけることができる。
【０００８】また、このとき、電極４，５間に流れてい
る微弱電流は液晶の状態変化に応じて変化し、制御部６
はそれを検出して、液晶の２次元的な状態変化を表すマ
トリクス信号を生成し、出力する。ディスプレイ７はこ
のマトリクス信号を受け取って、画面に液晶の２次元的
な状態変化、従って２次元的な電界分布を表示する。ま
た、フロッピーディスク処理部８はマトリクス信号を記
憶し、プリンタはマトリクス信号により、２次元的な電
界分布を表す画像を印刷したり、あるいはマトリクス信
号の数値を印刷する。従って、これらディスプレイ７上
の画像、プリンタ９が印刷した画像や数値、ならびにフ
ロッピーディスク処理部８が記憶したマトリクス信号に
もとづいてさらに詳細に分析して検査の精度を一層高め
たり、印刷結果や記憶されたマトリクス信号を検査結果
の記録として残すことができる。さらに、マトリクス信
号にもとづく表示、印刷、および記憶されたマトリクス
信号は、検査だけでなく、基板上の配線パターンの設計
における様々な検討にも利用できる。
る微弱電流は液晶の状態変化に応じて変化し、制御部６
はそれを検出して、液晶の２次元的な状態変化を表すマ
トリクス信号を生成し、出力する。ディスプレイ７はこ
のマトリクス信号を受け取って、画面に液晶の２次元的
な状態変化、従って２次元的な電界分布を表示する。ま
た、フロッピーディスク処理部８はマトリクス信号を記
憶し、プリンタはマトリクス信号により、２次元的な電
界分布を表す画像を印刷したり、あるいはマトリクス信
号の数値を印刷する。従って、これらディスプレイ７上
の画像、プリンタ９が印刷した画像や数値、ならびにフ
ロッピーディスク処理部８が記憶したマトリクス信号に
もとづいてさらに詳細に分析して検査の精度を一層高め
たり、印刷結果や記憶されたマトリクス信号を検査結果
の記録として残すことができる。さらに、マトリクス信
号にもとづく表示、印刷、および記憶されたマトリクス
信号は、検査だけでなく、基板上の配線パターンの設計
における様々な検討にも利用できる。
【０００９】
【発明の効果】以上説明したように本発明の部品実装基
板の検査装置は、液晶板と、この液晶板に配置した電極
から得られる信号にもとづき、液晶の２次元的な状態変
化を表す信号を生成する信号生成手段と、液晶板上に配
置された偏向板とを備えている。
板の検査装置は、液晶板と、この液晶板に配置した電極
から得られる信号にもとづき、液晶の２次元的な状態変
化を表す信号を生成する信号生成手段と、液晶板上に配
置された偏向板とを備えている。
【００１０】従って、液晶板を、動作状態の部品実装基
板上に一定の間隔を保って配置すると、基板上の部品や
配線から発生する電界によって液晶板の液晶に２次元的
な状態変化が生じる。その状態変化は偏向板を通して目
で見ることができる。従って、基板上の２次元的な電界
分布を目視できることになり、正常な場合の電界分布と
比較することにより、なんらかの異常があれば、どの部
分であっても、直ちに、そして確実に見つけることがで
きる。
板上に一定の間隔を保って配置すると、基板上の部品や
配線から発生する電界によって液晶板の液晶に２次元的
な状態変化が生じる。その状態変化は偏向板を通して目
で見ることができる。従って、基板上の２次元的な電界
分布を目視できることになり、正常な場合の電界分布と
比較することにより、なんらかの異常があれば、どの部
分であっても、直ちに、そして確実に見つけることがで
きる。
【００１１】また同時に、信号生成手段は、液晶の２次
元的な状態変化を表す信号を生成するので、その信号に
もとづいて、ディスプレイ上に電界分布を表示したり、
プリンタによって電界分布あるいは信号の数値を印刷し
たりでき、さらに信号をフロッピーディスク処理装置に
記憶させたりできる。その結果、さらに詳細な分析を行
って検査の精度を一層高めたり、印刷結果や記憶した信
号を検査結果の記録として残すことができる。さらに、
信号生成手段が生成する信号にもとづく表示などは、検
査だけでなく、基板上の配線パターンの設計における様
々な検討にも利用できる。
元的な状態変化を表す信号を生成するので、その信号に
もとづいて、ディスプレイ上に電界分布を表示したり、
プリンタによって電界分布あるいは信号の数値を印刷し
たりでき、さらに信号をフロッピーディスク処理装置に
記憶させたりできる。その結果、さらに詳細な分析を行
って検査の精度を一層高めたり、印刷結果や記憶した信
号を検査結果の記録として残すことができる。さらに、
信号生成手段が生成する信号にもとづく表示などは、検
査だけでなく、基板上の配線パターンの設計における様
々な検討にも利用できる。
【図１】本発明による部品実装基板の検査装置の一例を
示す構成図である。
示す構成図である。
【符号の説明】 ２ 検査板 ４，５ 電極 ６ 制御部 ７ ディスプレイ ８ フロッピーディスク処理部 ９ プリンタ
Claims (1)
- 【請求項１】液晶板と、 この液晶板に配置した電極から得られる信号にもとづ
き、液晶の２次元的な状態変化を表す信号を生成する信
号生成手段と、 前記液晶板上に配置された偏向板とを備えたことを特徴
とする部品実装基板の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4062708A JP2765347B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 部品実装基板の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4062708A JP2765347B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 部品実装基板の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05267898A JPH05267898A (ja) | 1993-10-15 |
| JP2765347B2 true JP2765347B2 (ja) | 1998-06-11 |
Family
ID=13208093
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4062708A Expired - Lifetime JP2765347B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 部品実装基板の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2765347B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002357629A (ja) * | 2001-06-04 | 2002-12-13 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
-
1992
- 1992-03-19 JP JP4062708A patent/JP2765347B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05267898A (ja) | 1993-10-15 |
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