JP2729003B2 - 光記録再生装置における波形整形回路 - Google Patents
光記録再生装置における波形整形回路Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光記録再生装置における
読み出し信号を２値化して、ディジタル再生信号を出力
するための波形整形回路に関する。
読み出し信号を２値化して、ディジタル再生信号を出力
するための波形整形回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】光記録再生装置における等化器の従来例
として、特開昭６２−２３５８２７に開示された等化器
があった。この例では最長マーク波形（最長波長部分）
のエンベロープと最短マーク波形（最短波長部分）のエ
ンベロープのレベルが等しくなるように、等化器の定数
を調整すれば、アイパターンの開口率が最大になること
を開示していた。これは読み出し信号波形のビット間干
渉を補償するための等化であるため、以後これを波形等
化、その回路を波形等化器と呼び、上記の従来例を第１
の従来例と呼ぶことにする。
として、特開昭６２−２３５８２７に開示された等化器
があった。この例では最長マーク波形（最長波長部分）
のエンベロープと最短マーク波形（最短波長部分）のエ
ンベロープのレベルが等しくなるように、等化器の定数
を調整すれば、アイパターンの開口率が最大になること
を開示していた。これは読み出し信号波形のビット間干
渉を補償するための等化であるため、以後これを波形等
化、その回路を波形等化器と呼び、上記の従来例を第１
の従来例と呼ぶことにする。
【０００３】また光記録再生装置における波形整形回路
の従来例として、例えば特開昭５６−８３１２５に開示
された波形整形回路があった。この例では読み出し信号
をスライス信号発生器に入力し、エンベロープの中央レ
ベル信号を発生させ、これをスライス信号として波形整
形を行っていた。以後これを第２の従来例と呼ぶことに
する。
の従来例として、例えば特開昭５６−８３１２５に開示
された波形整形回路があった。この例では読み出し信号
をスライス信号発生器に入力し、エンベロープの中央レ
ベル信号を発生させ、これをスライス信号として波形整
形を行っていた。以後これを第２の従来例と呼ぶことに
する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところが上記第１の従
来例における波形等化器の定数では、ビットジッタが最
小にならず、最適な定数ではないという問題点があっ
た。
来例における波形等化器の定数では、ビットジッタが最
小にならず、最適な定数ではないという問題点があっ
た。
【０００５】図９は波形を用いて説明する図である。図
９において、記録マークＮＭ、ＮＳ、ＮＬをレーザース
ポットＯで読み出すと、読み出し信号ＡＡが得られる
が、記録マークＮＳはレーザースポットＯよりも小さい
ため、記録マークＮＭ、ＮＬよりも読み出し信号ＡＡの
波形レベルが小さくなる。つまり記録マークが短くなれ
ばなるほど、レーザスポットに対する相対的な面積が小
さくなり、光学的な分解能が低くなるためである。この
例において読み出し信号ＡＡは最長マーク波形ＷＬから
最短マーク波形ＷＳまで混じりあった波形を示した例で
ある。従来は破線で示す波形等化後の読み出し信号ＢＢ
において、最長マーク波形ＷＬのエンベロープと最短マ
ーク波形のエンベロープＷＳのレベルが等しくなるよう
に、波形等化器の定数を調整しており、アイパターンの
開口率が最大になることを最適点としていた。
９において、記録マークＮＭ、ＮＳ、ＮＬをレーザース
ポットＯで読み出すと、読み出し信号ＡＡが得られる
が、記録マークＮＳはレーザースポットＯよりも小さい
ため、記録マークＮＭ、ＮＬよりも読み出し信号ＡＡの
波形レベルが小さくなる。つまり記録マークが短くなれ
ばなるほど、レーザスポットに対する相対的な面積が小
さくなり、光学的な分解能が低くなるためである。この
例において読み出し信号ＡＡは最長マーク波形ＷＬから
最短マーク波形ＷＳまで混じりあった波形を示した例で
ある。従来は破線で示す波形等化後の読み出し信号ＢＢ
において、最長マーク波形ＷＬのエンベロープと最短マ
ーク波形のエンベロープＷＳのレベルが等しくなるよう
に、波形等化器の定数を調整しており、アイパターンの
開口率が最大になることを最適点としていた。
【０００６】ところが我々はこれをさらに詳細に研究し
た結果、この従来の波形等化後の読み出し信号ＡＡをス
ライス信号ＤＤでスライスして得られたディジタル再生
信号ＥＥは、実線で示す理想的な波形に比べて破線で示
すようにビットジッタが発生していたという問題点があ
った。特に最短マークＮＳに対するディジタル再生信号
ＥＥの波形が長くなる方向へビットジッタが発生してい
た。即ち、波形等化を過度に行っていた。
た結果、この従来の波形等化後の読み出し信号ＡＡをス
ライス信号ＤＤでスライスして得られたディジタル再生
信号ＥＥは、実線で示す理想的な波形に比べて破線で示
すようにビットジッタが発生していたという問題点があ
った。特に最短マークＮＳに対するディジタル再生信号
ＥＥの波形が長くなる方向へビットジッタが発生してい
た。即ち、波形等化を過度に行っていた。
【０００７】次に上記第２の従来例における波形整形回
路では以下の３つの問題点があった。１つ目は、第１の
従来例で示した読み出し信号ＡＡの最長マーク波形のピ
ークレベルＹＡに比べて、最短マークのピークレベルＸ
Ａが小さかった点であった。従って第２の従来例のみで
は、上記２つの波形間でピークホールド回路におけるコ
ンデンサの充電電圧が異なり、ピークホールド回路の出
力レベルは最長マーク波形ＷＬと最短マーク波形ＷＳで
異なった。つまり光記録再生装置のように、読み出し信
号ＡＡ中に最長マーク波形ＷＬから最短マーク波形ＷＳ
まで様々な波形が様々な順序で連なる場合は、ピークホ
ールド回路の出力信号が激しく変化し、安定なスライス
信号ＤＤが得られないという問題点があった。
路では以下の３つの問題点があった。１つ目は、第１の
従来例で示した読み出し信号ＡＡの最長マーク波形のピ
ークレベルＹＡに比べて、最短マークのピークレベルＸ
Ａが小さかった点であった。従って第２の従来例のみで
は、上記２つの波形間でピークホールド回路におけるコ
ンデンサの充電電圧が異なり、ピークホールド回路の出
力レベルは最長マーク波形ＷＬと最短マーク波形ＷＳで
異なった。つまり光記録再生装置のように、読み出し信
号ＡＡ中に最長マーク波形ＷＬから最短マーク波形ＷＳ
まで様々な波形が様々な順序で連なる場合は、ピークホ
ールド回路の出力信号が激しく変化し、安定なスライス
信号ＤＤが得られないという問題点があった。
【０００８】２つ目は、上記第１の従来例で示したよう
に、たとえ波形等化後の読み出し信号ＡＡの最長マーク
波形のピークレベルＹＡから最短マーク波形までのピー
クレベルＸＢが等しくなるように波形等化しても、最長
マーク波形のピークレベル部分ＹＡからのコンデンサへ
の充電量に比べて、最短マーク波形のピークレベル部分
ＸＢからの充電量の方が少なかった点であった。これは
最長マーク波形のピークレベルＹＡの長さに比べて、最
短マーク波形のピークレベルＸＢの長さが短く、充電期
間が異なるためであった。従って上記２つの波形間でコ
ンデンサの電圧が異なり、ピークホールド回路の出力レ
ベルは最長マーク波形ＷＬと最短マーク波形ＷＳで異な
った。つまり上記１つ目の問題点と同様にピークホール
ド回路の出力信号が激しく変化し、安定なスライス信号
が得られないという問題点があった。
に、たとえ波形等化後の読み出し信号ＡＡの最長マーク
波形のピークレベルＹＡから最短マーク波形までのピー
クレベルＸＢが等しくなるように波形等化しても、最長
マーク波形のピークレベル部分ＹＡからのコンデンサへ
の充電量に比べて、最短マーク波形のピークレベル部分
ＸＢからの充電量の方が少なかった点であった。これは
最長マーク波形のピークレベルＹＡの長さに比べて、最
短マーク波形のピークレベルＸＢの長さが短く、充電期
間が異なるためであった。従って上記２つの波形間でコ
ンデンサの電圧が異なり、ピークホールド回路の出力レ
ベルは最長マーク波形ＷＬと最短マーク波形ＷＳで異な
った。つまり上記１つ目の問題点と同様にピークホール
ド回路の出力信号が激しく変化し、安定なスライス信号
が得られないという問題点があった。
【０００９】３つ目は、ピークホールド回路中のダイオ
ードの順方向電圧ＶDによって、コンデンサにかかる電
圧はＹＡ−ＶD、ＸＢ−ＶDとなり、充電電圧が不足する
点である。このＶDはシリコンダイオードで約０．６
Ｖ、ゲルマニウムダイオードで約０．３Ｖである。これ
により、上記２つ目の問題点と同様に正確なスライス信
号が得られないとの問題点があった。
ードの順方向電圧ＶDによって、コンデンサにかかる電
圧はＹＡ−ＶD、ＸＢ−ＶDとなり、充電電圧が不足する
点である。このＶDはシリコンダイオードで約０．６
Ｖ、ゲルマニウムダイオードで約０．３Ｖである。これ
により、上記２つ目の問題点と同様に正確なスライス信
号が得られないとの問題点があった。
【００１０】図１０は上記第２の従来例をさらに詳細に
説明するため、最短マーク波形ＷＳを正方向に、最長マ
ーク波形ＷＬを負方向にそれぞれ交互に組み合わせた例
である。これは符号データの直流成分を大きくずらした
場合であり、例えば変調方式の一例として直流成分を多
く含む変調方式である２ー７ＲＬＬ変調のＮＲＺＩ記録
を使用した場合に発生する波形例である。ただし、最短
マーク波形は符号「１００１」、最長マーク波形は符号
「１０００００１」で代用している例である。尚、これ
以上マークが長くなっても波形レベルは同じであるた
め、上記変調方式における最長マーク波形は省略する。
説明するため、最短マーク波形ＷＳを正方向に、最長マ
ーク波形ＷＬを負方向にそれぞれ交互に組み合わせた例
である。これは符号データの直流成分を大きくずらした
場合であり、例えば変調方式の一例として直流成分を多
く含む変調方式である２ー７ＲＬＬ変調のＮＲＺＩ記録
を使用した場合に発生する波形例である。ただし、最短
マーク波形は符号「１００１」、最長マーク波形は符号
「１０００００１」で代用している例である。尚、これ
以上マークが長くなっても波形レベルは同じであるた
め、上記変調方式における最長マーク波形は省略する。
【００１１】このエンベロープ等化後の読み出し信号Ａ
Ａをスライス信号発生器に入力すると、波形の正方向で
はすべてピークレベルが小さい波形であり、波形の負方
向ではすべてピークレベルが大きい波形であるため、こ
れを平均化すると図９に比べてスライス信号ＤＤが破線
で示すようにさらに極端にずれることになる。従って、
ディジタル再生信号ＥＥのビットジッタはさらに大きく
発生するという問題点があった。
Ａをスライス信号発生器に入力すると、波形の正方向で
はすべてピークレベルが小さい波形であり、波形の負方
向ではすべてピークレベルが大きい波形であるため、こ
れを平均化すると図９に比べてスライス信号ＤＤが破線
で示すようにさらに極端にずれることになる。従って、
ディジタル再生信号ＥＥのビットジッタはさらに大きく
発生するという問題点があった。
【００１２】このように図１０で示した直流成分を多く
含む変調方式はもとより、図９で示した直流成分が少な
いランダムな符号データの並びや、いわゆるＤＣフリー
の変調方式においても、安定なスライス信号を発生する
ことが困難であった。
含む変調方式はもとより、図９で示した直流成分が少な
いランダムな符号データの並びや、いわゆるＤＣフリー
の変調方式においても、安定なスライス信号を発生する
ことが困難であった。
【００１３】また上記２つの従来例の組み合わせが容易
に考えられるが、たとえ組み合わせたとしても、つまり
上記第１の従来例によって読み出し信号の波形等化を行
なった後、上記第２の従来例によって波形整形を行った
としても、上記第１の従来例における波形等化定数で
は、上述のとおり符号ビット間の干渉によるビットジッ
タが発生し、さらに上記第２の従来例におけるピークホ
ールド回路の出力信号が激しく変化して、安定なスライ
ス信号が得られないという問題点があった。また第１の
従来例とは異なり、符号ビット間の干渉によるビットジ
ッタを最小にできるように波形等化を弱くすると、逆に
最長マーク波形ＷＬと最短マーク波形ＷＳのピークレベ
ルの差が大きくなり、上記第２の従来例におけるピーク
ホールド回路の出力信号がさらに激しく変化し、安定な
スライス信号ＤＤが得られないという問題点があった。
また逆に安定なスライス信号を得ようとして、最短マー
ク波形ＷＳのエンベロープのレベルを最長マーク波形Ｗ
Ｌのエンベロープのレベル以上に大きくすると、今度は
ビットジッタが大きく発生するという問題点があった。
に考えられるが、たとえ組み合わせたとしても、つまり
上記第１の従来例によって読み出し信号の波形等化を行
なった後、上記第２の従来例によって波形整形を行った
としても、上記第１の従来例における波形等化定数で
は、上述のとおり符号ビット間の干渉によるビットジッ
タが発生し、さらに上記第２の従来例におけるピークホ
ールド回路の出力信号が激しく変化して、安定なスライ
ス信号が得られないという問題点があった。また第１の
従来例とは異なり、符号ビット間の干渉によるビットジ
ッタを最小にできるように波形等化を弱くすると、逆に
最長マーク波形ＷＬと最短マーク波形ＷＳのピークレベ
ルの差が大きくなり、上記第２の従来例におけるピーク
ホールド回路の出力信号がさらに激しく変化し、安定な
スライス信号ＤＤが得られないという問題点があった。
また逆に安定なスライス信号を得ようとして、最短マー
ク波形ＷＳのエンベロープのレベルを最長マーク波形Ｗ
Ｌのエンベロープのレベル以上に大きくすると、今度は
ビットジッタが大きく発生するという問題点があった。
【００１４】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の問題点
を解決するために光学的に読み出された読み出し信号の
波形を等化して、符号ビット間の干渉を補償するための
第１の等化器と、上記読み出し信号のエンベロープを等
化するための第２の等化器と、読み出し信号のエンベロ
ープからスライス信号を発生するためのスライス信号発
生器と、上記読み出し信号を２値化するための比較器と
を具備し、上記第１の等化器の出力信号を上記比較器の
一方の入力端子に入力し、上記第２の等化器の出力信号
を上記スライス信号発生器へ入力し、該スライス信号発
生器の出力信号を上記比較器の他方の入力端子に入力す
ることを特徴とした光記録再生装置の波形整形回路であ
る。
を解決するために光学的に読み出された読み出し信号の
波形を等化して、符号ビット間の干渉を補償するための
第１の等化器と、上記読み出し信号のエンベロープを等
化するための第２の等化器と、読み出し信号のエンベロ
ープからスライス信号を発生するためのスライス信号発
生器と、上記読み出し信号を２値化するための比較器と
を具備し、上記第１の等化器の出力信号を上記比較器の
一方の入力端子に入力し、上記第２の等化器の出力信号
を上記スライス信号発生器へ入力し、該スライス信号発
生器の出力信号を上記比較器の他方の入力端子に入力す
ることを特徴とした光記録再生装置の波形整形回路であ
る。
【００１５】
【作用】本発明によればビットジッタを最小にする波形
等化器（第１の等化器）以外に、安定なスライス信号を
得るためのエンベロープを等化する第２の等化器を配置
している（以後波形等化器と区別するために、この第２
の等化器をエンベロープ等化器と呼ぶことにする）。
等化器（第１の等化器）以外に、安定なスライス信号を
得るためのエンベロープを等化する第２の等化器を配置
している（以後波形等化器と区別するために、この第２
の等化器をエンベロープ等化器と呼ぶことにする）。
【００１６】つまり上記の波形等化器によって、符号ビ
ット間の干渉によるビットジッタを最小にし、これとは
独立に上記のエンベロープ等化器によって、最短マーク
波形のピークレベルを最長マーク波形のピークレベル以
上に大きくできるため、ピークホールド回路のコンデン
サへの充電量を等しくでき、又、ダイオードの順方向電
圧を補ってコンデンサへの充電電圧を正確にすることが
でき、安定なスライス信号を得ることが可能となる。
ット間の干渉によるビットジッタを最小にし、これとは
独立に上記のエンベロープ等化器によって、最短マーク
波形のピークレベルを最長マーク波形のピークレベル以
上に大きくできるため、ピークホールド回路のコンデン
サへの充電量を等しくでき、又、ダイオードの順方向電
圧を補ってコンデンサへの充電電圧を正確にすることが
でき、安定なスライス信号を得ることが可能となる。
【００１７】尚、ピークホールド回路のコンデンサへの
充電時間が上記に比べて十分短かい場合は、最短マーク
波形のピークレベルの充電期間でも十分充電できるの
で、エンベロープ等化器においては最長マーク波形のピ
ークレベルと最短マーク波形のピークレベルを等しくし
ても可能である。
充電時間が上記に比べて十分短かい場合は、最短マーク
波形のピークレベルの充電期間でも十分充電できるの
で、エンベロープ等化器においては最長マーク波形のピ
ークレベルと最短マーク波形のピークレベルを等しくし
ても可能である。
【００１８】
【実施例】 （第１の実施例）以下に本発明の第１の実施例につい
て、図１〜図７を用いて説明する。図５は光磁気ディス
ク装置の要部を示す図である。記録データを変調回路５
０１において変調し、変調信号Ｌを半導体レーザ駆動回
路５０２に送り出し、半導体レーザ駆動電流Ｍを光学ピ
ックアップ５０３内の半導体レーザに供給する。半導体
レーザから出射されたレーザビーム５０４を光磁気ディ
スク５０５へ照射し、その反射光を光学ピックアップ５
０３内のフォトダイオードにて読み出し信号Ａに変換す
る。この読み出し信号Ａを波形整形回路５０６に送り出
し、２値化されたディジタル再生信号Ｅを復調回路５０
７へ送り出して、再生データを復調する。
て、図１〜図７を用いて説明する。図５は光磁気ディス
ク装置の要部を示す図である。記録データを変調回路５
０１において変調し、変調信号Ｌを半導体レーザ駆動回
路５０２に送り出し、半導体レーザ駆動電流Ｍを光学ピ
ックアップ５０３内の半導体レーザに供給する。半導体
レーザから出射されたレーザビーム５０４を光磁気ディ
スク５０５へ照射し、その反射光を光学ピックアップ５
０３内のフォトダイオードにて読み出し信号Ａに変換す
る。この読み出し信号Ａを波形整形回路５０６に送り出
し、２値化されたディジタル再生信号Ｅを復調回路５０
７へ送り出して、再生データを復調する。
【００１９】図１は図５における波形整形回路５０６を
詳細に説明する図である。読み出し信号Ａを増幅器１０
５で増幅し、波形等化器（第１の等化器）１０１へ導
き、波形等化後の読み出し信号Ｂを比較器１０４の一方
の入力端子及びエンベロープ等化器（第２の等化器）１
０２へ送り出す。エンベロープ等化後の読み出し信号Ｃ
をスライス信号発生器１０３へ送り出し、スライス信号
Ｄを比較器１０４の他方の入力端子へ導く。比較器１０
４において、波形等化後の読み出し信号Ｂをスライス信
号Ｄと比較し、ディジタル再生信号Ｅを得る。
詳細に説明する図である。読み出し信号Ａを増幅器１０
５で増幅し、波形等化器（第１の等化器）１０１へ導
き、波形等化後の読み出し信号Ｂを比較器１０４の一方
の入力端子及びエンベロープ等化器（第２の等化器）１
０２へ送り出す。エンベロープ等化後の読み出し信号Ｃ
をスライス信号発生器１０３へ送り出し、スライス信号
Ｄを比較器１０４の他方の入力端子へ導く。比較器１０
４において、波形等化後の読み出し信号Ｂをスライス信
号Ｄと比較し、ディジタル再生信号Ｅを得る。
【００２０】図２は図１における波形等化器１０１また
はエンベロープ等化器１０２を詳細に説明する図であ
る。これは一般によく知られているトランスバーサルフ
ィルターであり、波形等化器１０１またはエンベロープ
等化器１０２のどちらにも使用可能である。読み出し信
号Ａ又は波形等化後の読み出し信号Ｂを遅延素子２０１
と掛算器２０３へ入力し、遅延素子２０２の出力信号Ｆ
をさらに遅延素子２０２と抵抗２０７へ入力する。遅延
素子２０２の出力信号Ｇを掛算器２０４へ入力する。掛
算器２０３及び２０４の出力信号Ｈ及びＩをそれぞれ抵
抗２０６及び２０５へ入力する。抵抗２０５、２０６、
２０７、２０８、２０９、及びオペアンプ２１０で構成
された加減算器によって波形等化後の読み出し信号Ｂ又
はエンベロープ等化後の読み出し信号Ｃを出力する。
はエンベロープ等化器１０２を詳細に説明する図であ
る。これは一般によく知られているトランスバーサルフ
ィルターであり、波形等化器１０１またはエンベロープ
等化器１０２のどちらにも使用可能である。読み出し信
号Ａ又は波形等化後の読み出し信号Ｂを遅延素子２０１
と掛算器２０３へ入力し、遅延素子２０２の出力信号Ｆ
をさらに遅延素子２０２と抵抗２０７へ入力する。遅延
素子２０２の出力信号Ｇを掛算器２０４へ入力する。掛
算器２０３及び２０４の出力信号Ｈ及びＩをそれぞれ抵
抗２０６及び２０５へ入力する。抵抗２０５、２０６、
２０７、２０８、２０９、及びオペアンプ２１０で構成
された加減算器によって波形等化後の読み出し信号Ｂ又
はエンベロープ等化後の読み出し信号Ｃを出力する。
【００２１】図３は図１の波形等化器１０１の別の例で
ある。これも一般的によく知られている抵抗とコンデン
サとオペアンプを組み合わせた波形等化器である。読み
出し信号Ａ又は波形等化後の読み出し信号Ｂを抵抗３０
１とコンデンサ３０４へ入力する。抵抗３０１、３０
２、３０３、コンデンサ３０４、３０５及びオペアンプ
３０６で構成された波形等化器によって、波形等化後の
読み出し信号Ｂ又はＣを出力する。図４は図１における
スライス信号発生器１０３を詳細に説明する図である。
これも一般によく知られている回路であり、波形等化後
の読み出し信号の上側のエンベロープと下側のエンベロ
ープとの中心レベルを発生する回路である。エンベロー
プ等化後の読み出し信号Ｃをバッファ４０１に入力し、
出力信号をダイオード４０２、コンデンサ４０３、及び
バッファ４０４で構成された正方向のピークホールド回
路と、同様にダイオード４０５、コンデンサ４０６、お
よびバッファ４０７で構成された負方向のピークホール
ド回路へ入力する。バッファ４０４の出力信号Ｊはエン
ベロープ等化後の読み出し信号Ｃの上側のエンベロープ
信号であり、バッファ４０７の出力信号Ｋは下側のエン
ベロープ信号である。抵抗４０８および４０９によっ
て、これら２つのエンベロープ信号の中心レベルである
スライス信号Ｄを発生する。
ある。これも一般的によく知られている抵抗とコンデン
サとオペアンプを組み合わせた波形等化器である。読み
出し信号Ａ又は波形等化後の読み出し信号Ｂを抵抗３０
１とコンデンサ３０４へ入力する。抵抗３０１、３０
２、３０３、コンデンサ３０４、３０５及びオペアンプ
３０６で構成された波形等化器によって、波形等化後の
読み出し信号Ｂ又はＣを出力する。図４は図１における
スライス信号発生器１０３を詳細に説明する図である。
これも一般によく知られている回路であり、波形等化後
の読み出し信号の上側のエンベロープと下側のエンベロ
ープとの中心レベルを発生する回路である。エンベロー
プ等化後の読み出し信号Ｃをバッファ４０１に入力し、
出力信号をダイオード４０２、コンデンサ４０３、及び
バッファ４０４で構成された正方向のピークホールド回
路と、同様にダイオード４０５、コンデンサ４０６、お
よびバッファ４０７で構成された負方向のピークホール
ド回路へ入力する。バッファ４０４の出力信号Ｊはエン
ベロープ等化後の読み出し信号Ｃの上側のエンベロープ
信号であり、バッファ４０７の出力信号Ｋは下側のエン
ベロープ信号である。抵抗４０８および４０９によっ
て、これら２つのエンベロープ信号の中心レベルである
スライス信号Ｄを発生する。
【００２２】図６と図７は図１〜図５における波形を説
明する図である。図６において、読み出し信号Ａは最長
マーク波形ＷＬから最短マーク波形ＷＳまで混じりあっ
た波形を示した例である。これを波形等化器１０１によ
って、符号ビット間の干渉によるビットジッタが最小と
なるように波形等化し、波形等化後の読み出し信号Ｂを
得ることが可能となる。この波形等化後の読み出し信号
Ｂの強さは、読み出し信号Ａでは弱すぎ、読み出し信号
ＢＡでは強すぎるため、ほぼ両者の中間になる。読み出
し信号Ａは、光学ピックアップ５０３から読み出された
読み出し信号Ａのレベルに等しくなるように調整した場
合であり、読み出し信号ＢＡは最短マーク波形ＷＳのレ
ベルと最長マーク波形ＷＬのレベルが等しくなるように
調整した場合である。尚、符号ビット間の干渉はレーザ
ースポットの理想的形状が、どのように変形しているか
によって変わるため、当然であるが上記の波形等化の最
適量はＡとＢＡの中間からずれることもある。
明する図である。図６において、読み出し信号Ａは最長
マーク波形ＷＬから最短マーク波形ＷＳまで混じりあっ
た波形を示した例である。これを波形等化器１０１によ
って、符号ビット間の干渉によるビットジッタが最小と
なるように波形等化し、波形等化後の読み出し信号Ｂを
得ることが可能となる。この波形等化後の読み出し信号
Ｂの強さは、読み出し信号Ａでは弱すぎ、読み出し信号
ＢＡでは強すぎるため、ほぼ両者の中間になる。読み出
し信号Ａは、光学ピックアップ５０３から読み出された
読み出し信号Ａのレベルに等しくなるように調整した場
合であり、読み出し信号ＢＡは最短マーク波形ＷＳのレ
ベルと最長マーク波形ＷＬのレベルが等しくなるように
調整した場合である。尚、符号ビット間の干渉はレーザ
ースポットの理想的形状が、どのように変形しているか
によって変わるため、当然であるが上記の波形等化の最
適量はＡとＢＡの中間からずれることもある。
【００２３】次に、この波形等化後の読み出し信号Ｂ
を、さらエンベロープ等化器１０２によってエンベロー
プ等化し、エンベロープ等化後の読み出し信号Ｃを得
る。これにより最短マーク波形ＷＳでもピークホールド
回路のコンデンサ４０３及び４０６へ十分に充電が可能
となる。なぜなら、最短マーク波形ＷＳのレベルと最長
マーク波形ＷＬのレベルが等しくなる等化量（読み出し
信号ＢＡ）に加えて、最短マーク波形ＷＳが最長マーク
波形ＷＬよりも充電期間が短い分を補い、さらに、ダイ
オード４０２、４０５の順方向電圧を補う等化量Ｃまで
等化するからである。
を、さらエンベロープ等化器１０２によってエンベロー
プ等化し、エンベロープ等化後の読み出し信号Ｃを得
る。これにより最短マーク波形ＷＳでもピークホールド
回路のコンデンサ４０３及び４０６へ十分に充電が可能
となる。なぜなら、最短マーク波形ＷＳのレベルと最長
マーク波形ＷＬのレベルが等しくなる等化量（読み出し
信号ＢＡ）に加えて、最短マーク波形ＷＳが最長マーク
波形ＷＬよりも充電期間が短い分を補い、さらに、ダイ
オード４０２、４０５の順方向電圧を補う等化量Ｃまで
等化するからである。
【００２４】このエンベロープ等化後の読み出し信号Ｃ
をスライス信号発生器１０３に入力するので、安定した
スライス信号Ｄを得ることが可能となる。従って、比較
器１０４において波形等化後の読み出し信号Ｂとスライ
ス信号Ｄを比較して２値化すれば、ジッタを含まないデ
ィジタル再生信号Ｅを得ることが可能となる。
をスライス信号発生器１０３に入力するので、安定した
スライス信号Ｄを得ることが可能となる。従って、比較
器１０４において波形等化後の読み出し信号Ｂとスライ
ス信号Ｄを比較して２値化すれば、ジッタを含まないデ
ィジタル再生信号Ｅを得ることが可能となる。
【００２５】図７は最短マーク波形ＷＳを正方向に、最
長マーク波形ＷＬを負方向にそれぞれ交互に組み合わせ
た例である。これは符号データの直流成分を大きくずら
した場合であり、例えば変調方式の一例として直流成分
を多く含む変調方式である２ー７ＲＬＬ変調のＮＲＺＩ
記録を使用した場合に発生するものである。この場合も
図６と同様に、読み出し信号Ａを波形等化器１０１によ
って、符号ビット間の干渉によるビットジッタが最小と
なるように波形等化し、波形等化後の読み出し信号Ｂを
得ることが可能となる。波形等化の強さ等は図６と同様
である。
長マーク波形ＷＬを負方向にそれぞれ交互に組み合わせ
た例である。これは符号データの直流成分を大きくずら
した場合であり、例えば変調方式の一例として直流成分
を多く含む変調方式である２ー７ＲＬＬ変調のＮＲＺＩ
記録を使用した場合に発生するものである。この場合も
図６と同様に、読み出し信号Ａを波形等化器１０１によ
って、符号ビット間の干渉によるビットジッタが最小と
なるように波形等化し、波形等化後の読み出し信号Ｂを
得ることが可能となる。波形等化の強さ等は図６と同様
である。
【００２６】次に、この波形等化後の読み出し信号Ｂを
さらにエンベロープ等化器１０２によって、最短マーク
波形ＷＳでもピークホールド回路のコンデンサ４０３及
び４０６へ十分に充電ができるようにエンベロープ等化
し、エンベロープ等化後の読み出し信号Ｃを得る。この
エンベロープ等化後の読み出し信号Ｃの強さも図６と同
様である。
さらにエンベロープ等化器１０２によって、最短マーク
波形ＷＳでもピークホールド回路のコンデンサ４０３及
び４０６へ十分に充電ができるようにエンベロープ等化
し、エンベロープ等化後の読み出し信号Ｃを得る。この
エンベロープ等化後の読み出し信号Ｃの強さも図６と同
様である。
【００２７】このエンベロープ等化後の読み出し信号Ｃ
をスライス信号発生器１０３に入力するので、安定した
スライス信号Ｄを得ることが可能となる。従って、比較
器１０４において波形等化後の読み出し信号Ｂとスライ
ス信号Ｄを比較して２値化すれば、ジッタを含まないデ
ィジタル再生信号Ｅを得ることが可能となる。
をスライス信号発生器１０３に入力するので、安定した
スライス信号Ｄを得ることが可能となる。従って、比較
器１０４において波形等化後の読み出し信号Ｂとスライ
ス信号Ｄを比較して２値化すれば、ジッタを含まないデ
ィジタル再生信号Ｅを得ることが可能となる。
【００２８】このように図６で示した直流成分を含まな
いランダムな符号データの並びや、いわゆるＤＣフリー
の変調方式は言うまでもなく、図７で示した直流成分を
多く含む変調方式においても符号ビット間の干渉による
ビットジッタを最小にし、安定なスライス信号を発生す
ることが可能となる。
いランダムな符号データの並びや、いわゆるＤＣフリー
の変調方式は言うまでもなく、図７で示した直流成分を
多く含む変調方式においても符号ビット間の干渉による
ビットジッタを最小にし、安定なスライス信号を発生す
ることが可能となる。
【００２９】（第２の実施例）以下に本発明の第２の実
施例について、図８を用いて説明する。図８の波形等化
器１０１は図１の波形等化器１０１と同じものを使用
し、図８のエンベロープ等化器８０１は図１の波形等化
器１０１とエンベロープ等化器１０２を一つの等化器に
まとめたものである。以下、動作等は図１と同様である
ので説明は省略する。
施例について、図８を用いて説明する。図８の波形等化
器１０１は図１の波形等化器１０１と同じものを使用
し、図８のエンベロープ等化器８０１は図１の波形等化
器１０１とエンベロープ等化器１０２を一つの等化器に
まとめたものである。以下、動作等は図１と同様である
ので説明は省略する。
【００３０】
【発明の効果】以上に示したように本発明によれば、波
形等化を行って符号ビット間の干渉によるビットジッタ
を最小にすると同時に、これとは独立にエンベロープの
等化を行って、安定なスライス信号を発生させることが
可能となるため、２値化後のディジタル再生信号のジッ
タを抑え、再生データのエラーを低減することが可能と
なる。
形等化を行って符号ビット間の干渉によるビットジッタ
を最小にすると同時に、これとは独立にエンベロープの
等化を行って、安定なスライス信号を発生させることが
可能となるため、２値化後のディジタル再生信号のジッ
タを抑え、再生データのエラーを低減することが可能と
なる。
【００３１】尚、上述の実施例では光磁気ディスク装置
における波形整形回路を示したが、これに限らず追記型
の光ディスク装置や、さらには光カード装置、光テープ
装置等における波形整形回路に適用しても同様な効果が
得られることは言うまでもない。
における波形整形回路を示したが、これに限らず追記型
の光ディスク装置や、さらには光カード装置、光テープ
装置等における波形整形回路に適用しても同様な効果が
得られることは言うまでもない。
【図１】本発明の波形整形回路の第１の実施例を示す図
である。
である。
【図２】図１における波形等化器またはエンベロープ等
化器の第１の例を示す図である。
化器の第１の例を示す図である。
【図３】図１における波形等化器またはエンベロープ等
化器の第２の例を示す図である。
化器の第２の例を示す図である。
【図４】図１におけるスライス信号発生器を示す図であ
る。
る。
【図５】光磁気ディスク装置の要部を示す図である。
【図６】図１における波形を示す図である。
【図７】図１における波形を示す図である。
【図８】本発明の波形整形回路の第２の実施例を示す図
である。
である。
【図９】従来の波形整形回路における波形を示す図であ
る。
る。
【図１０】従来の波形整形回路における波形を示す図で
ある。
ある。
５０６ 波形整形回路 １０１ 波形等化器 １０２ エンベロープ等化器 １０３ スライス信号発生器 １０４ 比較器
Claims (1)
- 【請求項１】 光学的に読み出された読み出し信号の波
形を等化して、符号ビット間の干渉を補償するための第
１の等化器と、 上記読み出し信号のエンベロープを等化するための第２
の等化器と、 読み出し信号のエンベロープからスライス信号を発生す
るためのスライス信号発生器と、 上記読み出し信号を２値化するための比較器とを具備
し、 上記第１の等化器の出力信号を上記比較器の一方の入力
端子に入力し、上記第２の等化器の出力信号を上記スラ
イス信号発生器へ入力し、該スライス信号発生器の出力
信号を上記比較器の他方の入力端子に入力することを特
徴とする光記録再生装置における波形整形回路。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4062748A JP2729003B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 光記録再生装置における波形整形回路 |
| CA002091629A CA2091629C (en) | 1992-03-19 | 1993-03-15 | Waveform shaping circuit suitably arranged for optically recording and reproducing apparatus |
| KR1019930004330A KR960013485B1 (ko) | 1992-03-19 | 1993-03-18 | 광기록 및 재생 장치용으로 적합하게 배치된 파형 정형 회로 |
| DE69318456T DE69318456T2 (de) | 1992-03-19 | 1993-03-19 | Wellenformungsschaltung, die an ein optisches Aufzeichnungs- und Wiedergabegerät angepasst ist |
| EP93302101A EP0561648B1 (en) | 1992-03-19 | 1993-03-19 | Waveform shaping circuit suitably arranged for optically recording and reproducing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4062748A JP2729003B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 光記録再生装置における波形整形回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05266485A JPH05266485A (ja) | 1993-10-15 |
| JP2729003B2 true JP2729003B2 (ja) | 1998-03-18 |
Family
ID=13209336
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4062748A Expired - Fee Related JP2729003B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 光記録再生装置における波形整形回路 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0561648B1 (ja) |
| JP (1) | JP2729003B2 (ja) |
| KR (1) | KR960013485B1 (ja) |
| CA (1) | CA2091629C (ja) |
| DE (1) | DE69318456T2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2957400B2 (ja) * | 1993-11-22 | 1999-10-04 | 日本電気株式会社 | 光ディスクのトラッキング誤差信号検出装置 |
| JPH11219566A (ja) | 1997-11-28 | 1999-08-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ディジタルデータ再生装置および再生信号二値化レベル補正方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4688204A (en) * | 1984-11-16 | 1987-08-18 | Storage Technology Partners Ii | Pulsed optical data detection system |
| US5120985A (en) * | 1989-01-31 | 1992-06-09 | Fujitsu Limited | Data reproducing circuit for correcting amplitude variation and peak shift |
-
1992
- 1992-03-19 JP JP4062748A patent/JP2729003B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-03-15 CA CA002091629A patent/CA2091629C/en not_active Expired - Fee Related
- 1993-03-18 KR KR1019930004330A patent/KR960013485B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1993-03-19 EP EP93302101A patent/EP0561648B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-03-19 DE DE69318456T patent/DE69318456T2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69318456T2 (de) | 1998-11-19 |
| KR930020383A (ko) | 1993-10-19 |
| CA2091629A1 (en) | 1993-09-20 |
| DE69318456D1 (de) | 1998-06-18 |
| EP0561648B1 (en) | 1998-05-13 |
| KR960013485B1 (ko) | 1996-10-05 |
| CA2091629C (en) | 1996-01-30 |
| EP0561648A1 (en) | 1993-09-22 |
| JPH05266485A (ja) | 1993-10-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |