JP2722480B2 - 画像位置測定装置 - Google Patents
画像位置測定装置Info
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- JP2722480B2 JP2722480B2 JP63029122A JP2912288A JP2722480B2 JP 2722480 B2 JP2722480 B2 JP 2722480B2 JP 63029122 A JP63029122 A JP 63029122A JP 2912288 A JP2912288 A JP 2912288A JP 2722480 B2 JP2722480 B2 JP 2722480B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はコンバーゼンス測定等に用いて好適な画像位
置測定装置に関する。
置測定装置に関する。
本発明はコンバーゼンス測定装置等に用いて好適な画
像位置測定装置に関し、被測定用表示手段に対向して配
置された撮像手段と、被測定用表示手段にハッチパター
ンを発生させるハッチパターン信号発生手段と、撮像手
段からの映像信号がデジタル化したデータとして記憶さ
れる第１の記憶手段と、デジタル化したデータが供給さ
れて水平及び垂直方向の積和及び和演算を行うための積
和演算手段と、積和演算手段にエリアアドレスデータを
供給するタイミング信号発生手段と、積和演算手段から
の演算データが記憶され、この記憶演算データをマイク
ロプロセッサによって非同期に読み出すことが可能な第
２の記憶手段と、を具備し、非同期に読み出された演算
データに基づいてマイクロプロセッサが重心演算するこ
とで画像位置をリアルタイムで高速に且つ高精度に測定
することができる様にしたものである。
像位置測定装置に関し、被測定用表示手段に対向して配
置された撮像手段と、被測定用表示手段にハッチパター
ンを発生させるハッチパターン信号発生手段と、撮像手
段からの映像信号がデジタル化したデータとして記憶さ
れる第１の記憶手段と、デジタル化したデータが供給さ
れて水平及び垂直方向の積和及び和演算を行うための積
和演算手段と、積和演算手段にエリアアドレスデータを
供給するタイミング信号発生手段と、積和演算手段から
の演算データが記憶され、この記憶演算データをマイク
ロプロセッサによって非同期に読み出すことが可能な第
２の記憶手段と、を具備し、非同期に読み出された演算
データに基づいてマイクロプロセッサが重心演算するこ
とで画像位置をリアルタイムで高速に且つ高精度に測定
することができる様にしたものである。
従来、テレビ受像機のテレビ受像管の管面に表示した
ドット領域を測定して、コンバーゼンス或はラスタ歪等
を測定する画像位置測定装置としては、本出願人が先に
提案した特開昭61−257097号がある。この測定装置は第
８図に示す様に構成されている。第８図に於いて、例え
ば白黒のテレビ受像管（以下CRTと記す）（１）を有す
るテレビ受像機（４）を管面（５）を覆う様にフート
（28）をかぶせ、管面（５）と対向した位置に配した例
えば、白黒撮像カメラ（７）で管面（５）の全視野を撮
像する。CRT（１）にはドット発生器（30）で発生させ
たドットをドットパターンゼネレータ（29）を介して菱
形の標準ドットパターンとしてCRT（１）に供給する。
次に撮像カメラ（７）で管面（５）に表示されたドット
パターンを撮影し、この撮影データをアナログ−デジタ
ル変換回路（９）でデジタル信号に変換して、イメージ
メモリ（10）に記憶させる。記憶された菱形のドットパ
ターン像から各測定位置のドットの位置データを得て、
マイクロプロセッサ（13）が重心位置を算出し、この重
心位置からドット像の正確な位置をマイクロプロセッサ
が演算して出力させ測定用のモニタ（14）の画面に表示
させる。尚（32）はマイクロプロセッサ（13）で制御さ
れ、アナログ−デジタル変換回路（９），イメージメモ
リ（10），ドットパターンゼネレータ（29），ドット発
生器（30）等を制御している同期信号回路である。
ドット領域を測定して、コンバーゼンス或はラスタ歪等
を測定する画像位置測定装置としては、本出願人が先に
提案した特開昭61−257097号がある。この測定装置は第
８図に示す様に構成されている。第８図に於いて、例え
ば白黒のテレビ受像管（以下CRTと記す）（１）を有す
るテレビ受像機（４）を管面（５）を覆う様にフート
（28）をかぶせ、管面（５）と対向した位置に配した例
えば、白黒撮像カメラ（７）で管面（５）の全視野を撮
像する。CRT（１）にはドット発生器（30）で発生させ
たドットをドットパターンゼネレータ（29）を介して菱
形の標準ドットパターンとしてCRT（１）に供給する。
次に撮像カメラ（７）で管面（５）に表示されたドット
パターンを撮影し、この撮影データをアナログ−デジタ
ル変換回路（９）でデジタル信号に変換して、イメージ
メモリ（10）に記憶させる。記憶された菱形のドットパ
ターン像から各測定位置のドットの位置データを得て、
マイクロプロセッサ（13）が重心位置を算出し、この重
心位置からドット像の正確な位置をマイクロプロセッサ
が演算して出力させ測定用のモニタ（14）の画面に表示
させる。尚（32）はマイクロプロセッサ（13）で制御さ
れ、アナログ−デジタル変換回路（９），イメージメモ
リ（10），ドットパターンゼネレータ（29），ドット発
生器（30）等を制御している同期信号回路である。
第８図に示した従来構成によると、マイクロプロセッ
サ（13）で位置データを演算すると共に重心位置を算出
させる。これをマイクロプロセッサ（13）がソフトウェ
アで処理する場合を考えると、測定点は後述するも第７
図に示す様に63点程度あり、重心を求めるためには先ず
測定すべきドットパターンの輝度信号の総和を求め、更
にパターンデータとアドレスの積を求める等の多くの演
算を測定点の数だけ行なわなければならない。さらに二
次元的に重心演算を行っているので、演算時間が長くな
っていた。又、コンバーゼンス測定などではさらに赤
（Ｒ），緑（Ｇ），青（Ｂ）の各々のパターンデータに
ついて演算するため、演算データは膨大なものとなっ
て、処理時間は極めて長くなり、リアルタイムで測定及
び演算処理が出来ない欠点があった。
サ（13）で位置データを演算すると共に重心位置を算出
させる。これをマイクロプロセッサ（13）がソフトウェ
アで処理する場合を考えると、測定点は後述するも第７
図に示す様に63点程度あり、重心を求めるためには先ず
測定すべきドットパターンの輝度信号の総和を求め、更
にパターンデータとアドレスの積を求める等の多くの演
算を測定点の数だけ行なわなければならない。さらに二
次元的に重心演算を行っているので、演算時間が長くな
っていた。又、コンバーゼンス測定などではさらに赤
（Ｒ），緑（Ｇ），青（Ｂ）の各々のパターンデータに
ついて演算するため、演算データは膨大なものとなっ
て、処理時間は極めて長くなり、リアルタイムで測定及
び演算処理が出来ない欠点があった。
本発明は叙上の欠点に鑑みなされたものでその目的と
するところは、リアルタイムで重心位置演算が出来る様
にした画像位置測定装置を提供しようとするものであ
る。
するところは、リアルタイムで重心位置演算が出来る様
にした画像位置測定装置を提供しようとするものであ
る。
本発明の画像位置測定装置はその１例が第１図に示さ
れている様に、被測定用表示手段（１）に対向して配置
された撮像手段（７）と、被測定用表示手段にハッチパ
ターを発生させるハッチパターン信号発生手段（15）
と、撮像手段（７）からの映像信号がデジタル化したデ
ータとして記憶される第１の記憶手段（10）と、デジタ
ル化したデータが供給されて水平及び垂直方向の積和及
び和演算を行なうための積和演算手段（11）と、積和演
算手段（11）にエリアアドレスデータを供給するタイミ
ング信号発生手段（16）と、積和演算手段（11）からの
演算データが記憶され、この記憶演算データをマイクロ
プロセッサによって非同期に読み出すことが可能な第２
の記憶手段と、を具備し、非同期に読み出された演算デ
ータに基づいてマイクロプロセッサが重心演算すること
で画像位置を測定する様にしたものである。
れている様に、被測定用表示手段（１）に対向して配置
された撮像手段（７）と、被測定用表示手段にハッチパ
ターを発生させるハッチパターン信号発生手段（15）
と、撮像手段（７）からの映像信号がデジタル化したデ
ータとして記憶される第１の記憶手段（10）と、デジタ
ル化したデータが供給されて水平及び垂直方向の積和及
び和演算を行なうための積和演算手段（11）と、積和演
算手段（11）にエリアアドレスデータを供給するタイミ
ング信号発生手段（16）と、積和演算手段（11）からの
演算データが記憶され、この記憶演算データをマイクロ
プロセッサによって非同期に読み出すことが可能な第２
の記憶手段と、を具備し、非同期に読み出された演算デ
ータに基づいてマイクロプロセッサが重心演算すること
で画像位置を測定する様にしたものである。
本発明の画像位置測定装置は被測定用表示手段（１）
にパターン信号発生手段（15）からハッチパターン信号
を供給し、管面上に映し出したハッチパターンを撮像カ
メラ（７）で撮像し、この撮像カメラ（７）からの映像
信号をデジタル化してイメージメモリ等の第１の記憶手
段（10）に記憶し、積和演算手段（11）に測定エリアア
ドレスデータをタイミング信号発生手段（16）から供給
し、記憶手段（10）に記憶したデータと測定エリアアド
レスデータを基に積和演算手段（11）で積和演算しファ
ーストインファアストアウトメモリ（FIFO）等の第２の
記憶手段（12）に書込みマイクロプロセッサ（13）は第
２の記憶手段（12）に書込まれたデータを非同期で読み
出して重心計算する様にしたのでリアルタイムで演算が
可能となり、データ処理効率が向上し、処理時間が大幅
に短縮される。
にパターン信号発生手段（15）からハッチパターン信号
を供給し、管面上に映し出したハッチパターンを撮像カ
メラ（７）で撮像し、この撮像カメラ（７）からの映像
信号をデジタル化してイメージメモリ等の第１の記憶手
段（10）に記憶し、積和演算手段（11）に測定エリアア
ドレスデータをタイミング信号発生手段（16）から供給
し、記憶手段（10）に記憶したデータと測定エリアアド
レスデータを基に積和演算手段（11）で積和演算しファ
ーストインファアストアウトメモリ（FIFO）等の第２の
記憶手段（12）に書込みマイクロプロセッサ（13）は第
２の記憶手段（12）に書込まれたデータを非同期で読み
出して重心計算する様にしたのでリアルタイムで演算が
可能となり、データ処理効率が向上し、処理時間が大幅
に短縮される。
以下、本発明の画像位置測定装置を第１図乃至第７図
について説明する。第１図は本例の画像位置測定装置の
系統図であり、第８図との対応部分には同一符号を付し
て示す。
について説明する。第１図は本例の画像位置測定装置の
系統図であり、第８図との対応部分には同一符号を付し
て示す。
第１図で白黒のテレビ受像機（４）内には偏向ヨーク
（２）をネック部に装着したCRT（１）及びテレビ回路
（３）を有し、CRT（１）の管面（５）と対向して、例
えばCCD或はMOSブロック（８）を有する１台の白黒固体
撮像カメラ（７）をレンズ（６）を介し、管面（５）の
全視野を撮像する様に配する。この様に管面の全視野を
撮像するためにズームレンズ等で調整する様にすればCR
T（１）の管面サイズか変っても１台の撮像カメラ
（７）ですべての種類のCRT（１）の画像位置測定を行
うことが出来る。
（２）をネック部に装着したCRT（１）及びテレビ回路
（３）を有し、CRT（１）の管面（５）と対向して、例
えばCCD或はMOSブロック（８）を有する１台の白黒固体
撮像カメラ（７）をレンズ（６）を介し、管面（５）の
全視野を撮像する様に配する。この様に管面の全視野を
撮像するためにズームレンズ等で調整する様にすればCR
T（１）の管面サイズか変っても１台の撮像カメラ
（７）ですべての種類のCRT（１）の画像位置測定を行
うことが出来る。
撮像カメラ（７）の映像出力信号はアナログ−デジタ
ル変換回路（９）に供給される。マイクロプロセッサ
（13）はバス（13a）を介してパターン信号発生回路（1
5）とタイミング信号発生回路（16）とを制御する。パ
ターン信号発生回路（16）は例えば第３図（第３図では
16ケ所の測定部が示されている）に示す様な縦ハッチ
（24a）及び横ハッチ（24b）を形成するクロスハッチ信
号を発生し、このクロスハッチ信号をテレビ回路（３）
を介して被測定表示手段であるCRT（１）に供給する。
このクロスハッチパターンを撮像カメラ（７）で撮像す
る。撮像された撮像カメラ（７）の映像出力は例えば８
ビットのアナログ−デジタル変換回路（９）によってデ
ジタル化される。デジタル化された輝度信号データはイ
メージメモリ（10）に記録されると共に、積和演算回路
（11）で重心演算に必要な輝度信号データと後述するエ
リアアドレスデータの積及びアドレス１〜Ｋ迄の輝度信
号データの和の演算を行う、この演算データを記憶手段
であるFIFO（12）にメモリする。第４図は映像カメラ
（７）からの映像信号、即ち、輝度信号を縦軸に、横軸
にアドレス０〜ｎ〜Ｋ（Ｋは測定しようとするエリアの
最大アドレスで本例ではCCDブロック（８）の略29画素
分）をとって、アドレスで輝度信号データをサンプリン
グし８ビット分解能で輝度信号を量子化した輝度分布図
を示している。
ル変換回路（９）に供給される。マイクロプロセッサ
（13）はバス（13a）を介してパターン信号発生回路（1
5）とタイミング信号発生回路（16）とを制御する。パ
ターン信号発生回路（16）は例えば第３図（第３図では
16ケ所の測定部が示されている）に示す様な縦ハッチ
（24a）及び横ハッチ（24b）を形成するクロスハッチ信
号を発生し、このクロスハッチ信号をテレビ回路（３）
を介して被測定表示手段であるCRT（１）に供給する。
このクロスハッチパターンを撮像カメラ（７）で撮像す
る。撮像された撮像カメラ（７）の映像出力は例えば８
ビットのアナログ−デジタル変換回路（９）によってデ
ジタル化される。デジタル化された輝度信号データはイ
メージメモリ（10）に記録されると共に、積和演算回路
（11）で重心演算に必要な輝度信号データと後述するエ
リアアドレスデータの積及びアドレス１〜Ｋ迄の輝度信
号データの和の演算を行う、この演算データを記憶手段
であるFIFO（12）にメモリする。第４図は映像カメラ
（７）からの映像信号、即ち、輝度信号を縦軸に、横軸
にアドレス０〜ｎ〜Ｋ（Ｋは測定しようとするエリアの
最大アドレスで本例ではCCDブロック（８）の略29画素
分）をとって、アドレスで輝度信号データをサンプリン
グし８ビット分解能で輝度信号を量子化した輝度分布図
を示している。
第１の水平操作期間1Hでイメージメモリ（10）に記憶
した輝度信号データを次の2H目では読み出して、輝度信
号データの和演算をしてFIFO（12）にメモリして行く、
この様なタイミングや測定領域を指定するエリアアドレ
スデータ及びコントロール信号等はタイミング信号発生
回路（16）からアナログ−デジタル変換回路（９），イ
メージメモリ（10），積和演算回路（11）,FIFO（12）
に供給される。パターン信号発生回路（15）はタイミン
グ信号発生回路（16）に基準クロックの8/3fscの信号
（fscはカラーサブキャリア周波数）及びHD信号（水平
同期駆動信号）等を供給する。FIFO（12）に順次格納さ
れた積和演算回路の出力データはマイクロプロセッサ
（13）で非同期的に読出されてマイクロプロセッサ（1
3）内で重心演算を行なって、測定結果をモニター（1
4）に表示させる。
した輝度信号データを次の2H目では読み出して、輝度信
号データの和演算をしてFIFO（12）にメモリして行く、
この様なタイミングや測定領域を指定するエリアアドレ
スデータ及びコントロール信号等はタイミング信号発生
回路（16）からアナログ−デジタル変換回路（９），イ
メージメモリ（10），積和演算回路（11）,FIFO（12）
に供給される。パターン信号発生回路（15）はタイミン
グ信号発生回路（16）に基準クロックの8/3fscの信号
（fscはカラーサブキャリア周波数）及びHD信号（水平
同期駆動信号）等を供給する。FIFO（12）に順次格納さ
れた積和演算回路の出力データはマイクロプロセッサ
（13）で非同期的に読出されてマイクロプロセッサ（1
3）内で重心演算を行なって、測定結果をモニター（1
4）に表示させる。
第２図はタイミング信号発生回路（16）の更に詳細な
系統図を示すもので入力端子T1及びT2にはパターン信号
発生回路（15）から8/3fsc信号とHD信号が供給され、8/
3fsc信号及びHD信号は水平アドレス発生回路（17）と垂
直アドレス発生回路（18）に供給されて、水平アドレス
及び垂直アドレスが作られて測定開始点を記憶する測定
開始点メモリ（19）に供給される。測定開始点メモリ
（19）では後述する測定開始点のタイミング信号を発生
させタイミング発生部（22）に測定開始点タイミング信
号を供給する。タイミング発生部（22）には水平測定エ
リアを指定する水平測定エリア指定ラッチ回路（20）及
び垂直測定エリアを指定する垂直測定エリア指定ラッチ
回路（21）によってデータラッチが行なわれ、測定開始
点タイミング信号と共に水平方向及び垂直方向の測定領
域を指定するエリアアドレスデータが出力されて積和演
算回路（11）に供給される。更にタイミング発生部（2
2）はアナログ−デジタル変換回路（９），イメージメ
モリ（10），積和演算回路（11）,FIFO（12）へコント
ロール信号を供給して、各回路間のタイミングをとる様
に成されている。
系統図を示すもので入力端子T1及びT2にはパターン信号
発生回路（15）から8/3fsc信号とHD信号が供給され、8/
3fsc信号及びHD信号は水平アドレス発生回路（17）と垂
直アドレス発生回路（18）に供給されて、水平アドレス
及び垂直アドレスが作られて測定開始点を記憶する測定
開始点メモリ（19）に供給される。測定開始点メモリ
（19）では後述する測定開始点のタイミング信号を発生
させタイミング発生部（22）に測定開始点タイミング信
号を供給する。タイミング発生部（22）には水平測定エ
リアを指定する水平測定エリア指定ラッチ回路（20）及
び垂直測定エリアを指定する垂直測定エリア指定ラッチ
回路（21）によってデータラッチが行なわれ、測定開始
点タイミング信号と共に水平方向及び垂直方向の測定領
域を指定するエリアアドレスデータが出力されて積和演
算回路（11）に供給される。更にタイミング発生部（2
2）はアナログ−デジタル変換回路（９），イメージメ
モリ（10），積和演算回路（11）,FIFO（12）へコント
ロール信号を供給して、各回路間のタイミングをとる様
に成されている。
上述の本例の構成に於ける動作を第３図及び第５図に
よって説明する。第３図はパターン信号発生回路（15）
のハッチ信号によってCRT（１）の管面（５）上に写し
出された縦ハッチ（24a）と横ハッチ（24b）から成るク
ロスハッチであり、このクロスハッチ点に水平及び垂直
方向に測定エリア（23H），（23V）が指定される。この
測定指定領域は16ケ所であるが、本例の積和演算回路
（11）及びFIFO（12）を含むハードウェア回路の最大能
力はCRT（１）の画面上の16×16（256）ポイントのイメ
ージデータ及び積和データをリアルタイムで処理するこ
とが出来る様に設計されている。
よって説明する。第３図はパターン信号発生回路（15）
のハッチ信号によってCRT（１）の管面（５）上に写し
出された縦ハッチ（24a）と横ハッチ（24b）から成るク
ロスハッチであり、このクロスハッチ点に水平及び垂直
方向に測定エリア（23H），（23V）が指定される。この
測定指定領域は16ケ所であるが、本例の積和演算回路
（11）及びFIFO（12）を含むハードウェア回路の最大能
力はCRT（１）の画面上の16×16（256）ポイントのイメ
ージデータ及び積和データをリアルタイムで処理するこ
とが出来る様に設計されている。
第３図のＡ部拡大部を第５図に示してある。今測定エ
リアＡ部分で1H目の（23H1）で示す点でタイミング信号
発生回路（16）の測定開始点指定メモリ（19）によって
測定開始点が与えられると、そのタイミングからクロス
パターンを形成する縦ハッチ（24a）を横切る水平方向
に水平測定エリア（23H）が設定される。この水平測定
エリア（23H）は水平測定エリア指定ラッチ回路（20）
でラッチされ例えば、CCDブロック（８）の29画素分程
度が設定される。この水平測定エリア（23H）のデータ
がアナログ−デジタル変換回路（９）でデジタル化され
イメージメモリ（10）に記憶されると共に積和演算回路
（11）に供給される。積和演算回路（11）にはタイミン
グ信号発生回路（16）からの水平エリアアドレスデータ
が供給されると共にデジタル化された水平測定エリアデ
ータが供給され、これら両データの積和演算が行なわれ
る。この積和演算は先に第４図に示した輝度信号データ
から重心を求める場合に必要な演算である。即ちデータ
重心はｆ（ｎ）をアドレスｎにおける輝度信号データと
すると、下記の式で求められる。
リアＡ部分で1H目の（23H1）で示す点でタイミング信号
発生回路（16）の測定開始点指定メモリ（19）によって
測定開始点が与えられると、そのタイミングからクロス
パターンを形成する縦ハッチ（24a）を横切る水平方向
に水平測定エリア（23H）が設定される。この水平測定
エリア（23H）は水平測定エリア指定ラッチ回路（20）
でラッチされ例えば、CCDブロック（８）の29画素分程
度が設定される。この水平測定エリア（23H）のデータ
がアナログ−デジタル変換回路（９）でデジタル化され
イメージメモリ（10）に記憶されると共に積和演算回路
（11）に供給される。積和演算回路（11）にはタイミン
グ信号発生回路（16）からの水平エリアアドレスデータ
が供給されると共にデジタル化された水平測定エリアデ
ータが供給され、これら両データの積和演算が行なわれ
る。この積和演算は先に第４図に示した輝度信号データ
から重心を求める場合に必要な演算である。即ちデータ
重心はｆ（ｎ）をアドレスｎにおける輝度信号データと
すると、下記の式で求められる。
この（１）式のうち、 の和演算及び の積演算が行なわれる。この様な積和演算を次の水平測
定エリアB,C,D（第３図参照）について行なう。これら
の演算データはFIFO（12）に次々と格納されて行く。次
の第２番目の2Hの期間では1Hの測定開始点（23H1）と同
じタイミングの（23H2）からイメージメモリ（10）に格
納されていたデジタル化されたデータを順次読み出し
て、タイミング発生回路（16）で水平エリアアドレスデ
ータのアドレスを１に固定し、このエリアアドレスデー
タと積和演算することで（１）式に示した分母の の和演算が行なわれる。この様なデータの読み出し及び
和演算が第３図示の測定エリアB,C,Dで順次行なわれ、F
IFO（12）に格納される。
定エリアB,C,D（第３図参照）について行なう。これら
の演算データはFIFO（12）に次々と格納されて行く。次
の第２番目の2Hの期間では1Hの測定開始点（23H1）と同
じタイミングの（23H2）からイメージメモリ（10）に格
納されていたデジタル化されたデータを順次読み出し
て、タイミング発生回路（16）で水平エリアアドレスデ
ータのアドレスを１に固定し、このエリアアドレスデー
タと積和演算することで（１）式に示した分母の の和演算が行なわれる。この様なデータの読み出し及び
和演算が第３図示の測定エリアB,C,Dで順次行なわれ、F
IFO（12）に格納される。
次の第3H目では水平の測定開始点（23H1）と同一のタ
イミングで垂直測定エリア（23V）の走査線分だけ3Hか
らnH迄（実際には水平測定エリアと同様CCDブロック
（８）の29画素分程度）の輝度信号がアナログ−デジタ
ル変換回路（９）でデジタル化される。この垂直開始点
（23V1）及び終点（23Vn）はタイミング信号発生回路
（16）の垂直アドレス発生回路（18）に基づく測定開始
点メモリ（19）及び垂直測定エリア指定ラッチ回路（2
1）で定まる。この垂直測定エリア（23V）はクロスハッ
チの横ハッチ（24b）を横切る方向に設定される。この
垂直測定エリア（23V）ではアナログ−デジタル変換回
路（９）でデジタル化されたデータをイメージメモリ
（10）に供給してデータの格納が3H〜nHまで行なわれる
が、実際には第３図に示す測定エリアA,B,C,D各点での
データ格納が3Hで行なわれ、同じく測定エリアA,B,C,D
各点でのデータ格納が4Hで行なわれる同様の動作をnH迄
行うことで第３図の例では垂直測定エリア（23V）の４
個所のイメージメモリへの書込みが終了する。次に垂直
エリア（23V）の書込みが終了すると、タイミング信号
発生回路（16）はイメージメモリ（10）の読み出しアド
レスを修正し、垂直開始点（23V1）を（ｎ＋１）Ｈ目の
水平走査開始点（23VHn＋１）位置に垂直終点（23Vn）
を（ｎ＋１）Ｈ目の水平終点（23VHn＋ｎ）位置になる
様に他の測定点も修正し、水平走査タイミングで垂直エ
リア（23V）のデータを（ｎ＋１）Ｈ目で読出すことで
ｙ軸方向の座標をｘ軸方向に座標変換がなされる。この
読み出しと同時に垂直方向の積和演算、即ち（１）式の
分子の演算が行なわれてFIFO（12）に書込まれる。勿論
この様な動作は第３図に示す垂直測定エリアA,B,C,Dに
ついて順次行われる。次の（ｎ＋２）Ｈ目にはイメージ
メモリ（10）に書き込まれた垂直方向の測定エリアを座
標変換したデータを開始点（23Vn）と同じタイミングの
開始点（23Vn＋２）から読み出して、（１）式に示す分
母の和演算を行う様になし、この演算結果をFIFO（12）
に順次書込むこの場合も第３図に示す垂直方向測定エリ
アA,B,C,Dを順次読み出すと共に和演算が行なわれる。
イミングで垂直測定エリア（23V）の走査線分だけ3Hか
らnH迄（実際には水平測定エリアと同様CCDブロック
（８）の29画素分程度）の輝度信号がアナログ−デジタ
ル変換回路（９）でデジタル化される。この垂直開始点
（23V1）及び終点（23Vn）はタイミング信号発生回路
（16）の垂直アドレス発生回路（18）に基づく測定開始
点メモリ（19）及び垂直測定エリア指定ラッチ回路（2
1）で定まる。この垂直測定エリア（23V）はクロスハッ
チの横ハッチ（24b）を横切る方向に設定される。この
垂直測定エリア（23V）ではアナログ−デジタル変換回
路（９）でデジタル化されたデータをイメージメモリ
（10）に供給してデータの格納が3H〜nHまで行なわれる
が、実際には第３図に示す測定エリアA,B,C,D各点での
データ格納が3Hで行なわれ、同じく測定エリアA,B,C,D
各点でのデータ格納が4Hで行なわれる同様の動作をnH迄
行うことで第３図の例では垂直測定エリア（23V）の４
個所のイメージメモリへの書込みが終了する。次に垂直
エリア（23V）の書込みが終了すると、タイミング信号
発生回路（16）はイメージメモリ（10）の読み出しアド
レスを修正し、垂直開始点（23V1）を（ｎ＋１）Ｈ目の
水平走査開始点（23VHn＋１）位置に垂直終点（23Vn）
を（ｎ＋１）Ｈ目の水平終点（23VHn＋ｎ）位置になる
様に他の測定点も修正し、水平走査タイミングで垂直エ
リア（23V）のデータを（ｎ＋１）Ｈ目で読出すことで
ｙ軸方向の座標をｘ軸方向に座標変換がなされる。この
読み出しと同時に垂直方向の積和演算、即ち（１）式の
分子の演算が行なわれてFIFO（12）に書込まれる。勿論
この様な動作は第３図に示す垂直測定エリアA,B,C,Dに
ついて順次行われる。次の（ｎ＋２）Ｈ目にはイメージ
メモリ（10）に書き込まれた垂直方向の測定エリアを座
標変換したデータを開始点（23Vn）と同じタイミングの
開始点（23Vn＋２）から読み出して、（１）式に示す分
母の和演算を行う様になし、この演算結果をFIFO（12）
に順次書込むこの場合も第３図に示す垂直方向測定エリ
アA,B,C,Dを順次読み出すと共に和演算が行なわれる。
FIFO（12）に書込まれた和演算及び積和演算データは
マイクロプロセッサ（13）によって非同期読出しが行な
われて重心の演算が成されるので、マイクロプロセッサ
（13）の並列処理による効率改善がなされ、更に二次元
の重心演算に比べて一次元の重心演算による画像位置算
出のため演算時間が短縮され、且つ一次元の演算を積和
演算回路（11）でハード的に処理するため処理時間は高
速化された。尚、上記実施例では被測定表示手段として
白黒受像機が用いられ白黒の撮像カメラで画像位置測定
を行う例を説明したがカラー受像管とカラー撮像カメラ
を用いて例えばコンバーゼンス測定を行う場合には、第
６図に示す様に赤，緑，青画像（25R），（25G），（25
B）の各々の輝度データから（１）式により重心位置を
求め、この様に求めた三色の水平，垂直位置データをR
h,Gh,Bh及びRv,Gv,Bvとすると静コンバーゼンスデータ
は として求めることが出来る。即ち、第６図でΔRG,ΔGB
を零とするとコンバーゼンスがとれることになる。この
様にして求めたコンバーゼンスデータをモニタ（14）に
表示する。
マイクロプロセッサ（13）によって非同期読出しが行な
われて重心の演算が成されるので、マイクロプロセッサ
（13）の並列処理による効率改善がなされ、更に二次元
の重心演算に比べて一次元の重心演算による画像位置算
出のため演算時間が短縮され、且つ一次元の演算を積和
演算回路（11）でハード的に処理するため処理時間は高
速化された。尚、上記実施例では被測定表示手段として
白黒受像機が用いられ白黒の撮像カメラで画像位置測定
を行う例を説明したがカラー受像管とカラー撮像カメラ
を用いて例えばコンバーゼンス測定を行う場合には、第
６図に示す様に赤，緑，青画像（25R），（25G），（25
B）の各々の輝度データから（１）式により重心位置を
求め、この様に求めた三色の水平，垂直位置データをR
h,Gh,Bh及びRv,Gv,Bvとすると静コンバーゼンスデータ
は として求めることが出来る。即ち、第６図でΔRG,ΔGB
を零とするとコンバーゼンスがとれることになる。この
様にして求めたコンバーゼンスデータをモニタ（14）に
表示する。
第７図はモニタ（14）のコンバーゼンス画面表示例を
示すものであり、第７図でコンバーゼンス測定部（26）
の上左右側に表示されている数字は垂直方向のミスコン
バーゼンス度合を示し、下左右側に示された数字は水平
方向のミスンコンバーゼンス度合を示している。上左側
の数字はＶ（Ｒ−Ｇ）即ち、垂直方向のＲとＧとの差が
0.7mmあることを、右上の数字は同じくＶ（Ｂ−Ｇ）、
即ち垂直方向のＢとＧとの差が−0.6mmであることを
又、下左の数字はＨ（Ｒ−Ｇ）、即ち水平方向のＲとＧ
の差が0.2mmであることを、下左の数字は同じくＨ（Ｂ
−Ｇ）、即ち水平方向のＢとの差が−0.4mmであること
を示している。以下、各点の上下左右数字は上述と同じ
様な意味の表示である。歪んだ横及び縦ハッチ（24
a），（24b）の各交点（27）はカラーCRT（１）のコン
バーゼンスのずれ量を表しているので交点（27）をコン
バーゼンス測定部（26）位置に合せる様に静電偏向板に
加える電圧や電子銃ネック部に加える外部磁界を補正し
たりパーマロイ挿脱等を行なえばよい。本発明は上記実
施例に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種
々の変形が可能であることは勿論である。
示すものであり、第７図でコンバーゼンス測定部（26）
の上左右側に表示されている数字は垂直方向のミスコン
バーゼンス度合を示し、下左右側に示された数字は水平
方向のミスンコンバーゼンス度合を示している。上左側
の数字はＶ（Ｒ−Ｇ）即ち、垂直方向のＲとＧとの差が
0.7mmあることを、右上の数字は同じくＶ（Ｂ−Ｇ）、
即ち垂直方向のＢとＧとの差が−0.6mmであることを
又、下左の数字はＨ（Ｒ−Ｇ）、即ち水平方向のＲとＧ
の差が0.2mmであることを、下左の数字は同じくＨ（Ｂ
−Ｇ）、即ち水平方向のＢとの差が−0.4mmであること
を示している。以下、各点の上下左右数字は上述と同じ
様な意味の表示である。歪んだ横及び縦ハッチ（24
a），（24b）の各交点（27）はカラーCRT（１）のコン
バーゼンスのずれ量を表しているので交点（27）をコン
バーゼンス測定部（26）位置に合せる様に静電偏向板に
加える電圧や電子銃ネック部に加える外部磁界を補正し
たりパーマロイ挿脱等を行なえばよい。本発明は上記実
施例に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種
々の変形が可能であることは勿論である。
本発明は従来の様にマイクロプロセッサ（13）によっ
て二次元重心計算を多くの測定点でソフト的に行う方法
に比べ一次元重心演算によって多くの測定点である水
平，垂直測定エリアを分割測定し、積和演算回路でハー
ド的に重心演算に必要な積和演算を行ないこれをFIFO等
のメモリに書込み、読出させる様にしたので１測定エリ
アの演算処理が約100μsecと従来の1/10の時間に短縮さ
れ、256ポイントのイメージデータ，積和データをリア
ルタイムで処理することが出来て、その効果は極めて大
きい。
て二次元重心計算を多くの測定点でソフト的に行う方法
に比べ一次元重心演算によって多くの測定点である水
平，垂直測定エリアを分割測定し、積和演算回路でハー
ド的に重心演算に必要な積和演算を行ないこれをFIFO等
のメモリに書込み、読出させる様にしたので１測定エリ
アの演算処理が約100μsecと従来の1/10の時間に短縮さ
れ、256ポイントのイメージデータ，積和データをリア
ルタイムで処理することが出来て、その効果は極めて大
きい。
第１図は本発明の画像位置測定装置の１実施例を示す系
統図、第２図は第１図中のタイミング信号発生回路の系
統図、第３図はハッチパターン図、第４図は輝度分布
図、第５図は第３図のＡ部拡大図、第６図は各色の重心
位置を示す波形図、第７図は測定用表示装置画面の表示
例を示す画面図、第８図は従来の画像位置測定装置の系
統図である。 （１）はテレビ受像管、（４）はテレビ受像機、（５）
は管面、（７）は撮像カメラ、（10）はイメージメモ
リ、（11）は積和演算回路、（13）はマイクロプロセッ
サ、（16）はタイミング信号発生回路、（23H）は水平
測定エリア、（23V）は垂直測定エリアである。
統図、第２図は第１図中のタイミング信号発生回路の系
統図、第３図はハッチパターン図、第４図は輝度分布
図、第５図は第３図のＡ部拡大図、第６図は各色の重心
位置を示す波形図、第７図は測定用表示装置画面の表示
例を示す画面図、第８図は従来の画像位置測定装置の系
統図である。 （１）はテレビ受像管、（４）はテレビ受像機、（５）
は管面、（７）は撮像カメラ、（10）はイメージメモ
リ、（11）は積和演算回路、（13）はマイクロプロセッ
サ、（16）はタイミング信号発生回路、（23H）は水平
測定エリア、（23V）は垂直測定エリアである。
Claims (1)
- 【請求項１】被測定用表示手段に対向して配置された撮
像手段と、 上記被測定用表示手段にハッチパターンを発生させるハ
ッチパターン信号発生手段と、 上記撮像手段からの映像信号がデジタル化したデータと
して記憶される第１の記憶手段と、 上記デジタル化したデータが供給されて水平及び垂直方
向の積和及び和演算を行なう積和演算手段と、 上記積和演算手段にエリアアドレスデータを供給するタ
イミング信号発生手段と、 上記積和演算手段からの演算データが記憶され、該記憶
演算データをマイクロプロセッサによって非同期に読み
出すことが可能な第２の記憶手段と、を具備し、 上記非同期に読み出された上記演算データに基づいて、
上記マイクロプロセッサが重心演算することで画像位置
を測定するようにしたことを特徴とする画像位置測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63029122A JP2722480B2 (ja) | 1988-02-10 | 1988-02-10 | 画像位置測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63029122A JP2722480B2 (ja) | 1988-02-10 | 1988-02-10 | 画像位置測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01204594A JPH01204594A (ja) | 1989-08-17 |
| JP2722480B2 true JP2722480B2 (ja) | 1998-03-04 |
Family
ID=12267501
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63029122A Expired - Fee Related JP2722480B2 (ja) | 1988-02-10 | 1988-02-10 | 画像位置測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2722480B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6052146A (en) * | 1994-06-13 | 2000-04-18 | Display Laboratories, Inc. | Alignment of a video monitor using an on-screen display chip and a gain matrix table |
| US5504521A (en) * | 1994-06-13 | 1996-04-02 | Display Laboratories, Inc. | Method and apparatus for making corrections in a video monitor during horizontal scan |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62279797A (ja) * | 1986-05-29 | 1987-12-04 | Hitachi Ltd | ミスコンバ−ゼンス量測定装置 |
-
1988
- 1988-02-10 JP JP63029122A patent/JP2722480B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01204594A (ja) | 1989-08-17 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |