JP2678870B2 - 射出成形機の物理量検出方法及び装置 - Google Patents
射出成形機の物理量検出方法及び装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は金型内圧センサ等のセン
サから得るアナログ検出信号をディジタル検出信号に変
換して物理量を検出する射出成形機の物理量検出方法及
び装置に関する。
サから得るアナログ検出信号をディジタル検出信号に変
換して物理量を検出する射出成形機の物理量検出方法及
び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４に、射出成形機における従来の圧力
検出装置（物理量検出装置）６０を示す。同図におい
て、６１は射出装置６２及び型締装置６３を備える射出
成形機である。型締装置６３は固定盤６４と、タイバー
６５…により移動自在に支持される可動盤６６を備え、
固定盤６４は固定型６７ｓを支持するとともに、可動盤
６６は可動型６７ｍを支持する。そして、固定型６７ｓ
と可動型６７ｍはキャビティ６８を有する金型６７を構
成する。また、可動型６７ｍにはキャビティ６８に臨む
突出しピン６９を備え、この突出しピン６９の後端は、
例えば、ロードセルを用いた金型内圧センサ７０を挟ん
で、突出しシリンダ７１に駆動せしめられる駆動ロッド
７２に結合する。これにより、突出しシリンダ７１を駆
動制御すれば、突出しピン６９が進退移動し、成形品の
突き出しを行うことができる。
検出装置（物理量検出装置）６０を示す。同図におい
て、６１は射出装置６２及び型締装置６３を備える射出
成形機である。型締装置６３は固定盤６４と、タイバー
６５…により移動自在に支持される可動盤６６を備え、
固定盤６４は固定型６７ｓを支持するとともに、可動盤
６６は可動型６７ｍを支持する。そして、固定型６７ｓ
と可動型６７ｍはキャビティ６８を有する金型６７を構
成する。また、可動型６７ｍにはキャビティ６８に臨む
突出しピン６９を備え、この突出しピン６９の後端は、
例えば、ロードセルを用いた金型内圧センサ７０を挟ん
で、突出しシリンダ７１に駆動せしめられる駆動ロッド
７２に結合する。これにより、突出しシリンダ７１を駆
動制御すれば、突出しピン６９が進退移動し、成形品の
突き出しを行うことができる。
【０００３】一方、金型内圧センサ７０には圧力検出回
路７３を接続して圧力検出装置６０を構成する。圧力検
出回路７３はゲイン調節部７４、アナログ−ディジタル
変換器（Ａ／Ｄ変換器）７５を備えるとともに、ゲイン
調節部７４は、さらに、ヘッドアンプ７６、ゲイン設定
部７７及びゼロ調節部７８を備える。よって、金型内圧
は突出しピン６９を介して金型内圧センサ７０に作用
し、金型内圧センサ７０からは金型内圧に比例したアナ
ログ検出信号が出力する。そして、アナログ検出信号は
ヘッドアンプ７６により増幅されるとともに、ゲイン設
定部７７により最適ゲインが得られるようにゲイン調節
され、この後、Ａ／Ｄ変換器７５によりディジタル検出
信号に変換される。なお、ディジタル検出信号は不図示
のコントローラに付与され、表示等に用いられる。
路７３を接続して圧力検出装置６０を構成する。圧力検
出回路７３はゲイン調節部７４、アナログ−ディジタル
変換器（Ａ／Ｄ変換器）７５を備えるとともに、ゲイン
調節部７４は、さらに、ヘッドアンプ７６、ゲイン設定
部７７及びゼロ調節部７８を備える。よって、金型内圧
は突出しピン６９を介して金型内圧センサ７０に作用
し、金型内圧センサ７０からは金型内圧に比例したアナ
ログ検出信号が出力する。そして、アナログ検出信号は
ヘッドアンプ７６により増幅されるとともに、ゲイン設
定部７７により最適ゲインが得られるようにゲイン調節
され、この後、Ａ／Ｄ変換器７５によりディジタル検出
信号に変換される。なお、ディジタル検出信号は不図示
のコントローラに付与され、表示等に用いられる。
【０００４】ところで、Ａ／Ｄ変換器７５に対する入力
電圧が小さい場合、アナログ−ディジタル変換時の分解
能（検出精度）が低下するため、圧力検出装置６０は最
適ゲイン、即ち、定格金型内圧が作用した際に、ディジ
タル検出信号への変換時の入力電圧を定格値にするため
のゲインが得られるように、ゲイン設定部７７によりゲ
イン調節を行っている。具体的には、図５に示す金型内
圧と金型内圧センサから得るアナログ検出信号の大きさ
（センサ出力電圧）の関係からも明らかなように、二つ
の異なる径ＤａとＤｂ（Ｄａ＜Ｄｂ）の突出しピンにお
いて、径Ｄｂの突出しピンにより最適なゲインを設定し
た場合には、金型内圧Ｐｄのときにセンサ出力電圧は定
格電圧Ｅｓを得るが、径Ｄａの突出しピンに変更した場
合には、同一の金型内圧Ｐｄであっても、センサ出力電
圧は当該定格電圧Ｅｓよりも遥かに小さい出力電圧Ｅｍ
となり、分解能の低下を招くため、ゲイン設定部７７
（図４）により最適なゲインを設定する。なお、一般に
は、金型内圧が同一であっても、上述した突出しピン６
９の径をはじめ、ロードセル（金型内圧センサ７０）の
特性や使用条件等により、設定すべき最適なゲインは異
なってくる。
電圧が小さい場合、アナログ−ディジタル変換時の分解
能（検出精度）が低下するため、圧力検出装置６０は最
適ゲイン、即ち、定格金型内圧が作用した際に、ディジ
タル検出信号への変換時の入力電圧を定格値にするため
のゲインが得られるように、ゲイン設定部７７によりゲ
イン調節を行っている。具体的には、図５に示す金型内
圧と金型内圧センサから得るアナログ検出信号の大きさ
（センサ出力電圧）の関係からも明らかなように、二つ
の異なる径ＤａとＤｂ（Ｄａ＜Ｄｂ）の突出しピンにお
いて、径Ｄｂの突出しピンにより最適なゲインを設定し
た場合には、金型内圧Ｐｄのときにセンサ出力電圧は定
格電圧Ｅｓを得るが、径Ｄａの突出しピンに変更した場
合には、同一の金型内圧Ｐｄであっても、センサ出力電
圧は当該定格電圧Ｅｓよりも遥かに小さい出力電圧Ｅｍ
となり、分解能の低下を招くため、ゲイン設定部７７
（図４）により最適なゲインを設定する。なお、一般に
は、金型内圧が同一であっても、上述した突出しピン６
９の径をはじめ、ロードセル（金型内圧センサ７０）の
特性や使用条件等により、設定すべき最適なゲインは異
なってくる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の圧力検
出装置６０に内蔵するゲイン設定部７７は、マニュアル
調節を要する可変抵抗器等を用いていたため、ゲインを
変更する必要性が生じた際には、その都度、オペレータ
のマニュアル操作による設定変更を行う必要があり、こ
の結果、設定作業に時間がかかり、しかも、高精度かつ
容易な設定を行うことができないという解決すべき課題
が存在した。
出装置６０に内蔵するゲイン設定部７７は、マニュアル
調節を要する可変抵抗器等を用いていたため、ゲインを
変更する必要性が生じた際には、その都度、オペレータ
のマニュアル操作による設定変更を行う必要があり、こ
の結果、設定作業に時間がかかり、しかも、高精度かつ
容易な設定を行うことができないという解決すべき課題
が存在した。
【０００６】本発明はこのような従来の技術に存在する
課題を解決したものであり、特に、ゲイン調節のための
最適なゲイン設定を極めて容易かつ高精度に行うことが
できるとともに、生産性向上及び成形品質向上を図るこ
とができる射出成形機の物理量検出方法及び装置の提供
を目的とする。
課題を解決したものであり、特に、ゲイン調節のための
最適なゲイン設定を極めて容易かつ高精度に行うことが
できるとともに、生産性向上及び成形品質向上を図るこ
とができる射出成形機の物理量検出方法及び装置の提供
を目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明に係る射出成形機
の物理量検出方法は、物理量、例えば、金型内圧を検出
する金型内圧センサ２から出力するアナログ検出信号Ｓ
ａをゲイン調節した後、ディジタル検出信号Ｓｄに変換
するに際し、予め、異なる複数のゲイン係数（設定ゲイ
ン係数）Ｋ１、Ｋ２…Ｋｎを設定し、ゲイン設定時に、
実際の最適なゲイン係数（算出ゲイン係数）Ｋｐを演算
により求めるとともに、算出ゲイン係数Ｋｐを得るため
の最も近い設定ゲイン係数、例えば、Ｋｍを選定し、か
つ選定した設定ゲイン係数Ｋｍと算出ゲイン係数Ｋｐ間
の補正係数Ａｋを演算により求めて記憶し、金型内圧の
検出時に、アナログ検出信号Ｓａに対して選定した設定
ゲイン係数Ｋｍに基づいてゲイン調節し、この後、補正
係数Ａｋによりゲイン補正することを特徴とする。
の物理量検出方法は、物理量、例えば、金型内圧を検出
する金型内圧センサ２から出力するアナログ検出信号Ｓ
ａをゲイン調節した後、ディジタル検出信号Ｓｄに変換
するに際し、予め、異なる複数のゲイン係数（設定ゲイ
ン係数）Ｋ１、Ｋ２…Ｋｎを設定し、ゲイン設定時に、
実際の最適なゲイン係数（算出ゲイン係数）Ｋｐを演算
により求めるとともに、算出ゲイン係数Ｋｐを得るため
の最も近い設定ゲイン係数、例えば、Ｋｍを選定し、か
つ選定した設定ゲイン係数Ｋｍと算出ゲイン係数Ｋｐ間
の補正係数Ａｋを演算により求めて記憶し、金型内圧の
検出時に、アナログ検出信号Ｓａに対して選定した設定
ゲイン係数Ｋｍに基づいてゲイン調節し、この後、補正
係数Ａｋによりゲイン補正することを特徴とする。
【０００８】この場合、算出ゲイン係数Ｋｐは、定格金
型内圧が作用した際に、ディジタル検出信号Ｓｄへの変
換時の入力電圧を定格値にするためのゲイン係数として
求めることができるとともに、定格金型内圧、突出しピ
ンの径、金型内圧センサ２の定格検出圧力及び定格出力
電圧に基づいて演算することができる。
型内圧が作用した際に、ディジタル検出信号Ｓｄへの変
換時の入力電圧を定格値にするためのゲイン係数として
求めることができるとともに、定格金型内圧、突出しピ
ンの径、金型内圧センサ２の定格検出圧力及び定格出力
電圧に基づいて演算することができる。
【０００９】また、本発明に係る射出成形機の物理量検
出装置１は、金型内圧（物理量）を検出する金型内圧セ
ンサ２と、この金型内圧センサ２から得るアナログ検出
信号Ｓａをゲイン調節するゲイン調節部３と、このゲイ
ン調節部３の出力信号をディジタル検出信号Ｓｄに変換
するアナログ−ディジタル変換器（Ａ／Ｄ変換器）４を
備える物理量検出装置を構成するに際して、特に、異な
る複数の設定ゲイン係数Ｋ１、Ｋ２…Ｋｎを設定したゲ
イン係数群５と、実際の最適な算出ゲイン係数Ｋｐを演
算により求めるとともに、算出ゲイン係数Ｋｐを得るた
めの最も近い設定ゲイン係数、例えば、Ｋｍを選定する
ゲイン選定機能及び選定した設定ゲイン係数Ｋｍと算出
ゲイン係数Ｋｐ間の補正係数Ａｋを演算により求めて記
憶し、記憶した補正係数Ａｋによりゲイン補正を行うゲ
イン補正機能を有する制御部６を備えてなることを特徴
とする。
出装置１は、金型内圧（物理量）を検出する金型内圧セ
ンサ２と、この金型内圧センサ２から得るアナログ検出
信号Ｓａをゲイン調節するゲイン調節部３と、このゲイ
ン調節部３の出力信号をディジタル検出信号Ｓｄに変換
するアナログ−ディジタル変換器（Ａ／Ｄ変換器）４を
備える物理量検出装置を構成するに際して、特に、異な
る複数の設定ゲイン係数Ｋ１、Ｋ２…Ｋｎを設定したゲ
イン係数群５と、実際の最適な算出ゲイン係数Ｋｐを演
算により求めるとともに、算出ゲイン係数Ｋｐを得るた
めの最も近い設定ゲイン係数、例えば、Ｋｍを選定する
ゲイン選定機能及び選定した設定ゲイン係数Ｋｍと算出
ゲイン係数Ｋｐ間の補正係数Ａｋを演算により求めて記
憶し、記憶した補正係数Ａｋによりゲイン補正を行うゲ
イン補正機能を有する制御部６を備えてなることを特徴
とする。
【００１０】この場合、制御部６は、算出ゲイン係数Ｋ
ｐを演算するに際し、定格金型内圧が作用した際に、Ａ
／Ｄ変換器４に対する入力電圧を定格値にするためのゲ
イン係数を求めることができるとともに、定格金型内
圧、突出しピン７の径、金型内圧センサ２の定格検出圧
力及び定格出力電圧に基づいて算出ゲイン係数を演算す
ることができる。
ｐを演算するに際し、定格金型内圧が作用した際に、Ａ
／Ｄ変換器４に対する入力電圧を定格値にするためのゲ
イン係数を求めることができるとともに、定格金型内
圧、突出しピン７の径、金型内圧センサ２の定格検出圧
力及び定格出力電圧に基づいて算出ゲイン係数を演算す
ることができる。
【００１１】
【作用】本発明に係る射出成形機の物理量検出方法及び
装置１によれば、予め、異なる複数の設定ゲイン係数Ｋ
１、Ｋ２…Ｋｎを有するゲイン係数群５を設定する。各
設定ゲイン係数Ｋ１…は、例えば、検出する物理量が金
型内圧の場合、定格金型内圧、使用する突出しピン７の
径、金型内圧センサ２の定格検出圧力及び定格出力電圧
を考慮して任意の係数値、設定間隔及び設定範囲に選定
する。
装置１によれば、予め、異なる複数の設定ゲイン係数Ｋ
１、Ｋ２…Ｋｎを有するゲイン係数群５を設定する。各
設定ゲイン係数Ｋ１…は、例えば、検出する物理量が金
型内圧の場合、定格金型内圧、使用する突出しピン７の
径、金型内圧センサ２の定格検出圧力及び定格出力電圧
を考慮して任意の係数値、設定間隔及び設定範囲に選定
する。
【００１２】一方、ゲイン設定時には、制御部６におけ
るゲイン選定機能によって最適な大きさの設定ゲイン係
数、例えば、Ｋｍが選定される。即ち、最初に実際の最
適な算出ゲイン係数Ｋｐが演算により求められ、これに
より、算出ゲイン係数Ｋｐを得るための最も近い設定ゲ
イン係数Ｋｍが選定される。この場合、算出ゲイン係数
Ｋｐは、定格金型内圧が作用した際に、Ａ／Ｄ変換器４
に対する入力電圧を定格値にするためのゲイン係数であ
り、具体的には、定格金型内圧、突出しピン７の径、金
型内圧センサ２の定格検出圧力及び定格出力電圧により
算出できる。また、制御部６におけるゲイン補正機能に
より、選定した設定ゲイン係数Ｋｍと算出ゲイン係数Ｋ
ｐ間の補正係数Ａｋが演算により求められ、かつ記憶さ
れる。
るゲイン選定機能によって最適な大きさの設定ゲイン係
数、例えば、Ｋｍが選定される。即ち、最初に実際の最
適な算出ゲイン係数Ｋｐが演算により求められ、これに
より、算出ゲイン係数Ｋｐを得るための最も近い設定ゲ
イン係数Ｋｍが選定される。この場合、算出ゲイン係数
Ｋｐは、定格金型内圧が作用した際に、Ａ／Ｄ変換器４
に対する入力電圧を定格値にするためのゲイン係数であ
り、具体的には、定格金型内圧、突出しピン７の径、金
型内圧センサ２の定格検出圧力及び定格出力電圧により
算出できる。また、制御部６におけるゲイン補正機能に
より、選定した設定ゲイン係数Ｋｍと算出ゲイン係数Ｋ
ｐ間の補正係数Ａｋが演算により求められ、かつ記憶さ
れる。
【００１３】そして、金型内圧の検出時に、金型内圧セ
ンサ２から出力するアナログ検出信号Ｓａは、選定した
設定ゲイン係数Ｋｍに基づいてゲイン調節が行われると
ともに、ゲイン調節後のアナログ検出信号ＳａはＡ／Ｄ
変換器４によりディジタル検出信号Ｓｄに変換され、さ
らに、制御部６におけるゲイン補正機能、即ち、補正係
数Ａｋにより補正される。
ンサ２から出力するアナログ検出信号Ｓａは、選定した
設定ゲイン係数Ｋｍに基づいてゲイン調節が行われると
ともに、ゲイン調節後のアナログ検出信号ＳａはＡ／Ｄ
変換器４によりディジタル検出信号Ｓｄに変換され、さ
らに、制御部６におけるゲイン補正機能、即ち、補正係
数Ａｋにより補正される。
【００１４】
【実施例】次に、本発明に係る好適な実施例を挙げ、図
面に基づき詳細に説明する。
面に基づき詳細に説明する。
【００１５】まず、本実施例に係る射出成形機の物理量
検出装置（圧力検出装置）１の構成について、図１〜図
３を参照して説明する。
検出装置（圧力検出装置）１の構成について、図１〜図
３を参照して説明する。
【００１６】図１において、３１は射出装置３２及び型
締装置３３を備える射出成形機である。型締装置３３は
固定盤３４と、タイバー３５…により移動自在に支持さ
れる可動盤３６を備え、固定盤３４は固定型３７ｓを支
持するとともに、可動盤３６は可動型３７ｍを支持す
る。そして、固定型３７ｓと可動型３７ｍはキャビティ
３８を有する金型３７を構成する。また、可動型３７ｍ
にはキャビティ３８に臨む突出しピン７を備え、この突
出しピン７の後端は、例えば、ロードセルを用いた金型
内圧センサ２を挟んで突出しシリンダ４１により駆動せ
しめられる駆動ロッド４２に結合する。これにより、突
出しシリンダ４１を駆動制御すれば、突出しピン７が進
退移動し、成形品の突き出しを行うことができるととも
に、金型内圧センサ２により金型内圧（物理量）を検出
できる。
締装置３３を備える射出成形機である。型締装置３３は
固定盤３４と、タイバー３５…により移動自在に支持さ
れる可動盤３６を備え、固定盤３４は固定型３７ｓを支
持するとともに、可動盤３６は可動型３７ｍを支持す
る。そして、固定型３７ｓと可動型３７ｍはキャビティ
３８を有する金型３７を構成する。また、可動型３７ｍ
にはキャビティ３８に臨む突出しピン７を備え、この突
出しピン７の後端は、例えば、ロードセルを用いた金型
内圧センサ２を挟んで突出しシリンダ４１により駆動せ
しめられる駆動ロッド４２に結合する。これにより、突
出しシリンダ４１を駆動制御すれば、突出しピン７が進
退移動し、成形品の突き出しを行うことができるととも
に、金型内圧センサ２により金型内圧（物理量）を検出
できる。
【００１７】一方、金型内圧センサ２には圧力検出回路
１１を接続して、本発明に係る圧力検出装置（物理量検
出装置）１を構成する。圧力検出回路１１は、金型内圧
センサ２から得るアナログ検出信号Ｓａをゲイン調節す
るゲイン調節部３と、このゲイン調節部３の出力信号を
ディジタル検出信号Ｓｄに変換するアナログ−ディジタ
ル変換器（Ａ／Ｄ変換器）４を備える。また、ゲイン調
節部３は金型内圧センサ２から得るアナログ検出信号Ｓ
ａを増幅するヘッドアンプ１３を備えるとともに、この
ヘッドアンプ１３の出力側はゲイン係数群５を介してＡ
／Ｄ変換器４の入力側に接続する。ゲイン係数群５は、
例えば、抵抗器等により設定できる異なる複数の設定ゲ
イン係数Ｋ１、Ｋ２…Ｋｎを有し、各設定ゲイン係数Ｋ
１、Ｋ２…Ｋｎは並列接続する。そして、各設定ゲイン
係数Ｋ１、Ｋ２…Ｋｎの出力側にはアナログスイッチ１
４−１、１４−２…１４−ｎを直列接続し、任意の設定
ゲイン係数Ｋ１、Ｋ２…Ｋｎを選択可能に構成する。
１１を接続して、本発明に係る圧力検出装置（物理量検
出装置）１を構成する。圧力検出回路１１は、金型内圧
センサ２から得るアナログ検出信号Ｓａをゲイン調節す
るゲイン調節部３と、このゲイン調節部３の出力信号を
ディジタル検出信号Ｓｄに変換するアナログ−ディジタ
ル変換器（Ａ／Ｄ変換器）４を備える。また、ゲイン調
節部３は金型内圧センサ２から得るアナログ検出信号Ｓ
ａを増幅するヘッドアンプ１３を備えるとともに、この
ヘッドアンプ１３の出力側はゲイン係数群５を介してＡ
／Ｄ変換器４の入力側に接続する。ゲイン係数群５は、
例えば、抵抗器等により設定できる異なる複数の設定ゲ
イン係数Ｋ１、Ｋ２…Ｋｎを有し、各設定ゲイン係数Ｋ
１、Ｋ２…Ｋｎは並列接続する。そして、各設定ゲイン
係数Ｋ１、Ｋ２…Ｋｎの出力側にはアナログスイッチ１
４−１、１４−２…１４−ｎを直列接続し、任意の設定
ゲイン係数Ｋ１、Ｋ２…Ｋｎを選択可能に構成する。
【００１８】他方、１５はコントローラであり、このコ
ントローラ１５にはＡ／Ｄ変換器４の出力側及びアナロ
グスイッチ１４−１、１４−２…１４−ｎにおける開閉
信号入力部を接続する。コントローラ１５は射出成形機
３１における各種制御を司る機能を備え、他の各種セン
サの検出信号が入力する。また、出力回路１８を介して
プリンタ等の外部機器を接続するとともに、キーボード
等の設定器１６、ＣＲＴディスプレイ等の表示器１７を
接続する。なお、１９はゼロ調節を行うゼロ調節部であ
る。
ントローラ１５にはＡ／Ｄ変換器４の出力側及びアナロ
グスイッチ１４−１、１４−２…１４−ｎにおける開閉
信号入力部を接続する。コントローラ１５は射出成形機
３１における各種制御を司る機能を備え、他の各種セン
サの検出信号が入力する。また、出力回路１８を介して
プリンタ等の外部機器を接続するとともに、キーボード
等の設定器１６、ＣＲＴディスプレイ等の表示器１７を
接続する。なお、１９はゼロ調節を行うゼロ調節部であ
る。
【００１９】また、コントローラ１５は本発明における
制御部６を構成する。コントローラ１５はゲイン選定機
能及びゲイン補正機能を備え、ソフトウェアにより実行
される。ゲイン選定機能は、設定部１６から入力する各
種条件データに基づいて実際の最適な算出ゲイン係数Ｋ
ｐを演算により算出する機能、さらに、各アナログスイ
ッチ１４−１…を選択的に制御し、これにより、算出ゲ
イン係数Ｋｐを得るための最も近い設定ゲイン係数、例
えば、Ｋｍを選定する機能を備える。他方、ゲイン補正
機能は選定した設定ゲイン係数Ｋｍと算出ゲイン係数Ｋ
ｐ間の補正係数Ａｋを演算により算出し、かつ記憶する
機能、さらに、記憶した補正係数Ａｋによりゲイン補正
する機能を備える。
制御部６を構成する。コントローラ１５はゲイン選定機
能及びゲイン補正機能を備え、ソフトウェアにより実行
される。ゲイン選定機能は、設定部１６から入力する各
種条件データに基づいて実際の最適な算出ゲイン係数Ｋ
ｐを演算により算出する機能、さらに、各アナログスイ
ッチ１４−１…を選択的に制御し、これにより、算出ゲ
イン係数Ｋｐを得るための最も近い設定ゲイン係数、例
えば、Ｋｍを選定する機能を備える。他方、ゲイン補正
機能は選定した設定ゲイン係数Ｋｍと算出ゲイン係数Ｋ
ｐ間の補正係数Ａｋを演算により算出し、かつ記憶する
機能、さらに、記憶した補正係数Ａｋによりゲイン補正
する機能を備える。
【００２０】次に、各図を参照し、本実施例に係る射出
成形機の物理量検出方法（圧力検出方法）について、圧
力検出装置１の機能とともに説明する。
成形機の物理量検出方法（圧力検出方法）について、圧
力検出装置１の機能とともに説明する。
【００２１】まず、予め、ゲイン係数群５において、異
なる複数の設定ゲイン係数Ｋ１、Ｋ２…Ｋｎを設定す
る。この場合、各設定ゲイン係数Ｋ１…は定格金型内
圧、使用する突出しピン７の径、金型内圧センサ２の定
格検出圧力（定格力）及び定格出力電圧の条件を考慮し
て任意の係数値、設定間隔及び設定範囲に選定する。図
２は異なる設定ゲイン係数Ｋ１…をパラメータとしたセ
ンサ出力電圧、即ち、金型内圧センサ２から得るアナロ
グ検出信号Ｓａの大きさに対するＡ／Ｄ変換器４の入力
電圧の関係を示す。
なる複数の設定ゲイン係数Ｋ１、Ｋ２…Ｋｎを設定す
る。この場合、各設定ゲイン係数Ｋ１…は定格金型内
圧、使用する突出しピン７の径、金型内圧センサ２の定
格検出圧力（定格力）及び定格出力電圧の条件を考慮し
て任意の係数値、設定間隔及び設定範囲に選定する。図
２は異なる設定ゲイン係数Ｋ１…をパラメータとしたセ
ンサ出力電圧、即ち、金型内圧センサ２から得るアナロ
グ検出信号Ｓａの大きさに対するＡ／Ｄ変換器４の入力
電圧の関係を示す。
【００２２】次に、ゲイン設定を行う。ゲイン設定時に
は、制御部６におけるゲイン選定機能によって、ゲイン
係数群５における最適な設定ゲイン係数Ｋｍを選定す
る。即ち、最初に実際の最適な算出ゲイン係数Ｋｐを演
算により求める。この場合、最適な算出ゲイン係数Ｋｐ
とは、定格金型内圧が作用した際に、Ａ／Ｄ変換器４に
対する入力電圧を定格値にするためのゲイン係数であ
り、予め知ることができる各種条件データ、即ち、定格
金型内圧、突出しピン７の径、金型内圧センサ２の定格
検出圧力及び定格出力電圧に係わる条件データを設定部
１６から入力することにより、実際の最適な算出ゲイン
係数Ｋｐを算出する。そして、各設定ゲイン係数Ｋ１…
の中から、求めた算出ゲイン係数Ｋｐを得るための最も
近い設定ゲイン係数Ｋｍを選定し、対応するアナログス
イッチ１４−１…をオンにするとともに、他のアナログ
スイッチをオフにする制御を行う。なお、設定ゲイン係
数Ｋｍの選定に際しては、オーバフロー防止のため、求
めた算出ゲイン係数Ｋｐよりも小さい設定ゲイン係数Ｋ
ｍを選定する。
は、制御部６におけるゲイン選定機能によって、ゲイン
係数群５における最適な設定ゲイン係数Ｋｍを選定す
る。即ち、最初に実際の最適な算出ゲイン係数Ｋｐを演
算により求める。この場合、最適な算出ゲイン係数Ｋｐ
とは、定格金型内圧が作用した際に、Ａ／Ｄ変換器４に
対する入力電圧を定格値にするためのゲイン係数であ
り、予め知ることができる各種条件データ、即ち、定格
金型内圧、突出しピン７の径、金型内圧センサ２の定格
検出圧力及び定格出力電圧に係わる条件データを設定部
１６から入力することにより、実際の最適な算出ゲイン
係数Ｋｐを算出する。そして、各設定ゲイン係数Ｋ１…
の中から、求めた算出ゲイン係数Ｋｐを得るための最も
近い設定ゲイン係数Ｋｍを選定し、対応するアナログス
イッチ１４−１…をオンにするとともに、他のアナログ
スイッチをオフにする制御を行う。なお、設定ゲイン係
数Ｋｍの選定に際しては、オーバフロー防止のため、求
めた算出ゲイン係数Ｋｐよりも小さい設定ゲイン係数Ｋ
ｍを選定する。
【００２３】また、制御部６におけるゲイン補正機能に
より、選定した設定ゲイン係数Ｋｍと算出ゲイン係数Ｋ
ｐ間の補正係数Ａｋ（Ａｋ＝Ｋｐ／Ｋｍ）を演算により
求め、かつ記憶する。
より、選定した設定ゲイン係数Ｋｍと算出ゲイン係数Ｋ
ｐ間の補正係数Ａｋ（Ａｋ＝Ｋｐ／Ｋｍ）を演算により
求め、かつ記憶する。
【００２４】よって、金型内圧の検出時には、金型内圧
センサ２から出力するアナログ検出信号Ｓａは、ヘッド
アンプ１３により増幅されるとともに、選定した設定ゲ
イン係数Ｋｍに基づいてゲイン調節が行われる。また、
ゲイン調節後のアナログ検出信号ＳａはＡ／Ｄ変換器４
によりディジタル検出信号Ｓｄに変換され、さらに、デ
ィジタル検出信号Ｓｄは制御部６におけるゲイン補正機
能、即ち、補正係数Ａｋにより補正される。図３はセン
サ出力電圧、即ち、金型内圧センサ２から得るアナログ
検出信号Ｓａの大きさに対するＡ／Ｄ変換器４の入力電
圧の関係を示し、Ｐｏは補正前、Ｐｎは補正後の特性を
示す。これにより、使用する金型内圧センサ２の種類、
突出しピン７の径等を変更した場合にも、最適なゲイン
が自動で設定されるとともに、極めて容易かつ高精度に
行うことが可能となる。なお、ゲイン補正されたディジ
タル検出信号Ｓｄは表示器１７により表示されるととも
に、外部機器等に出力される。
センサ２から出力するアナログ検出信号Ｓａは、ヘッド
アンプ１３により増幅されるとともに、選定した設定ゲ
イン係数Ｋｍに基づいてゲイン調節が行われる。また、
ゲイン調節後のアナログ検出信号ＳａはＡ／Ｄ変換器４
によりディジタル検出信号Ｓｄに変換され、さらに、デ
ィジタル検出信号Ｓｄは制御部６におけるゲイン補正機
能、即ち、補正係数Ａｋにより補正される。図３はセン
サ出力電圧、即ち、金型内圧センサ２から得るアナログ
検出信号Ｓａの大きさに対するＡ／Ｄ変換器４の入力電
圧の関係を示し、Ｐｏは補正前、Ｐｎは補正後の特性を
示す。これにより、使用する金型内圧センサ２の種類、
突出しピン７の径等を変更した場合にも、最適なゲイン
が自動で設定されるとともに、極めて容易かつ高精度に
行うことが可能となる。なお、ゲイン補正されたディジ
タル検出信号Ｓｄは表示器１７により表示されるととも
に、外部機器等に出力される。
【００２５】以上、実施例について詳細に説明したが、
本発明はこのような実施例に限定されるものではない。
例えば、物理量として、金型内圧を例示したが、他の部
位の圧力をはじめ、速度、位置、温度等の他の物理量に
対しても同様に実施できる。したがって、算出ゲイン係
数の演算方法及び演算条件等は検出する物理量に応じて
変更される。その他、細部の構成、手法等において、本
発明の要旨を逸脱しない範囲で任意に変更できる。
本発明はこのような実施例に限定されるものではない。
例えば、物理量として、金型内圧を例示したが、他の部
位の圧力をはじめ、速度、位置、温度等の他の物理量に
対しても同様に実施できる。したがって、算出ゲイン係
数の演算方法及び演算条件等は検出する物理量に応じて
変更される。その他、細部の構成、手法等において、本
発明の要旨を逸脱しない範囲で任意に変更できる。
【００２６】
【発明の効果】このように、本発明に係る射出成形機の
物理量検出方法は、予め、異なる複数のゲイン係数（設
定ゲイン係数）を設定し、ゲイン設定時に、実際の最適
なゲイン係数（算出ゲイン係数）を演算により求めると
ともに、算出ゲイン係数を得るための最も近い設定ゲイ
ン係数を選定し、かつ選定した設定ゲイン係数と算出ゲ
イン係数間の補正係数を演算により求めて記憶し、物理
量の検出時に、アナログ検出信号に対して選定した設定
ゲイン係数に基づいてゲイン調節し、この後、補正係数
によりゲイン補正するようにしたため、ゲイン調節のた
めの最適なゲイン設定を極めて容易かつ高精度に行うこ
とができるとともに、生産性向上及び成形品質向上を図
ることができるという顕著な効果を奏する。
物理量検出方法は、予め、異なる複数のゲイン係数（設
定ゲイン係数）を設定し、ゲイン設定時に、実際の最適
なゲイン係数（算出ゲイン係数）を演算により求めると
ともに、算出ゲイン係数を得るための最も近い設定ゲイ
ン係数を選定し、かつ選定した設定ゲイン係数と算出ゲ
イン係数間の補正係数を演算により求めて記憶し、物理
量の検出時に、アナログ検出信号に対して選定した設定
ゲイン係数に基づいてゲイン調節し、この後、補正係数
によりゲイン補正するようにしたため、ゲイン調節のた
めの最適なゲイン設定を極めて容易かつ高精度に行うこ
とができるとともに、生産性向上及び成形品質向上を図
ることができるという顕著な効果を奏する。
【００２７】また、本発明に係る射出成形機の物理量検
出装置は、異なる複数のゲイン係数（設定ゲイン係数）
を設定したゲイン係数群と、実際の最適なゲイン係数
（算出ゲイン係数）を演算により求めるとともに、算出
ゲイン係数を得るための最も近い設定ゲイン係数を選定
するゲイン選定機能及び選定した設定ゲイン係数と算出
ゲイン係数間の補正係数を演算により求めて記憶し、記
憶した補正係数によりゲイン補正を行うゲイン補正機能
を有する制御部を備えてなるため、上記物理量検出方法
を容易かつ確実に実施できるという顕著な効果を奏す
る。
出装置は、異なる複数のゲイン係数（設定ゲイン係数）
を設定したゲイン係数群と、実際の最適なゲイン係数
（算出ゲイン係数）を演算により求めるとともに、算出
ゲイン係数を得るための最も近い設定ゲイン係数を選定
するゲイン選定機能及び選定した設定ゲイン係数と算出
ゲイン係数間の補正係数を演算により求めて記憶し、記
憶した補正係数によりゲイン補正を行うゲイン補正機能
を有する制御部を備えてなるため、上記物理量検出方法
を容易かつ確実に実施できるという顕著な効果を奏す
る。
【図１】本発明に係る射出成形機の物理量検出装置のブ
ロック回路図、
ロック回路図、
【図２】同物理量検出装置におけるゲイン係数をパラメ
ータとしたセンサ出力電圧対Ａ／Ｄ変換器の入力電圧特
性図、
ータとしたセンサ出力電圧対Ａ／Ｄ変換器の入力電圧特
性図、
【図３】同物理量検出装置における補正係数による補正
前後のセンサ出力電圧対Ａ／Ｄ変換器の入力電圧特性
図、
前後のセンサ出力電圧対Ａ／Ｄ変換器の入力電圧特性
図、
【図４】従来の技術に係る射出成形機の物理量検出装置
のブロック回路図、
のブロック回路図、
【図５】金型内圧とセンサ出力電圧の関係を示す特性
図、
図、
１ 物理量検出装置 ２ 金型内圧センサ ３ ゲイン調節部 ４ アナログ−ディジタル変換器（Ａ／Ｄ変換器） ５ ゲイン係数群 ６ 制御部 ７ 突出しピン Ｓａ アナログ検出信号 Ｓｄ ディジタル検出信号 Ｋ１… 設定ゲイン係数
Claims (8)
- 【請求項１】 物理量を検出するセンサから出力するア
ナログ検出信号をゲイン調節した後、ディジタル検出信
号に変換する射出成形機の物理量検出方法において、予
め、異なる複数のゲイン係数（設定ゲイン係数）を設定
し、ゲイン設定時に、実際の最適なゲイン係数（算出ゲ
イン係数）を演算により求めるとともに、算出ゲイン係
数を得るための最も近い設定ゲイン係数を選定し、かつ
選定した設定ゲイン係数と算出ゲイン係数間の補正係数
を演算により求めて記憶し、物理量の検出時に、アナロ
グ検出信号に対して選定した設定ゲイン係数に基づいて
ゲイン調節し、この後、補正係数によりゲイン補正する
ことを特徴とする射出成形機の物理量検出方法。 - 【請求項２】 物理量は金型内圧であることを特徴とす
る請求項１記載の射出成形機の物理量検出方法。 - 【請求項３】 算出ゲイン係数は定格金型内圧が作用し
た際に、ディジタル検出信号への変換時の入力電圧を定
格値にするためのゲイン係数であることを特徴とする請
求項２記載の射出成形機の物理量検出方法。 - 【請求項４】 算出ゲイン係数は定格金型内圧、突出し
ピンの径、金型内圧センサの定格検出圧力及び定格出力
電圧に基づいて演算することを特徴とする請求項２又は
３記載の射出成形機の物理量検出方法。 - 【請求項５】 物理量を検出するセンサと、このセンサ
から得るアナログ検出信号をゲイン調節するゲイン調節
部と、このゲイン調節部の出力信号をディジタル検出信
号に変換するアナログ−ディジタル変換器を備える射出
成形機の物理量検出装置において、異なる複数のゲイン
係数（設定ゲイン係数）を設定したゲイン係数群と、実
際の最適なゲイン係数（算出ゲイン係数）を演算により
求めるとともに、算出ゲイン係数を得るための最も近い
設定ゲイン係数を選定するゲイン選定機能及び選定した
設定ゲイン係数と算出ゲイン係数間の補正係数を演算に
より求めて記憶し、記憶した補正係数によりゲイン補正
を行うゲイン補正機能を有する制御部を備えてなること
を特徴とする射出成形機の物理量検出装置。 - 【請求項６】 センサは金型内圧センサであることを特
徴とする請求項５記載の射出成形機の物理量検出装置。 - 【請求項７】 制御部は定格金型内圧が作用した際に、
アナログ−ディジタル変換器に対する入力電圧を定格値
にするための算出ゲイン係数を演算することを特徴とす
る請求項６記載の射出成形機の物理量検出装置。 - 【請求項８】 制御部は定格金型内圧、突出しピンの
径、金型内圧センサの定格検出圧力及び定格出力電圧に
基づいて算出ゲイン係数を演算することを特徴とする請
求項６又は７記載の射出成形機の物理量検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17247993A JP2678870B2 (ja) | 1993-06-18 | 1993-06-18 | 射出成形機の物理量検出方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17247993A JP2678870B2 (ja) | 1993-06-18 | 1993-06-18 | 射出成形機の物理量検出方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH071531A JPH071531A (ja) | 1995-01-06 |
| JP2678870B2 true JP2678870B2 (ja) | 1997-11-19 |
Family
ID=15942755
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17247993A Expired - Fee Related JP2678870B2 (ja) | 1993-06-18 | 1993-06-18 | 射出成形機の物理量検出方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2678870B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6320819B2 (ja) * | 2014-03-26 | 2018-05-09 | 住友重機械工業株式会社 | 射出成形機 |
-
1993
- 1993-06-18 JP JP17247993A patent/JP2678870B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH071531A (ja) | 1995-01-06 |
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