JP2741067B2 - テープ走行試験機 - Google Patents

テープ走行試験機

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JP2741067B2
JP2741067B2 JP1141975A JP14197589A JP2741067B2 JP 2741067 B2 JP2741067 B2 JP 2741067B2 JP 1141975 A JP1141975 A JP 1141975A JP 14197589 A JP14197589 A JP 14197589A JP 2741067 B2 JP2741067 B2 JP 2741067B2
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tape
running
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guide roller
cylinder
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尚登 赤羽
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Hitachi Maxell Energy Ltd
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Hitachi Maxell Energy Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はテープ走行試験機に関し、さらに詳しく
は、走行するテープの摺接部材との摺接を広範囲にわた
って連続的かつ精密に調整して、連続的な走行試験が高
精度で行えるようにしたテープの走行試験機に関する。
〔従来の技術〕
従来、磁気テープおよび磁気記録再生装置等の性能を
試験するときなどに使用されるテープ走行試験機におい
ては、磁気ヘッド、ガイド部材、あるいはこれらを模し
たダミー部材などの摺接部材に対して、テープの接触位
置を適当に選べるようにするため、テープの走行経路を
変更、調整するテープガイド機構を備えており、このよ
うなテープガイド機構としては、たとえば簡単なものと
して、テープガイドローラあるいはテープガイドローラ
の取付穴を摺接部材の周りに多数設け、適当な位置のガ
イドローラを選択することにより、テープの走行経路を
調整するものがある。また、精密なものとしては、第3
図および第4図に示すように、摺接部材9の両側に直線
状のスライドレール19a,19bまたは21a,21bを前後方向あ
るいは左右方向に設け、これらのスライドレール19a,19
bまたは21a,21b上を直線移動するガイドローラ20a,20b
および22a,22bを配設して、これらのガイドローラ20a,2
0bおよび22a,22bによって、走行するテープ2の摺接部
材9との摺接を連続的に調整できるようにしたもの(横
浜システム研究所社製、テープ走行性試験機TBT−300
D)がある。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところが、多数のガイドローラを設け、テープ走行経
路に合う適当なガイドローラを選択する方法では、連続
的な調整が不可能であり、またガイドローラを直線移動
させるテープガイド機構では、移動距離が長いものを用
いるか、あるいは摺接部材を囲むように3個以上の多数
の直線移動機構を設置しなければ、広範囲にわたる連続
的な調整が行えず、移動機構が複雑となって、テープの
摺接を精密に調整することが難しい。さらに、テープの
走行試験中、テープエッジがガイドローラのフランジに
押しつけられてダメージを受けないようにするため、ガ
イドローラーの傾き姿勢などを調整する必要があるが、
複数のガイドローラを用いる場合は、姿勢調整がかなり
難しく、実用上精度の高いテープ走行が不可能である。
〔課題を解決するための手段〕
この発明はかかる欠点を改善するため種々検討を行っ
た結果なされたもので、従来のテープガイド機構を改善
し、摺接部材を囲むループ軌道に沿って移動可能な摺接
調整用ガイドローラを用いることによって、高精度でテ
ープを走行させ、テープの摺接部材との摺接を、広範囲
にわたって連続的かつ精密に調整できるようにして、テ
ープの走行試験が、高精度で連続的に行えるようにした
ものである。
〔実施例〕
以下、この発明のテープ走行試験機の一実施例を示す
第1図に基づいて説明する。
第1図において、1は供給リールであり、この供給リ
ール1に巻回されたテープ2は、ガイドローラ3、テン
ションローラ4、ガイドローラ5を経て、キャプスタン
6とピンチローラ7に挟持され、駆動走行される。そし
て、入り側テープテンションセンサ8を通って、シリン
ダ9に巻きつけられる。
10はシリンダ9の周囲に配設されたループ状のスライ
ドレール11上に移動可能に取りつけられた摺接調整用ガ
イドローラで、スライドレール11上をシリンダ9を囲む
ループ軌道に沿って移動し、シリンダ9に巻きつけられ
たテープ2の巻きつけ角度θを連続的に調整する。
このようにして、摺接調整用ガイドローラ10で巻きつ
け角度θが調整されたテープ2は、次いで、出側テープ
テンションセンサ12を経た後、キャプスタン13とピンチ
ローラ14に挟持されて駆動走行され、ガイドローラ15、
テンションローラ16、ガイドローラ17を介して、巻き取
りリール18に巻き取られる。
しかして、走行するテープ2は、シリンダ9に巻きつ
けられる際、ループ軌道に沿って移動する摺接調整用ガ
イドローラ10によって、巻きつけ角度θが連続的に調整
されて走行され、入り側テープテンションセンサ8およ
び出側テープテンションセンサ12でもって、シリンダ9
に巻きつけられた走行テープ2の入り側と出側のテープ
テンションが検出される。そして、これらの入り側と出
側のテープテンションの検出によって、各巻きつけ角度
θでのテープ2とシリンダ9間に生ずる摩擦力の変化
が、広範囲にわたって連続的かつ精密に測定される。ま
た、テープ2の走行調整は摺接調整用ガイドローラ10の
みによって行われるため、テープ2が摺接調整用ガイド
ローラ10のフランジに押しつけられて、テープエッジが
ダメージを受けないようにするには、摺接調整用ガイド
ローラ10の傾き等を姿勢調整するだけでよく、姿勢調整
が用意で、精度の高いテープ走行が容易に行える。
なお、以上の実施例では、摺接部材としてシリンダを
用いた場合について説明したが、摺動部材はシリンダに
限定されるものではなく、種々のガイド部材など、テー
プと摺接する摺接部材全てについて、同様の走行試験が
行える。また、テープとしては、ビデオテープ、ラッピ
ングテープなど種々の産業用テープを適用して、これら
のテープの走行試験を行うことができる。
この発明のテープ走行試験機は、以上説明したように
して構成され、以下、第1図に示されたこの発明のテー
プ走行試験機を用いて、ビデオテープとシリンダとの間
に生じる摩擦力の変化を測定した。
この摩擦力の変化を測定するビデオテープとしては、
日立マクセル社製S−VHSビデオテープST−120を用い
た。
また、第1図に示すテープ走行試験機において、摺動
部材としては、日立金属社製のAHSアルミで、直径が60m
mの円柱表面を表面粗さ0.2a(JIS Ra表示にて0.2μ
m)に仕上げたシリンダを、VTRの回転ヘッドアセンブ
リの固定シリンダをシミュレートしたものとして用い、
S−VHSビデオテープST−120を装填して、入側テープテ
ンションセンサ8の読み取り値を10g、テープ速度を33m
m/secに設定し、シリンダへ9へのテープ巻き付け角度
を0〜225度の範囲で変化させた時の出側テンションの
増加を出側テープテンションセンサ12で測定した。
第2図は、この測定結果をグラフで示したもので、こ
のグラフから明らかなように、ビデオテープのシリンダ
への巻きつけ角度が大きくなるほどシリンダの出側テン
ションが大きくなっており、ビデオテープの巻きつけ角
度を連続的に変化させたときのビデオテープとシリンダ
との間に生じる摩擦力の変化を、広範囲にわたって、連
続的かつ高精度で測定することができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明のテープ走行試験機に
あっては、走行するテープが摺接部材と摺接する際、ル
ープ軌道に沿って移動する摺接調整用ガイドローラによ
って、摺接部材との摺接を連続的に調整しているため、
広範囲にわたって、連続的かつ精密な調整が行え、第2
図のグラフに示すように、テープと摺動部材との間に生
じる摩擦力の変化を、広範囲にわたって、連続的かつ高
精度で測定することができる。従って、精度の高いテー
プ走行試験を広範囲で連続的に行うことができる。ま
た、テープの走行調整は摺接調整用ガイドローラのみに
よって行われるため、摺接調整用ガイドローラの傾き等
を姿勢調整するだけで、テープエッジが摺接調整用ガイ
ドローラのフランジに押しつけられたりして、ダメージ
を受けないようにすることができ、姿勢調整が容易で、
精度の高いテープ走行が容易に行える。
【図面の簡単な説明】 第1図はこの発明のテープ走行試験機の一実施例を示す
概略説明図、第2図はこの発明のテープ走行試験機で試
験したビデオテープのシリンダへの巻きつけ角度とシリ
ンダの出側テンションとの関係図、第3図および第4図
は従来のテープ走行試験機の概略説明図である。 1……供給リール、2……テープ、3,5,15,17……ガイ
ドローラ、4,16……テンションローラ、6,13……キャプ
スタン、7,14……ピンチローラ、8……入り側テープテ
ンションセンサ、9……シリンダ(摺接部材)、10……
摺接調整用ガイドローラ、11……スライドレール、12…
…出側テープテンションセンサ、18……巻き取りリール

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】テープを連続的に走行させる走行機構を設
    け、この走行機構のテープ走行経路中に、摺接部材を配
    設するとともに、この摺接部材に摺接しながら走行する
    テープを案内する摺接調整用ガイドローラを、摺接部材
    を囲むループ軌道に沿って移動可能に配設したことを特
    徴とするテープ走行試験機
JP1141975A 1989-06-02 1989-06-02 テープ走行試験機 Expired - Lifetime JP2741067B2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP1141975A JP2741067B2 (ja) 1989-06-02 1989-06-02 テープ走行試験機

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JPH038166A JPH038166A (ja) 1991-01-16
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