JP2667137B2 - マイクロプロセッサ−を用いた冷蔵庫の温度制御方法 - Google Patents
マイクロプロセッサ−を用いた冷蔵庫の温度制御方法Info
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- F25D—REFRIGERATORS; COLD ROOMS; ICE-BOXES; COOLING OR FREEZING APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- F25D11/00—Self-contained movable devices, e.g. domestic refrigerators
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D23/00—Control of temperature
- G05D23/19—Control of temperature characterised by the use of electric means
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- G—PHYSICS
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- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はマイクロプロセッサ
−を用いた冷蔵庫の温度制御方法に係り、特にマイクロ
プロセッサ−での定量的な微細温度制御により貯蔵室の
内部温度を最適の状態に保つことができるクロプロセッ
サ−を用いた冷蔵庫の温度制御方法に関する。
−を用いた冷蔵庫の温度制御方法に係り、特にマイクロ
プロセッサ−での定量的な微細温度制御により貯蔵室の
内部温度を最適の状態に保つことができるクロプロセッ
サ−を用いた冷蔵庫の温度制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般的に冷蔵庫には貯蔵室の内部を適当
な温度に保たせるために温度調節器が設けられている。
そのような温度調節器はＦサ−モスタットとダンパサ−
モスタットとに大別される。Ｆサ−モスタットは冷蔵庫
の冷蔵室に設けられて冷蔵室の内部温度を自動に調節す
る装置であり、ダンパサ−モスタットは冷蔵庫の冷蔵室
に設けられて冷蔵室の内部の温度を自動に調節する装置
である。その他、冷蔵庫の蒸発器に設けられており、除
霜時、蒸発器の温度上昇を感知して除霜ヒ−タの作動を
停止させるためのバイメタルサ−モスタットがある。
な温度に保たせるために温度調節器が設けられている。
そのような温度調節器はＦサ−モスタットとダンパサ−
モスタットとに大別される。Ｆサ−モスタットは冷蔵庫
の冷蔵室に設けられて冷蔵室の内部温度を自動に調節す
る装置であり、ダンパサ−モスタットは冷蔵庫の冷蔵室
に設けられて冷蔵室の内部の温度を自動に調節する装置
である。その他、冷蔵庫の蒸発器に設けられており、除
霜時、蒸発器の温度上昇を感知して除霜ヒ−タの作動を
停止させるためのバイメタルサ−モスタットがある。
【０００３】図２は従来の冷蔵庫の内部を示した縦断面
図である。これを参照すれば、従来の冷蔵庫１０の最上
部には冷凍室１１が備えられており、その下部には冷蔵
室１２及び野菜室１３が順に備えられている。そして、
各貯蔵室にはドア１１ｄ，１２ｄ，１３ｄがそれぞれ設
けられている。前記冷凍室１１と冷蔵室１２を区分する
中間隔壁の内部には流入された液体冷媒を低い温度で蒸
発させながら、庫内の熱を吸収して庫内の空気を冷却さ
せる蒸発器１４が設けられており、蒸発器１４の後方に
は前記冷却された空気を強制に対流させることにより冷
気を循環させる冷却ファン１５が設けられている。ま
た、冷凍室１１の所定の部位には冷凍室の内部温度を自
動に調節するための装置としてＦサ−モスタット１６が
備えられており、冷蔵室１２の所定の部位にも冷蔵室の
内部温度を自動に調節するための装置としてダンパサ−
モスタット１７が設けられている。そして、冷蔵庫の外
部ケ−スの背面には高温高圧の冷媒ガスを冷却凝縮させ
て高圧の液体状態にする凝縮器１８が設けられており、
その凝縮器１８と連なって冷蔵庫の背面下部には低温低
圧のガス状態の冷媒を圧縮（断熱圧縮）させて高温高圧
のガス状態にする圧縮機１９が設けられている。参照符
号２０は棚である。
図である。これを参照すれば、従来の冷蔵庫１０の最上
部には冷凍室１１が備えられており、その下部には冷蔵
室１２及び野菜室１３が順に備えられている。そして、
各貯蔵室にはドア１１ｄ，１２ｄ，１３ｄがそれぞれ設
けられている。前記冷凍室１１と冷蔵室１２を区分する
中間隔壁の内部には流入された液体冷媒を低い温度で蒸
発させながら、庫内の熱を吸収して庫内の空気を冷却さ
せる蒸発器１４が設けられており、蒸発器１４の後方に
は前記冷却された空気を強制に対流させることにより冷
気を循環させる冷却ファン１５が設けられている。ま
た、冷凍室１１の所定の部位には冷凍室の内部温度を自
動に調節するための装置としてＦサ−モスタット１６が
備えられており、冷蔵室１２の所定の部位にも冷蔵室の
内部温度を自動に調節するための装置としてダンパサ−
モスタット１７が設けられている。そして、冷蔵庫の外
部ケ−スの背面には高温高圧の冷媒ガスを冷却凝縮させ
て高圧の液体状態にする凝縮器１８が設けられており、
その凝縮器１８と連なって冷蔵庫の背面下部には低温低
圧のガス状態の冷媒を圧縮（断熱圧縮）させて高温高圧
のガス状態にする圧縮機１９が設けられている。参照符
号２０は棚である。
【０００４】このような構成の従来の冷蔵庫１０は通常
の冷凍室１１の貯蔵温度を−１２℃〜−２４℃、冷蔵室
１２の貯蔵温度を０℃〜７℃、そして、野菜室１３の貯
蔵温度を５℃〜１０℃に保たせている。このような温度
制御はマイクロプロセッサ−（図示せず）に内蔵されて
いるメモリプログラムにより行われ、よって、前記各サ
−モスタットはマイクロプロセッサ−の設けられている
回路基板と連なっている。
の冷凍室１１の貯蔵温度を−１２℃〜−２４℃、冷蔵室
１２の貯蔵温度を０℃〜７℃、そして、野菜室１３の貯
蔵温度を５℃〜１０℃に保たせている。このような温度
制御はマイクロプロセッサ−（図示せず）に内蔵されて
いるメモリプログラムにより行われ、よって、前記各サ
−モスタットはマイクロプロセッサ−の設けられている
回路基板と連なっている。
【０００５】ところが、かかる従来の冷蔵庫において、
前記マイクロプロセッサ−が認識することができる実際
温度の分解能（温度変化の感知能力）は 0.4℃〜 0.5℃
となる。それ故、これ以下の温度変化にも敏感な反応を
示す食品の場合、微細な温度制御が行われず、食品が変
質される場合もある。
前記マイクロプロセッサ−が認識することができる実際
温度の分解能（温度変化の感知能力）は 0.4℃〜 0.5℃
となる。それ故、これ以下の温度変化にも敏感な反応を
示す食品の場合、微細な温度制御が行われず、食品が変
質される場合もある。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明は前記のような
問題点を解消するために創出されたものであり、マイク
ロプロセッサ−における定量的な微細温度制御により貯
蔵室の内部温度を最適の状態に保たせるマイクロプロセ
ッサ−を用いた冷蔵庫の温度制御方法を提供することに
その目的がある。
問題点を解消するために創出されたものであり、マイク
ロプロセッサ−における定量的な微細温度制御により貯
蔵室の内部温度を最適の状態に保たせるマイクロプロセ
ッサ−を用いた冷蔵庫の温度制御方法を提供することに
その目的がある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに本発明によるマイクロプロセッサ−を用いた冷蔵庫
の温度制御方法は、マイクロプロセッサ−によりアナロ
グ／ディジタル変換器の計数値を所定の温度範囲に任意
の回数ほどサンプリングする段階と、最多にサンプリン
グされた値（Ｘ）の個数（Ｘ′）が所定の回数以上な
ら、そのサンプリングされた値の温度を制御温度として
選択する段階と、前記最多にサンプリングされた値
（Ｘ）の個数（Ｘ′）が所定の回数未満なら、その際の
温度に前記所定の温度範囲より小さい所定の温度値を加
減した値を制御温度値として選択する段階と、前記過程
を最多に計数された値（Ｘ）の以後に順に計数された少
なくとも二つの値（Ｙ，Ｚ）に適用して得られた温度値
を制御温度として選択する段階とを含んでなる点にその
特徴がある。
めに本発明によるマイクロプロセッサ−を用いた冷蔵庫
の温度制御方法は、マイクロプロセッサ−によりアナロ
グ／ディジタル変換器の計数値を所定の温度範囲に任意
の回数ほどサンプリングする段階と、最多にサンプリン
グされた値（Ｘ）の個数（Ｘ′）が所定の回数以上な
ら、そのサンプリングされた値の温度を制御温度として
選択する段階と、前記最多にサンプリングされた値
（Ｘ）の個数（Ｘ′）が所定の回数未満なら、その際の
温度に前記所定の温度範囲より小さい所定の温度値を加
減した値を制御温度値として選択する段階と、前記過程
を最多に計数された値（Ｘ）の以後に順に計数された少
なくとも二つの値（Ｙ，Ｚ）に適用して得られた温度値
を制御温度として選択する段階とを含んでなる点にその
特徴がある。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、添付した図面に基づき本発
明をさらに詳細に説明する。図１は本発明によるマイク
ロプロセッサ−を用いた冷蔵庫の温度制御方法を説明す
るためのフロ−チャ−トである。通常、冷蔵庫に用いら
れるアナログ／ディジタル変換器でＶｃｃ電圧が＋５Ｖ
の場合、制御部（マイクロプロセッサ−）により認識し
うる実際温度の分解能力は 0.4℃〜 0.5℃となる。本発
明のマイクロプロセッサ−を用いた冷蔵庫の温度制御方
法ではマイクロプロセッサ−及びセンサの揺動を用いて
実際の温度変化を0.1℃まで測定する。
明をさらに詳細に説明する。図１は本発明によるマイク
ロプロセッサ−を用いた冷蔵庫の温度制御方法を説明す
るためのフロ−チャ−トである。通常、冷蔵庫に用いら
れるアナログ／ディジタル変換器でＶｃｃ電圧が＋５Ｖ
の場合、制御部（マイクロプロセッサ−）により認識し
うる実際温度の分解能力は 0.4℃〜 0.5℃となる。本発
明のマイクロプロセッサ−を用いた冷蔵庫の温度制御方
法ではマイクロプロセッサ−及びセンサの揺動を用いて
実際の温度変化を0.1℃まで測定する。
【０００９】まず、マイクロプロセッサ−により 0.4℃
単位にアナログ／ディジタル変換器の計数温度値をサン
プリングする（２１）。この際、温度幅は 0.4℃単位に
計数されるので、その中間の温度値の場合は、大きい
値、或いは、小さい値として揺れて現れるようになる。
そして、このように計数された温度値が所定の回数（例
えば、５００回）ほどサンプリングされたかを確認し
（２２）、最多に計数された温度値（Ｘとする）と、次
に二番目に計数された温度値（Ｙ）とその次に三番目に
計数された温度値（Ｚ）を選択する（２３）。その後、
最多に計数された温度値（Ｘ）の個数（Ｘ′とする）が
所定の回数（例えば、４００回）以上か否かを判断し
（２４）、その個数（Ｘ′）が所定の回数（４００回）
以上なら、その温度値を実際の制御温度として選択する
（２５）。一方、ＮＯの場合、最多に計数された温度値
が一定範囲の値、即ち、３００≦Ｘ′＜４００であるか
を判断する（２６）。３００≦Ｘ′＜４００なら、Ｙ
（二番目に計数された値）＞Ｘの場合にはＸ− 0.1℃を
実際の制御温度として選択し、Ｙ≦Ｘの場合にはＸ＋
0.1℃を実際の制御温度として選択する（２７）。Ｘ′
＜３００なら、Ｙの個数（Ｙ′とする）が２００より大
きいかを判断する（２８）。Ｙ′＞２００なら、前記と
同様にＹ＞Ｘの場合にはＸ− 0.1℃を実際の制御温度と
して選択し、Ｙ≦Ｘの場合にはＸ＋ 0.1℃を実際の制御
温度として選択する（２９）。そして、Ｙ′≦２００な
ら、Ｚ＞Ｘの場合には、Ｘ− 0.2℃を実際の制御温度と
して選択し、Ｚ≦Ｘの場合にはＸ＋ 0.2℃を実際の制御
温度として選択する（３０）。
単位にアナログ／ディジタル変換器の計数温度値をサン
プリングする（２１）。この際、温度幅は 0.4℃単位に
計数されるので、その中間の温度値の場合は、大きい
値、或いは、小さい値として揺れて現れるようになる。
そして、このように計数された温度値が所定の回数（例
えば、５００回）ほどサンプリングされたかを確認し
（２２）、最多に計数された温度値（Ｘとする）と、次
に二番目に計数された温度値（Ｙ）とその次に三番目に
計数された温度値（Ｚ）を選択する（２３）。その後、
最多に計数された温度値（Ｘ）の個数（Ｘ′とする）が
所定の回数（例えば、４００回）以上か否かを判断し
（２４）、その個数（Ｘ′）が所定の回数（４００回）
以上なら、その温度値を実際の制御温度として選択する
（２５）。一方、ＮＯの場合、最多に計数された温度値
が一定範囲の値、即ち、３００≦Ｘ′＜４００であるか
を判断する（２６）。３００≦Ｘ′＜４００なら、Ｙ
（二番目に計数された値）＞Ｘの場合にはＸ− 0.1℃を
実際の制御温度として選択し、Ｙ≦Ｘの場合にはＸ＋
0.1℃を実際の制御温度として選択する（２７）。Ｘ′
＜３００なら、Ｙの個数（Ｙ′とする）が２００より大
きいかを判断する（２８）。Ｙ′＞２００なら、前記と
同様にＹ＞Ｘの場合にはＸ− 0.1℃を実際の制御温度と
して選択し、Ｙ≦Ｘの場合にはＸ＋ 0.1℃を実際の制御
温度として選択する（２９）。そして、Ｙ′≦２００な
ら、Ｚ＞Ｘの場合には、Ｘ− 0.2℃を実際の制御温度と
して選択し、Ｚ≦Ｘの場合にはＸ＋ 0.2℃を実際の制御
温度として選択する（３０）。
【００１０】
【発明の効果】以上の説明のように、本発明によるマイ
クロプロセッサ−を用いた冷蔵庫の温度制御方法は、マ
イクロプロセッサ−での温度分解能以下の温度値に対し
ても定量的にサンプリングを求め、そのサンプリングさ
れた値に対して制御温度値を求めて貯蔵室の温度制御に
適用するので、従来とは異なり貯蔵室の内部温度を最適
の状態に保たせることができる。
クロプロセッサ−を用いた冷蔵庫の温度制御方法は、マ
イクロプロセッサ−での温度分解能以下の温度値に対し
ても定量的にサンプリングを求め、そのサンプリングさ
れた値に対して制御温度値を求めて貯蔵室の温度制御に
適用するので、従来とは異なり貯蔵室の内部温度を最適
の状態に保たせることができる。
【図１】本発明によるマイクロプロセッサ−を用いた冷
蔵庫の温度制御方法を説明するためのフロ−チャ−トで
ある。
蔵庫の温度制御方法を説明するためのフロ−チャ−トで
ある。
【図２】従来の冷蔵庫の内部構成を示す縦断面図であ
る。
る。
Claims (5)
- 【請求項１】 マイクロプロセッサ−によりアナログ／
ディジタル変換器の計数値を所定の温度範囲に任意の回
数ほどサンプリングする段階と、 最多にサンプリングされた値（Ｘ）の個数（Ｘ′）が所
定の回数以上なら、そのサンプリングされた値の温度を
制御温度として選択する段階と、 前記最多にサンプリングされた値（Ｘ）の個数（Ｘ′）
が所定の回数未満なら、その際の温度に前記所定の温度
範囲より小さい所定の温度値を加減した値を制御温度値
として選択する段階と、 前記過程を最多に計数された値（Ｘ）の以後に順に計数
された少なくとも二つの値（Ｙ，Ｚ）に適用して得られ
た温度値を制御温度として選択する段階とを含んでなる
ことを特徴とするマイクロプロセッサ−を用いた冷蔵庫
の温度制御方法。 - 【請求項２】 前記所定の温度範囲は 0.4℃であり、前
記所定の温度値は 0.1℃であることを特徴とする請求項
１記載のマイクロプロセッサ−を用いた冷蔵庫の温度制
御方法。 - 【請求項３】 前記最多に計数された値（Ｘ）の個数
（Ｘ′）が３００≦Ｘ′＜４００の場合、Ｙ（二番目に
計数された値）＞Ｘなら、Ｘ− 0.1℃を制御温度として
選択し、Ｙ≦Ｘの場合にはＸ＋ 0.1℃を制御温度として
選択することを特徴とする請求項２記載のマイクロプロ
セッサ−を用いた冷蔵庫の温度制御方法。 - 【請求項４】 前記Ｘ′がＸ′＜３００であり、二番目
に計数された値（Ｙ）の個数（Ｙ′）がＹ′＞２００な
ら、Ｙ＞Ｘの場合、Ｘ−0.1 ℃を制御温度として選択
し、Ｙ≦Ｘの場合はＸ＋0.1 ℃を制御温度として選択す
ることを特徴とする請求項２記載のマイクロプロセッサ
−を用いた冷蔵庫の温度制御方法。 - 【請求項５】 Ｘ′＜３００であり、Ｙ′≦２００であ
れば、Ｚ（三番目に計数された値）＞Ｘの場合、Ｘ−
0.2℃を制御温度として選択し、Ｚ≦Ｘの場合はＸ＋ 0.
2℃を制御温度として選択することを特徴とする請求項
２記載のマイクロプロセッサ−を用いた冷蔵庫の温度制
御方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR199432114 | 1994-11-30 | ||
| KR1019940032114A KR0165303B1 (ko) | 1994-11-30 | 1994-11-30 | 냉장고 마이크로프로세서의 온도 제어방법 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08226736A JPH08226736A (ja) | 1996-09-03 |
| JP2667137B2 true JP2667137B2 (ja) | 1997-10-27 |
Family
ID=19399758
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7313133A Expired - Fee Related JP2667137B2 (ja) | 1994-11-30 | 1995-11-30 | マイクロプロセッサ−を用いた冷蔵庫の温度制御方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5592827A (ja) |
| EP (1) | EP0715236B1 (ja) |
| JP (1) | JP2667137B2 (ja) |
| KR (1) | KR0165303B1 (ja) |
| DE (1) | DE69518302T2 (ja) |
| TW (1) | TW314589B (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100301501B1 (ko) * | 1998-12-09 | 2001-09-22 | 구자홍 | 인버터냉장고의운전속도가변장치및방법 |
| DE10231122A1 (de) * | 2002-07-05 | 2004-01-22 | E.G.O. Elektro-Gerätebau GmbH | Verfahren zum Messen der Temperatur eines metallischen Kochgefäßes |
| TWI655401B (zh) * | 2017-09-07 | 2019-04-01 | 進得展有限公司 | 致冷裝置及其控溫模組 |
| CN109164842B (zh) * | 2018-07-19 | 2020-10-30 | 江苏芯力特电子科技有限公司 | 一种带有过流保护的过温保护电路 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2083928B (en) * | 1980-09-04 | 1985-01-16 | Gen Electric | Apparatus and method of controlling temperature of a evaporator refrigeration system |
| US4325223A (en) * | 1981-03-16 | 1982-04-20 | Cantley Robert J | Energy management system for refrigeration systems |
| KR930011902B1 (ko) * | 1991-04-03 | 1993-12-22 | 삼성전자 주식회사 | 유리기판 세정장치 |
| US5388134A (en) * | 1993-02-05 | 1995-02-07 | Dallas Semiconductor Corporation | Integrated circuit thermometer |
| US5291745A (en) * | 1993-02-25 | 1994-03-08 | Thermo King Corporation | Method of improving temperature uniformity of a space conditioned by a refrigeration unit |
-
1994
- 1994-11-30 KR KR1019940032114A patent/KR0165303B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1995
- 1995-11-29 TW TW084112705A patent/TW314589B/zh active
- 1995-11-29 US US08/563,927 patent/US5592827A/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-11-29 DE DE69518302T patent/DE69518302T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1995-11-29 EP EP95308573A patent/EP0715236B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-11-30 JP JP7313133A patent/JP2667137B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08226736A (ja) | 1996-09-03 |
| DE69518302D1 (de) | 2000-09-14 |
| EP0715236A1 (en) | 1996-06-05 |
| EP0715236B1 (en) | 2000-08-09 |
| DE69518302T2 (de) | 2000-12-28 |
| US5592827A (en) | 1997-01-14 |
| KR960018456A (ko) | 1996-06-17 |
| TW314589B (ja) | 1997-09-01 |
| KR0165303B1 (ko) | 1999-01-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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