JP2642007B2 - 単板試験機 - Google Patents
単板試験機Info
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- JP2642007B2 JP2642007B2 JP22935491A JP22935491A JP2642007B2 JP 2642007 B2 JP2642007 B2 JP 2642007B2 JP 22935491 A JP22935491 A JP 22935491A JP 22935491 A JP22935491 A JP 22935491A JP 2642007 B2 JP2642007 B2 JP 2642007B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク装置に用
いられる円板の試験を行う単板試験機に関する。磁気デ
ィスク装置に用いられる円板を試験する単板試験機にお
いては、円板の周上に所定の周波数波形を書き、平均値
を求め、平均値からのひずみを検出することにより、欠
陥の検出を行う。
いられる円板の試験を行う単板試験機に関する。磁気デ
ィスク装置に用いられる円板を試験する単板試験機にお
いては、円板の周上に所定の周波数波形を書き、平均値
を求め、平均値からのひずみを検出することにより、欠
陥の検出を行う。
【０００２】この場合、ステッピングモータにより、磁
気ヘッドを移動し、磁気ヘッドと円板との位置決め制御
を行っているため、試験ゾーンと使用ゾーンにおけるト
ラック位置上の相関がなく、欠陥の検証を行うことがで
きなかった。特に、実際に磁気ディスク装置で使われる
トラックとトラックの間の欠陥の検証を行うことができ
なかった。
気ヘッドを移動し、磁気ヘッドと円板との位置決め制御
を行っているため、試験ゾーンと使用ゾーンにおけるト
ラック位置上の相関がなく、欠陥の検証を行うことがで
きなかった。特に、実際に磁気ディスク装置で使われる
トラックとトラックの間の欠陥の検証を行うことができ
なかった。
【０００３】したがって、実際に使われるトラック上で
の試験を行い、欠陥の検証をすることが望まれていた。
の試験を行い、欠陥の検証をすることが望まれていた。
【０００４】
【従来の技術】従来の単板試験機としては、例えば図４
に示すようなものがある。図４において、１は被試験用
の円板であり、円板１はスピンドルモータ２により回転
駆動されるスピンドル軸３に装着される。磁気ヘッド４
はヘッドアーム５の先端に設けられ、ヘッドアーム５は
ステッピングモータ（パルスモータ）６により駆動され
るアクチュエータ７に固定されている。
に示すようなものがある。図４において、１は被試験用
の円板であり、円板１はスピンドルモータ２により回転
駆動されるスピンドル軸３に装着される。磁気ヘッド４
はヘッドアーム５の先端に設けられ、ヘッドアーム５は
ステッピングモータ（パルスモータ）６により駆動され
るアクチュエータ７に固定されている。
【０００５】磁気ヘッド４にはＦＰＣ（ヘッドＩＣ）８
が接続され、ＦＰＣ８にはプリアンプ、ライト回路を内
蔵したリードスイッチ９が接続されている。リードスイ
ッチ９はメインアンプ１０を介して欠陥検出回路１１が
接続され、欠陥検出回路１１にはＣＰＵ１２および表示
プリンタ１３が接続されている。欠陥検出回路１１は、
例えばＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）により構
成され、円板１の欠陥を検出する。
が接続され、ＦＰＣ８にはプリアンプ、ライト回路を内
蔵したリードスイッチ９が接続されている。リードスイ
ッチ９はメインアンプ１０を介して欠陥検出回路１１が
接続され、欠陥検出回路１１にはＣＰＵ１２および表示
プリンタ１３が接続されている。欠陥検出回路１１は、
例えばＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）により構
成され、円板１の欠陥を検出する。
【０００６】欠陥検出回路１１の欠陥検出プロセスは、
図５に示すように、（１）円板１上に周波数波形をか
き、（２）平均値を求め、（３）ミッシングパルスをチ
ェックし、（４）一周をすべて消し、（５）エキストラ
パルスをチェックし、次のトラックにシークする。
図５に示すように、（１）円板１上に周波数波形をか
き、（２）平均値を求め、（３）ミッシングパルスをチ
ェックし、（４）一周をすべて消し、（５）エキストラ
パルスをチェックし、次のトラックにシークする。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の単板試験機にあっては、ステッピングモータ
により、磁気ヘッドの位置決めを行っているため、試験
ゾーンと実際の使用ゾーンの間にトラック位置の相関が
なく、欠陥の検証を行うことができず、欠陥検出の有効
性が低下する問題点があった。特に、実際に使用される
トラックとトラックの間にあるような欠陥も検出してし
まい、有効でない。
うな従来の単板試験機にあっては、ステッピングモータ
により、磁気ヘッドの位置決めを行っているため、試験
ゾーンと実際の使用ゾーンの間にトラック位置の相関が
なく、欠陥の検証を行うことができず、欠陥検出の有効
性が低下する問題点があった。特に、実際に使用される
トラックとトラックの間にあるような欠陥も検出してし
まい、有効でない。
【０００８】すなわち、実際に使用されないトラック上
の欠陥も検出してしまう。また、使用ゾーンに対してマ
ージンを見込んだ範囲の試験を実施しており、規格も安
全サイドからオーバスペックとなり、試験ゾーンの範囲
が広く、作業性も低下するという問題点もあった。本発
明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたもので
あって、欠陥検出の有効性を向上させることができ、か
つ、作業性を向上させることができる単板試験機を提供
することを目的としている。
の欠陥も検出してしまう。また、使用ゾーンに対してマ
ージンを見込んだ範囲の試験を実施しており、規格も安
全サイドからオーバスペックとなり、試験ゾーンの範囲
が広く、作業性も低下するという問題点もあった。本発
明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたもので
あって、欠陥検出の有効性を向上させることができ、か
つ、作業性を向上させることができる単板試験機を提供
することを目的としている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図である。本発明は、スピンドルモータにより回転駆動
されるスピンドル軸に被試験用の円板を装着し、磁気ヘ
ッドを用いて円板に試験用の周波数波形を書き込み、周
波数波形のひずみを検出することで円板の欠陥を検出す
る単板試験機において、 前記円板の下側の位置で前記ス
ピンドル軸に固定され位置情報を書き込んだサーボ円板
と、 該サーボ円板より前記位置情報を読み取るサーボヘ
ッドと、 該サーボヘッドおよび前記磁気ヘッドをその先
端に装着したヘッドアームが固定されるとともにボイス
コイルモータで駆動されるキャリッジと、 前記サーボヘ
ッドで読み取った位置情報に基づいて前記ボイスコイル
モータを介して該キャリッジの位置決め制御を行う位置
決め制御回路を設けた。
図である。本発明は、スピンドルモータにより回転駆動
されるスピンドル軸に被試験用の円板を装着し、磁気ヘ
ッドを用いて円板に試験用の周波数波形を書き込み、周
波数波形のひずみを検出することで円板の欠陥を検出す
る単板試験機において、 前記円板の下側の位置で前記ス
ピンドル軸に固定され位置情報を書き込んだサーボ円板
と、 該サーボ円板より前記位置情報を読み取るサーボヘ
ッドと、 該サーボヘッドおよび前記磁気ヘッドをその先
端に装着したヘッドアームが固定されるとともにボイス
コイルモータで駆動されるキャリッジと、 前記サーボヘ
ッドで読み取った位置情報に基づいて前記ボイスコイル
モータを介して該キャリッジの位置決め制御を行う位置
決め制御回路を設けた。
【００１０】
【作用】本発明においては、サーボ円板に書き込まれた
位置情報を読み取って、位置決め制御回路によりボイス
コイルモータを介してＶＣＭキャリッジの位置決め制御
を行う。そして、被試験用の円板に試験用の周波数波形
を書き込み、周波数波形のひずみを検出することで、欠
陥の検出を行う。
位置情報を読み取って、位置決め制御回路によりボイス
コイルモータを介してＶＣＭキャリッジの位置決め制御
を行う。そして、被試験用の円板に試験用の周波数波形
を書き込み、周波数波形のひずみを検出することで、欠
陥の検出を行う。
【００１１】この場合、実際に使用されるトラック上で
試験を行うことができ、試験ゾーンと使用ゾーンが一致
するので、欠陥の検証を行うことができる。したがっ
て、例えば、実際に使用されるトラックとトラックの間
の欠陥は、欠陥としてこれを検出する必要がなくなり、
欠陥検出の有効性を向上させることができる。また、実
際に使用されるトラック上で試験を行うので、試験ゾー
ンより適切な範囲に設定することができ、規格上のオー
バスペックを防止することができ、作業性を向上させる
ことができる。
試験を行うことができ、試験ゾーンと使用ゾーンが一致
するので、欠陥の検証を行うことができる。したがっ
て、例えば、実際に使用されるトラックとトラックの間
の欠陥は、欠陥としてこれを検出する必要がなくなり、
欠陥検出の有効性を向上させることができる。また、実
際に使用されるトラック上で試験を行うので、試験ゾー
ンより適切な範囲に設定することができ、規格上のオー
バスペックを防止することができ、作業性を向上させる
ことができる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図２は本発明の一実施例を示す図である。図２に
おいて、２１は被試験用の円板であり、円板２１は基
板、薄膜の磁性体、保護膜などにより構成される。ここ
では、円板２１に所定の周波数波形を書き込み、波形に
ひずみがあるか否かをチェックすることで欠陥の有無を
検出する。
する。図２は本発明の一実施例を示す図である。図２に
おいて、２１は被試験用の円板であり、円板２１は基
板、薄膜の磁性体、保護膜などにより構成される。ここ
では、円板２１に所定の周波数波形を書き込み、波形に
ひずみがあるか否かをチェックすることで欠陥の有無を
検出する。
【００１３】円板２１はスピンドル軸２２に装着され、
スピンドル軸２２はスピンドルモータ２３により回転駆
動される。２４は磁気ヘッドであり、磁気ヘッド２４は
円板２１に欠陥検出の試験を行うための所定の周波数波
形を書き込み、また、周波数波形を読み取る。磁気ヘッ
ド２４は、ヘッドアーム２５の先端に装着され、ヘッド
アーム２５はＶＣＭキャリッジ２６に固定されている。
スピンドル軸２２はスピンドルモータ２３により回転駆
動される。２４は磁気ヘッドであり、磁気ヘッド２４は
円板２１に欠陥検出の試験を行うための所定の周波数波
形を書き込み、また、周波数波形を読み取る。磁気ヘッ
ド２４は、ヘッドアーム２５の先端に装着され、ヘッド
アーム２５はＶＣＭキャリッジ２６に固定されている。
【００１４】ＶＣＭキャリッジ２６はボイスコイルモー
タ２７に連結され、ボイスコイルモータ２７により位置
決め制御される。ここでは、従来のステッピングモータ
に代えてボイスコイルモータ２７などを用いている。２
８はサーボ円板であり、サーボ円板２８は被試験用の円
板２１の下側の位置でスピンドル軸２２に固定される。
サーボ円板２８には位置情報が書き込まれている。サー
ボ円板２８に接触してサーボヘッド２９は、ヘッドアー
ム３０の先端に設けられ、ヘッドアーム３０はＶＣＭキ
ャリッジ２６に固定される。
タ２７に連結され、ボイスコイルモータ２７により位置
決め制御される。ここでは、従来のステッピングモータ
に代えてボイスコイルモータ２７などを用いている。２
８はサーボ円板であり、サーボ円板２８は被試験用の円
板２１の下側の位置でスピンドル軸２２に固定される。
サーボ円板２８には位置情報が書き込まれている。サー
ボ円板２８に接触してサーボヘッド２９は、ヘッドアー
ム３０の先端に設けられ、ヘッドアーム３０はＶＣＭキ
ャリッジ２６に固定される。
【００１５】３１は位置決め制御回路であり、位置決め
制御回路３１は、サーボ円板２８の位置情報を読み取っ
て磁気ヘッド２１をオントラックさせるように位置決め
制御を行う。次に、動作を説明する。サーボ円板２８に
書き込まれた位置情報を読み出して、位置決め制御回路
３１により、ボイスコイルモータ２７を介してＶＣＭキ
ャリッジ２６の位置決め制御を行う。
制御回路３１は、サーボ円板２８の位置情報を読み取っ
て磁気ヘッド２１をオントラックさせるように位置決め
制御を行う。次に、動作を説明する。サーボ円板２８に
書き込まれた位置情報を読み出して、位置決め制御回路
３１により、ボイスコイルモータ２７を介してＶＣＭキ
ャリッジ２６の位置決め制御を行う。
【００１６】磁気ヘッド２１はＶＣＭキャリッジ２６に
より被試験用の円板２１の所定の位置にオントラック
し、試験用の周波数波形を書き込み、また、読み取りす
る。すなわち、周波数波形を書き込み後に、平均値を求
め、ミッシングパルスをチェックし、また、一周を消去
後に、エキストパルスをチェックする。こうして、被試
験用の円板２１の欠陥を検出する。
より被試験用の円板２１の所定の位置にオントラック
し、試験用の周波数波形を書き込み、また、読み取りす
る。すなわち、周波数波形を書き込み後に、平均値を求
め、ミッシングパルスをチェックし、また、一周を消去
後に、エキストパルスをチェックする。こうして、被試
験用の円板２１の欠陥を検出する。
【００１７】この場合、実際に使われているトラック上
で試験を行うことができる。したがって、試験ゾーンと
使用ゾーンが一致し、欠陥の検証を行うことができる。
実際に使われるトラックとトラックの間に欠陥がある場
合には、この欠陥は検出する必要がなくなる。従来で
は、このような欠陥も検出されてしまう。本実施例にお
いては、実際に使用されるトラックで試験するので、製
品の不良率を低下させることができ、欠陥検出の有効性
を高めることができる。
で試験を行うことができる。したがって、試験ゾーンと
使用ゾーンが一致し、欠陥の検証を行うことができる。
実際に使われるトラックとトラックの間に欠陥がある場
合には、この欠陥は検出する必要がなくなる。従来で
は、このような欠陥も検出されてしまう。本実施例にお
いては、実際に使用されるトラックで試験するので、製
品の不良率を低下させることができ、欠陥検出の有効性
を高めることができる。
【００１８】また、実際に使用されるトラックで試験す
るので、試験ゾーンをより適切な範囲にすることがで
き、オーバスペックを防止することができる。その結
果、作業性を向上させることができる。次に、図３は本
発明の他の実施例を示す図である。本実施例では、前記
のようにして試験を実施した場合、逆に実際に組み込ま
れた時の位置ずれにより、実際に使用されるトラック上
の欠陥を検出することができない場合が考えられるの
で、この事態を回避するためにオフセット発生回路を設
けている。
るので、試験ゾーンをより適切な範囲にすることがで
き、オーバスペックを防止することができる。その結
果、作業性を向上させることができる。次に、図３は本
発明の他の実施例を示す図である。本実施例では、前記
のようにして試験を実施した場合、逆に実際に組み込ま
れた時の位置ずれにより、実際に使用されるトラック上
の欠陥を検出することができない場合が考えられるの
で、この事態を回避するためにオフセット発生回路を設
けている。
【００１９】図３において、３２は位置ずれ検出回路で
あり、位置ずれ検出回路３２はサーボヘッド２９と磁気
ヘッド２４からの情報により位置ずれを検出する。３３
はオフセット発生回路であり、オフセット発生回路３３
は位置ずれ検出回路３２からの位置ずれに基づいて所定
のオフセットを発生させ、ボイスコイルモータ２７を介
してＶＣＭキャリッジ２６の位置決め制御を行う。
あり、位置ずれ検出回路３２はサーボヘッド２９と磁気
ヘッド２４からの情報により位置ずれを検出する。３３
はオフセット発生回路であり、オフセット発生回路３３
は位置ずれ検出回路３２からの位置ずれに基づいて所定
のオフセットを発生させ、ボイスコイルモータ２７を介
してＶＣＭキャリッジ２６の位置決め制御を行う。
【００２０】こうして、位置ずれを補正し、確実に実際
に使用されるトラック上で試験を行うことができる。本
実施例においても、前記実施例と同様な効果を得ること
ができる。
に使用されるトラック上で試験を行うことができる。本
実施例においても、前記実施例と同様な効果を得ること
ができる。
【００２１】
【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、実際に使用されるトラック上で試験を行うことがで
き、欠陥検出の有効性を向上させることができる。ま
た、試験ゾーンをより適切な範囲に設定することがで
き、作業性を向上させることができる。
ば、実際に使用されるトラック上で試験を行うことがで
き、欠陥検出の有効性を向上させることができる。ま
た、試験ゾーンをより適切な範囲に設定することがで
き、作業性を向上させることができる。
【００２２】さらに、ＶＣＭキャリッジを用いたクロー
ズループ制御のため、ヘッドの振動制定時間を最適化す
ることができ、ステッピングモータ使用時の制定時間の
間タイマを必要とする方式に対して、処理時間の短縮化
を図ることができる。
ズループ制御のため、ヘッドの振動制定時間を最適化す
ることができ、ステッピングモータ使用時の制定時間の
間タイマを必要とする方式に対して、処理時間の短縮化
を図ることができる。
【図１】本発明の原理説明図
【図２】本発明の一実施例を示す図
【図３】本発明の他の実施例を示す図
【図４】従来例を示す図
【図５】欠陥検出の説明図
２１：被試験用の円板 ２２：スピンドル軸 ２３：スピンドルモータ ２４：磁気ヘッド ２５，３０：ヘッドアーム ２６：ＶＣＭキャリッジ ２７：ボイスコイルモータ ２８：サーボ円板 ２９：サーボヘッド ３１：位置決め制御回路 ３２：位置ずれ検出回路 ３３：オフセット発生回路
Claims (2)
- 【請求項１】スピンドルモータにより回転駆動されるス
ピンドル軸に被試験用の円板を装着し、磁気ヘッドを用
いて円板に試験用の周波数波形を書き込み、周波数波形
のひずみを検出することで円板の欠陥を検出する単板試
験機において、前記円板の下側の位置で前記スピンドル軸に固定され 位
置情報を書き込んだサーボ円板と、該サーボ円板より前記 位置情報を読み取るサーボヘッド
と、該サーボヘッドおよび前記磁気ヘッドをその先端に装着
したヘッドアームが固定されるとともにボイスコイルモ
ータで駆動されるキャリッジと、 前記サーボヘッドで読み取った位置情報に基づいて前記
ボイスコイルモータを介して該キャリッジの位置決め制
御を行う位置決め制御回路を設けたことを特徴をする単
板試験機。 - 【請求項２】前記磁気ヘッド（２４）の位置ずれを検出
する位置ずれ検出回路（３２）と、位置ずれを補正する
オフセット発生回路（３３）を追設したことを特徴とす
る請求項１の単板試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22935491A JP2642007B2 (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 単板試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22935491A JP2642007B2 (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 単板試験機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0574098A JPH0574098A (ja) | 1993-03-26 |
| JP2642007B2 true JP2642007B2 (ja) | 1997-08-20 |
Family
ID=16890852
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22935491A Expired - Fee Related JP2642007B2 (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 単板試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2642007B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4926738B2 (ja) * | 2007-02-02 | 2012-05-09 | 昭和電工株式会社 | 磁気記録媒体の検査装置及び磁気記録媒体の検査方法 |
| JP5042140B2 (ja) * | 2008-06-20 | 2012-10-03 | 昭和電工株式会社 | 磁気記録媒体の検査方法および磁気記録媒体の製造方法 |
-
1991
- 1991-09-10 JP JP22935491A patent/JP2642007B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0574098A (ja) | 1993-03-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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