JP2603454Y2 - 光パルス試験装置 - Google Patents
光パルス試験装置Info
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- JP2603454Y2 JP2603454Y2 JP1993050770U JP5077093U JP2603454Y2 JP 2603454 Y2 JP2603454 Y2 JP 2603454Y2 JP 1993050770 U JP1993050770 U JP 1993050770U JP 5077093 U JP5077093 U JP 5077093U JP 2603454 Y2 JP2603454 Y2 JP 2603454Y2
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- optical
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- pulse
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は、光線路敷設時に行わ
れる、通信光と同じ波長帯での試験作業を容易にする光
パルス試験装置に関するものである。
れる、通信光と同じ波長帯での試験作業を容易にする光
パルス試験装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光通信システムの高度化、大容量化に伴
い、光線路の敷設時および通信時の、光線路の故障、劣
化に対する監視が重要になってきている。現在、実用化
されている光線路監視システムは、通信に使用している
線路を常時監視するため、通信波長と異なる波長帯の光
パルス試験装置を用い、通信している線路を監視してい
る。図４に従来の光線路監視システムを示す。このよう
なシステムでは、光パルス試験装置１３の監視光が通信
系の受信装置１５に受光されないように、通信光の波長
帯１．３１μｍを通過させる光フィルター１４が受信装
置１５の前に設置される。同様に、通信光の後方散乱光
が、光パルス試験装置１３による測定を妨げないよう
に、光パルス試験装置１３の前に、監視光の波長帯１．
５５μｍを通過させる光フィルタ１２が設置される。図
５に従来の２波長用光パルス試験装置のブロック図を示
す。この装置の光学系には受光部８の前に光フィルタが
ないため、複数の波長の光パルスを被測定ファイバ４に
送信しながら光ファイバの状態を試験できず、外部に光
フィルタを接続する必要がある。
い、光線路の敷設時および通信時の、光線路の故障、劣
化に対する監視が重要になってきている。現在、実用化
されている光線路監視システムは、通信に使用している
線路を常時監視するため、通信波長と異なる波長帯の光
パルス試験装置を用い、通信している線路を監視してい
る。図４に従来の光線路監視システムを示す。このよう
なシステムでは、光パルス試験装置１３の監視光が通信
系の受信装置１５に受光されないように、通信光の波長
帯１．３１μｍを通過させる光フィルター１４が受信装
置１５の前に設置される。同様に、通信光の後方散乱光
が、光パルス試験装置１３による測定を妨げないよう
に、光パルス試験装置１３の前に、監視光の波長帯１．
５５μｍを通過させる光フィルタ１２が設置される。図
５に従来の２波長用光パルス試験装置のブロック図を示
す。この装置の光学系には受光部８の前に光フィルタが
ないため、複数の波長の光パルスを被測定ファイバ４に
送信しながら光ファイバの状態を試験できず、外部に光
フィルタを接続する必要がある。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】ところで、線路敷設時
においての、光パルス試験装置による光線路の特性評価
では、監視波長に加え、通信波長についても行われる。
その時、光パルス試験装置の直前に監視光のための光フ
ィルタがあると通信波長での光パルス試験が行えない。
そのため、光フィルタをはずす作業が必要となり、自動
測定ができず、作業に手間がかかるという問題があっ
た。本考案は、光パルス試験装置による光線路の特性評
価で、監視波長と通信波長の両方について、試験作業を
簡単な操作のみで実行できる光パルス試験装置を実現す
ることを目的としている。
においての、光パルス試験装置による光線路の特性評価
では、監視波長に加え、通信波長についても行われる。
その時、光パルス試験装置の直前に監視光のための光フ
ィルタがあると通信波長での光パルス試験が行えない。
そのため、光フィルタをはずす作業が必要となり、自動
測定ができず、作業に手間がかかるという問題があっ
た。本考案は、光パルス試験装置による光線路の特性評
価で、監視波長と通信波長の両方について、試験作業を
簡単な操作のみで実行できる光パルス試験装置を実現す
ることを目的としている。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本考案の光パルス試験装置では、装置内部に波長帯
の異なる複数のパルス光源を持っている。パルス光源の
波長帯としては、例えば、通信光の波長帯１．３１μｍ
や、監視光の波長帯１．５５μｍがある。そして、光パ
ルス試験装置は、被測定ファイバから方向性結合器に戻
ってくる通信光の後方散乱光と監視光の後方散乱光を分
離する、各パルスを透過し、異なる波長の光パルスを遮
断する光フィルタを持っている。光パルス試験装置は、
各光フィルタからの光のうち、発光しているパルス光源
の波長を選択する切り換え手段として、光スイッチ、電
気的スイッチ、透過周波数切り換え式光フィルタのうち
どれかを持っている。
に、本考案の光パルス試験装置では、装置内部に波長帯
の異なる複数のパルス光源を持っている。パルス光源の
波長帯としては、例えば、通信光の波長帯１．３１μｍ
や、監視光の波長帯１．５５μｍがある。そして、光パ
ルス試験装置は、被測定ファイバから方向性結合器に戻
ってくる通信光の後方散乱光と監視光の後方散乱光を分
離する、各パルスを透過し、異なる波長の光パルスを遮
断する光フィルタを持っている。光パルス試験装置は、
各光フィルタからの光のうち、発光しているパルス光源
の波長を選択する切り換え手段として、光スイッチ、電
気的スイッチ、透過周波数切り換え式光フィルタのうち
どれかを持っている。
【０００５】
【作用】上記のように構成された光パルス試験装置は、
外部にフィルタを付加することなく、光ファイバによる
通信システムが通信波長λ１で実際に通信状態であって
も通信波長と異なる波長λ２のパルス光源のみを発光さ
せて前記光ファイバの試験をすることができ、または敷
設時であっても通信波長と同じ波長λ１のパルス光源の
みを発光させて光ファイバの試験ができる。
外部にフィルタを付加することなく、光ファイバによる
通信システムが通信波長λ１で実際に通信状態であって
も通信波長と異なる波長λ２のパルス光源のみを発光さ
せて前記光ファイバの試験をすることができ、または敷
設時であっても通信波長と同じ波長λ１のパルス光源の
みを発光させて光ファイバの試験ができる。
【０００６】
【実施例】（実施例１） 実施例１について図１を参照して説明する。まず、通信
光の波長をλ1 、監視光の波長をλ2 とする。監視時に
は、光パルス試験装置のパルス光源１のうちλ2 のみが
発光し、光パルスが、合波器２、方向性結合器３を通
り、被測定ファイバ４に入る。被測定ファイバ４から
は、λ2 の監視光の後方散乱光と、λ1 の通信光の後方
散乱光が、方向性結合器３に戻ってくる。λ2 とλ1 の
各後方散乱光は、分波器５へ入り、λ2 とλ1 に分離す
る。分波器５は、光フィルタの一種であるが、異なる波
長帯を除去する分離が充分でない場合が多いため、必要
帯域を透過する光フィルタ６を通す。各光フィルタ６を
通過した光は、ここで充分に監視光の後方散乱光と通信
光の後方散乱光に分離され、各々光スイッチ７に入る。
光スイッチ７は、パルス光源の波長と同じ波長を選択
し、監視光の後方散乱光λ2 のみが受光器８に入り測定
する。
光の波長をλ1 、監視光の波長をλ2 とする。監視時に
は、光パルス試験装置のパルス光源１のうちλ2 のみが
発光し、光パルスが、合波器２、方向性結合器３を通
り、被測定ファイバ４に入る。被測定ファイバ４から
は、λ2 の監視光の後方散乱光と、λ1 の通信光の後方
散乱光が、方向性結合器３に戻ってくる。λ2 とλ1 の
各後方散乱光は、分波器５へ入り、λ2 とλ1 に分離す
る。分波器５は、光フィルタの一種であるが、異なる波
長帯を除去する分離が充分でない場合が多いため、必要
帯域を透過する光フィルタ６を通す。各光フィルタ６を
通過した光は、ここで充分に監視光の後方散乱光と通信
光の後方散乱光に分離され、各々光スイッチ７に入る。
光スイッチ７は、パルス光源の波長と同じ波長を選択
し、監視光の後方散乱光λ2 のみが受光器８に入り測定
する。
【０００７】敷設時の試験における測定波長はλ1 であ
るが、その時通信は行わない。パルス光源１のうちλ1
が発光し、合波器２、方向性結合器３を通り被測定ファ
イバ４へ送る。被測定ファイバ４からの後方散乱光は、
方向性結合器３、分波器５のλ1 のポートを通り、光フ
ィルタ６のλ1 側を通り、光スイッチ７に入る。光スイ
ッチ７は、λ1 の方を選択し、受光器８には、λ1 の後
方散乱光が入り測定する。
るが、その時通信は行わない。パルス光源１のうちλ1
が発光し、合波器２、方向性結合器３を通り被測定ファ
イバ４へ送る。被測定ファイバ４からの後方散乱光は、
方向性結合器３、分波器５のλ1 のポートを通り、光フ
ィルタ６のλ1 側を通り、光スイッチ７に入る。光スイ
ッチ７は、λ1 の方を選択し、受光器８には、λ1 の後
方散乱光が入り測定する。
【０００８】次に、通信光の波長をλ2 、監視光の波長
をλ1 とする。光パルス試験装置のパルス光源１のうち
λ1 のみが発光し、光パルスが、合波器２、方向性結合
器３を通り、被測定ファイバ４に入る。被測定ファイバ
４からは、λ1 の監視光の後方散乱光と、λ2 の通信光
の後方散乱光が、方向性結合器３に戻ってくる。λ1と
λ2 の各散乱光は、分波器５へ入り、λ1 とλ2 に分離
し、更に、必要帯域を透過する光フィルタ６を通す。各
光フィルタ６を通過した光は、ここで充分に監視光の後
方散乱光と通信光の後方散乱光に分離され、各々光スイ
ッチ７に入る。光スイッチ７は、パルス光源の波長と同
じ波長を選択し、監視光の後方散乱光λ1 のみが受光器
８に入り測定する。
をλ1 とする。光パルス試験装置のパルス光源１のうち
λ1 のみが発光し、光パルスが、合波器２、方向性結合
器３を通り、被測定ファイバ４に入る。被測定ファイバ
４からは、λ1 の監視光の後方散乱光と、λ2 の通信光
の後方散乱光が、方向性結合器３に戻ってくる。λ1と
λ2 の各散乱光は、分波器５へ入り、λ1 とλ2 に分離
し、更に、必要帯域を透過する光フィルタ６を通す。各
光フィルタ６を通過した光は、ここで充分に監視光の後
方散乱光と通信光の後方散乱光に分離され、各々光スイ
ッチ７に入る。光スイッチ７は、パルス光源の波長と同
じ波長を選択し、監視光の後方散乱光λ1 のみが受光器
８に入り測定する。
【０００９】（実施例２） 実施例２について図２を参照して説明する。まず、通信
光の波長をλ1 、監視光の波長をλ2 とする。監視時に
は、光パルス試験装置のパルス光源１のうちλ2 のみが
発光し、光パルスが、合波器２、方向性結合器３を通
り、被測定ファイバ４に入る。被測定ファイバ４から
は、λ2 の監視光の後方散乱光と、λ1 の通信光の後方
散乱光が、方向性結合器３に戻ってくる。λ2 とλ1 の
後方散乱光は、透過周波数切り換え式光フィルタ９へ入
り、パルス光源１の波長と同じ波長を選択し、監視光の
後方散乱光λ2 のみが受光器８に入り測定する。
光の波長をλ1 、監視光の波長をλ2 とする。監視時に
は、光パルス試験装置のパルス光源１のうちλ2 のみが
発光し、光パルスが、合波器２、方向性結合器３を通
り、被測定ファイバ４に入る。被測定ファイバ４から
は、λ2 の監視光の後方散乱光と、λ1 の通信光の後方
散乱光が、方向性結合器３に戻ってくる。λ2 とλ1 の
後方散乱光は、透過周波数切り換え式光フィルタ９へ入
り、パルス光源１の波長と同じ波長を選択し、監視光の
後方散乱光λ2 のみが受光器８に入り測定する。
【００１０】（実施例３） 実施例３について図３を参照して説明する。まず、通信
光の波長をλ1 、監視光の波長をλ2 とする。監視時に
は、光パルス試験装置のパルス光源１のうちλ2 のみが
発光し、光パルスが、合波器２、方向性結合器３を通
り、被測定ファイバ４に入る。被測定ファイバ４から
は、λ2 の監視光の後方散乱光と、λ1 の通信光の後方
散乱光が、方向性結合器３に戻ってくる。λ2 とλ1 の
各後方散乱光は、分波器５へ入り、λ2 とλ1 に分離す
る。分波器５は、光フィルタの一種であるが、異なる波
長帯を除去する分離が充分でない場合が多いため、必要
帯域を透過する光フィルタ６を通す。各光フィルタ６を
通過した光は、ここで充分に監視光の後方散乱光と通信
光の後方散乱光に分離され、それぞれ別の受光器８に入
力する。それぞれの受光器で光電変換された電気信号
は、それぞれ電気的スイッチ１１に入る。電気的スイッ
チ１１は、パルス光源の波長と同じ波長を選択し、監視
光の後方散乱光λ２のみが増幅回路１０に入り測定す
る。
光の波長をλ1 、監視光の波長をλ2 とする。監視時に
は、光パルス試験装置のパルス光源１のうちλ2 のみが
発光し、光パルスが、合波器２、方向性結合器３を通
り、被測定ファイバ４に入る。被測定ファイバ４から
は、λ2 の監視光の後方散乱光と、λ1 の通信光の後方
散乱光が、方向性結合器３に戻ってくる。λ2 とλ1 の
各後方散乱光は、分波器５へ入り、λ2 とλ1 に分離す
る。分波器５は、光フィルタの一種であるが、異なる波
長帯を除去する分離が充分でない場合が多いため、必要
帯域を透過する光フィルタ６を通す。各光フィルタ６を
通過した光は、ここで充分に監視光の後方散乱光と通信
光の後方散乱光に分離され、それぞれ別の受光器８に入
力する。それぞれの受光器で光電変換された電気信号
は、それぞれ電気的スイッチ１１に入る。電気的スイッ
チ１１は、パルス光源の波長と同じ波長を選択し、監視
光の後方散乱光λ２のみが増幅回路１０に入り測定す
る。
【００１１】
【考案の効果】このように光パルス試験装置内に光フィ
ルタが内蔵されていれば、光パルス試験装置の外部に光
フィルタをつける必要がなくなり、そのため敷設時の測
定において光フィルタを取り外す作業が不要となり、自
動測定が可能になる。
ルタが内蔵されていれば、光パルス試験装置の外部に光
フィルタをつける必要がなくなり、そのため敷設時の測
定において光フィルタを取り外す作業が不要となり、自
動測定が可能になる。
【図１】本考案実施例１の光学系ブロック図である。
【図２】本考案実施例２の光学系ブロック図である。
【図３】本考案実施例３の光学系ブロック図である。
【図４】従来の光線路監視システムの構成図である。
【図５】従来の２波長用光パルス試験装置のブロック図
である。
である。
１ パルス光源 ２ 合波器 ３ 方向性結合器 ４ 被測定ファイバ ５ 分波器 ６、１２、１４ 光フィルタ ７ 光スイッチ ８ 受光器 ９ 透過周波数切り換え式光フィルタ １０ 増幅回路 １１ 電気的スイッチ １３ 光パルス試験装置 １５ 受信装置
Claims (1)
- 【請求項１】 光パルスを被測定ファイバへ送り、後
方散乱光を測定し被測定ファイバの損失や破断の障害を
分析する光パルス試験装置において、通信光と同じ波長帯のパルス光源と、該通信光の波長帯
と異なる波長帯の監視光のパルス光源との 複数のパルス
光源（１）と、 該波長帯の異なる複数のパルス光源（１）を合成する合
波器（２）と、 該合成器で合成された光パルスを受けて出力し、被測定
ファイバケーブルからの後方散乱光を取り出す方向性結
合器（３）と、 該後方散乱光の波長により分離する分波器と、該分波器により分離された各波長の パルスを透過し、異
なる波長の光パルスを遮断する複数の光フィルタ（６）
と、該複数の光フィルタ（６） からの光のうち、いずれかの
パルス光源の波長を選択する切り替え手段と、 を具備することを特徴とする光パルス試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993050770U JP2603454Y2 (ja) | 1993-08-25 | 1993-08-25 | 光パルス試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993050770U JP2603454Y2 (ja) | 1993-08-25 | 1993-08-25 | 光パルス試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0716138U JPH0716138U (ja) | 1995-03-17 |
| JP2603454Y2 true JP2603454Y2 (ja) | 2000-03-13 |
Family
ID=12868072
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1993050770U Expired - Fee Related JP2603454Y2 (ja) | 1993-08-25 | 1993-08-25 | 光パルス試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2603454Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022167095A (ja) * | 2021-04-22 | 2022-11-04 | 横河電機株式会社 | 光パルス試験器 |
-
1993
- 1993-08-25 JP JP1993050770U patent/JP2603454Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0716138U (ja) | 1995-03-17 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19991207 |
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