JP2738494B2 - 抵抗溶接機の溶接電流制御方法および装置 - Google Patents
抵抗溶接機の溶接電流制御方法および装置Info
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- JP2738494B2 JP2738494B2 JP24258893A JP24258893A JP2738494B2 JP 2738494 B2 JP2738494 B2 JP 2738494B2 JP 24258893 A JP24258893 A JP 24258893A JP 24258893 A JP24258893 A JP 24258893A JP 2738494 B2 JP2738494 B2 JP 2738494B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は抵抗溶接機の溶接電流制
御方法および装置に関し、一層詳細には、予め設定され
た基準電流波形に追従させた溶接電流をワークに通電す
る抵抗溶接機において、溶接電流値と基準電流値との差
に基づいて前記基準電流波形の立下り波形を修正し、こ
の修正された修正電流波形に基づいてワークに通電する
溶接電流を制御する抵抗溶接機の溶接電流制御方法およ
び装置に関する。
御方法および装置に関し、一層詳細には、予め設定され
た基準電流波形に追従させた溶接電流をワークに通電す
る抵抗溶接機において、溶接電流値と基準電流値との差
に基づいて前記基準電流波形の立下り波形を修正し、こ
の修正された修正電流波形に基づいてワークに通電する
溶接電流を制御する抵抗溶接機の溶接電流制御方法およ
び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、自動車の車体等のワークを溶接す
るために抵抗溶接機が多く用いられている。この種の抵
抗溶接機では、溶接されるワークの重ね枚数、ワークの
端部若しくは中央部等の溶接点の部位、溶接されるワー
クの厚さおよび溶接されるワークの材質等、溶接点毎に
条件が異なるとき、夫々の溶接点毎に基準となる基準電
流波形が設定され、これらの基準電流波形に基づいて生
成された溶接電流を夫々の溶接点に通電する方法が用い
られている。
るために抵抗溶接機が多く用いられている。この種の抵
抗溶接機では、溶接されるワークの重ね枚数、ワークの
端部若しくは中央部等の溶接点の部位、溶接されるワー
クの厚さおよび溶接されるワークの材質等、溶接点毎に
条件が異なるとき、夫々の溶接点毎に基準となる基準電
流波形が設定され、これらの基準電流波形に基づいて生
成された溶接電流を夫々の溶接点に通電する方法が用い
られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術では、予め初期設定された電極チップ間の抵抗値
が、電極チップの摩耗、ワーク間に混入した塵、若しく
は電極チップでワークを挟持する際の加圧力等により変
化した場合は、基準電流波形と同一波形の電流をワーク
に通電することができないという問題がある。
来技術では、予め初期設定された電極チップ間の抵抗値
が、電極チップの摩耗、ワーク間に混入した塵、若しく
は電極チップでワークを挟持する際の加圧力等により変
化した場合は、基準電流波形と同一波形の電流をワーク
に通電することができないという問題がある。
【０００４】本発明はこのような従来の問題を解決する
ためになされたものであって、電極チップ間の抵抗値が
初期設定された値と異なる場合であっても、安定したナ
ゲットを得ることができる抵抗溶接機の溶接電流制御方
法および装置を提供することを目的とする。
ためになされたものであって、電極チップ間の抵抗値が
初期設定された値と異なる場合であっても、安定したナ
ゲットを得ることができる抵抗溶接機の溶接電流制御方
法および装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、第１の発明は、予め記憶された基準電流波形に基
づいて生成された電流をワークに供給し、所定のサンプ
リングタイム毎に前記ワークに通電された溶接電流値を
検出する第１のステップと、前記検出された溶接電流値
と、前記基準電流波形における前記サンプリングタイム
毎の電流値との電流差が設定範囲以内か否かを判定する
第２のステップと、前記電流差が前記設定範囲を越える
とき、当該越える回数が所定回数以上か否かを判定し、
且つ、前記設定範囲を越える回数が所定数以上であると
き、前記溶接電流の尖頭値を検出する第３のステップ
と、前記検出された溶接電流の尖頭値が設定値以内であ
るとき、前記溶接電流が通電開始時から前記尖頭値に達
するまでの経過時間を測定する第４のステップと、前記
経過時間と前記尖頭値とに基づいて前記予め記憶された
基準電流波形の立下り波形を修正した修正電流波形を生
成する第５のステップと、前記生成された修正電流波形
に基づいて前記ワークに供給する電流を生成する第６の
ステップと、からなることを特徴とする。
めに、第１の発明は、予め記憶された基準電流波形に基
づいて生成された電流をワークに供給し、所定のサンプ
リングタイム毎に前記ワークに通電された溶接電流値を
検出する第１のステップと、前記検出された溶接電流値
と、前記基準電流波形における前記サンプリングタイム
毎の電流値との電流差が設定範囲以内か否かを判定する
第２のステップと、前記電流差が前記設定範囲を越える
とき、当該越える回数が所定回数以上か否かを判定し、
且つ、前記設定範囲を越える回数が所定数以上であると
き、前記溶接電流の尖頭値を検出する第３のステップ
と、前記検出された溶接電流の尖頭値が設定値以内であ
るとき、前記溶接電流が通電開始時から前記尖頭値に達
するまでの経過時間を測定する第４のステップと、前記
経過時間と前記尖頭値とに基づいて前記予め記憶された
基準電流波形の立下り波形を修正した修正電流波形を生
成する第５のステップと、前記生成された修正電流波形
に基づいて前記ワークに供給する電流を生成する第６の
ステップと、からなることを特徴とする。
【０００６】さらに、第２の発明は、基準となる基準電
流波形を予め記憶する基準電流波形記憶手段と、前記基
準電流波形に基づいて生成され、前記ワークに供給され
た溶接電流を検出する溶接電流検出手段と、前記検出さ
れた溶接電流値と前記基準電流波形の電流値との電流差
を所定のサンプリングタイム毎に演算する電流差演算手
段と、前記電流差が設定値以上か否かを判定し、且つ、
前記電流差が設定値以上であるとき、前記設定値以上と
なった回数が設定回数以上か否かを判定する判定手段
と、前記電流差が設定値以上となった回数が設定回数以
上であるとき、前記溶接電流が尖頭値に達したか否かを
判定し、且つ前記溶接電流が前記尖頭値に達したとき、
前記尖頭値が設定値以上か否かを判定する尖頭電流値判
定手段と、前記溶接電流が尖頭値に達したと前記尖頭電
流値判定手段によって判定されたとき、前記溶接電流が
通電開始時から尖頭値に達するまでの経過時間を測定す
る経過時間測定手段と、前記測定された経過時間と前記
尖頭値とに基づいて、前記基準電流波形の立下り波形を
修正して修正電流波形を生成する電流波形修正手段と、
を備え、前記修正電流波形に基づいてワークに供給する
電流を生成することを特徴とする。
流波形を予め記憶する基準電流波形記憶手段と、前記基
準電流波形に基づいて生成され、前記ワークに供給され
た溶接電流を検出する溶接電流検出手段と、前記検出さ
れた溶接電流値と前記基準電流波形の電流値との電流差
を所定のサンプリングタイム毎に演算する電流差演算手
段と、前記電流差が設定値以上か否かを判定し、且つ、
前記電流差が設定値以上であるとき、前記設定値以上と
なった回数が設定回数以上か否かを判定する判定手段
と、前記電流差が設定値以上となった回数が設定回数以
上であるとき、前記溶接電流が尖頭値に達したか否かを
判定し、且つ前記溶接電流が前記尖頭値に達したとき、
前記尖頭値が設定値以上か否かを判定する尖頭電流値判
定手段と、前記溶接電流が尖頭値に達したと前記尖頭電
流値判定手段によって判定されたとき、前記溶接電流が
通電開始時から尖頭値に達するまでの経過時間を測定す
る経過時間測定手段と、前記測定された経過時間と前記
尖頭値とに基づいて、前記基準電流波形の立下り波形を
修正して修正電流波形を生成する電流波形修正手段と、
を備え、前記修正電流波形に基づいてワークに供給する
電流を生成することを特徴とする。
【０００７】
【作用】本発明に係る抵抗溶接機の溶接電流制御方法お
よび装置では、ワークに通電される溶接電流値と基準電
流波形における電流値との電流差を所定のサンプリング
タイム毎に演算し、当該電流差が設定値以上か否かを判
定する。前記電流差が設定値以上であるとき、前記電流
差が設定値以上となった回数が設定回数以上か否かを判
定し、当該回数が設定回数以上であるとき、前記溶接電
流が尖頭値に達したか否かを判定する。
よび装置では、ワークに通電される溶接電流値と基準電
流波形における電流値との電流差を所定のサンプリング
タイム毎に演算し、当該電流差が設定値以上か否かを判
定する。前記電流差が設定値以上であるとき、前記電流
差が設定値以上となった回数が設定回数以上か否かを判
定し、当該回数が設定回数以上であるとき、前記溶接電
流が尖頭値に達したか否かを判定する。
【０００８】次いで、溶接電流値が尖頭値に達したと
き、前記尖頭値が設定値以上か否かを判定し、該尖頭値
が設定値以上であるとき、前記溶接電流の通電開始から
尖頭値までの経過時間を測定して、前記尖頭値と前記経
過時間とから基準電流波形の立下り波形を修正した修正
電流波形を生成し、前記修正電流波形に基づいた溶接電
流をワークに通電する。
き、前記尖頭値が設定値以上か否かを判定し、該尖頭値
が設定値以上であるとき、前記溶接電流の通電開始から
尖頭値までの経過時間を測定して、前記尖頭値と前記経
過時間とから基準電流波形の立下り波形を修正した修正
電流波形を生成し、前記修正電流波形に基づいた溶接電
流をワークに通電する。
【０００９】このため、電極チップ間の抵抗値が変化し
た場合であっても、基準電流波形と平均値が同一となる
溶接電流をワークに通電することができる。
た場合であっても、基準電流波形と平均値が同一となる
溶接電流をワークに通電することができる。
【００１０】
【実施例】次に、本発明に係る抵抗溶接機の溶接電流制
御方法について、それを実施する装置との関係におい
て、好適な実施例を挙げ、添付の図面を参照しながら以
下詳細に説明する。
御方法について、それを実施する装置との関係におい
て、好適な実施例を挙げ、添付の図面を参照しながら以
下詳細に説明する。
【００１１】図１は本発明を実施する抵抗溶接機２０の
全体構成を示すブロック図である。
全体構成を示すブロック図である。
【００１２】抵抗溶接機２０は交流電源２１から出力さ
れる交流を直流に変換するコンバータ回路２２と、この
直流を高周波交流に変換するインバータ回路２４と、前
記高周波交流を変成し、且つ整流する溶接トランス回路
２６と、ワークＷを挟持する溶接ガン部２８と、ワーク
Ｗに通電される溶接電流を制御する溶接コントローラ３
０とを備える。
れる交流を直流に変換するコンバータ回路２２と、この
直流を高周波交流に変換するインバータ回路２４と、前
記高周波交流を変成し、且つ整流する溶接トランス回路
２６と、ワークＷを挟持する溶接ガン部２８と、ワーク
Ｗに通電される溶接電流を制御する溶接コントローラ３
０とを備える。
【００１３】さらに、抵抗溶接機２０は、ワークＷに通
電される溶接電流ＩW を検出する電流検出器３４と、溶
接コントローラ３０に対して加圧時間、溶接電流の尖頭
値、および溶接電流の通電時間等の溶接条件を入力する
ためのキーボード３６と、この溶接条件を表示するディ
スプレイ装置３８と、外部記憶手段であるフロッピデス
クに対してデータを書き込む／読み込むフロッピデスク
ドライバ（ＦＤＤ）３９とを備える。
電される溶接電流ＩW を検出する電流検出器３４と、溶
接コントローラ３０に対して加圧時間、溶接電流の尖頭
値、および溶接電流の通電時間等の溶接条件を入力する
ためのキーボード３６と、この溶接条件を表示するディ
スプレイ装置３８と、外部記憶手段であるフロッピデス
クに対してデータを書き込む／読み込むフロッピデスク
ドライバ（ＦＤＤ）３９とを備える。
【００１４】前記溶接ガン部２８はワークＷを挟持する
ガンアーム４０および４１と、このガンアーム４０、４
１に固着される電極チップ４２および４３と、前記ガン
アーム４０、４１を開閉自在に駆動するシリンダ４４と
からなり、該シリンダ４４には電磁切替弁４６を介して
空気圧源４８が接続される。前記電磁切替弁４６の切替
動作は前記溶接コントローラ３０によって制御される。
ガンアーム４０および４１と、このガンアーム４０、４
１に固着される電極チップ４２および４３と、前記ガン
アーム４０、４１を開閉自在に駆動するシリンダ４４と
からなり、該シリンダ４４には電磁切替弁４６を介して
空気圧源４８が接続される。前記電磁切替弁４６の切替
動作は前記溶接コントローラ３０によって制御される。
【００１５】図２は溶接コントローラ３０の構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【００１６】溶接コントローラ３０は、電流検出器３４
に検出された溶接電流ＩW をデジタル値に変換するアナ
ログ／デジタル（以下、Ａ／Ｄという）変換回路５２
と、中央処理装置（以下、ＣＰＵという）５８と、この
ＣＰＵ５８から出力される溶接電流の指令値Ｉcmd をア
ナログ値に変換するデジタル／アナログ（以下、Ｄ／Ａ
という）変換回路６０と、該Ｄ／Ａ変換回路６０から出
力される信号に基づいてパルスを生成するパルス幅変調
（以下、ＰＷＭという）回路６２とを備え、このＰＷＭ
回路６２によって生成されたパルスは前記インバータ回
路２４に対して出力される。
に検出された溶接電流ＩW をデジタル値に変換するアナ
ログ／デジタル（以下、Ａ／Ｄという）変換回路５２
と、中央処理装置（以下、ＣＰＵという）５８と、この
ＣＰＵ５８から出力される溶接電流の指令値Ｉcmd をア
ナログ値に変換するデジタル／アナログ（以下、Ｄ／Ａ
という）変換回路６０と、該Ｄ／Ａ変換回路６０から出
力される信号に基づいてパルスを生成するパルス幅変調
（以下、ＰＷＭという）回路６２とを備え、このＰＷＭ
回路６２によって生成されたパルスは前記インバータ回
路２４に対して出力される。
【００１７】溶接コントローラ３０は、抵抗溶接機２０
を制御するための制御プログラムが記憶される読み出し
専用メモリ（以下、ＲＯＭという）６４と、前記ＣＰＵ
５８が演算中に演算結果を一時的に記憶する読み書き可
能なメモリ（以下、ＲＡＭという）６６と、キーボード
３６、ディスプレイ装置３８、ＦＤＤ３９および電磁切
替弁４６のインターフェース（以下、Ｉ／Ｆという）回
路６８とを備える。
を制御するための制御プログラムが記憶される読み出し
専用メモリ（以下、ＲＯＭという）６４と、前記ＣＰＵ
５８が演算中に演算結果を一時的に記憶する読み書き可
能なメモリ（以下、ＲＡＭという）６６と、キーボード
３６、ディスプレイ装置３８、ＦＤＤ３９および電磁切
替弁４６のインターフェース（以下、Ｉ／Ｆという）回
路６８とを備える。
【００１８】溶接コントローラ３０は、基準となる基準
電流波形が予め記憶される基準電流波形記憶回路７０
と、サンプリングタイムｔ1 毎に基準電流波形の電流値
ＩS と検出された溶接電流ＩW との電流差ＩD を演算す
る電流差演算回路７２と、前記電流差ＩD が設定範囲±
Ｉd 以内か否かを判定し、且つ前記電流差ＩD が設定範
囲±Ｉd を越えたとき、この設定範囲±Ｉd を越えた回
数Ｎが設定回数ｍに達したか否かを判定する判定回路７
４とを備える。
電流波形が予め記憶される基準電流波形記憶回路７０
と、サンプリングタイムｔ1 毎に基準電流波形の電流値
ＩS と検出された溶接電流ＩW との電流差ＩD を演算す
る電流差演算回路７２と、前記電流差ＩD が設定範囲±
Ｉd 以内か否かを判定し、且つ前記電流差ＩD が設定範
囲±Ｉd を越えたとき、この設定範囲±Ｉd を越えた回
数Ｎが設定回数ｍに達したか否かを判定する判定回路７
４とを備える。
【００１９】さらに、溶接コントローラ３０は、電流検
出器３４に検出された溶接電流ＩWが尖頭値ＩP に達し
たか否かを判定し、且つ、前記尖頭値ＩP が設定値Ｉ
Pmin以上か否かを判定する尖頭電流値判定回路７６と、
溶接電流ＩW が尖頭値ＩP に達するまでの経過時間ｔP
を測定する経過時間測定回路７８と、基準電流波形を修
正する電流波形修正回路８０とを備える。
出器３４に検出された溶接電流ＩWが尖頭値ＩP に達し
たか否かを判定し、且つ、前記尖頭値ＩP が設定値Ｉ
Pmin以上か否かを判定する尖頭電流値判定回路７６と、
溶接電流ＩW が尖頭値ＩP に達するまでの経過時間ｔP
を測定する経過時間測定回路７８と、基準電流波形を修
正する電流波形修正回路８０とを備える。
【００２０】以上のように構成される抵抗溶接機２０に
おいて、ワークＷを溶接する作用について、図３のフロ
ーチャートを参照して説明する。
おいて、ワークＷを溶接する作用について、図３のフロ
ーチャートを参照して説明する。
【００２１】ＲＯＭ６４から読み出されたプログラムに
基づいてＣＰＵ５８からＩ／Ｆ回路６８を介して電磁切
替弁４６の駆動信号が出力されると、この駆動信号によ
って電磁切替弁４６が開弁され、空気圧源４８からシリ
ンダ４４に対して圧力空気が送給される。前記圧力空気
によるシリンダ４４の動作によりガンアーム４０、４１
が閉動し、このガンアーム４０、４１に取着された電極
チップ４２、４３によってワークＷが挟持される。
基づいてＣＰＵ５８からＩ／Ｆ回路６８を介して電磁切
替弁４６の駆動信号が出力されると、この駆動信号によ
って電磁切替弁４６が開弁され、空気圧源４８からシリ
ンダ４４に対して圧力空気が送給される。前記圧力空気
によるシリンダ４４の動作によりガンアーム４０、４１
が閉動し、このガンアーム４０、４１に取着された電極
チップ４２、４３によってワークＷが挟持される。
【００２２】次いで、第１のサンプリングタイムｔ1 に
おける基準電流波形（図４（イ）参照）のデータが基準
電流波形記憶回路７０からＣＰＵ５８によって読み出さ
れて、このデータに基づいた電流の指令値Ｉcmd がＤ／
Ａ変換回路６０に対して出力される。
おける基準電流波形（図４（イ）参照）のデータが基準
電流波形記憶回路７０からＣＰＵ５８によって読み出さ
れて、このデータに基づいた電流の指令値Ｉcmd がＤ／
Ａ変換回路６０に対して出力される。
【００２３】前記電流の指令値Ｉcmd はＤ／Ａ変換回路
６０でアナログの指令値Ｉf に変換されてＰＷＭ回路６
２に対して出力され、この指令値Ｉf はＰＷＭ回路６２
でパルス幅変調されて所定の周波数とデューティサイク
ルのパルスとなり、インバータ回路２４に対して出力さ
れる。
６０でアナログの指令値Ｉf に変換されてＰＷＭ回路６
２に対して出力され、この指令値Ｉf はＰＷＭ回路６２
でパルス幅変調されて所定の周波数とデューティサイク
ルのパルスとなり、インバータ回路２４に対して出力さ
れる。
【００２４】前記パルスに基づいてインバータ回路２４
で高周波交流が生成され、この高周波交流は溶接トラン
ス回路２６に対して出力される。溶接トランス回路２６
によって高周波交流が変成、且つ整流されて溶接電流Ｉ
W が生成され、この溶接電流ＩW が溶接ガン部２８を介
してワークＷに通電される（ステップＳ１）。
で高周波交流が生成され、この高周波交流は溶接トラン
ス回路２６に対して出力される。溶接トランス回路２６
によって高周波交流が変成、且つ整流されて溶接電流Ｉ
W が生成され、この溶接電流ＩW が溶接ガン部２８を介
してワークＷに通電される（ステップＳ１）。
【００２５】前記ワークＷに通電された溶接電流ＩW は
電流検出器３４によって検出され、Ａ／Ｄ変換回路５２
を介してＣＰＵ５８によって読み取られて（ステップＳ
２）、電流差演算回路７２に対して出力される。
電流検出器３４によって検出され、Ａ／Ｄ変換回路５２
を介してＣＰＵ５８によって読み取られて（ステップＳ
２）、電流差演算回路７２に対して出力される。
【００２６】電流差演算回路７２では基準電流波形記憶
回路７０から出力された第１のサンプリングタイムｔ1
における基準電流波形の電流値ＩS から、電流検出器３
４によって検出された溶接電流ＩW が減算され（ＩS −
ＩW ＝ＩD ）（ステップＳ３）、この電流差ＩD が判定
回路７４に対して出力される。
回路７０から出力された第１のサンプリングタイムｔ1
における基準電流波形の電流値ＩS から、電流検出器３
４によって検出された溶接電流ＩW が減算され（ＩS −
ＩW ＝ＩD ）（ステップＳ３）、この電流差ＩD が判定
回路７４に対して出力される。
【００２７】前記電流差ＩD は判定回路７４で設定範囲
±Ｉd 以内か否かが判定され（ステップＳ４）、電流差
ＩD が設定範囲±Ｉd を越えたとき、さらに、電流差Ｉ
D が設定範囲±Ｉd を越えた回数Ｎが所定回数ｍに達し
たか否かが判定される（ステップＳ５）。
±Ｉd 以内か否かが判定され（ステップＳ４）、電流差
ＩD が設定範囲±Ｉd を越えたとき、さらに、電流差Ｉ
D が設定範囲±Ｉd を越えた回数Ｎが所定回数ｍに達し
たか否かが判定される（ステップＳ５）。
【００２８】この判定の結果、回数Ｎが所定回数ｍに達
しないとき、電流差ＩD が設定範囲±Ｉd を越えた回数
Ｎが所定回数ｍに達するまで、サンプリングタイムｔ1
毎にステップＳ２〜Ｓ５が実行される。
しないとき、電流差ＩD が設定範囲±Ｉd を越えた回数
Ｎが所定回数ｍに達するまで、サンプリングタイムｔ1
毎にステップＳ２〜Ｓ５が実行される。
【００２９】一方、ステップＳ５の判定で電流差ＩD が
設定範囲±Ｉd を越えた回数Ｎが所定数ｍに達したと
き、溶接電流ＩW が尖頭値ＩP に達したと尖頭電流値判
定回路７６によって判定されるまで、基準電流波形に基
づいて生成された溶接電流ＩWがワークＷに通電され
（ステップＳ６）、溶接電流ＩW が尖頭値ＩP に達した
と判定されたときは、尖頭値ＩP が設定値ＩPmin越えた
か否かが尖頭電流値判定回路７６によって判定される
（ステップＳ７）。
設定範囲±Ｉd を越えた回数Ｎが所定数ｍに達したと
き、溶接電流ＩW が尖頭値ＩP に達したと尖頭電流値判
定回路７６によって判定されるまで、基準電流波形に基
づいて生成された溶接電流ＩWがワークＷに通電され
（ステップＳ６）、溶接電流ＩW が尖頭値ＩP に達した
と判定されたときは、尖頭値ＩP が設定値ＩPmin越えた
か否かが尖頭電流値判定回路７６によって判定される
（ステップＳ７）。
【００３０】この判定で尖頭値ＩP が設定値ＩPminを越
えたと判定されたとき、経過時間測定回路７８によって
溶接電流ＩW が尖頭値ＩP に達するまでの経過時間ｔp
が測定され（ステップＳ８）、この経過時間ｔp と前記
尖頭値ＩP とに基づいて、基準電流波形の立下り開始時
間を遅延させた修正電流波形が電流波形修正回路８０に
よって生成される（図４（ロ）参照）（ステップＳ
９）。
えたと判定されたとき、経過時間測定回路７８によって
溶接電流ＩW が尖頭値ＩP に達するまでの経過時間ｔp
が測定され（ステップＳ８）、この経過時間ｔp と前記
尖頭値ＩP とに基づいて、基準電流波形の立下り開始時
間を遅延させた修正電流波形が電流波形修正回路８０に
よって生成される（図４（ロ）参照）（ステップＳ
９）。
【００３１】この場合、電流波形修正回路８０は基準電
流波形記憶回路７０に記憶された基準電流波形の平均値
と同一となるように、前記修正電流波形を生成する。
流波形記憶回路７０に記憶された基準電流波形の平均値
と同一となるように、前記修正電流波形を生成する。
【００３２】次いで、前記修正電流波形に基づいた電流
に関する信号がＣＰＵ５８によって生成され、この修正
電流波形に基づいた溶接電流ＩW （図４（ハ）参照）
が、前述のステップＳ１と同様の作用でワークＷに通電
される（ステップＳ１０）。
に関する信号がＣＰＵ５８によって生成され、この修正
電流波形に基づいた溶接電流ＩW （図４（ハ）参照）
が、前述のステップＳ１と同様の作用でワークＷに通電
される（ステップＳ１０）。
【００３３】一方、ステップＳ４における判定で、電流
差ＩD が設定範囲±Ｉd 以内と判定されたとき、尖頭電
流値判定回路７６により溶接電流ＩW が尖頭値ＩP に達
したか否かが判定され（ステップＳ１１）、この判定で
尖頭値ＩP に達しないと判定された場合は、サンプリン
グタイムｔ1 毎にステップＳ２〜Ｓ４が実行される。
差ＩD が設定範囲±Ｉd 以内と判定されたとき、尖頭電
流値判定回路７６により溶接電流ＩW が尖頭値ＩP に達
したか否かが判定され（ステップＳ１１）、この判定で
尖頭値ＩP に達しないと判定された場合は、サンプリン
グタイムｔ1 毎にステップＳ２〜Ｓ４が実行される。
【００３４】また、ステップＳ１１の判定で尖頭値ＩP
に達したと判定されたとき、電流差ＩD が設定範囲±Ｉ
d を越えた回数Ｎが所定回数ｍに達することなく溶接電
流Ｉ w が尖頭値ＩP に達したと尖頭電流値判定回路７６
に判定され、前述のステップＳ７以降が実行されて、尖
頭値ＩP と尖頭値ＩP に至るまでの経過時間ｔp とに基
づいて前述のステップＳ９で修正電流波形が生成され
（図４（ニ）参照）、ステップＳ１０で修正電流波形に
基づいて生成された溶接電流ＩW がワークＷに通電され
る（図４（ホ）参照）。
に達したと判定されたとき、電流差ＩD が設定範囲±Ｉ
d を越えた回数Ｎが所定回数ｍに達することなく溶接電
流Ｉ w が尖頭値ＩP に達したと尖頭電流値判定回路７６
に判定され、前述のステップＳ７以降が実行されて、尖
頭値ＩP と尖頭値ＩP に至るまでの経過時間ｔp とに基
づいて前述のステップＳ９で修正電流波形が生成され
（図４（ニ）参照）、ステップＳ１０で修正電流波形に
基づいて生成された溶接電流ＩW がワークＷに通電され
る（図４（ホ）参照）。
【００３５】この場合、図４（ホ）に示す溶接電流ＩW
は図４（イ）に示す基準電流波形と比較して図４の斜線
部（ト）に相当する電流量が不足する。そこで、基準電
流波形の立下り波形を図４（ニ）に修正し、この修正電
流波形に基づいて生成された溶接電流ＩW を供給するこ
とによって、図４の斜線部（チ）に相当する電流量が増
加し、この斜線部（チ）に相当する電流量によって前記
斜線部（ト）に相当する不足電流量を補充する。
は図４（イ）に示す基準電流波形と比較して図４の斜線
部（ト）に相当する電流量が不足する。そこで、基準電
流波形の立下り波形を図４（ニ）に修正し、この修正電
流波形に基づいて生成された溶接電流ＩW を供給するこ
とによって、図４の斜線部（チ）に相当する電流量が増
加し、この斜線部（チ）に相当する電流量によって前記
斜線部（ト）に相当する不足電流量を補充する。
【００３６】一方、ステップＳ７において、溶接電流Ｉ
W の尖頭値ＩP が設定値ＩPminを越えなかったと尖頭電
流値判定回路７６によって判定されたとき（図４（ヘ）
参照）、電極チップ４２、４３によるワークＷの挟持状
態が不充分であるため、電極チップ４２、４３間の抵抗
値が著しく増加したと判定されて、通電が中止され（ス
テップＳ１２）、さらに、挟持状態の異常を示すエラー
メッセージに関する信号がディスプレイ装置３８に対し
て出力されて（ステップＳ１３）、このフローチャート
の実行が終了される。
W の尖頭値ＩP が設定値ＩPminを越えなかったと尖頭電
流値判定回路７６によって判定されたとき（図４（ヘ）
参照）、電極チップ４２、４３によるワークＷの挟持状
態が不充分であるため、電極チップ４２、４３間の抵抗
値が著しく増加したと判定されて、通電が中止され（ス
テップＳ１２）、さらに、挟持状態の異常を示すエラー
メッセージに関する信号がディスプレイ装置３８に対し
て出力されて（ステップＳ１３）、このフローチャート
の実行が終了される。
【００３７】以上説明したように、本実施例によれば、
電極チップ４２、４３間の抵抗値が増加した場合であっ
ても、溶接電流ＩW の尖頭値ＩP が設定値ＩPmin以上で
あれば、溶接電流ＩW の尖頭値ＩP と尖頭値ＩP までの
経過時間ｔP とによって修正電流波形を生成することに
より、基準電流波形記憶回路７０に記憶されている基準
電流波形の平均値と同一の平均値となる電流を溶接点に
対して供給することができる。
電極チップ４２、４３間の抵抗値が増加した場合であっ
ても、溶接電流ＩW の尖頭値ＩP が設定値ＩPmin以上で
あれば、溶接電流ＩW の尖頭値ＩP と尖頭値ＩP までの
経過時間ｔP とによって修正電流波形を生成することに
より、基準電流波形記憶回路７０に記憶されている基準
電流波形の平均値と同一の平均値となる電流を溶接点に
対して供給することができる。
【００３８】さらに、溶接電流ＩW の尖頭値ＩP が設定
値ＩPmin以下であれば、電極チップ４２、４３によるワ
ークＷの挟持状態が著しく不充分と判定することができ
る。
値ＩPmin以下であれば、電極チップ４２、４３によるワ
ークＷの挟持状態が著しく不充分と判定することができ
る。
【００３９】
【発明の効果】本発明に係る抵抗溶接機の溶接電流制御
方法および装置では、電極チップ間の抵抗値が変化した
場合であっても、基準電流波形と同一の平均値となる電
流をワークに通電することができるため、初期設定され
た電流量を常に溶接点に対して供給することが可能とな
り、良質のナゲットを安定して得ることができるという
効果が得られる。
方法および装置では、電極チップ間の抵抗値が変化した
場合であっても、基準電流波形と同一の平均値となる電
流をワークに通電することができるため、初期設定され
た電流量を常に溶接点に対して供給することが可能とな
り、良質のナゲットを安定して得ることができるという
効果が得られる。
【図１】本発明を実施する抵抗溶接機の全体構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】図１の抵抗溶接機における溶接コントローラの
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図３】図１の抵抗溶接機において、ワークを溶接する
方法を説明するフローチャトである。
方法を説明するフローチャトである。
【図４】図１の抵抗溶接機において、基準電流波形記憶
回路に記憶される基準電流波形と、修正された修正電流
波形と、ワークに通電される電流との関係を説明する図
である。
回路に記憶される基準電流波形と、修正された修正電流
波形と、ワークに通電される電流との関係を説明する図
である。
２０…抵抗溶接機 ２４…インバー
タ回路 ２６…溶接トランス回路 ２８…溶接ガン
部 ３０…溶接コントローラ ３４…電流検出
器 ４０、４１…ガンアーム ４２、４３…電
極チップ ５２…Ａ／Ｄ変換回路 ５８…ＣＰＵ ７０…基準電流波形記憶回路 ７２…電流差演
算回路 ７４…判定回路 ７６…尖頭電流
値判定回路 ７８…経過時間測定回路 ８０…電流波形
修正回路
タ回路 ２６…溶接トランス回路 ２８…溶接ガン
部 ３０…溶接コントローラ ３４…電流検出
器 ４０、４１…ガンアーム ４２、４３…電
極チップ ５２…Ａ／Ｄ変換回路 ５８…ＣＰＵ ７０…基準電流波形記憶回路 ７２…電流差演
算回路 ７４…判定回路 ７６…尖頭電流
値判定回路 ７８…経過時間測定回路 ８０…電流波形
修正回路
Claims (3)
- 【請求項１】予め記憶された基準電流波形に基づいて生
成された電流をワークに供給し、所定のサンプリングタ
イム毎に前記ワークに通電された溶接電流値を検出する
第１のステップと、 前記検出された溶接電流値と、前記基準電流波形におけ
る前記サンプリングタイム毎の電流値との電流差が設定
範囲以内か否かを判定する第２のステップと、 前記電流差が前記設定範囲を越えるとき、当該越える回
数が所定回数以上か否かを判定し、且つ、前記設定範囲
を越える回数が所定数以上であるとき、前記溶接電流の
尖頭値を検出する第３のステップと、 前記検出された溶接電流の尖頭値が設定値以内であると
き、前記溶接電流が通電開始時から前記尖頭値に達する
までの経過時間を測定する第４のステップと、 前記経過時間と前記尖頭値とに基づいて前記予め記憶さ
れた基準電流波形の立下り波形を修正した修正電流波形
を生成する第５のステップと、 前記生成された修正電流波形に基づいて前記ワークに供
給する電流を生成する第６のステップと、 からなることを特徴とする抵抗溶接機の溶接電流制御方
法。 - 【請求項２】請求項１記載の溶接電流制御方法におい
て、修正電流波形に基づいて生成される電流の平均値
は、基準電流波形の平均値と同一であることを特徴とす
る抵抗溶接機の溶接電流制御方法。 - 【請求項３】基準となる基準電流波形を予め記憶する基
準電流波形記憶手段と、 前記基準電流波形に基づいて生成され、前記ワークに供
給された溶接電流を検出する溶接電流検出手段と、 前記検出された溶接電流値と前記基準電流波形の電流値
との電流差を所定のサンプリングタイム毎に演算する電
流差演算手段と、 前記電流差が設定値以上か否かを判定し、且つ、前記電
流差が設定値以上であるとき、前記設定値以上となった
回数が設定回数以上か否かを判定する判定手段と、 前記電流差が設定値以上となった回数が設定回数以上で
あるとき、前記溶接電流が尖頭値に達したか否かを判定
し、且つ前記溶接電流が前記尖頭値に達したとき、前記
尖頭値が設定値以上か否かを判定する尖頭電流値判定手
段と、 前記溶接電流が尖頭値に達したと前記尖頭電流値判定手
段によって判定されたとき、前記溶接電流が通電開始時
から尖頭値に達するまでの経過時間を測定する経過時間
測定手段と、 前記測定された経過時間と前記尖頭値とに基づいて、前
記基準電流波形の立下り波形を修正して修正電流波形を
生成する電流波形修正手段と、 を備え、前記修正電流波形に基づいてワークに供給する
電流を生成することを特徴とする抵抗溶接機の溶接電流
制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24258893A JP2738494B2 (ja) | 1993-09-29 | 1993-09-29 | 抵抗溶接機の溶接電流制御方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24258893A JP2738494B2 (ja) | 1993-09-29 | 1993-09-29 | 抵抗溶接機の溶接電流制御方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0796374A JPH0796374A (ja) | 1995-04-11 |
| JP2738494B2 true JP2738494B2 (ja) | 1998-04-08 |
Family
ID=17091294
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24258893A Expired - Fee Related JP2738494B2 (ja) | 1993-09-29 | 1993-09-29 | 抵抗溶接機の溶接電流制御方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2738494B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100278799B1 (ko) * | 1997-09-27 | 2001-04-02 | 황락훈 | 전압형 인버터를 이용한 아크형 전기 용접방법 |
| KR100322345B1 (ko) * | 1999-06-14 | 2002-02-07 | 이준웅 | 점 용접기의 용접 전류 결정 방법 및 장치 |
-
1993
- 1993-09-29 JP JP24258893A patent/JP2738494B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0796374A (ja) | 1995-04-11 |
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