JP2586680Y2 - ホットプレート用リフトピン - Google Patents

ホットプレート用リフトピン

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JP2586680Y2
JP2586680Y2 JP4485792U JP4485792U JP2586680Y2 JP 2586680 Y2 JP2586680 Y2 JP 2586680Y2 JP 4485792 U JP4485792 U JP 4485792U JP 4485792 U JP4485792 U JP 4485792U JP 2586680 Y2 JP2586680 Y2 JP 2586680Y2
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JP
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plate
chip
hot plate
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lift pin
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宏仁 佐合
博嗣 熊澤
太 島井
重美 藤山
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Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
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Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
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Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本考案はガラス基板や半導体ウェ
ハ等の板状被処理物をホットプレートを用いて加熱する
リフトピンに関する。
【0002】
【従来の技術】ガラス基板や半導体ウェハ等の板状被処
理物の表面に塗布したレジスト液を加熱して被膜を形成
する装置として従来からホットプレートを備えたベーク
装置が用いられている。このベーク装置は、板状被処理
物表面にレジスト液を塗布した後、搬送装置によって板
状被処理物をホットプレート上に移載し、ホットプレー
トの熱により板状被処理物表面に塗布されたレジスト液
を加熱して被膜を形成するようにしたものである。
【0003】上述した従来のベーク装置にあっては、ホ
ットプレート上面に板状被処理物を直接載置して加熱す
るため、またホットプレート自体も平面的に全て等しく
発熱するわけではなく温度にムラがあるので、板状被処
理物を均一に加熱することが困難であった。そこで、本
出願人は先にリフトピンにて板状被処理物をホットプレ
ートから持ち上げてベーク処理する装置を提案した。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】上記のようにリフトピ
ンを設けることで板状被処理物の均一加熱が可能となる
が、ホットプレートは通常250℃前後で使用するた
め、長期間の使用によりリフトピンの先端が焼き切れる
不利が生じた。そこで、リフトピン先端にチップをネジ
込んで着脱自在とすることを試みたが、熱の影響により
チップが外れなくなる場合が生じた。また単にチップを
差し込み式にした場合には、板状被処理物の下面にチッ
プがくっついてリフトピンからチップが抜けてしまっ
た。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決すべく本
考案は、ベーク処理の間、板状被処理物をホットプレー
トから持ち上げて保持するリフトピンにおいて、ベーク
装置のホットプレートに形成した貫通孔に挿通されるピ
ン本体上端にチップの受け部を設け、チップにはネック
部を形成し、受け部にはチップの下部が入り込むすり割
と、チップのネック部を保持する係止部を形成した。
【0006】
【作用】受け部に上方からチップを押し込むことでチッ
プを装着でき、受け部のすり割を広げることでチップを
外すことができる。
【0007】
【実施例】以下に本考案の実施例を添付図面に基づいて
説明する。ここで、図1は本考案に係るリフトピンを備
えたベーク装置を組み込んだ被膜形成装置の平面図、図
2はベーク装置の正面図、図3は図2のA−A方向矢示
図、図4は図3のB−B方向矢示図、図5は図4の要部
拡大図、図6はリフトピンの分解斜視図である。
【0008】被膜形成装置は図1の左側を上流部とし、
この上流部にガラス基板等の板状被処理物Wの投入部1
を設け、この投入部1の下流側に塗布装置2を配置し、
この塗布装置2の下流側に順次、減圧乾燥装置3、被処
理物Wの裏面洗浄装置4、本発明のベーク装置5及び取
り出し部6を配置し、投入部1からベーク装置5に至る
までは搬送装置7にて板状被処理物Wを移動させ、また
塗布装置2の前面側には交換可能な塗布液供給装置8を
配置し、この塗布液供給装置9から供給される塗布液を
移動可能なノズル9を用いて板状被処理物W表面に滴下
するようにしている。
【0009】ベーク装置5は上流部に板状被処理物Wの
受け渡し部10を、下流部に板状被処理物Wの温度を所
定温度まで下げるクーリングプレート11を配置し、こ
れら受け渡し部10とクーリングプレート11との間に
板状被処理物Wの搬送方向に沿って3個のホットプレー
ト12…を配置している。
【0010】ホットプレート12は図4に示すようにベ
ーク装置5の機枠13の底部から立設した支柱14に上
面を開放したボックス部15を設け、このボックス部1
5内に水平に取り付けられている。
【0011】また、板状被処理物Wは搬送装置16によ
って各ホットプレート12上を順次移し換えられる。こ
の搬送装置16は、機枠13の底部に板状被処理物Wの
搬送方向と平行にレール17,17を敷設し、このレー
ル17に支持プレート18を走行可能に係合し、この支
持プレート18上に支柱19を立設し、この支柱19上
端からホットプレート12上面に沿って支持ロッド20
を水平に延出し、この支持ロッド20にて板状被処理物
W下面を支持するようにしている。尚、支持ロッド20
とホットプレート12との間隔はできるだけ小さくす
る。
【0012】一方、機枠13内にはモータ21を固設
し、このモータ21の回転を機枠13の底部に板状被処
理物Wの搬送方向と直交する方向に配置された軸22に
伝え、この軸22の回転をピニオン23を介して前記支
持プレート18に取り付けたラック24に伝達し、レー
ル17に沿って支持プレート18、つまり支持ロッド2
0が往復動するようにしている。
【0013】また、機枠13には軸25を介して蓋体2
6が開閉自在に支持されている。この蓋体26は一端
(図4において右端)に把持部27を設け、また機枠1
3との間にエアクッション28を架設して蓋体26を閉
じる時に勢いよく蓋体26が落ちないようにするととも
に蓋体26を小さな力で持ち上げることができるように
している。
【0014】そして、蓋体26の裏面には蓋体26を閉
じた状態でホットプレート12に対向する反射板29を
取り付け、この反射板29を貫通して反射板29とホッ
トプレート12との間に形成されるパージ室30に窒素
ガス等を導入するノズル31を設けている。
【0015】また、前記ボックス部15の下方には図3
に示すようにH字状のプレート40を配置し、各プレー
ト40に上下方向のシリンダユニット41…を合計8本
配置している。そして図5に示すように各シリンダユニ
ット41のロッド42上端とホットプレート12に形成
した貫通孔43の下端開口との間にはベローズ44を設
け、パージ室30内のガスが逃げないようにしている。
【0016】また、ロッド42上端にはリフトピン45
を取り付けている。図6に示すようにリフトピン45は
ホットプレート12の貫通孔43に挿通されるピン本体
46と、このピン本体46の上端に設けた雄ネジ部46
aに螺着される受け部47と、この受け部47に着脱自
在に嵌め込まれるチップ48とから構成される。
【0017】チップ48はポリイミド樹脂等の耐熱性樹
脂やステンレスからなり、その形状は図6の右側部分に
示すように、上半部48aを砲弾形とし、下端部48b
を若干大径とし、これら上半部48aと下端部48bの
間をネック部48cとしたもの、或いは図6の左側部分
に示すように、上半部48aを棒状とし、この棒状上半
部48aの下端をフランジ部48dとし、このフランジ
部48dと下端部48bの間をネック部48cとしたも
のでもよい。
【0018】更に、受け部47にはすり割47aが形成
され、このすり割47aの上端には前記チップ48のネ
ック部48cを保持する係止部47bを形成している。
而して受け部47にチップ48を嵌め込むには、チップ
48の下端部48bをすり割47a内に押し込める。す
ると、ネック部48cが係止部47bに引っ掛かりチッ
プ48が抜けなくなる。また、チップ48を交換するた
めに受け部47から取り外すには、治具等を用いてすり
割47aを左右に広げる。
【0019】以上において、ベーク処理を行なう場合に
は、リフトピン45を上昇させ、搬送装置16の支持ロ
ッド20から板状被処理物Wを支えるようにして受け取
り、ホットプレート12との間に所定の隙間を形成した
状態で行なう。そして、1つのホットプレート12にお
けるベーク処理が終了したら、リフトピン45を下げ、
再び板状被処理物Wを搬送装置16の支持ロッド20上
に載置し、この状態で搬送装置により隣のホットプレー
ト12上に板状被処理物Wを移し、同様にしてベーク処
理を行なう。
【0020】
【考案の効果】以上に説明したように本考案によれば、
ピン本体上端にチップの受け部を設け、この受け部にチ
ップの下部が入り込むすり割と、チップのネック部を保
持する係止部を形成したので、板状被処理物の均一加熱
が可能であるとともに、リフトピン先端のチップの交換
を簡単に行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案に係るリフトピンを備えたベーク装置を
組み込んだ被膜形成装置の平面図
【図2】ベーク装置の正面図
【図3】図2のA−A方向矢示図
【図4】図3のB−B方向矢示図
【図5】図4の要部拡大図
【図6】リフトピンの分解斜視図
【符号の説明】
5…ベーク装置、12…ホットプレート、16…搬送装
置、40…プレート、41…シリンダユニット、43…
貫通孔、45…リフトピン、46…ピン本体、47…受
け部、47a…すり割、47b…係止部、48…チッ
プ、48c…ネック部、W…板状被処理物。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 藤山 重美 神奈川県川崎市中原区中丸子150番地 東京応化工業株式会社内 (56)参考文献 特開 平4−736(JP,A) 特開 平3−270012(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 21/027 H01L 21/68

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ベーク処理の間、板状被処理物をホット
    プレートから持ち上げて保持するリフトピンにおいて、
    このリフトピンはホットプレートに形成した貫通孔に挿
    通されるピン本体と、このピン本体の上端に設けられる
    受け部と、この受け部に着脱自在に取り付けられるチッ
    プとからなり、このチップにはネック部が形成され、ま
    た前記受け部にはチップの下部が入り込むすり割りと、
    チップのネック部を保持する係止部が形成されているこ
    とを特徴とするホットプレート用リフトピン。
JP4485792U 1992-06-04 1992-06-04 ホットプレート用リフトピン Expired - Lifetime JP2586680Y2 (ja)

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JPH062677U JPH062677U (ja) 1994-01-14
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JP3925965B2 (ja) * 1996-09-26 2007-06-06 芝浦メカトロニクス株式会社 基板処理装置
JP2003100855A (ja) * 2001-09-27 2003-04-04 Shin Etsu Handotai Co Ltd シリコン単結晶ウェーハ処理装置、シリコン単結晶ウェーハおよびシリコンエピタキシャルウェーハの製造方法
JP4343253B1 (ja) * 2008-03-27 2009-10-14 Tdk株式会社 密閉容器の蓋開閉装置及び該開閉装置を用いたガス置換装置
JP5511273B2 (ja) * 2008-09-12 2014-06-04 株式会社日立国際電気 基板処理装置及び基板処理方法
EP3450809A1 (de) * 2017-08-31 2019-03-06 VAT Holding AG Verstellvorrichtung mit spannzangenkupplung für den vakuumbereich
US10784142B2 (en) * 2018-01-09 2020-09-22 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Lift pin system for wafer handling

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