JP2663840B2 - 半導体装置の加工のためのシミュレーションシステム - Google Patents

半導体装置の加工のためのシミュレーションシステム

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JP2663840B2 JP18472093A JP18472093A JP2663840B2 JP 2663840 B2 JP2663840 B2 JP 2663840B2 JP 18472093 A JP18472093 A JP 18472093A JP 18472093 A JP18472093 A JP 18472093A JP 2663840 B2 JP2663840 B2 JP 2663840B2
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光悦 北村
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    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/30Computing systems specially adapted for manufacturing

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  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、シミュレーション技術
に関し、特に半導体装置の加工のシミュレーションに関
する。
【0002】
【従来の技術】従来の技術としては、特開昭63−31
2050号公報のように、生産現場に個々の生産工程の
生産状況を入力するための入力装置を設置し、ローカル
エリアネットワークを用いて生産状況をリアルタイムに
収集し、そのデータを用いてシミュレーションを行い将
来の生産状況を予測し、各工程の作業手順を記憶して、
その結果を満て問題なければ生産現場へフィードバック
して作業手順指示を行っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この従来の方法のよう
なシミュレーションモデル内に生産現場の状況をリアル
タイムに取込んで将来を予測する方式では以下のような
問題がある。すなわち、シミュレーションモデル内に生
産状況データを取込むだけで将来の予測を行うためシミ
ュレーション内のモデルが実際状況とかけはなれた状態
でシミュレーションされ間違った将来予測を行う可能性
が大である。また、シミュレーション結果に問題があり
シミュレーションモデルの調整を行う場合、人が調整を
行うと個人差や主観が介入して正確な将来予測が出来な
い可能性が大である。
【0004】本発明は上記問題に鑑み、実際の生産状況
に合い、個人差に影響されないシミュレーションシステ
ムを提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めの本発明のシミュレーションシステムは、半導体装置
を加工するとともに稼働状態を出力する半導体加工設備
と、半導体加工設備の稼働内容についての情報を送る加
工設備端末と、半導体加工設備および加工設備端末にロ
ーカルエリアネットワークを介して接続され、加工設備
の作業履歴を記憶する履歴記憶部、半導体装置の加工フ
ローを記憶する作業工程フロー記憶部、生産計画を記憶
する生産計画記憶部、シミュレートされた作業手順を記
憶する作業計画記憶部を具備するホストコンピュータ
と、ホストコンピュータに接続され、記憶媒体、シミュ
レーション端末を具備するシミュレータとからなるシミ
ュレーションシステムであって、前記ホストコンピュー
タは、前記シミュレータよりシミュレーション用のデー
タ要求があると、前記の履歴記憶部、作業工程フロー記
憶部、生産計画記憶部、作業計画記憶部の各データを前
記シミュレータの記憶媒体に転送し、前記シミュレータ
は、記憶媒体に転送されたデータから、過去における作
業工程をシミュレートするシミュレーションモデルを作
成し、シミュレーションモデルを経た作業結果であるシ
ミュレーション結果と、転送されたデータから集計され
た実際の作業結果である実結果とを比較し、両結果が所
定の条件内に入るようにシミュレーションモデルの構成
要件となっている各種のパラメータを調整することによ
り、所望のシミュレーションモデルを構成し、構成した
所望のシミュレーションモデルを用いて前記半導体加工
設備における将来の作業状態をシミュレートし、その結
果を前記ホストコンピュータを介して加工設備端末に作
業手順指示としてフィードバックさせる。
【0006】また、前記ホストコンピュータは、前記シ
ミュレータが構成した所望のシミュレーションモデルを
新しい作業手順として前記作業計画記憶部に記憶するの
が好ましい。
【0007】
【作用】シミュレータは、ホストコンピュータから与え
られた過去のデータに基づき、シミュレーションモデル
を作成し、作成したシミュレーションモデルを経た結果
であるシミュレーション結果と、与えられた過去のデー
タの集計結果、すなわち生産現場の作業状況のデータ集
計結果である実結果とを比較して、シミュレーション結
果と実際の結果に問題がないか検討を行う。もし問題が
ある場合はシミュレーションモデル内のパラメータを調
整して、再度シミュレーションを行う。そして過去の実
結果とシミュレーション結果とを比較し問題がなくなる
まで調整を行ったあとで、そのシミュレーションモデル
を用いて将来予測を行い、その結果を生産現場にフィー
ドバックさせる。これにより正確かつ人の主観等が介入
しない将来予測が可能になる。
【0008】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図1は、本発明のシミュレーションシステ
ムの構成を示すブロック図、図2は図1の実施例の動作
を示すフローチャートである。半導体装置加工ライン1
01内に、半導体装置加工設備102と端末103とが
設置されている。これらはローカルエリアネットワーク
104を介してホストコンピュータ105に接続されて
いる。ホストコンピュータ105には、半導体装置加工
ライン101内での半導体装置加工設備102の状態や
半導体装置の加工状況を記憶するための履歴記憶部10
6、各種の半導体装置の加工フローを記憶した作業工程
フロー記憶部107、日々の投入計画等を記憶した生産
計画記憶部108、シミュレーションにより構築された
作業手順を記憶する作業計画記憶部109が接続されて
いる。また、ホストコンピュータ105には、記憶媒体
111と端末112とを具備するシミュレータ110が
接続されている。
【0009】次に図1の実施例の動作について図2を参
照して説明する。半導体装置加工ライン101内の半導
体装置加工設備102は、設備の状態に関する情報を随
時に、ローカルエリアネットワーク104を介してホス
トコンピュータ105に報告する。報告された情報をホ
ストコンピュータ105は、履歴記憶部106に記憶す
る。また、端末103より入力された作業報告を同様な
方法で履歴記憶部106に記憶する。次に、作業者が端
末112よりシミュレーション実行指示を行うと(ステ
ップ201)、シミュレータ110は、データの転送を
ホストコンピュータ105に要求する(ステップ20
2)。要求されたホストコンピュータ105は、履歴記
憶部106、作業工程フロー記憶部107、作業計画記
憶部109のデータをシミュレータ110を介して記憶
媒体111に転送する。シミュレータ110は、転送さ
れたデータを基に、過去の実績を集計して記憶媒体11
1に記憶する(ステップ203)。次に、記憶媒体11
1に転送されているデータを基にシミュレータ110で
過去シミュレーションを行い結果を記憶媒体111に記
憶する(ステップ204)。この結果と事前に集計して
おいた実結果の比較を行う(ステップ205)。比較の
結果、規格内のシミュレーション結果が得られない場合
は、パラメータを変更して再度、過去シミュレーション
を行う(ステップ206)。規格内のシミュレーション
結果が得られた時は、そのパラメータと生産計画記憶部
108に記憶されている生産計画データを使用して将来
予測を行い(ステップ207)、得られた結果を記憶媒
体111に記憶した後に、ホストコンピュータ105を
介して、作業計画記憶部109に転送する(ステップ2
08)。そして、作業計画記憶部109に記憶されたデ
ータを利用して、ホストコンピュータ105は、ローカ
ルエリアネットワーク104を介して、端末103に指
示内容を表示して、作業者に必要な作業を実行させる。
【0010】次に、パラメータ調整工程(ステップ20
6)について説明する。図3は、シミュレーション内の
パラメータデーブルであり、図4は、そのパラメータの
調整を説明するフローチャートである。パラメータデー
ブル内では、パラメータ単位に過去の実データ302を
記憶し、その実データのばらつき度303と平均値30
4計算してテーブル内に記憶している。
【0011】過去シミュレーションとの比較結果が規格
外の場合は、このパラメータデーブルのばらつき度30
3をキーにソートを行う(ステップ401)。ソート
後、ばらつき度303の最大のパラメータ301に関す
る実データ302から最大値と最小値を削除する(ステ
ップ402)。削除が終了したら改めて、削除した実デ
ータから平均値304を計算しなおして、新しいパラメ
ータ値を求める(ステップ403)。この新しいパラメ
ータ値で過去シミュレーションを行い、シミュレーショ
ン結果と実結果を比較して規格内に収まるまで上記処理
を繰り返す。
【0012】さらに、上記のパラメータ調整工程(ステ
ップ206)とは異なるの他の事例について説明する。
図5は、本事例のシミュレーションのパラメータテーブ
ルであり、図6は、そのパラメータの調整を説明するフ
ローチャートである。各パラメータ501のパラメータ
値504を設定範囲値502の中央値を初期値として使
用する。この状態でシミュレーション結果が規格外の場
合は、設定範囲値502の範囲で個々に変化させてシミ
ュレーションの出力結果の変化率503を求める(ステ
ップ601)。変化率503をキーとしてソートを行う
(ステップ602)。ソート後、変化率503の最大の
パラメータ501を微小変化させてシミュレーションを
行い、もっとも実結果と近似する値をパラメータ値50
4とする(ステップ603)。これでシミュレーション
を行い結果が規格外の場合は、次に変化率503の大き
いパラメータ501を上記処理で調整する。この処理方
法を繰り返す事でシミュレーション結果を規格内に収ま
る様に調整する。
【0013】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、過去のシ
ミュレーションを行った結果と実際の生産ラインの結果
を比較してシミュレーションに係わるパラメータを自動
的に調整し、最良値を得て実工程に指示することによ
り、人の主観等が介入しない、そして人の調整工数を削
減しながらも、正確な将来予測を可能にさせるシミュレ
ーションシステムを実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のシミュレーションシステムの構成を示
すブロック図である。
【図2】図1の実施例の動作を示すフローチャートであ
る。
【図3】図1の実施例のシミュレーションパラメータテ
ーブルの第1の例の内容を示す構成図である。
【図4】図1の実施例により図3のシミュレーションパ
ラメータテーブルが調整されるのを示すフローチャート
である。
【図5】図1の実施例のシミュレーションパラメータテ
ーブルの第2の例の内容を示す構成図である。
【図6】図1の実施例により図5のシミュレーションパ
ラメータテーブルが調整されるのを示すフローチャート
である。
【符号の説明】
101 半導体装置加工ライン 102 半導体装置加工設備 103,112 端末 104 ローカルエリアネットワーク 105 ホストコンピュータ 106 履歴記憶部 107 作業工程フロー記憶部 108 生産計画記憶部 109 作業計画記憶部 110 シミュレータ 111 記憶媒体 201〜208,401〜403,601〜603
ステップ

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体装置を加工するとともに稼働状態
    を出力する半導体加工設備と、半導体加工設備の稼働内
    容についての情報を送る加工設備端末と、半導体加工設
    備および加工設備端末にローカルエリアネットワークを
    介して接続され、加工設備の作業履歴を記憶する履歴記
    憶部、半導体装置の加工フローを記憶する作業工程フロ
    ー記憶部、生産計画を記憶する生産計画記憶部、シミュ
    レートされた作業手順を記憶する作業計画記憶部を具備
    するホストコンピュータと、ホストコンピュータに接続
    され、記憶媒体、シミュレーション端末を具備するシミ
    ュレータとからなるシミュレーションシステムにおい
    て、 前記ホストコンピュータは、前記シミュレータよりシミ
    ュレーション用のデータ要求があると、前記の履歴記憶
    部、作業工程フロー記憶部、生産計画記憶部、作業計画
    記憶部の各データを前記シミュレータの記憶媒体に転送
    し、 前記シミュレータは、記憶媒体に転送されたデータか
    ら、過去における作業工程をシミュレートするシミュレ
    ーションモデルを作成し、シミュレーションモデルを経
    た作業結果であるシミュレーション結果と、転送された
    データから集計された実際の作業結果である実結果とを
    比較し、両結果が所定の条件内に入るようにシミュレー
    ションモデルの構成要件となっている各種のパラメータ
    を調整することにより、所望のシミュレーションモデル
    を構成し、構成した所望のシミュレーションモデルを用
    いて前記半導体加工設備における将来の作業状態をシミ
    ュレートし、その結果を前記ホストコンピュータを介し
    て加工設備端末に作業手順指示としてフィードバックさ
    せることを特徴とするシミュレーションシステム。
  2. 【請求項2】 前記ホストコンピュータは、前記シミュ
    レータが構成した所望のシミュレーションモデルを新し
    い作業手順として前記作業計画記憶部に記憶する請求項
    1記載のシミュレーションシステム。
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