JP2626239B2 - ルックアップテーブル用メモリ診断装置 - Google Patents
ルックアップテーブル用メモリ診断装置Info
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- JP2626239B2 JP2626239B2 JP2332104A JP33210490A JP2626239B2 JP 2626239 B2 JP2626239 B2 JP 2626239B2 JP 2332104 A JP2332104 A JP 2332104A JP 33210490 A JP33210490 A JP 33210490A JP 2626239 B2 JP2626239 B2 JP 2626239B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、画像データの色及び明るさ指標の少なくと
も一方を色及び明るさ情報の少なくとも一方に変換する
ために用いられるルックアップテーブルを格納するため
のルックアップテーブル用メモリに係り、特にルックア
ップテーブル用メモリの検査及び診断を行うためのルッ
クアップテーブル用メモリ診断装置に関する。
も一方を色及び明るさ情報の少なくとも一方に変換する
ために用いられるルックアップテーブルを格納するため
のルックアップテーブル用メモリに係り、特にルックア
ップテーブル用メモリの検査及び診断を行うためのルッ
クアップテーブル用メモリ診断装置に関する。
［従来の技術］ ラスタスキャン型のグラフィックディスプレイは、一
般に、１秒間に数十回程度表示画面全体にラスタ（輝
線）を走査する。そのため、１画素の走査に要する時間
は非常に短い。ルックアップテーブルは、表示に際し
て、表示画像情報格納用のフレームメモリから読み出さ
れる各画素の色及び明るさの指標を表示のための各画素
の色及び明るさの情報に変換して出力する機能を有する
一種のテーブルで、メモリに格納される。このルックア
ップテーブルを格納するルックアップテーブル用メモリ
も、ラスタ走査における１画素の走査に要する時間に準
じて非常に短い読出し時間が要求される。この読出し時
間は表示画面を構成する画素が多くなる程短くなり、20
48×2048画素の走査を60Hzで行う場合は、１画素あたり
約4nsec（ナノ秒）という高速になる。このため実際に
は、多くの場合、ルックアップテーブル用メモリとして
複数の組のメモリを用意して、これらに同一内容を書き
込んでおき、複数画素の色及び明るさ情報を並列に出力
する手法がとられる。このようなルックアップテーブル
用メモリの構成の特殊性と高速読出しの必要性とから、
ルックアップテーブル用メモリの検査及び診断には、一
般のメモリと同様の検査及び診断の手法が利用できない
ことが多い。従って、ルックアップテーブル用メモリの
従来の診断には、全画素に同一の又は同一パターンの繰
り返しの色及び明るさ情報を与えておき、オシロスコー
プ等の測定器によって出力される内容を確認する方法が
用いられている。
般に、１秒間に数十回程度表示画面全体にラスタ（輝
線）を走査する。そのため、１画素の走査に要する時間
は非常に短い。ルックアップテーブルは、表示に際し
て、表示画像情報格納用のフレームメモリから読み出さ
れる各画素の色及び明るさの指標を表示のための各画素
の色及び明るさの情報に変換して出力する機能を有する
一種のテーブルで、メモリに格納される。このルックア
ップテーブルを格納するルックアップテーブル用メモリ
も、ラスタ走査における１画素の走査に要する時間に準
じて非常に短い読出し時間が要求される。この読出し時
間は表示画面を構成する画素が多くなる程短くなり、20
48×2048画素の走査を60Hzで行う場合は、１画素あたり
約4nsec（ナノ秒）という高速になる。このため実際に
は、多くの場合、ルックアップテーブル用メモリとして
複数の組のメモリを用意して、これらに同一内容を書き
込んでおき、複数画素の色及び明るさ情報を並列に出力
する手法がとられる。このようなルックアップテーブル
用メモリの構成の特殊性と高速読出しの必要性とから、
ルックアップテーブル用メモリの検査及び診断には、一
般のメモリと同様の検査及び診断の手法が利用できない
ことが多い。従って、ルックアップテーブル用メモリの
従来の診断には、全画素に同一の又は同一パターンの繰
り返しの色及び明るさ情報を与えておき、オシロスコー
プ等の測定器によって出力される内容を確認する方法が
用いられている。
［発明が解決しようとする課題］ 上述のような従来の検査及び診断技術では、ルックア
ップテーブル用メモリにオシロスコープ等の測定器を接
続して確認しなければならないという問題点があった。
また、画素に与える色及び明るさ情報が均一であるか、
又は同一パターンの繰り返しであるため、検査可能なメ
モリの読出しタイミングの組み合わせが限られてしまう
という問題点があった。
ップテーブル用メモリにオシロスコープ等の測定器を接
続して確認しなければならないという問題点があった。
また、画素に与える色及び明るさ情報が均一であるか、
又は同一パターンの繰り返しであるため、検査可能なメ
モリの読出しタイミングの組み合わせが限られてしまう
という問題点があった。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであっ
て、測定器等を用いることなく簡易に、しかもメモリの
読出しタイミングの組み合わせによる制限のないルック
アップテーブル用メモリ装置を提供することを目的とす
る。
て、測定器等を用いることなく簡易に、しかもメモリの
読出しタイミングの組み合わせによる制限のないルック
アップテーブル用メモリ装置を提供することを目的とす
る。
［課題を解決するための手段］ 本発明に係るルックアップテーブル用メモリ診断装置
は、０でない任意の色及び明るさ指標の少なくとも一方
を有する幅１画素と幅Ｎ（Ｎは自然数）画素とのパター
ンを間に１画素ずつあけて交互に且つ順次Ｎを変化させ
て画面上の第１の方向に対応させて配列し、画面上の第
２の方向には前記第１の方向の配列を１画素ずつ前記第
１の方向にずらせて順次配列したテストパターンが予め
格納されるフレームメモリと、このフレームメモリから
出力される色及び明るさ指標の少なくとも一方の情報が
入力されてそれに対応する色及び明るさ情報の信号を出
力する検査対象となるルックアップテーブルが格納され
るルックアップテーブル用メモリと、このルックアップ
テーブル用メモリから出力される前記色及び明るさの少
なくとも一方の情報をビデオ信号に変換する信号変換手
段と、前記ビデオ信号を受けて前記テストパターンの画
像を表示する表示手段とを具備することを特徴とする。
は、０でない任意の色及び明るさ指標の少なくとも一方
を有する幅１画素と幅Ｎ（Ｎは自然数）画素とのパター
ンを間に１画素ずつあけて交互に且つ順次Ｎを変化させ
て画面上の第１の方向に対応させて配列し、画面上の第
２の方向には前記第１の方向の配列を１画素ずつ前記第
１の方向にずらせて順次配列したテストパターンが予め
格納されるフレームメモリと、このフレームメモリから
出力される色及び明るさ指標の少なくとも一方の情報が
入力されてそれに対応する色及び明るさ情報の信号を出
力する検査対象となるルックアップテーブルが格納され
るルックアップテーブル用メモリと、このルックアップ
テーブル用メモリから出力される前記色及び明るさの少
なくとも一方の情報をビデオ信号に変換する信号変換手
段と、前記ビデオ信号を受けて前記テストパターンの画
像を表示する表示手段とを具備することを特徴とする。
［作用］ 本発明のルックアップテーブル用メモリ診断装置にお
いては、フレームメモリに予め所定の画像パターンを有
するテストパターンに従った色及び明るさの少なくとも
一方の指標データを格納しておき、このフレームメモリ
内蔵の前記指標データをルックアップテーブル用メモリ
を介してそのルックアップテーブルの色及び明るさの少
なくとも一方の信号の正誤の反映されたテストパターン
として前記表示装置に表示するので、別途の測定器等を
必要とせずオペレータの目視により簡易にルックアップ
テーブル用メモリの検査及び診断を行うことができる。
特に、前記テストパターンを、０でない任意の色及び明
るさ指標の少なくとも一方を有する幅１画素と幅Ｎ（Ｎ
は自然数、即ちＮ＝1,2,3,…）画素とのパターンを間に
１画素ずつあけて交互に且つ順次Ｎを１ずつ変化させて
画面上の第１の方向に対応させて配列し、画面上の第２
の方向には前記第１の方向の配列を１画素ずつ前記第１
の方向にずらして順次配列したテストパターンとするこ
とにより上述のオペレータによる目視確認は容易にな
る。
いては、フレームメモリに予め所定の画像パターンを有
するテストパターンに従った色及び明るさの少なくとも
一方の指標データを格納しておき、このフレームメモリ
内蔵の前記指標データをルックアップテーブル用メモリ
を介してそのルックアップテーブルの色及び明るさの少
なくとも一方の信号の正誤の反映されたテストパターン
として前記表示装置に表示するので、別途の測定器等を
必要とせずオペレータの目視により簡易にルックアップ
テーブル用メモリの検査及び診断を行うことができる。
特に、前記テストパターンを、０でない任意の色及び明
るさ指標の少なくとも一方を有する幅１画素と幅Ｎ（Ｎ
は自然数、即ちＮ＝1,2,3,…）画素とのパターンを間に
１画素ずつあけて交互に且つ順次Ｎを１ずつ変化させて
画面上の第１の方向に対応させて配列し、画面上の第２
の方向には前記第１の方向の配列を１画素ずつ前記第１
の方向にずらして順次配列したテストパターンとするこ
とにより上述のオペレータによる目視確認は容易にな
る。
［実施例］ 以下、添付の図面を参照して、本発明の実施例につい
て説明する。
て説明する。
第１図は、本発明の一実施例に係るルックアップテー
ブル用メモリ診断技術が採用されるラスタスキャン型の
グラフィックディスプレイ装置の構成を示す。第２図は
同実施例における画素並びの説明図、第３図は同実施例
におけるルックアップテーブル用メモリの説明図、第４
図は同実施例におけるテストパターンの説明図である。
ブル用メモリ診断技術が採用されるラスタスキャン型の
グラフィックディスプレイ装置の構成を示す。第２図は
同実施例における画素並びの説明図、第３図は同実施例
におけるルックアップテーブル用メモリの説明図、第４
図は同実施例におけるテストパターンの説明図である。
第１図において、フレームメモリ１内にはテストパタ
ーン（詳細は後述する）を形成する色及び明るさ指標を
含む画像情報が格納されており、その画素信号がルック
アップテーブル（以下、「LUT」と称する）用メモリ２
に与えられ、このLUT用メモリ２に格納されたLUTによっ
て前記画素信号の色及び明るさ指標に対応する色及び明
るさ情報に変換されて信号変換手段としてのD/A（ディ
ジタル−アナログ）コンバータ３へ出力される。色及び
明るさ情報はD/Aコンバータ３でビデオ信号に変換され
て表示手段としてのCRT（陰極線管）４へ出力される。
ーン（詳細は後述する）を形成する色及び明るさ指標を
含む画像情報が格納されており、その画素信号がルック
アップテーブル（以下、「LUT」と称する）用メモリ２
に与えられ、このLUT用メモリ２に格納されたLUTによっ
て前記画素信号の色及び明るさ指標に対応する色及び明
るさ情報に変換されて信号変換手段としてのD/A（ディ
ジタル−アナログ）コンバータ３へ出力される。色及び
明るさ情報はD/Aコンバータ３でビデオ信号に変換され
て表示手段としてのCRT（陰極線管）４へ出力される。
第２図はフレームメモリ１内の画素並びの状態を示し
ており、フレームメモリ１の画素信号は、１−1,1−2,1
−3,…,1−n,2−1,2−2,…,m−1,m−ｎの順にフレーム
メモリ１からLUT用メモリ２へ出力される。
ており、フレームメモリ１の画素信号は、１−1,1−2,1
−3,…,1−n,2−1,2−2,…,m−1,m−ｎの順にフレーム
メモリ１からLUT用メモリ２へ出力される。
第３図はLUT用メモリ２の構成の一例を示しており、
この例ではLUT用メモリ２はメモリブロック５、６、７
及び８の４つのメモリブロックから構成されている。フ
レームメモリ１から同時に４画素分の画素信号（第３図
では画素信号９、10、11及び12が示されている）が読み
出され、夫々LUT用メモリ２のメモリブロック５、６、
７及び８に入力される。
この例ではLUT用メモリ２はメモリブロック５、６、７
及び８の４つのメモリブロックから構成されている。フ
レームメモリ１から同時に４画素分の画素信号（第３図
では画素信号９、10、11及び12が示されている）が読み
出され、夫々LUT用メモリ２のメモリブロック５、６、
７及び８に入力される。
第２図に示す画素１−1,1−5,1−9,…ｉ−（4j＋１）
（ｉ＝１〜ｍ、ｊ＝０〜（ｎ−１）/4）は画素信号９と
してメモリブロック５に、画素１−2,1−6,…ｉ−（4j
＋２）は画素信号10としてメモリブロック６に、画素１
−3,1−7,…ｉ−（4j＋３）は画素信号11としてメモリ
ブロック７に、そして画素１−4,1−8,…ｉ−（4j＋
４）は画素信号12としてメモリブロック８に、夫々順次
入力される。各画素信号９〜12の入力に従ったタイミン
グで、色及び明るさ情報信号13〜16がD/Aコンバータ３
へ出力される。この場合、４画素分同時に入力及び出力
されるため、LUT用メモリ２の各メモリブロック５、
６、７及び８の読出し時間は、１画素分走査時間の４倍
までかかってもよいことになる。
（ｉ＝１〜ｍ、ｊ＝０〜（ｎ−１）/4）は画素信号９と
してメモリブロック５に、画素１−2,1−6,…ｉ−（4j
＋２）は画素信号10としてメモリブロック６に、画素１
−3,1−7,…ｉ−（4j＋３）は画素信号11としてメモリ
ブロック７に、そして画素１−4,1−8,…ｉ−（4j＋
４）は画素信号12としてメモリブロック８に、夫々順次
入力される。各画素信号９〜12の入力に従ったタイミン
グで、色及び明るさ情報信号13〜16がD/Aコンバータ３
へ出力される。この場合、４画素分同時に入力及び出力
されるため、LUT用メモリ２の各メモリブロック５、
６、７及び８の読出し時間は、１画素分走査時間の４倍
までかかってもよいことになる。
第４図は、フレームメモリ１内に格納されるテストパ
ターンを示しており、白と黒の部分が異なった色又は明
るさをとる。画素１−１には黒、画素１−２には白、画
素１−３には黒、画素１−４には白の示す色又は明るさ
が画素信号に与えられる。同様に、画素１−５には黒、
画素１−６には白、画素１−７と１−８には黒、…画素
２−１には白、画素２−２には黒、…以下順次同様の色
又は明るさが各画素信号に与えられる。
ターンを示しており、白と黒の部分が異なった色又は明
るさをとる。画素１−１には黒、画素１−２には白、画
素１−３には黒、画素１−４には白の示す色又は明るさ
が画素信号に与えられる。同様に、画素１−５には黒、
画素１−６には白、画素１−７と１−８には黒、…画素
２−１には白、画素２−２には黒、…以下順次同様の色
又は明るさが各画素信号に与えられる。
即ち、幅１画素と幅Ｎ（Ｎ＝1,2,3,…：自然数）画素
とのパターンを、夫々１画素ずつあけて交互に、且つ順
次Ｎを１ずつ増加させつつ、左から右へ並べ、縦方向に
は同様に形成される行を順次１画素ずつ左へずらしたパ
ターンを並べる。
とのパターンを、夫々１画素ずつあけて交互に、且つ順
次Ｎを１ずつ増加させつつ、左から右へ並べ、縦方向に
は同様に形成される行を順次１画素ずつ左へずらしたパ
ターンを並べる。
このようにすれば、フレームメモリ１に第４図に示す
ようなフォーマットのテストパターンを格納し、これを
読み出してLUT用メモリ２で変換してCRT4に表示させる
ため、LUT用メモリ２を構成する各メモリブロック５〜
８へ入力される画素信号の各種の組み合わせを評価する
ことができ、更にこの場合実際にCRT4に表示されるパタ
ーンは右上から左下への45°の傾きの直線で構成される
ため、LUT用メモリ２からの出力信号の状態が目視によ
って容易に確認できる。
ようなフォーマットのテストパターンを格納し、これを
読み出してLUT用メモリ２で変換してCRT4に表示させる
ため、LUT用メモリ２を構成する各メモリブロック５〜
８へ入力される画素信号の各種の組み合わせを評価する
ことができ、更にこの場合実際にCRT4に表示されるパタ
ーンは右上から左下への45°の傾きの直線で構成される
ため、LUT用メモリ２からの出力信号の状態が目視によ
って容易に確認できる。
本発明は、上述の実施例に限定されず、例えば、表示
手段としてCRT4以外の液晶表示装置等の表示装置を用い
ることもでき、テストパターンとして第４図に示される
テストパターン以外のテストパターンを用いることもで
き、またLUTを色及び明るさの両方又はいずれか一方の
情報の変換を行うものとする等、本発明の要旨を変更し
ない範囲内で種々変形して実施することができる。
手段としてCRT4以外の液晶表示装置等の表示装置を用い
ることもでき、テストパターンとして第４図に示される
テストパターン以外のテストパターンを用いることもで
き、またLUTを色及び明るさの両方又はいずれか一方の
情報の変換を行うものとする等、本発明の要旨を変更し
ない範囲内で種々変形して実施することができる。
［発明の効果］ 以上述べたように、本発明によれば、フレームメモリ
に種々の画素信号の組み合わせを表現し得ると共に目視
により容易に異常を確認し得るテストパターンを格納
し、このテストパターンを読み出してLUT用メモリを介
して表示するようにしたので、LUT用メモリに入力され
る画素信号の各種の組み合わせパターンについてLUT用
メモリを検査及び評価をすることができ、更に表示され
るパターンによりLUT用メモリからの出力信号の状態を
目視によって容易に確認することができるルックアップ
テーブル用メモリ診断装置を提供することができる。
に種々の画素信号の組み合わせを表現し得ると共に目視
により容易に異常を確認し得るテストパターンを格納
し、このテストパターンを読み出してLUT用メモリを介
して表示するようにしたので、LUT用メモリに入力され
る画素信号の各種の組み合わせパターンについてLUT用
メモリを検査及び評価をすることができ、更に表示され
るパターンによりLUT用メモリからの出力信号の状態を
目視によって容易に確認することができるルックアップ
テーブル用メモリ診断装置を提供することができる。
第１図は本発明の一実施例に係るルックアップテーブル
用メモリ診断技術が採用されるラスタスキャン型のグラ
フィックディスプレイ装置の構成を示すブロック図、第
２図は第１図のフレームメモリにおける画素並びの説明
図、第３図は第１図のルックアップテーブル（LUT）用
メモリにおけるメモリブロックの構成を模式的に示す
図、第４図は第１図のフレームメモリに格納されるテス
トパターンを模式的に示す図である。 1;フレームメモリ、2;ルックアップテーブル（LUT）用
メモリ、3;D/Aコンバータ、4;CRT、５〜8;メモリブロッ
ク
用メモリ診断技術が採用されるラスタスキャン型のグラ
フィックディスプレイ装置の構成を示すブロック図、第
２図は第１図のフレームメモリにおける画素並びの説明
図、第３図は第１図のルックアップテーブル（LUT）用
メモリにおけるメモリブロックの構成を模式的に示す
図、第４図は第１図のフレームメモリに格納されるテス
トパターンを模式的に示す図である。 1;フレームメモリ、2;ルックアップテーブル（LUT）用
メモリ、3;D/Aコンバータ、4;CRT、５〜8;メモリブロッ
ク
Claims (1)
- 【請求項１】０でない任意の色及び明るさ指標の少なく
とも一方を有する幅１画素と幅Ｎ（Ｎは自然数）画素と
のパターンを間に１画素ずつあけて交互に且つ順次Ｎを
変化させて画面上の第１の方向に対応させて配列し、画
面上の第２の方向には前記第１の方向の配列を１画素ず
つ前記第１の方向にずらして順次配列したテストパター
ンが予め格納されるフレームメモリと、このフレームメ
モリから出力される色及び明るさ指標の少なくとも一方
の情報が入力されてそれに対応する色及び明るさ情報の
信号を出力する検査対象となるルックアップテーブルが
格納されるルックアップテーブル用メモリと、このルッ
クアップテーブル用メモリから出力される前記色及び明
るさの少なくとも一方の情報をビデオ信号に変換する信
号変換手段と、前記ビデオ信号を受けて前記テストパタ
ーンの画像を表示する表示手段とを具備することを特徴
とするルックアップテーブル用メモリ診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2332104A JP2626239B2 (ja) | 1990-11-28 | 1990-11-28 | ルックアップテーブル用メモリ診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2332104A JP2626239B2 (ja) | 1990-11-28 | 1990-11-28 | ルックアップテーブル用メモリ診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04195191A JPH04195191A (ja) | 1992-07-15 |
| JP2626239B2 true JP2626239B2 (ja) | 1997-07-02 |
Family
ID=18251199
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2332104A Expired - Fee Related JP2626239B2 (ja) | 1990-11-28 | 1990-11-28 | ルックアップテーブル用メモリ診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2626239B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63282785A (ja) * | 1987-05-15 | 1988-11-18 | 富士通株式会社 | 表示デ−タ折返しテスト方式 |
-
1990
- 1990-11-28 JP JP2332104A patent/JP2626239B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04195191A (ja) | 1992-07-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080411 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090411 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100411 Year of fee payment: 13 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |