JP2597779Y2 - テストヘッド・スライド機構 - Google Patents
テストヘッド・スライド機構Info
- Publication number
- JP2597779Y2 JP2597779Y2 JP1993057926U JP5792693U JP2597779Y2 JP 2597779 Y2 JP2597779 Y2 JP 2597779Y2 JP 1993057926 U JP1993057926 U JP 1993057926U JP 5792693 U JP5792693 U JP 5792693U JP 2597779 Y2 JP2597779 Y2 JP 2597779Y2
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- Japan
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- test head
- point
- cable
- test
- link mechanism
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Transmission Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】半導体試験装置においてテストヘ
ッドを床面に対し平行移動し、多数のケーブルを積載し
たテストヘッド・スライド機構に関する。
ッドを床面に対し平行移動し、多数のケーブルを積載し
たテストヘッド・スライド機構に関する。
【0002】
【従来の技術】従来技術を半導体試験装置を例にして説
明する。試験装置本体とデバイス試験部であるテストヘ
ッド部との間には、デバイスのピン数に対応して多数の
信号ケーブルが接続されている。近年とみにVLSIデ
バイスなどに見られるように、デバイスのピン数は増加
の一途をたどり、これに伴いこのケーブル量も増加しそ
の重量も多大なものになってきている。一方、テストヘ
ッド部は使用者側でハンドラやプローバなどと組み合わ
せて使用されるために、テストヘッド低面部にキャスタ
を設けケーブルの届く範囲で移動できる構造となってい
る。
明する。試験装置本体とデバイス試験部であるテストヘ
ッド部との間には、デバイスのピン数に対応して多数の
信号ケーブルが接続されている。近年とみにVLSIデ
バイスなどに見られるように、デバイスのピン数は増加
の一途をたどり、これに伴いこのケーブル量も増加しそ
の重量も多大なものになってきている。一方、テストヘ
ッド部は使用者側でハンドラやプローバなどと組み合わ
せて使用されるために、テストヘッド低面部にキャスタ
を設けケーブルの届く範囲で移動できる構造となってい
る。
【0003】この状況下でテストヘッド部を移動する方
法を図5,図6,図7に示す。図5は、ある人がテスト
ヘッドを移動させ、それに伴い、他の複数人がケーブル
を持ち上げて一緒になってケーブルを移動する状態を示
している。図6はテストヘッドは固定したままに置き、
ハンドラやプローバなど周辺装置の方を移動させる方法
を示している。又、図7はケーブルをテンショナーで支
えながら、テストヘッドを移動する状態を示している。
法を図5,図6,図7に示す。図5は、ある人がテスト
ヘッドを移動させ、それに伴い、他の複数人がケーブル
を持ち上げて一緒になってケーブルを移動する状態を示
している。図6はテストヘッドは固定したままに置き、
ハンドラやプローバなど周辺装置の方を移動させる方法
を示している。又、図7はケーブルをテンショナーで支
えながら、テストヘッドを移動する状態を示している。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】ケーブル量が多大にな
るとその重量たるものは膨大なものとなり、これに伴い
上記に説明した従来方法では以下にあげる問題を有す
る。 (1)ケーブル量が増加するとケーブルは自由に曲げる
ことが難しく、ケーブルに無理な曲げや張力が掛かり、
ケーブルの破損が発生する。 (2)ケーブルの重量の増加に伴い、多数の人手を必要
とする。 (3)テンショナーを用いた場合、滑車近傍のケーブル
に自重により大きな張力が掛かり、断線するケーブルが
発生する。 (4)周辺装置の方を移動させると、移動の際に発生す
る振動などにより長年機械的精密度を保つのに不適切で
ある。本考案はこれらの問題を解決するための装置を提
供することを目的とする。
るとその重量たるものは膨大なものとなり、これに伴い
上記に説明した従来方法では以下にあげる問題を有す
る。 (1)ケーブル量が増加するとケーブルは自由に曲げる
ことが難しく、ケーブルに無理な曲げや張力が掛かり、
ケーブルの破損が発生する。 (2)ケーブルの重量の増加に伴い、多数の人手を必要
とする。 (3)テンショナーを用いた場合、滑車近傍のケーブル
に自重により大きな張力が掛かり、断線するケーブルが
発生する。 (4)周辺装置の方を移動させると、移動の際に発生す
る振動などにより長年機械的精密度を保つのに不適切で
ある。本考案はこれらの問題を解決するための装置を提
供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】2組の装置間のケーブル
23をケーブル処理リンク機構21上に積載する。リン
ク機構21は2組の梯子形状或いはコロコン形状のケー
ブル支え19,20からなり、お互いの一端を繋ぎ合わ
せこの点をB点32とする。2組のケーブル支え19,
20はB点32を中心として回転できる構造とする。更
にB点32はできるだけ線で支えるのではなく、ある程
度半径のある円筒形状の構造物22で支える。次に1組
のケーブル支え19は、その他端を可動するテストヘッ
ド12の一端に接続する。この点をA点31とする。該
ケーブル支えはA点31を中心に回転できる構造とす
る。他の1組のケーブル支え20の他端は試験装置本体
11側の床面に固定された装置の一端に接続する。この
点をC点33とする。該ケーブル支え20はC点33を
中心として回転できる構造とする。
23をケーブル処理リンク機構21上に積載する。リン
ク機構21は2組の梯子形状或いはコロコン形状のケー
ブル支え19,20からなり、お互いの一端を繋ぎ合わ
せこの点をB点32とする。2組のケーブル支え19,
20はB点32を中心として回転できる構造とする。更
にB点32はできるだけ線で支えるのではなく、ある程
度半径のある円筒形状の構造物22で支える。次に1組
のケーブル支え19は、その他端を可動するテストヘッ
ド12の一端に接続する。この点をA点31とする。該
ケーブル支えはA点31を中心に回転できる構造とす
る。他の1組のケーブル支え20の他端は試験装置本体
11側の床面に固定された装置の一端に接続する。この
点をC点33とする。該ケーブル支え20はC点33を
中心として回転できる構造とする。
【0006】テストヘッド支持台13にはモータ14を
取付け、支持台13の側面内側にはモータに連結され、
モータによって正転逆転するピニオンギヤ15を配置す
る。さらに支持台13側面内側にはリニアガイド16を
複数取り付ける。テストヘッド12側面にはラック18
を取付け、更に両側面にはレール17を取付る。
取付け、支持台13の側面内側にはモータに連結され、
モータによって正転逆転するピニオンギヤ15を配置す
る。さらに支持台13側面内側にはリニアガイド16を
複数取り付ける。テストヘッド12側面にはラック18
を取付け、更に両側面にはレール17を取付る。
【0007】
【作用】テストヘッド支持台13に取り付けられたモー
タ14が正転したとき、テストヘッド12は外側(試験
装置本体11から遠ざかる方向)に移動し、逆転したと
きは内側(試験装置本体11に近ずく方向)に移動する
ものとする。モータ14が作動し正転すると、これに連
結されたピニオンギヤ15が正転する。ピニオンギヤ1
5はテストヘッド12に取り付けられたラック18とか
み合っている。テストヘッドを移動させるのはこのピニ
オンギヤの回転力をラックに伝え直線運動力に変換する
ことによる。これによりラック18を外側に押し出す。
即ちテストヘッド12も外側に床面に対し平行に移動す
る。リニアガイド16とリニアガイド16のコの字状の
くぼみ部分に合致したレール17とはテストヘッド17
本体を支え、且つ、その作用により摩擦係数を小さく
し、モータ14による動力のみでテストヘッド12の移
動を容易にする。
タ14が正転したとき、テストヘッド12は外側(試験
装置本体11から遠ざかる方向)に移動し、逆転したと
きは内側(試験装置本体11に近ずく方向)に移動する
ものとする。モータ14が作動し正転すると、これに連
結されたピニオンギヤ15が正転する。ピニオンギヤ1
5はテストヘッド12に取り付けられたラック18とか
み合っている。テストヘッドを移動させるのはこのピニ
オンギヤの回転力をラックに伝え直線運動力に変換する
ことによる。これによりラック18を外側に押し出す。
即ちテストヘッド12も外側に床面に対し平行に移動す
る。リニアガイド16とリニアガイド16のコの字状の
くぼみ部分に合致したレール17とはテストヘッド17
本体を支え、且つ、その作用により摩擦係数を小さく
し、モータ14による動力のみでテストヘッド12の移
動を容易にする。
【0008】モータ14が逆転するとピニオンギヤ15
の回転方向も逆になり、テストヘッド12は内側に戻
る。ケーブル処理リンク機構21は、大量の重たいケー
ブル23を全体で支える。ケーブル処理リンク機構21
の一端にあるA点31はテストヘッド12の移動に追随
して、床面に対し平行に外側或いは内側に移動する。A
点31の移動に伴い、B点32もその中心をC点33と
し半径はケーブル支え20の長さとした円周上を移動す
る。テストヘッド12が外側へ最大限移動したとき、B
点32を中心としてA点31C点33間は約130度に
開き、またテストヘッド12が内側に最大限移動したと
きは、B点32を中心としてA点31C点33間は約3
0度の角度を持った逆V字型状態となる。
の回転方向も逆になり、テストヘッド12は内側に戻
る。ケーブル処理リンク機構21は、大量の重たいケー
ブル23を全体で支える。ケーブル処理リンク機構21
の一端にあるA点31はテストヘッド12の移動に追随
して、床面に対し平行に外側或いは内側に移動する。A
点31の移動に伴い、B点32もその中心をC点33と
し半径はケーブル支え20の長さとした円周上を移動す
る。テストヘッド12が外側へ最大限移動したとき、B
点32を中心としてA点31C点33間は約130度に
開き、またテストヘッド12が内側に最大限移動したと
きは、B点32を中心としてA点31C点33間は約3
0度の角度を持った逆V字型状態となる。
【0009】このような動作をするケーブル処理リンク
機構21上に大量のケーブル23を積載する。ケーブル
23はリンク機構21の動作に追随してB点32を支点
として開いたり閉じたりする動作をする。B点32にあ
る円筒形構造物22は支点が一辺に集中するのを防止す
る。このような構造によりリンク機構21が停止してい
るときでも動作中である時でも、ケーブル23は移動す
ることなく、その自重はケーブル支え19,20全体に
分散して支えられている。従って、ケーブル23はテス
トヘッド12との接続部などの箇所で大きな張力が働く
ことや、又、B点32の可動部でも極端な張力が働くこ
とを防止する。
機構21上に大量のケーブル23を積載する。ケーブル
23はリンク機構21の動作に追随してB点32を支点
として開いたり閉じたりする動作をする。B点32にあ
る円筒形構造物22は支点が一辺に集中するのを防止す
る。このような構造によりリンク機構21が停止してい
るときでも動作中である時でも、ケーブル23は移動す
ることなく、その自重はケーブル支え19,20全体に
分散して支えられている。従って、ケーブル23はテス
トヘッド12との接続部などの箇所で大きな張力が働く
ことや、又、B点32の可動部でも極端な張力が働くこ
とを防止する。
【0010】
【実施例】実施例を図1と図2とを用いて説明する。図
1はケーブル処理リンク機構21が閉じた状態を示して
おり、テストヘッド12も内側に引っ込んでいる状態を
示す。テストヘッド支持台13とC点を有する固定台は
床面に固定される。テストヘッド支持台13にはモータ
14が取り付けられ、さらにモータ軸にはピニオンギヤ
15を連結し、これを支持台13側板の内側に向けて配
置する。更に支持台13の両側板内側には上下2列に複
数個のリニアガイド16を取り付ける。このリニアガイ
ド16は図3に示すようにコの字型形状をしており、こ
のくぼみ形状に合致するレール17をテストヘッド12
の両側板の上下に、リニアガイド16に合致する位置に
取り付ける。テストヘッド12の側板にはピニオンギヤ
15にかみ合う状態にラック18が取り付けられる。こ
の様子を図4に示す。ピニオンギヤ15が回転すること
によりラック18へ動力を伝達する。モータ14が正転
するとテストヘッド12は外側へ、逆転すると内側へと
移動する。
1はケーブル処理リンク機構21が閉じた状態を示して
おり、テストヘッド12も内側に引っ込んでいる状態を
示す。テストヘッド支持台13とC点を有する固定台は
床面に固定される。テストヘッド支持台13にはモータ
14が取り付けられ、さらにモータ軸にはピニオンギヤ
15を連結し、これを支持台13側板の内側に向けて配
置する。更に支持台13の両側板内側には上下2列に複
数個のリニアガイド16を取り付ける。このリニアガイ
ド16は図3に示すようにコの字型形状をしており、こ
のくぼみ形状に合致するレール17をテストヘッド12
の両側板の上下に、リニアガイド16に合致する位置に
取り付ける。テストヘッド12の側板にはピニオンギヤ
15にかみ合う状態にラック18が取り付けられる。こ
の様子を図4に示す。ピニオンギヤ15が回転すること
によりラック18へ動力を伝達する。モータ14が正転
するとテストヘッド12は外側へ、逆転すると内側へと
移動する。
【0011】ケーブルリンク機構21は2つのケーブル
支え19,20と筒型形状物22とから構成される。ケ
ーブル支え19と20との一端は接続されこれをB点3
2とする。B点32を中心にして筒型形状物22を設け
る。ケーブル支え19と20とはこのB点32を中心と
して自由に回転できる。この筒型形状物22はケーブル
が極端に折れ曲がるのを防止する。ケーブル支え19の
他端はテストヘッド12の一端に接続され、この点をA
点31とする。ケーブル支え19はA点31を中心とし
て自由に回転できる。もう1つのケーブル支え20の他
端は固定点C点33に接続され、ケーブル支え20はC
点33を中心に自由に回転できる。この状態で試験装置
本体11から出て来ているケーブル23はリンク機構2
1上に載せられ、テストヘッド12に接続される。ケー
ブル全重量はリンク機構21上に分散されて支えられて
いる。従って、テストヘッド接続部などの箇所で、ケー
ブル重量が加わり過大な張力が働いている所はない。
支え19,20と筒型形状物22とから構成される。ケ
ーブル支え19と20との一端は接続されこれをB点3
2とする。B点32を中心にして筒型形状物22を設け
る。ケーブル支え19と20とはこのB点32を中心と
して自由に回転できる。この筒型形状物22はケーブル
が極端に折れ曲がるのを防止する。ケーブル支え19の
他端はテストヘッド12の一端に接続され、この点をA
点31とする。ケーブル支え19はA点31を中心とし
て自由に回転できる。もう1つのケーブル支え20の他
端は固定点C点33に接続され、ケーブル支え20はC
点33を中心に自由に回転できる。この状態で試験装置
本体11から出て来ているケーブル23はリンク機構2
1上に載せられ、テストヘッド12に接続される。ケー
ブル全重量はリンク機構21上に分散されて支えられて
いる。従って、テストヘッド接続部などの箇所で、ケー
ブル重量が加わり過大な張力が働いている所はない。
【0012】図2はモータ14が動作して、テストヘッ
ド12が外側に送り出されたときの状態を示している。
この場合モータ14に連結されたピニオンギヤ15が回
転することによりテストヘッド12側面に取り付けられ
たラック18を送り出すことによりテストヘッド12が
一緒に移動する。さらにリニアガイド16とレール17
により摩擦が低減されて、小さな動力による移動を助け
ている。テストヘッド12が外側へ移動するに従いケー
ブル処理リンク機構21は、ケーブル23を積載したま
まで逆V字型形状を開いていく格好で動作する。このと
きテストヘッド12の移動量に必要なケーブル長をリン
ク機構21で保持しているため、テストヘッド12の移
動に対しリンク機構の形状は変化するが、ケーブル23
自体の移動は生じない。従って過大な張力がかかること
もなく、破損や断線を低減できる。
ド12が外側に送り出されたときの状態を示している。
この場合モータ14に連結されたピニオンギヤ15が回
転することによりテストヘッド12側面に取り付けられ
たラック18を送り出すことによりテストヘッド12が
一緒に移動する。さらにリニアガイド16とレール17
により摩擦が低減されて、小さな動力による移動を助け
ている。テストヘッド12が外側へ移動するに従いケー
ブル処理リンク機構21は、ケーブル23を積載したま
まで逆V字型形状を開いていく格好で動作する。このと
きテストヘッド12の移動量に必要なケーブル長をリン
ク機構21で保持しているため、テストヘッド12の移
動に対しリンク機構の形状は変化するが、ケーブル23
自体の移動は生じない。従って過大な張力がかかること
もなく、破損や断線を低減できる。
【0013】
【考案の効果】本考案は上述の通り構成されるので、次
に記載する効果を奏する。 (1)ケーブル自体の重量による過大な張力がかかるこ
とを低減できたので、それによる破損や断線の発生を防
止できる。 (2)テストヘッドの移動量に必要なケーブル長はリン
ク機構上で保持しているため、テストヘッドの移動に対
しリンク機構の形状は変化するがケーブル自体は動かな
い。従って、破損や断線を防止できる。 (3)テストヘッドおよびリンク機構の動作はモータの
駆動によっておこなわれるため、人手を介することがな
くなり、省力化が計られ安全性も高められた。
に記載する効果を奏する。 (1)ケーブル自体の重量による過大な張力がかかるこ
とを低減できたので、それによる破損や断線の発生を防
止できる。 (2)テストヘッドの移動量に必要なケーブル長はリン
ク機構上で保持しているため、テストヘッドの移動に対
しリンク機構の形状は変化するがケーブル自体は動かな
い。従って、破損や断線を防止できる。 (3)テストヘッドおよびリンク機構の動作はモータの
駆動によっておこなわれるため、人手を介することがな
くなり、省力化が計られ安全性も高められた。
【図1】実施例1で移動前の状態を示す側面図である。
【図2】実施例1で移動後の状態を示す側面図である。
【図3】駆動部の詳細を示す断面図である。
【図4】駆動部のピニオンギヤとラックとを、より詳細
に示す斜視図である。
に示す斜視図である。
【図5】従来方法において人手による方法を示す概念図
である。
である。
【図6】従来方法において周辺装置を移動する場合の概
念図である。
念図である。
【図7】従来方法においてテンショナーを用いた場合の
概念図である。
概念図である。
11 試験装置本体 12 テストヘッド 13 テストヘッド支持台 14 モータ 15 ピニオンギヤ 16 リニアガイド 17 レール 18 ラック 19 ケーブル支え 20 ケーブル支え 21 ケーブル処理リンク機構 22 円筒形状物 23 ケーブル 31 A点 32 B点 33 C点
Claims (1)
- 【請求項1】 半導体試験装置で、床面に固定された試
験装置本体と、本体とは独立して置かれたテストヘッド
とにおいて、テストヘッド支持台(13)に取り付けた
モータ(14)とモータに連結したピニオンギヤ(1
5)と、支持台(13)両側面内側に取り付けた複数個
のリニアガイド(16)と、該リニアガイドのコの字型
のくぼみ部分に合致するテストヘッド(12)両側面上
に取り付けたレール(17)と、更に側面上に取り付け
たラック(18)との構成により、テストヘッド(1
2)が床面に対し平行移動する手段と、2組のケーブル
支え(19,20)のお互いの一端を繋ぎ合わせ、この
点を可動点B点(32)とし、両ケーブル支え(19,
20)はB点(32)を中心として回転する構造をな
し、内1組のケーブル支え(19)の他端はテストヘッ
ド(12)の一端A点(31)に接続し、該ケーブル支
えはA点(31)を中心として回転する構造をなし、他
の1組のケーブル支え(20)の他端は床面に対し固定
されてあるC点(33)に接続し、該ケーブル支えはC
点(33)を中心として回転する構造からなるケーブル
処理リンク機構(21)と、を具備していることを特徴
とするテストヘッド・スライド機構。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1993057926U JP2597779Y2 (ja) | 1993-09-30 | 1993-09-30 | テストヘッド・スライド機構 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1993057926U JP2597779Y2 (ja) | 1993-09-30 | 1993-09-30 | テストヘッド・スライド機構 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0743940U JPH0743940U (ja) | 1995-10-03 |
JP2597779Y2 true JP2597779Y2 (ja) | 1999-07-12 |
Family
ID=13069617
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1993057926U Expired - Lifetime JP2597779Y2 (ja) | 1993-09-30 | 1993-09-30 | テストヘッド・スライド機構 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2597779Y2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005026753A1 (ja) * | 2003-09-12 | 2005-03-24 | Advantest Corporation | 半導体試験装置 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100927679B1 (ko) * | 2005-06-03 | 2009-11-20 | 가부시키가이샤 어드밴티스트 | 반도체 시험장치 |
JP7109630B2 (ja) * | 2019-11-07 | 2022-07-29 | 東京エレクトロン株式会社 | ウエハ検査システム |
-
1993
- 1993-09-30 JP JP1993057926U patent/JP2597779Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005026753A1 (ja) * | 2003-09-12 | 2005-03-24 | Advantest Corporation | 半導体試験装置 |
KR101188585B1 (ko) | 2003-09-12 | 2012-10-05 | 주식회사 아도반테스토 | 반도체 시험 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0743940U (ja) | 1995-10-03 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19990420 |