JP2705654B2 - 落下保持構造 - Google Patents
落下保持構造Info
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- JP2705654B2 JP2705654B2 JP7204150A JP20415095A JP2705654B2 JP 2705654 B2 JP2705654 B2 JP 2705654B2 JP 7204150 A JP7204150 A JP 7204150A JP 20415095 A JP20415095 A JP 20415095A JP 2705654 B2 JP2705654 B2 JP 2705654B2
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、各種製品等の衝撃
強度を測定する際に使用する落下衝撃試験の改良に関す
るものである。
強度を測定する際に使用する落下衝撃試験の改良に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】図２に従来の落下衝撃試験装置の構造を
示す。この落下衝撃試験装置では、基台１に、ガイドロ
ッド２と、落下ブロック４を昇降移動させるためのシリ
ンダ７と、落下衝撃ブロック４の被衝突体である衝撃ブ
ロック３が取り付けられている。この落下衝撃試験装置
では、被試験物２１を落下ブロック４に固定し、シリン
ダ７を動作させて落下ブロック４を被測定物２１と共に
衝撃ブロック３に衝突させることで衝撃試験を行わせる
ものである。
示す。この落下衝撃試験装置では、基台１に、ガイドロ
ッド２と、落下ブロック４を昇降移動させるためのシリ
ンダ７と、落下衝撃ブロック４の被衝突体である衝撃ブ
ロック３が取り付けられている。この落下衝撃試験装置
では、被試験物２１を落下ブロック４に固定し、シリン
ダ７を動作させて落下ブロック４を被測定物２１と共に
衝撃ブロック３に衝突させることで衝撃試験を行わせる
ものである。
【０００３】図３に落下ブロック４が衝撃ブロック３に
衝突した瞬間の衝撃加速度−時間線図を示した。衝撃力
はこの衝撃加速度−時間線図より、最大衝撃加速度と、
加速度が０となる時間までの作用時間をもって表すこと
ができる。この最大衝撃加速度と作用時間の設定には、
上記シリンダ７による落下ブロック４の衝撃ブロック３
への衝突速度と、衝撃ブロック３の衝撃吸収性を変更す
ることで行っている。
衝突した瞬間の衝撃加速度−時間線図を示した。衝撃力
はこの衝撃加速度−時間線図より、最大衝撃加速度と、
加速度が０となる時間までの作用時間をもって表すこと
ができる。この最大衝撃加速度と作用時間の設定には、
上記シリンダ７による落下ブロック４の衝撃ブロック３
への衝突速度と、衝撃ブロック３の衝撃吸収性を変更す
ることで行っている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来の落下衝撃試験装
置は以上のように構成され、シリンダ７の動作速度と衝
撃ブロック３の衝撃吸収性（作用時間）により落下衝撃
力を算出していた。
置は以上のように構成され、シリンダ７の動作速度と衝
撃ブロック３の衝撃吸収性（作用時間）により落下衝撃
力を算出していた。
【０００５】しかしながら、非専門家が使用する、例え
ば小型磁気ディスク装置などの取扱説明書には落下許容
高さを記載することが望ましく、衝撃加速度と作用時間
から許容落下高さを算出することは困難であった。さら
に、衝撃力の変化させるには、シリンダ７の設定と衝撃
ブロック３の交換が必要であり、長い準備時間を必要と
していた。
ば小型磁気ディスク装置などの取扱説明書には落下許容
高さを記載することが望ましく、衝撃加速度と作用時間
から許容落下高さを算出することは困難であった。さら
に、衝撃力の変化させるには、シリンダ７の設定と衝撃
ブロック３の交換が必要であり、長い準備時間を必要と
していた。
【０００６】また、落下した瞬間の被試験物２１の衝突
を、局部的に例えば角で行わせることができなかった。
を、局部的に例えば角で行わせることができなかった。
【０００７】本発明は、以上の点に鑑みてなされたもの
で、単純な自由落下による衝撃試験、試験作業の簡素
化、製品の衝撃方向に任意性を持たせることが可能な落
下衝撃試験構造を提供することを目的とする。
で、単純な自由落下による衝撃試験、試験作業の簡素
化、製品の衝撃方向に任意性を持たせることが可能な落
下衝撃試験構造を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明においては、上記
の目的を達成するため、基台に設置されたガイドロッド
と、このガイドロッドに案内されつつ昇降動作する落下
テーブルと、この落下テーブルの上に配置される被試験
物と、この被試験物の姿勢規制する保持ブロックと、こ
の保持ブロックと上記落下テーブルを取り付ける板状磁
石と、上記基台に設置されて上記被試験物が衝突する衝
撃ヘッドと、上記基台に設置されて上記落下テーブルが
衝突する衝撃ブロックと、この衝撃ブロックに設置され
て上記落下テーブルの落下衝撃を緩和する衝撃減衰器と
から構成されている。
の目的を達成するため、基台に設置されたガイドロッド
と、このガイドロッドに案内されつつ昇降動作する落下
テーブルと、この落下テーブルの上に配置される被試験
物と、この被試験物の姿勢規制する保持ブロックと、こ
の保持ブロックと上記落下テーブルを取り付ける板状磁
石と、上記基台に設置されて上記被試験物が衝突する衝
撃ヘッドと、上記基台に設置されて上記落下テーブルが
衝突する衝撃ブロックと、この衝撃ブロックに設置され
て上記落下テーブルの落下衝撃を緩和する衝撃減衰器と
から構成されている。
【０００９】
【発明の実施の形態】次に本発明について図面を参照し
て説明する。図１（ａ）は本発明に係わる落下保持構造
を示す上面図、図１（ｂ）はその正面図、図１（ｃ）は
その側面図である。
て説明する。図１（ａ）は本発明に係わる落下保持構造
を示す上面図、図１（ｂ）はその正面図、図１（ｃ）は
その側面図である。
【００１０】図中、被試験物２１は保持ブロック１１で
保持され板状磁石１２を介して落下ブロック４に固定さ
れている。この落下ブロック４は基台１の両側に立設さ
れたガイドロッド２に沿って昇降動作する。また、基台
１に落下ブロック４が衝突する衝撃ブロック３と、落下
ブロック４の落下衝撃を吸収する衝撃減衰器６と、被試
験物２１が衝突する衝撃ヘッド５が取り付けられてい
る。
保持され板状磁石１２を介して落下ブロック４に固定さ
れている。この落下ブロック４は基台１の両側に立設さ
れたガイドロッド２に沿って昇降動作する。また、基台
１に落下ブロック４が衝突する衝撃ブロック３と、落下
ブロック４の落下衝撃を吸収する衝撃減衰器６と、被試
験物２１が衝突する衝撃ヘッド５が取り付けられてい
る。
【００１１】衝撃ヘッド５の衝突高さｈ１は落下ブロッ
ク４の衝突高さｈ２より高くなっており、落下ブロック
４が衝突する前に被試験物２１が衝突する構成となって
いる。また、板状磁石１２の吸着力は被試験物２１を保
持する程度であり、被試験物２１に下方から力を加えれ
ば外れる構成である。
ク４の衝突高さｈ２より高くなっており、落下ブロック
４が衝突する前に被試験物２１が衝突する構成となって
いる。また、板状磁石１２の吸着力は被試験物２１を保
持する程度であり、被試験物２１に下方から力を加えれ
ば外れる構成である。
【００１２】従って、被試験物２１の落下衝撃試験を行
う場合には、先ず、被試験物２１を目的の落下姿勢に保
持ブロック１１と板状磁石１２を用いて落下ブロック４
に固定する。
う場合には、先ず、被試験物２１を目的の落下姿勢に保
持ブロック１１と板状磁石１２を用いて落下ブロック４
に固定する。
【００１３】次に、図示しない制御装置を操作して図示
しない昇降装置により落下ブロック４を所定の落下高さ
に設定する。
しない昇降装置により落下ブロック４を所定の落下高さ
に設定する。
【００１４】次に、図示しない制御装置を操作して昇降
装置（図示しない）と落下ブロック４のロック機構（図
示しない）を解除すると、落下ブロック４はガイドロッ
ド２に案内されつつ自由落下し、被試験物２１が衝撃ヘ
ッド５に衝突する。このとき、被試験物２１は衝撃ヘッ
ド５に衝突したため落下動作は終了するが、落下ブロッ
ク４は衝撃ブロック３及び衝撃減衰器６に達していない
ため更に落下動作を継続する。その際、被試験物２１を
保持している保持ブロック１１は被試験物２１の落下動
作終了に伴い落下動作を終了しようとし、落下動作を継
続する落下ブロック４と反する力を生ずる。ここで、保
持ブロック１１と落下ブロック４は板状磁石１２により
固定されており、被試験物２１が衝撃ヘッド５に衝突し
た時の衝撃力に比べてこの板状磁石１２の固定力は非常
に小さいため、板状磁石１２が落下ブロック４または保
持ブロック１１から離れ、結果として保持ブロック１１
と落下ブロック４がはずれる。
装置（図示しない）と落下ブロック４のロック機構（図
示しない）を解除すると、落下ブロック４はガイドロッ
ド２に案内されつつ自由落下し、被試験物２１が衝撃ヘ
ッド５に衝突する。このとき、被試験物２１は衝撃ヘッ
ド５に衝突したため落下動作は終了するが、落下ブロッ
ク４は衝撃ブロック３及び衝撃減衰器６に達していない
ため更に落下動作を継続する。その際、被試験物２１を
保持している保持ブロック１１は被試験物２１の落下動
作終了に伴い落下動作を終了しようとし、落下動作を継
続する落下ブロック４と反する力を生ずる。ここで、保
持ブロック１１と落下ブロック４は板状磁石１２により
固定されており、被試験物２１が衝撃ヘッド５に衝突し
た時の衝撃力に比べてこの板状磁石１２の固定力は非常
に小さいため、板状磁石１２が落下ブロック４または保
持ブロック１１から離れ、結果として保持ブロック１１
と落下ブロック４がはずれる。
【００１５】従って、被試験物２１が衝撃ヘッド５に衝
突する際の落下衝撃は、落下ブロック４の落下衝撃に影
響されることがなくなる。
突する際の落下衝撃は、落下ブロック４の落下衝撃に影
響されることがなくなる。
【００１６】その後、落下ブロック４は衝撃減衰器６に
衝突し、衝撃ブロック３に衝突して停止する。
衝突し、衝撃ブロック３に衝突して停止する。
【００１７】尚、上記実施例では、被試験物２１の落下
姿勢の変更は保持ブロック１１を交換することで可能で
あり、また、落下高さによる製品の衝撃強度も単純に試
験できる。
姿勢の変更は保持ブロック１１を交換することで可能で
あり、また、落下高さによる製品の衝撃強度も単純に試
験できる。
【００１８】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、単純な
自由落下による衝撃試験が可能であり、試験作業の簡素
化、被試験物の衝撃方向を任意に設定できるようにな
る。
自由落下による衝撃試験が可能であり、試験作業の簡素
化、被試験物の衝撃方向を任意に設定できるようにな
る。
【図１】本発明に係わる落下保持構造を導入した落下衝
撃試験機の例を示す図であり、（ａ）は上面図、（ｂ）
は正面図、（ｃ）は側面図である。
撃試験機の例を示す図であり、（ａ）は上面図、（ｂ）
は正面図、（ｃ）は側面図である。
【図２】従来の落下衝撃試験装置の構造を示す図であ
る。
る。
【図３】落下衝撃における衝撃加速度−時間線図を示
す。
す。
１ 基台 ２ ガイドロッド ３ 衝撃ブロック ４ 落下ブロック ２１ 被試験物
Claims (1)
- 【請求項１】 基台に設置されたガイドレールと、この
ガイドレールに沿って昇降動作する落下ブロックを有
し、この落下ブロック上に配置した被試験物を、前記落
下ブロックごと自由落下させ、基台に設置した衝撃ブロ
ックに衝突させて上記被試験物に衝撃を与える落下衝撃
試験装置において、上記衝撃ブロックの他に上記被試験
物のみ衝突させる衝撃ヘッドを備え、上記落下ブロック
と上記被試験物の固定に磁石を取り付けた保持ブロック
を用い、被試験物が衝撃ヘッドに衝突した瞬間に落下ブ
ロックと保持ブロックを解放させることを特徴とした落
下保持構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7204150A JP2705654B2 (ja) | 1995-08-10 | 1995-08-10 | 落下保持構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7204150A JP2705654B2 (ja) | 1995-08-10 | 1995-08-10 | 落下保持構造 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0954029A JPH0954029A (ja) | 1997-02-25 |
| JP2705654B2 true JP2705654B2 (ja) | 1998-01-28 |
Family
ID=16485672
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7204150A Expired - Fee Related JP2705654B2 (ja) | 1995-08-10 | 1995-08-10 | 落下保持構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2705654B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6374661B1 (en) * | 1998-09-29 | 2002-04-23 | Lucent Technologies Inc. | Realistic, repeatable and controllable drop testing |
| JP4634244B2 (ja) * | 2005-07-12 | 2011-02-16 | 三菱重工業株式会社 | リチウム電池や燃料電池の衝撃試験装置 |
| JP7367315B2 (ja) * | 2019-03-25 | 2023-10-24 | 日本電気株式会社 | 衝撃試験装置、衝撃試験方法および衝撃試験プログラム |
| CN111645822B (zh) * | 2020-05-22 | 2021-05-18 | 武汉理工大学 | 一种用于船体甲板及舷侧开口结构的轴向冲击试验装置 |
| KR102569117B1 (ko) * | 2021-12-17 | 2023-08-24 | 주식회사 호원 | 이종 접합 부재 압축 및 굽힘 시험 장치 |
-
1995
- 1995-08-10 JP JP7204150A patent/JP2705654B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0954029A (ja) | 1997-02-25 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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