JP2725880B2 - 位置決め機構 - Google Patents

位置決め機構

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JP2725880B2
JP2725880B2 JP2196518A JP19651890A JP2725880B2 JP 2725880 B2 JP2725880 B2 JP 2725880B2 JP 2196518 A JP2196518 A JP 2196518A JP 19651890 A JP19651890 A JP 19651890A JP 2725880 B2 JP2725880 B2 JP 2725880B2
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亮一 野崎
弘行 徳重
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Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、小物ワークを所定の位置に保持するための
位置決め機構に関する。
「従来の技術」 従来の位置決め機構としては、例えば第7図および第
8図に示すようなものがある。
図に示すものは小物ワークである電子部品Wの位置を
決めて検査をするためのものであり、ハ字形に開くアー
ム1a,1bから成るチャック1の基部に歯車2a,2bが固設さ
れ、エアシリンダ4で歯車2aを回転させてアーム1a,1b
を開閉させ、電子部品Wをアーム1a,1bの先端部に挾持
するものである。
そして、アーム1a,1bの下で電子部品Wの本体にアー
ス取り用の接触端子5を接触させ、また、圧縮コイルば
ね7で付勢されたピン状のプローブ6a,6bをエアシリン
ダ8により電子部品Wのリード線W1,W2に押し当てて検
査用の電流を流すようになっている。
「発明が解決しようとする課題」 しかしながら、このような従来の技術では、電子部品
Wの位置決めがチャック1のアーム1a,1bで把持するこ
とによってのみなされているので、前後,左右,上下の
全てにわたりチャック1および電子部品Wを位置決め制
御しなければならず、精度を上げるために高価な装置と
なり、さもなければ電子部品Wの位置ずれが起こりやす
く、動作不能の事態を招くという問題点があった。
また、電子部品Wのリード線W1,W2にピン状のプロー
ブ6a,6bを正面から押し当てているので、リード線W1,W2
が曲がっていたような場合は接触不良を起しやすく、電
子部品Wを供給するときリード線W1,W2の曲がりを管理
する必要があるので能率が悪く、図示のごとき小さな圧
縮コイルばね7でプローブ6a,6bを付勢しているので付
勢力の管理がしにくく、強すぎると接触不良が起りやす
いという問題点があった。
本発明は、このような従来の問題点に着目してなされ
たもので、小物ワークの位置決めが容易であり、リード
線へのプローブの接触が確実にできる位置決め機構を提
供することを目的としている。
「課題を解決するための手段」 かかる目的を達成するための本発明の要旨とするとこ
ろは、 1 電子部品である小物ワークを所定の位置に保持して
検査するための位置決め機構であって、 テーブルに、電子部品が嵌り込むとともに下方に該電
子部品のリード線が突出する保持孔を開設し、テーブル
面に対し斜めに変位し、小物ワークに斜め上から当接す
る弾撥的に変位可能な押え部材を設け、該押え部材を押
え位置と開放位置とに変位させる位置決め駆動手段を設
け、 前記保持孔の下に突出したリード線を臨みプローブ機
構を配設し、 該プローブ機構は、細長い板ばねより成り、先端にリ
ード線に直交する直線状の接触端が折曲形成されたプロ
ーブプレートおよび、該プローブプレートの下部の背面
に重なる付勢プレートを有するプローブユニットと、該
プローブユニットをリード線に横から近接させて該プロ
ーブプレートの接触端を弾撥的に該リード線に当接させ
る接触駆動手段とより成ることを特徴とする位置決め機
構。
2 押え部材はアース取り用の接触端子である項1記載
の位置決め機構。
3 プローブプレートに重畳して、先端にリード線への
接触端が折曲形成されたサブプローブプレートを設けた
ことを特徴とする項1または2記載の位置決め機構、に
存する。
「作用」 小物ワークを供給するときは、押え部材は邪魔になら
ないよう開放位置に保持しておく、小物ワークはテーブ
ルの保持孔に嵌め込むよう供給される。供給された状態
では小物ワークは単に載置されているだけで、大まかに
は位置決めされているが、厳密にはまだ位置ずれがあ
る。
そこで位置決め駆動手段を動作させ、押え部材をテー
ブル面に対し斜めに下降するよう変位させ、小物ワーク
に斜め上から当接させる。当接して押え位置になったと
き、押え部材は弾撥的に変位し、小物ワークは無理なく
弾撥的に保持孔に押し付けられ、位置が定まる。
小物ワークを移送するときは、位置決め駆動手段によ
り押え部材を斜めに上昇させて開放位置にする。小物ワ
ークは押えるものがなくなり、つまんで取り出すことが
できる。
小物ワークが電子部品であってそれを検査する場合、
テーブルの保持孔に電子部品を嵌め込むと下方に電子部
品のリード線が突出する。位置決めがなされるまでプリ
ーブはリード線から離れた位置に保持されている。
押え部材で電子部品を押えて位置決めしてからプロー
ブ機構を動作させて、突出したリード線にプローブを接
触させる。
プローブ機構の接触駆動手段を動作させると、プロー
ブは電子部品のリード線に横から近接し、プローブプレ
ートの接触端がリード線に当接する。接触端はリード線
に直交する直線状をしているので巾があり、リード線が
多少曲がっていても支障なく当接する。
プローブプレートの接触端が丁度リード線に当接した
位置から少しプローブを進めると、細長い板ばねである
プローブプレートの先端が弾撥的に変位し、背面に重な
った付勢プレートがプローブプレートの下部を弾撥的に
押して補助し、付勢プレートとプローブプレートとの付
勢力により接触端が程よい強さでリード線に横から弾接
する。
サブプローブプレートを設けた場合、プローブプレー
トとともにサブプローブプレートもリード線に近接して
その接触端が重ねてリード線に当接し、プローブとリー
ド線との確実な電気的接触がなされる。
そこでプローブに電流を流し電圧をかけて電子部品を
検査する。電子部品のケーシングからアースを取る場合
は、押え部材を接触端子として弾撥的に当接させてアー
スとする。
「実施例」 以下、図面に基づき本発明の一実施例を説明する。
第1図〜第6図は本発明の一実施例を示している。
第5図および第6図は位置決め機構を備えた検査装置
10の概要を示しており、小物ワークであってレーザー発
光素子である電子部品Wを所定の位置に保持して検査す
るためのものである。
検査装置10は、ベース11に枢軸12を介してテーブル20
が図示省略した送り機構により所定角度ピッチで回転さ
せて保持可能に枢支され、テーブル20の周縁を臨み各種
工程に応じて電子部品Wを保持する位置決め機構30,30
…が配設され、さらに位置決め機構30に対応してプロー
ブ機構40がベース11上に配設されている。
以下、第1図および第2図により位置決め機構30を詳
細に説明する。
電子部品Wは、底からリード線W1,W2が延設され、頭
部W3の基部に鍔W4を有し、鍔W4には切欠W5が設けられて
成る。
テーブル20の表面から底に貫通して小物ワークである
電子部品Wが嵌め込む保持孔21,21…が穿設されてい
る。
保持孔21は、電子部品Wの鍔W4は通さない程度の内径
で、保持孔21の外周に座面板22が固設され、座面板22に
は鍔W4が嵌り込む陥入座22aが形成され、電子部品Wの
切欠W5に嵌合する位置決めピン23が陥入座22aに突出す
るよう座面板22にねじ23aにより固定されている。
テーブル20の厚さ乃至保持孔21の深さは、切欠W5が陥
入座22aに着座して電子部品Wが保持孔21に嵌り込んだ
ときリード線W1,W2が保持孔21の下方に突出する程度に
設定されている。
位置決め機構30は、ベース11に立設した支柱枢軸12の
上端に保持されたエアシリンダである位置決め駆動手段
31と、位置決め駆動手段31により駆動される押え部材35
とにより構成されている。
位置決め駆動手段31は押え部材35を第2図実線に示す
押え位置と想像線に示す開放位置とに変位させるもの
で、シリンダ32が枢軸12に固定して支持され、テーブル
20面に対し略45度程度の斜めの方向に直線的に変位する
ピストンロッド33を有している。
押え部材35はばね線材で形成され、ピストンロッド33
の先端に設けられた割溝33aに基部36を挿通し、締めね
じ34で割溝33aを狭めることによりピストンロッド33の
先端に固着されている。
押え部材35の先端部は屈曲してテーブル20面に平行な
押え部37が形成されている。押え部37は、ピストンロッ
ド33が引っ込んだとき、電子部品Wの頭部W3と鍔W4との
コーナーに斜め上から当接して弾撥的に変位可能なよう
配設されている。
押え部材35は電子部品Wのケーシングに弾接して電気
的に導通するアース取り用の接触端子を兼ねている。
プローブ機構40は位置決め機構30に対応し、保持孔21
の下に突出したリード線W1,W2を臨んで配設されてい
る。
第3図および第4図に示すように、プローブ機構40
は、ベース11に固設された支持ブラケット40aに固定さ
れたエアシリンダである接触駆動手段41にプローブユニ
ット45,45を支持して成る。
接触駆動手段41は対象的に平行移動するハンド42,42
を有しており、ハンド42,42にそれぞれ、プローブ支持
ブラケット43がねじ43a,43aで固定され、プローブユニ
ット45の基部を保持する押えプレート44が設けられてい
る。
プローブユニット45は、先端にリード線W1,W2に直交
する直線状の端縁を有する接触端46aが折曲形成された
細長い板ばねより成るプローブプレート46と、プローブ
プレート46に重畳して、先端にリード線W1,W2への接触
端47aが折曲形成されたサブプローブプレート47と、プ
ローブプレート46の下部の背面に重なる付勢プレート48
と、付勢プレート48の背後を支える補助プレート49とよ
り成る。
サブプローブプレート47,付勢プレート48,補助プレー
ト49はいずれも板ばねより成り、それらの基部とプロー
ブプレート46の基部とを重ねて押えプレート44で押え、
ねじ44a,44aによりプローブ支持ブラケット43に固定さ
れている。接触駆動手段41は、ハンド42,42がプローブ
ユニット45のプローブプレート46,47接触端46a,47aをリ
ード線W1,W2に横から近接させて弾撥的に当接させるよ
う配設されている。
次に作用を説明する。
小物ワークである電子部品Wを供給するとき、位置決
め駆動手段31のピストンロッド33をシリンダ32から突き
出し、押え部材35を邪魔にならないよう開放位置に保持
しておく、電子部品Wは図示省略した供給機構によりテ
ーブル20の保持孔21に所定の姿勢で嵌め込んで座面板22
に供給される。
供給されたとき、鍔W4が陥入座22aに嵌り込んで座面
板22上に電子部品Wが載置され、切欠W5に位置決めピン
23が嵌合し、リード線W1,W2は保持孔21から下方に突出
している。この状態では電子部品Wは単に載置されてい
るだけで、大まかには位置決めされているが、厳密には
まだ位置ずれがある。
次に、位置決め駆動手段31を動作させ、ピストンロッ
ド33を引っ込み方向に変位させる。押え部材35はテーブ
ル20面に対し斜めに下降するよう変位し、押え部37が頭
部W3と鍔W4とのコーナーに押し当てられ、電子部品Wに
斜め上から当接する。当接してから少し進んだ押え位置
になったとき、押え部材35は弾撥的に変位し、電子部品
Wは無理なく弾撥的に保持孔21に押し付けられ、位置が
定まって保持される。
電子部品Wを移送するときは、位置決め駆動手段31に
より押え部材35を斜めに上昇させて開放位置にする。電
子部品Wは押えるものがなくなり、テーブル20を回転さ
せても干渉することがなく、また電子部品Wをつまんで
取り出すことができる。
電子部品Wを検査する場合、テーブル20の保持孔21か
ら下方に電子部品WのリードW1,W2が突出して位置決め
がなされるまで対向して配設されているプローブユニッ
ト45,45は第4図(a)に示すようにリード線W1,W2から
離れた位置に保持されている。
押え部材35で電子部品Wを押えて位置決めがなされた
ら、プローブ機構40を動作させて、突出したリード線W
1,W2にプローブユニット45,45を近接させる。
プローブ機構40の接触駆動手段41を動作させると、プ
ローブユニット45,45は電子部品Wのリード線W1,W2に横
から近接し、先頭にあるプローブプレート46,46の接触
端46a,46aが先ずリード線W1,W2に当接する。接触端46a,
46aはリード線W1,W2に直交する直線状をしているので巾
があり、リード線W1,W2が多少曲がっていても支障なく
当接する。
プローブユニット45,45をさらに進めると、サブロー
ブプレート47,47の接触端47a,47aが同様にリード線W1,W
2に当接する。
プローブプレート46,サブプローブプレート47の接触
端46a,47aが丁度リード線W1,W2に当接した位置から少し
プローブ45を進めると、細長い板ばねであるプローブプ
レート46の先端が弾撥的に変位し、背面に重なった付勢
プレート48がプローブプレート46の下部を弾撥的に押し
て補助し、付勢プレート48とプローブプレート46および
サブプローブプレート47との付勢力により接触端46a,47
aが程よい強さでリード線W1,W2に横から弾接する。
第4図(b)に示すように、プローブプレート46の接
触端46aとともにサブプローブプレート47の接触端47aも
リード線W1,W2に重ねて当接し、プローブユニット45と
リード線W1,W2との確実な電気的接触がなされる。
プローブプレート46およびサブプローブプレート47は
上部から下部にかけてなだらかに変形するので、繰り返
し荷重に対する疲労が少ない。
押え部材35は電子部品Wの外装に弾接してアース用の
接触端子として機能している。そこでプローブユニット
45に電流を流し電圧をかけて電子部品Wを検査する。
検査が終了したら、開始のときとは逆方向に接触駆動
手段41を作動させ、第4図(a)に示すようにプローブ
ユニット45を退避させる。
なお、前記実施例では、押え部材の線材部分を小物ワ
ークのコーナーに当てるようにしたが、そのようなコー
ナーがない小物ワークであった場合は、押え部材の先に
小物ワークへの係合部を設けてもよいことはいうまでも
ない。
「発明の効果」 本発明に係る位置決め機構によれば、押え部材で斜め
に小物ワークを押さえるだけで位置決めができ、小物ワ
ークが電子部品であった場合、位置決めに対応して直線
状の接触端がリード線に接触して確実に電気的に接続す
るプローブ機構を設けたので、位置決め駆動手段の単純
な動作で各方向にわたり小物ワークの位置決めをするこ
とができ、リード線が曲がっていたような場合でも接触
不良を起しにくく、また、プローブを適度な弾力でリー
ド線に当接させることができるので、強すぎてリード線
が曲がったり、弱すぎて接触不良が起ったりすることが
ない。接触時のプローブプレートの変形がなだらかであ
るので、プローブプレートの疲労が少なく耐久性が高
い。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第6図は本発明の一実施例を示しており、第1
図は位置決め機構の分解斜視図、第2図は同じく斜視
図、第3図はプローブ機構の分解斜視図、第4図は各種
動作状態のプローブ機構の正面図、第5図は位置決め機
構を備えた検査装置の正面図、第6図は同じく平面図、
第7図および第8図は従来例を示しており、第7図は位
置決め機構およびプローブ機構の平面図、第8図は第7
図VIII矢視図である。 10……検査装置、11……ベース 20……テーブル、21……保持孔 30……位置決め機構、31……位置決め駆動手段 35……押え部材 37……押え部 40……プローブ機構、41……接触駆動手段 45……プローブユニット 46……プローブプレート 47……サブプローブプレート 46a,47a……接触端、48……付勢プレート

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】電子部品である小物ワークを所定の位置に
    保持して検査するための位置決め機構であって、 テーブルに、電子部品が嵌り込むとともに下方に該電子
    部品のリード線が突出する保持孔を開設し、テーブル面
    に対し斜めに変位し、小物ワークに斜め上から当接する
    弾撥的に変位可能な押え部材を設け、該押え部材を押え
    位置と開放位置とに変位させる位置決め駆動手段を設
    け、 前記保持孔の下に突出したリード線を臨みプローブ機構
    を配設し、 該プローブ機構は、細長い板ばねより成り、先端にリー
    ド線に直交する直線状の接触端が折曲形成されたプロー
    ブプレートおよび、該プローブプレートの下部の背面に
    重なる付勢プレートを有するプローブユニットと、該プ
    ローブユニットをリード線に横から近接させて該プロー
    ブプレートの接触端を弾撥的に該リード線に当接させる
    接触駆動手段とより成ることを特徴とする位置決め機
    構。
  2. 【請求項2】押え部材はアース取り用の接触端子である
    請求項1記載の位置決め機構。
  3. 【請求項3】プローブプレートに重畳して、先端にリー
    ド線への接触端が折曲形成されたサブプローブプレート
    を設けたことを特徴とする請求項1または2記載の位置
    決め機構。
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