JP2588075Y2 - 薄膜形成装置 - Google Patents

薄膜形成装置

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JP2588075Y2
JP2588075Y2 JP1993013291U JP1329193U JP2588075Y2 JP 2588075 Y2 JP2588075 Y2 JP 2588075Y2 JP 1993013291 U JP1993013291 U JP 1993013291U JP 1329193 U JP1329193 U JP 1329193U JP 2588075 Y2 JP2588075 Y2 JP 2588075Y2
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film forming
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英世 飯田
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Taiyo Yuden Co Ltd
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Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は、加熱した基板の表面に
気化或は霧化した原料を当てて、基板上に薄膜を形成す
る装置に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の従来の薄膜形成装置の例を、図
6に示す。この装置では、メッシュベルトコンベア15
に乗って、薄膜を形成する基板aが図において左から右
へと矢印で示す方向に順次搬送される。このメッシュベ
ルトコンベア15による基板aの搬送経路上に、壁部2
4によって囲まれた成膜室2が形成されており、この成
膜室2の下には、そこを通過する基板aを下から加熱す
るためのヒーター23、23…が設けられている。さら
に、メッシュベルトコンベア15の上には、成膜室2の
外部に設けた原料供給源(図示せず)から成膜室2内の
基板aの成膜面(図6において上面)に向けて気体或は
霧状の原料を供給するための原料供給ダクト20と、成
膜室2から原料を排気するための排気ダクト22が基板
aの搬送方向に離れて設けられている。
【0003】この薄膜形成装置では、メッシュベルトコ
ンベア15に乗って搬送される基板aが成膜室2に導入
されると、その下に設けられたヒーター23で加熱され
る。この基板aは、原料供給ダクト20の先端の真下に
達するまでに成膜に必要な所定の温度にまで加熱され
る。そして、原料供給ダクト20の先端から同基板aの
成膜面に原料が当てられると、例えば、基板aの保有す
る熱により原料が分解し、さらに分解した原料が空気中
の酸素等と反応し、基板aの成膜面上に酸化物等の薄膜
が形成される。基板aの表面に薄膜を形成するのに寄与
しなかった原料は、排気ダクト22から排気される。こ
の排気ダクト22を通過した基板aは、その温度が次第
に下げられ、その後薄膜形成装置から基板aが排出され
る。なお、図6の装置では、原料を上側から基板aの吹
き当てるものであるが、霧状或はガス状の原料を緩やか
に基板aの下側から流して基板aの下面側に薄膜を形成
する装置も知られている。
【0004】
【考案が解決しようとしている課題】しかしながら、前
記従来の薄膜形成装置は、成膜室2内に導入された原料
が基板aの表面に接触して成膜する率が低く、薄膜の収
率が悪いという課題があった。その理由は次の通りであ
る。まず、原料を成膜室2の中に基板aの上側から導入
する方式の図1に示す薄膜形成装置の場合、同図に示す
ように、原料供給ダクト20から基板aの成膜面に向け
て供給された原料は、同成膜面に当たることで基板aの
成膜面で反射すると共に、対流によって成膜室2の上層
部側に上昇される。このため、原料が基板aの成膜面か
ら離れて流れ、そのまま排気ダクト22から成膜室2の
外に排出されてしまう。このため、原料が基板aの成膜
面に接するのは、原料供給ダクト20の位置で最大とな
り、それ以降は原料が基板aの成膜面に接する機会が極
端に少なくなる。
【0005】図5のグラフに示すAの曲線は、この従来
の薄膜形成装置において、原料供給ダクト20の導入口
に対向した位置を起点として、そこから排気ダクト22
の排出口側へ向かって長さLの位置にある基板aの成膜
面の成膜速度を示している。このグラフに示す通り、成
膜速度は、基板aの成膜面が原料供給ダクト20の導入
口に対向した位置で最大となり、そこから先に進むに従
い、成膜速度が急激に遅くなる。
【0005】次に、原料を基板の成膜面の下から成膜室
の中に導入する形式の薄膜形成装置では、原料供給ダク
トから吹き上げられた原料は、基板の成膜面に当り、そ
の後は対流により基板の搬送方向と平行に層状になって
流れ、排気ダクトから成膜室の外に排気される。従っ
て、原料が基板の成膜面に接触する機会は多くなる。
【0006】しかし、原料が基板の搬送方向と平行に層
状になって流れ、基板の成膜面付近にある表層の原料と
それより下層側の原料との入れ替えがないため、基板の
成膜面付近にある表層の原料の成膜成分が消費される
と、キャリアガスのみが基板の成膜面付近の表層部に残
り、成膜成分を含む下層の原料は基板aの成膜面に接触
せず、成膜に寄与しないまま、排気ダクトから成膜室の
外に排出されてしまう。本考案は、前記従来の薄膜形成
装置の課題に鑑み、原料に対する薄膜の収率を高くする
ことができる薄膜形成装置を提供することを目的とす
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】すなわち、本考案では、
前記の目的を達成するため、薄膜を形成する基板aを搬
送する基板搬送路と、該基板搬送路に沿って搬送される
基板aの成膜面側に形成された成膜室2と、前記基板搬
送路4に沿って成膜室2を通過する基板aを加熱するヒ
ーター23と、成膜室2内に霧状またはガス状の薄膜の
原料を導入する導入口27と、成膜室2内から原料を排
出する排出口29とを有する薄膜形成装置において、前
記成膜室2の基板aの成膜面と対向する壁面に、前記原
料の導入口27から排出口29にわたって、原料ガスを
基板a側に案内する勾配が形成された側面台形の凸部と
凹部とを有する凹凸25を形成してなることを特徴とす
る薄膜形成装置を提供する。
【0008】
【作用】前記本考案の薄膜形成装置では、成膜室2の基
板aの成膜面と対向する壁面に、前記原料の導入口27
から排出口29にわたって凹凸25を形成しているた
め、この凹凸25により、成膜室2の中を原料の導入口
27から排出口29に向かって流れる霧状或はガス状の
原料が、この凹凸25により上下に蛇行して流される。
このため、原料を基板aの上側から成膜室2の中に導入
する方式の図1に示す薄膜形成装置の場合、原料が基板
aの成膜面に接する機会が多くなる。このため、基板a
が排出口29側に進んだ位置で、従来より成膜速度が早
くなり、導入される原料に対して高い収率が得られる。
【0009】また、原料を基板の成膜面の下から成膜室
の中に導入する形式の薄膜形成装置の場合、基板の成
膜面付近にある表層の原料とそれより下層側の原料との
入れ替えが促進される。このため同様にして、導入され
る原料に対して高い収率が得られる。しかも、前記の凹
凸25は、原料ガスを基板a側に案内する勾配が形成さ
れた側面台形の凸部と凹部とを有することにより、原料
ガスの流れが極端に阻害されず、円滑に原料ガスを基板
a側に案内することが出来ると共に、原料ガスの停滞が
起こらない。このため、原料ガスの停滞による薄膜の膜
圧の不均一や膜質の低下等の問題が生じることなく、効
率的に薄膜を形成することができる。
【0010】
【実施例】次に、図面を参照しながら、本考案の実施例
について具体的に説明する。本考案の第一の実施例によ
る薄膜形成装置を図1と図2に示す。この装置は、基本
的に前記従来の薄膜形成装置と同じ構成を有している。
すなわち、基板搬送路に沿って走行するメッシュベルト
コンベア15に乗って、薄膜を形成する基板aが図にお
いて左から右へと矢印で示す方向に順次搬送される。こ
のメッシュベルトコンベア15により基板aを搬送する
基板搬送路上に、成膜室2が形成されており、この成膜
室2の下には、そこを通過する基板aを下から加熱する
ためのヒーター23、23…が設けられている。
【0011】成膜室2の上壁部24には、その外部に設
けた原料供給源(図示せず)から成膜室2内の基板aの
成膜面に向けて気体或は霧状の原料を供給するための原
料供給ダクト20が接続され、その導入口27が基板a
の上面である成膜面に向けて上壁部24に開口してい
る。また、この導入口27から基板aの搬送方向に離れ
て、成膜室2から原料を排気するための排気ダクト22
が成膜室2の上壁部24に接続され、その排出口29が
上壁部24に開口してい。
【0012】この図1及び図2に示された薄膜形成装置
では、メッシュベルトコンベア15に乗って搬送される
基板aの成膜面と対向する成膜室2の天面であって、前
記導入口27と排出口29との間に、凹凸25が形成さ
れている。図2に示されたように、この凹凸25は、台
形状の凸部と凹部を有しており、凸部と凹部の両側に勾
配が形成されている。この凹凸25は、前記原料供給ダ
クト20の導入口27側から排気ダクト22の排出口2
9側へ向けて成膜室2の天面に一定の間隔に配置して形
成されている。
【0013】この薄膜形成装置では、前記の凹凸25に
より、前記原料供給ダクト20の導入口27側から排気
ダクト22の排出口29側へ向けて成膜室2の中を流れ
る原料が上下に蛇行され、原料が基板aの成膜面に接す
る機会が多くなる。このため、成膜室2へ導入される原
料に対する薄膜の収率が増大する。
【0014】図5のグラフに示すBの曲線は、この実施
例による薄膜形成装置において、原料供給ダクト20の
導入口27に対向した基板aの位置を起点として、そこ
から排気ダクト22の排出口29と対向する側へ向かっ
た長さLの位置にある基板aの成膜面の成膜速度を示し
ている。このグラフに示す通り、成膜速度は、基板aの
成膜面が原料供給ダクト20の導入口27に対向した位
置で最大となり、そこから先に進むに従い、成膜速度が
漸次遅くなるが、その変化は従来の装置の場合のグラフ
Aに比べて緩やかである。
【0015】次に、図3及び図4に示した実施例につい
て説明する。この実施例による薄膜形成装置では、基板
搬送路となるガイド溝4が水平に設置されており、この
ガイド溝4は、基板aの両側を保持して案内する。この
ガイド溝4に沿って薄膜を形成する基板aが図3及び図
4において左から右へと矢印で示す方向に順次押し進め
られながら搬送される。これとは逆に、基板aを右から
左へと搬送してもよい。このガイド溝4に沿って搬送さ
れる基板aの下側に成膜室2が形成されている。
【0016】ガイド溝4に沿って搬送される基板aの背
面側、つまり成膜室2と反対側にヒーター23が設けら
れ、基板aが、所定の温度に加熱される。成膜室2の外
部に設けた原料供給源2から成膜室2内に気体或は霧状
の原料を導入する原料供給ダクト20と、成膜室2から
原料を排気するための排気ダクト22が成膜室2の底壁
部21に接続されており、それらの導入口27と排出口
29とが、基板aの搬送方向に離れて成膜室2の底壁部
21の左側と右側とに各々開口している。
【0017】さらに、この図3及び図4に示された薄膜
形成装置では、ガイド溝4に沿って搬送される基板aの
成膜面と対向する成膜室2の底面であって、前記導入口
27と排出口29との間に、凹凸25が形成されてい
る。図4に示されたように、この凹凸25は、台形状の
凸部を、前記原料供給ダクト20の導入口27側から排
気ダクト22の排出口29側へ向けて成膜室2の底面に
一定の間隔で配置して形成されている。なお、ここで凸
部を排気ダクト22に近付くに従って高くすることによ
り、排気ダクト22に近付いて量が少なくなった原料を
効率的に基板aに導くことができる。この薄膜形成装置
では、前記の凹凸25により、前記原料供給ダクト20
の導入口27側から排気ダクト22の排出口29側へ向
けて成膜室2の中を流れる原料が上下に蛇行され、上層
の原料と下層の原料とが入れ替わる機会が多くなる。
【0018】次に、本考案のより具体的な例について説
明する。昇温部2m、成膜部2m及び除冷部4mからな
る全長約8mの成膜部2を有する図3及び図4に示すよ
うな形式の薄膜形成装置を作った。この薄膜形成装置に
おいて、ガイド溝4に沿って搬送される基板aの成膜面
と成膜室2の底面との距離は2cmである。この装置の
成膜室2の成膜部の底面、つまり、原料供給ダクト20
の導入口27と排気ダクト22の排出口29との間の部
分に、上底1cm、下底5cm、高さ1cmの断面台形
を有する凸条を、基板aの搬送方向に50cmの間隔で
並設し、凹凸25を形成した。
【0019】薄膜の原料溶液として、15重量%の塩化
錫(SnCl4・5H2O)と、この塩化錫のSnに対し
てSbが5重量%との割合の塩化アンチモン(SnCl
3 )との水溶液を調整した。この原料溶液をスプレーノ
ズルを有する霧化器26で霧化し、原料供給ダクト20
を通して、導入口27から成膜室2に導入した。また、
基板aとしては、長さ30cm、幅20cm、厚さ0.
1cmのガラス基板を用い、これを原料供給ダクト20
の導入口27と排気ダクト22の排出口29との間の成
膜部において500℃となるよう加熱すると共に、ガイ
ド溝4に沿って50cm/minの速度で移動、搬送し
ながら、その下面に酸化錫膜を形成した。この結果、形
成された酸化錫膜の基板50枚の平均膜厚は、150n
mであった。
【0020】一方、比較のため、成膜室2の底面に前記
のような凸条を有しない成膜装置、つまり成膜室2の底
面が平坦であって、その基板aの成膜面との対向距離が
2cmである薄膜形成装置を使用し、同様の条件でガラ
ス基板上に酸化錫膜を形成した。この結果、形成された
酸化錫膜の基板50枚の平均膜厚は、100nmであっ
た。前記実施例をこの比較例と比較した場合、ガラス基
板上の酸化錫膜に約50%の膜厚増加が認められる。
【0021】さらに、図1及び図2に示すような形式の
薄膜形成装置であって、成膜室2の天面に同様の凹凸2
5を形成した実施例による装置と、そのような凹凸25
を形成していない比較例である装置を用い、前記と同様
の条件でCVD法(化学的気相成長法/Chemica
l Vapor Deposition)により薄膜を
形成した。この結果、前者は後者に比べて約30%の膜
厚増が認められた。
【0022】
【考案の効果】以上説明した通り、本考案によれば、原
料に対する薄膜の収率を高くすることができるため、高
い生産性を有する薄膜形成装置を提供することが可能と
なる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の第一の実施例による薄膜形成装置を示
す概略縦断側面図である。
【図2】同第一の実施例による薄膜形成装置を示す要部
拡大概略縦断側面図である。
【図3】本考案の第二の実施例による薄膜形成装置を示
す概略縦断側面図である。
【図4】同第二の実施例による薄膜形成装置を示す要部
拡大概略縦断側面図である。
【図5】本発明による薄膜形成装置と従来の薄膜形成装
置とにおける基板位置と成膜速度との関係の例を示すグ
ラフである。
【図6】従来例による薄膜形成装置を示す概略縦断側面
図である。
【符号の説明】
2 成膜室 4 ガイド溝 15 メッシュベルトコンベア 23 ヒーター 21 成膜室の底壁面 24 成膜室の上壁面 25 凹凸 27 原料の導入口 29 原料の排出口 a 基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 21/205 C23C 16/44 C30B 25/14 H01L 21/20

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 薄膜を形成する基板(a)を搬送する基
    板搬送路と、該基板搬送路に沿って搬送される基板
    (a)の成膜面側に形成された成膜室(2)と、前記基
    板搬送路に沿って成膜室(2)を通過する基板(a)を
    加熱するヒーター(23)と、成膜室(2)内に霧状ま
    たはガス状の薄膜の原料を導入する導入口(27)と、
    成膜室(2)内から原料を排出する排出口(29)とを
    有する薄膜形成装置において、前記成膜室(2)の基板
    (a)の成膜面と対向する壁面に、前記原料の導入口
    (27)から排出口(29)にわたって、原料ガスを基
    板(a)側に案内する勾配が形成された側面台形の凸部
    と凹部とを有する凹凸(25)を形成してなることを特
    徴とする薄膜形成装置。
JP1993013291U 1993-02-27 1993-02-27 薄膜形成装置 Expired - Lifetime JP2588075Y2 (ja)

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JPH0670230U JPH0670230U (ja) 1994-09-30
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