JP2647083B2 - Active matrix display - Google Patents

Active matrix display

Info

Publication number
JP2647083B2
JP2647083B2 JP62060168A JP6016887A JP2647083B2 JP 2647083 B2 JP2647083 B2 JP 2647083B2 JP 62060168 A JP62060168 A JP 62060168A JP 6016887 A JP6016887 A JP 6016887A JP 2647083 B2 JP2647083 B2 JP 2647083B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bus line
active matrix
switching element
electrode
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP62060168A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS63228189A (en
Inventor
賢一 沖
悟 川井
健一 梁井
和博 高原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP62060168A priority Critical patent/JP2647083B2/en
Priority to KR8709744A priority patent/KR900004989B1/en
Priority to EP87113246A priority patent/EP0259875B1/en
Priority to CA000546534A priority patent/CA1296438C/en
Priority to DE87113246T priority patent/DE3788093T2/en
Priority to US07/095,268 priority patent/US4818981A/en
Publication of JPS63228189A publication Critical patent/JPS63228189A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2647083B2 publication Critical patent/JP2647083B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 本発明はスキャンバスラインとデータバスラインを別
々の2枚の対向する基板に設け、画素毎に設けられたス
イッチング素子は行方向にその制御端子をスキャンバス
ラインに接続し、その第1の出力端子は隣接するスキャ
ンバスラインに接続されるアクティブマトリックス型液
晶ディスプレイにおいて、第2の出力端子を行方向に接
続するバスラインをスキャンバスラインと重なる様に形
成し、パネル外縁部で両者を電気的に接続することによ
って、簡略なプロセスにより、アクティブマトリックス
回路を形成し、さらにバスライン抵抗による表示ムラや
表示不良の発生を防止出来る構造としたものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Summary] In the present invention, a scan bus line and a data bus line are provided on two separate opposing substrates, and a switching element provided for each pixel scans its control terminal in a row direction. In an active matrix type liquid crystal display connected to a bus line and having a first output terminal connected to an adjacent scan bus line, a bus line connecting a second output terminal in a row direction overlaps with the scan bus line. The active matrix circuit is formed by a simple process by forming and electrically connecting the two at the outer edge of the panel, and furthermore, it is possible to prevent display unevenness and display failure due to bus line resistance. .

〔産業上の利用分野〕 本発明はアクティブマトリックス型表示装置、特にそ
のバスライン電極の構成に関する。アクティブマトリッ
クス型表示装置は液晶と組合せることにより、陰極線管
(CRT)並みのカラー表示が得られ、薄形のフラットデ
ィスプレイとして用途を拡げつつある。しかし、画素毎
にスイッチング素子を設ける構造のため製造プロセスが
複雑で、歩留を上げることも容易ではない。このため、
簡略なプロセスで高い歩留が得られる構成のアクティブ
マトリックス装置が望まれていた。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an active matrix type display device, and particularly to a configuration of a bus line electrode thereof. An active matrix display device can provide color display comparable to a cathode ray tube (CRT) by being combined with a liquid crystal, and is expanding its use as a thin flat display. However, since the switching element is provided for each pixel, the manufacturing process is complicated, and it is not easy to increase the yield. For this reason,
There has been a demand for an active matrix device having a configuration in which a high yield can be obtained by a simple process.

〔従来の技術および発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by conventional technology and invention]

アクティブマトリックス形表示装置のプロセスの簡略
化や高歩留化のための方法はこれまでも行なわれてき
た。第6図は2枚のマスクプロセスで薄膜トランジスタ
とバスラインを形成する方法を模式的に表わすものであ
る。同図中、1はガラス基板、2は透明電極、3はリン
をドープしたn+形アモルファスシリコン(n+形a−Si)
コンタクト層、4はa−Siからなる動作半導体層、5は
Si3N4ゲート絶縁膜、6はゲート電極であり、またSは
ソース部、Dはドレイン部、DBはドレインバス(データ
バスライン)、GB(すなわち6)はゲートバスライン
(スキャンバスライン)、IEは画素電極を表わす。この
装置の製法では、まず透明電極2、n+形の−Si層3をパ
ターニングしてソース(画素電極IEを含む)S、ドレイ
ンD、ドレインバスDBのパターンを形成後、次いでn+
a−Si層3、a−Si層4、ゲート絶縁膜5およびゲート
電極層6をパターニングしてゲートバスラインGBのパタ
ーンを形成する。
Methods for simplifying the process of the active matrix display device and increasing the yield have been performed so far. FIG. 6 schematically shows a method of forming a thin film transistor and a bus line by a two-mask process. In the figure, 1 is a glass substrate, 2 is a transparent electrode, 3 is n + type amorphous silicon doped with phosphorus (n + type a-Si).
The contact layer, 4 is an operating semiconductor layer made of a-Si, and 5 is
Si 3 N 4 gate insulating film, 6 is a gate electrode, S is a source portion, D is a drain portion, DB is a drain bus (data bus line), and GB (ie, 6) is a gate bus line (scan bus line). , IE represent pixel electrodes. In the manufacturing method of this device, the transparent electrode 2 and the n + -Si layer 3 are first patterned to form the source (including the pixel electrode IE) S, the drain D, and the drain bus DB, and then the n + a Patterning of the gate bus line GB by patterning the -Si layer 3, the a-Si layer 4, the gate insulating film 5 and the gate electrode layer 6;

このようなアクティブマトリックス形表示装置に於い
ては、ゲートバスライン(スキャンバスライン)とドレ
インバスライン(データバスライン)とが同一のガラス
基板上に直交して形成されるものであるから、その交差
部分の絶縁不良が問題となる。更に、交差部分では段差
が生じるので、バスラインの断線或いは抵抗値の増大の
問題がある。
In such an active matrix display device, the gate bus lines (scan bus lines) and the drain bus lines (data bus lines) are formed orthogonally on the same glass substrate. Poor insulation at the intersections becomes a problem. Further, since a step occurs at the intersection, there is a problem that the bus line is disconnected or the resistance value increases.

そこで、データバスラインをゲートバスライン(スキ
ャンバスライン)および薄膜トランジスタを形成する基
板の対向電極に設けるいことによって基板上にクロスオ
ーバー構造を持たず、しかもゲートバスラインとドレイ
ンバスラインを2重に重ねて1つのバスラインとするこ
とによって短絡欠陥と断線欠陥の両者を低減する方式を
先に提案した(特願昭60−274011号明細書)。第7図は
このような装置の斜視図、第8図は薄膜トランジスタを
含む基板上の回路の等価回路を表わす。10はデータバス
ライン、11は画素電極、12は薄膜トランジスタ、13はゲ
ートバスライン(スキャンバスライン)、14はドレイン
バスライン、15はパネル端子部であり、ドレインバスラ
イン14は隣接するゲートバスラインと2重に重ねられか
つ電気的に接続16されている。
Therefore, by providing the data bus line on the gate bus line (scan bus line) and the counter electrode of the substrate on which the thin film transistor is formed, there is no crossover structure on the substrate, and the gate bus line and the drain bus line are doubled. A method for reducing both short-circuit defects and open-circuit defects by overlapping one bus line has been previously proposed (Japanese Patent Application No. 60-274011). FIG. 7 is a perspective view of such a device, and FIG. 8 shows an equivalent circuit of a circuit on a substrate including a thin film transistor. 10 is a data bus line, 11 is a pixel electrode, 12 is a thin film transistor, 13 is a gate bus line (scan bus line), 14 is a drain bus line, 15 is a panel terminal portion, and a drain bus line 14 is an adjacent gate bus line. And are electrically connected 16.

しかし、このような方式は、バスラインを2重化する
ために、アクティブマトリックス部のゲート絶縁膜に接
続孔を設けることが必要であり、このため製造時のマス
クは最低でも3枚必要となる。
However, in such a method, it is necessary to provide a connection hole in the gate insulating film of the active matrix portion in order to duplicate the bus line, and therefore, at least three masks are required at the time of manufacturing. .

従って、高歩留が得られるアクティブマトリックス方
式とマスク2枚で薄膜トランジスタが形成できる簡略化
プロセスの両立は困難であった。
Therefore, it has been difficult to achieve both an active matrix method capable of obtaining a high yield and a simplified process capable of forming a thin film transistor with two masks.

〔問題点を解決する手段および作用〕[Means and actions to solve the problems]

本発明は、上記の問題点を解決するために、第1の基
板上に画素毎に設けられたスイッチング素子と、スイッ
チング素子の制御端子を行方向に接続したスキャンバス
ラインと、スイッチング素子の第1の出力端子に接続さ
れた画素電極とを有し、第2の基板には列方向に走るデ
ータバスラインが形成されており、このデータバスライ
ンと第1の基板上の画素電極とによりそれぞれの画素を
構成するようにしたアクティブマトリックス型表示装置
において、スイッチング素子の第2の出力端子を行方向
に接続する付加的バスラインを、スイッチング素子の制
御端子を行方向に接続した隣接のスキャンバスラインと
絶縁膜を介して重なるように形成し、付加的バスライン
と隣接のスキャンバスラインとを表示パネル外縁部で電
気的に接続したことを特徴とするアクティブマトリック
ス型表示装置を提供する。
In order to solve the above problems, the present invention provides a switching element provided for each pixel on a first substrate, a scan bus line in which control terminals of the switching element are connected in a row direction, And a pixel electrode connected to the first output terminal, and a data bus line running in the column direction is formed on the second substrate, and the data bus line and the pixel electrode on the first substrate respectively form the data bus line. In the active matrix type display device, an additional bus line connecting the second output terminal of the switching element in the row direction is connected to an adjacent scan bus connecting the control terminal of the switching element in the row direction. The additional bus line and the adjacent scan bus line are electrically connected at the outer edge of the display panel by being formed so as to overlap with the line via the insulating film. To provide an active matrix type display device comprising.

第1図は、本発明の原理図である。n番目のスキャン
バスライン21にn行目のスイッチング素子22の制御電極
が接続され、n行目のスイッチング素子22の第1の出力
端子は隣接するn+1番目のスキャンバスライン23上に
絶縁膜を挟んで重ねて形成されたドレインバスライン24
に接続されている。そして図の様にスキャンバスライン
23と、ドレインバスライン24は両端のパネル端子部25で
接続されており、又、両者の間には分布容量26が存在す
る。同図中20は画素電極である。
FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of the present invention. The control electrode of the switching element 22 in the n-th row is connected to the n-th scanning bus line 21, and the first output terminal of the switching element 22 in the n-th row forms an insulating film on the adjacent (n + 1) -th scanning bus line 23. Drain bus line 24 formed by sandwiching and overlapping
It is connected to the. And scan bus line as shown
23 and the drain bus line 24 are connected by panel terminal portions 25 at both ends, and a distributed capacitor 26 exists between the two. In the figure, reference numeral 20 denotes a pixel electrode.

スキャンバスラインとドレインバスラインはパネルの
両端で接続されているために一方が1箇所で断線してい
ても電気的接続は保たれる。また、一方の電極層が高抵
抗で単独では容量負荷のために立上り時の波形がなまる
様な場合でも、容量結合したもう一方のバスラインから
の電流供給のため、波形のなまりが抑えられ、歪みの少
ない駆動波形が各スイッチング素子に印加できる。
Since the canvas line and the drain bus line are connected at both ends of the panel, the electrical connection is maintained even if one of them is disconnected at one place. In addition, even if one electrode layer has a high resistance and the waveform at the time of rising becomes blunt due to a capacitive load, the waveform is suppressed by the current supply from the other capacitively coupled bus line. In addition, a drive waveform with little distortion can be applied to each switching element.

第2図および第3図に実施例のアクティブマトリック
ス部の構造を示す。第3図は第2図の線III−IIIで切っ
た断面を示す。このアクティブマトリックス部を製作す
るプロセスは第6図に関連して説明した2枚のマスクを
使用する簡略なプロセスである。すなわち、ガラス基板
31上に、透明電極32とオーミックコンタクト用のn+形a
−Si膜33の積層膜をパターニングしてドレイン電極D、
ドレインバスラインDB、ソース電極sおよび画素電極部
IEを形成した後、a−Si膜34、Si3N4膜35およびアルミ
ニウム電極膜36を積層しパターニングしてゲート電極G
およびスキャンバスラインSBを形成する。第2図の斜線
部は、第3図にも示される如く、ドレインバスラインDB
とスキャンバスラインSBがSi3N4膜35、a−Si膜34を挟
んで積層された構造となっており、両者の間には分布容
量が形成されている。これらの図中、37は画素電極、38
は薄膜トランジスタ、39は2重バスライン部である。
FIG. 2 and FIG. 3 show the structure of the active matrix portion of the embodiment. FIG. 3 shows a section taken along line III-III in FIG. The process of fabricating the active matrix portion is a simple process using two masks described with reference to FIG. That is, the glass substrate
On the transparent electrode 32, an n + type a for ohmic contact
Patterning the stacked film of the Si film 33 to form a drain electrode D;
Drain bus line DB, source electrode s and pixel electrode section
After forming the IE, the a-Si film 34, the Si 3 N 4 film 35 and the aluminum electrode film 36 are laminated and patterned to form the gate electrode G
And a scan bus line SB is formed. The hatched portion in FIG. 2 indicates the drain bus line DB as shown in FIG.
And a scan bus line SB are laminated with the Si 3 N 4 film 35 and the a-Si film 34 interposed therebetween, and a distributed capacitance is formed between the two. In these figures, 37 is a pixel electrode, 38
Denotes a thin film transistor, and 39 denotes a double bus line portion.

第4図および第5図にドレインバスラインDBとスキャ
ンバスラインSBをパネル端子部で接続する実施例を示
す。第5図は第4図の線V−Vで切った断面を示す。示
の如く、パネル端子部においてドレインバスラインの端
子パターン41とスキャンバスラインの端子パターン42を
分岐させて露出させておくことによって、これらを端末
接続用のフレキシブルケーブルの電極43で接続するもの
である。この様にパネルプロセス作成後に両バスライン
を接続することにより薄膜トランジスタ特性測定やエー
ジングの際に両バスラインに独立の電圧を印加できると
いうメリットもある。
4 and 5 show an embodiment in which the drain bus line DB and the scan bus line SB are connected at the panel terminal. FIG. 5 shows a section taken along line VV in FIG. As shown in the drawing, the terminal pattern 41 of the drain bus line and the terminal pattern 42 of the scan bus line are branched and exposed in the panel terminal portion, so that they are connected by the electrode 43 of the flexible cable for terminal connection. is there. In this way, by connecting both bus lines after the panel process is created, there is also an advantage that independent voltages can be applied to both bus lines at the time of thin film transistor characteristic measurement or aging.

この実施例では、フレキシブルケーブルによる接続を
用いているが、他のインターコネクター、ソルダリン
グ、ボンディング等の実装法を用いることもでき、ICチ
ップを搭載するいわゆるチップオングラス法(COG法)
も適用できる。
In this embodiment, connection by a flexible cable is used, but other mounting methods such as an interconnector, soldering, and bonding can be used, and a so-called chip-on-glass method (COG method) for mounting an IC chip.
Can also be applied.

また、プロセス中に接続する方法として、絶縁膜の形
成時にパネル端子部をマスキングしておき、パネル端子
部でスキャンバス電極とドレインバス電極が直接重なる
様にすることも可能である。
Further, as a method of connecting during the process, it is possible to mask the panel terminal portion at the time of forming the insulating film so that the scan bus electrode and the drain bus electrode are directly overlapped at the panel terminal portion.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明によれば、簡略なプロセスを用い、高い製造歩
留でアクティブマトリックス形表示装置が製造でき、低
コスト化に大きな効果がある。
According to the present invention, an active matrix display device can be manufactured with a high manufacturing yield by using a simple process, which has a great effect on cost reduction.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の原理を示す模式図、第2図は本発明の
実施例のアクティブマトリックス部の平面図、第3図は
第2図の線III−IIIで切った断面図、第4図は本発明の
実施例のパネル端子部の平面図、第5図は第4図の線V
−Vで切った断面図、第6図は従来の簡略プロセスによ
るアクティブマトリックス部の製造を説明する断面図、
第7図および第8図は本出願人によって先に提案された
アクティブマトリックス型表示装置の模式図である。 20……画素電極、 21……n番目のスキャンバスライン、 22……スイッチング素子、 23……n+1番目のスキャンバスライン、 24……ドレインバスライン、 25……パネル端子部、26……分布容量、 31……ガラス基板、32……透明電極、 33……n+形a−Si膜、 34……a−Si膜、35……Si3N4膜、 36……アルミニウム電極、 37……画素電極、 38……薄膜トランジスタ、 39……2重バスライン、 41……ドレインバスラインの端子パターン、 42……スキャンバスラインの端子パターン、 43……端子接続用電極。
FIG. 1 is a schematic view showing the principle of the present invention, FIG. 2 is a plan view of an active matrix portion according to an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a sectional view taken along line III-III of FIG. FIG. 5 is a plan view of a panel terminal portion according to the embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a line V in FIG.
FIG. 6 is a cross-sectional view taken along line -V, and FIG.
FIG. 7 and FIG. 8 are schematic views of an active matrix type display device previously proposed by the present applicant. 20 ... pixel electrode, 21 ... nth scan bus line, 22 ... switching element, 23 ... n + 1th scan bus line, 24 ... drain bus line, 25 ... panel terminal part, 26 ... distribution capacity, 31 ...... glass substrate, 32 ...... transparent electrode, 33 ...... n + form a-Si film, 34 ...... a-Si film, 35 ...... Si 3 n 4 film, 36 ...... aluminum electrode, 37 ... ... Pixel electrode, 38 ... Thin film transistor, 39 ... Double bus line, 41 ... Terminal pattern of drain bus line, 42 ... Terminal pattern of scan bus line, 43 ... Terminal connection electrode.

フロントページの続き (72)発明者 梁井 健一 川崎市中原区上小田中1015番地 富士通 株式会社内 (72)発明者 高原 和博 川崎市中原区上小田中1015番地 富士通 株式会社内 (56)参考文献 特開 昭62−119574(JP,A) 特開 昭62−133478(JP,A) 実開 昭61−36825(JP,U)Continuing on the front page (72) Inventor Kenichi Yanai 1015 Uedanaka, Nakahara-ku, Kawasaki City Inside Fujitsu Limited (72) Inventor Kazuhiro Takahara 1015, Kamikodanaka, Nakahara-ku, Kawasaki City Fujitsu Limited (56) References JP 62-119574 (JP, A) JP-A-62-133478 (JP, A) JP-A-61-36825 (JP, U)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】第1の基板上に画素毎に設けられたスイッ
チング素子と、当該スイッチング素子の制御端子を行方
向に接続したスキャンバスラインと、当該スイッチング
素子の第1の出力端子に接続された画素電極とを有し、
第2の基板には列方向に走るデータバスラインが形成さ
れており、このデータバスラインと第1の基板上の画素
電極とによりそれぞれの画素を構成するようにしたアク
ティブマトリックス型表示装置において、 上記スイッチング素子の第2の出力端子を行方向に接続
する付加的バスラインを、スイッチング素子の制御端子
を行方向に接続した隣接のスキャンバスラインと絶縁膜
を介して重なるように形成し、当該付加的バスラインと
当該隣接のスキャンバスラインとを表示パネル外縁部で
電気的に接続したことを特徴とするアクティブマトリッ
クス型表示装置。
A switching element provided for each pixel on a first substrate; a scan bus line connecting control terminals of the switching element in a row direction; and a first output terminal of the switching element. Having a pixel electrode,
In an active matrix display device in which a data bus line running in a column direction is formed on the second substrate, and each pixel is constituted by the data bus line and a pixel electrode on the first substrate, Forming an additional bus line connecting the second output terminal of the switching element in the row direction via an insulating film with an adjacent scan bus line connecting the control terminal of the switching element in the row direction; An active matrix display device, wherein the additional bus line and the adjacent scan bus line are electrically connected at an outer edge of the display panel.
JP62060168A 1986-09-11 1987-03-17 Active matrix display Expired - Lifetime JP2647083B2 (en)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62060168A JP2647083B2 (en) 1987-03-17 1987-03-17 Active matrix display
KR8709744A KR900004989B1 (en) 1986-09-11 1987-09-03 Active matrix type display and driving method
EP87113246A EP0259875B1 (en) 1986-09-11 1987-09-10 Active matrix display devices
CA000546534A CA1296438C (en) 1986-09-11 1987-09-10 Active matrix display device and method for driving the same
DE87113246T DE3788093T2 (en) 1986-09-11 1987-09-10 Active matrix display devices.
US07/095,268 US4818981A (en) 1986-09-11 1987-09-11 Active matrix display device and method for driving the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62060168A JP2647083B2 (en) 1987-03-17 1987-03-17 Active matrix display

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63228189A JPS63228189A (en) 1988-09-22
JP2647083B2 true JP2647083B2 (en) 1997-08-27

Family

ID=13134366

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62060168A Expired - Lifetime JP2647083B2 (en) 1986-09-11 1987-03-17 Active matrix display

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2647083B2 (en)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6136825U (en) * 1984-08-07 1986-03-07 三洋電機株式会社 display device

Also Published As

Publication number Publication date
JPS63228189A (en) 1988-09-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6710408B2 (en) Thin film transistor array substrate for liquid crystal display structure
US6614500B2 (en) Liquid crystal display having a dummy source pad and method for manufacturing the same
JP2780543B2 (en) Liquid crystal display substrate and liquid crystal display device
JPH06160904A (en) Liquid crystal display device and its production
GB2307087A (en) Liquid crystal displays
JPH07128685A (en) Liquid crystal display device
JP3258768B2 (en) Matrix display device
EP0605176B1 (en) An active matrix type liquid crystal display panel and a method for producing the same
JPH06258670A (en) Liquid-crystal display device and its preparation
JP3031664B2 (en) TFT array substrate and liquid crystal display device using the same
JP2820738B2 (en) Thin film transistor and crossover structure for liquid crystal display device and manufacturing method thereof
JP3819590B2 (en) Liquid crystal display element, liquid crystal display apparatus using the element, and reflective liquid crystal display apparatus
JPH04204831A (en) Active matrix substrate
JPH07113728B2 (en) Active matrix substrate
JP2800958B2 (en) Active matrix substrate
JP2647083B2 (en) Active matrix display
EP0430418A2 (en) Liquid crystal display and method of manufacturing the same
JPH028817A (en) Manufacture of electric device
JP3484363B2 (en) Liquid crystal display
JP2687967B2 (en) Liquid crystal display
JPH11174970A (en) Thin-film device
JP2690404B2 (en) Active matrix substrate
JP3418684B2 (en) Active matrix type liquid crystal display
JP3006990B2 (en) Active matrix substrate and manufacturing method thereof
JP3306923B2 (en) Liquid crystal device manufacturing method

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term