JP2584908Y2 - プローバのアタッチメントボード - Google Patents

プローバのアタッチメントボード

Info

Publication number
JP2584908Y2
JP2584908Y2 JP1991025769U JP2576991U JP2584908Y2 JP 2584908 Y2 JP2584908 Y2 JP 2584908Y2 JP 1991025769 U JP1991025769 U JP 1991025769U JP 2576991 U JP2576991 U JP 2576991U JP 2584908 Y2 JP2584908 Y2 JP 2584908Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
board
family
signal
power supply
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP1991025769U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0543081U (ja
Inventor
森崎正幸
土門吉信
加藤忠義
佐藤俊弥
Original Assignee
エルエスアイ・ロジック株式会社
安藤電気株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by エルエスアイ・ロジック株式会社, 安藤電気株式会社 filed Critical エルエスアイ・ロジック株式会社
Priority to JP1991025769U priority Critical patent/JP2584908Y2/ja
Publication of JPH0543081U publication Critical patent/JPH0543081U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2584908Y2 publication Critical patent/JP2584908Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この考案は、ICテスタとプロー
バ上のデバイスとを電気的に接続するプローバのアタッ
チメントボードについてのものである。
【0002】
【従来の技術】次に、従来技術によるICテスタ、アタ
ッチメントボードおよびプローバの位置関係を図7によ
り説明する。図7の5はICテスタ、6はテストヘッ
ド、7はプローバである。
【0003】ICテスタ5の電気信号はテストヘッド6
を通り、ファミリーボード6Aからポゴピンまたはコネ
クタ等の電気接触子6Bを用いてアタッチメントボード
8へ伝えられる。アタッチメントボード8に伝えられた
信号は、電気接触子7Aでプローブカード7Bに伝えら
れ、ニードル7Cと呼ばれる電気接触子でデバイス9に
伝えられる。
【0004】図7のような構造になっているのは、プ
ローブカード7Bが消耗品であり、容易に交換ができる
こと、アタッチメントボード8はデバイス9により、
電源、接地、信号のピン位置が違うので、デバイス9の
種類により交換する必要があること、プローバ7以外
の外部機器へ接続する場合や、マニュアル測定の場合に
はアタッチメントボード8を交換すれば対応できること
等の理由による。
【0005】次に、従来技術によるアタッチメントボー
ド8の回路を図8により説明する。アタッチメントボー
ド8には、ファミリーボード側からの各ピンに対応する
電気信号をプローブカード側のピンへ伝える信号線8A
〜8Cが設けられる。この他に、デバイス9の電源用の
線8Dと接地用の線8Eと、ノイズリミッタ用のコンデ
ンサ8F・8Gが設けられる。線8D・8Eは、パター
ンの幅を太くしてプローブカード側のピンまでインピー
ダンスを低くする。しかし、電源と接地が固定なので、
デバイス9の電源位置によっては、アタッチメントボー
ド8を交換する必要がある。なお、図8では線8A〜8
Eが例示されているが、実際にはプローブカード側が必
要とするピン数の線が設けられる。
【0006】次に、従来技術によるアタッチメントボー
ドの他の回路を図9により説明する。図9ではファミリ
ボード6A上で、またはファミリボード6Aからアタッ
チメントボード8Hまでをケーブル接続にし、ケーブル
の配線変更により電源、接地を任意のピンに接続できる
ようにしたものである。アタッチメントボード8Hは、
ファミリーボード6Aからの信号をプローブカード側の
ピンへ伝える線8A〜8Eだけが設けられており、電源
と接地用のパターンは特に設けていない。このため、電
源と接地用の線はデバイス9のピンより距離的に長い線
となり、高周波測定が困難になる。
【0007】
【考案が解決しようとする課題】図8では、デバイス9
の電源位置によりアタッチメントボード8を多種類用意
し、交換しなければならない。これに対し、図9は高周
波測定に適さない。この考案は、アタッチメントボード
8の線8A〜8Eをショートピースで切り換えるように
し、デバイス9の近くで任意のピンを電源、接地、信号
のどれかに接続できるアタッチメントボードの提供を目
的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、第1の考案では、ファミリーボード側の信号を接続
する第1の端子と、ファミリーボード側の電源に接続さ
れた第2の端子と、ファミリーボード側の接地に接続さ
れた第3の端子と、第1の端子と第2の端子間または第
1の端子と第3の端子間を短絡するショートピースとを
備え、ファミリーボード側とプローブカード側の信号線
が接続されており、ショートピースで第1の端子と第2
の端子間または第1の端子と第3の端子間を短絡したと
きは、第1の端子のプローブカード側の信号線をファミ
リーボード側で切り離す。
【0009】第2の考案では、ファミリーボード側の信
号を、プリント基板上のパターンで接続する第1の端子
と、ファミリーボード側の電源に、プリント基板上のパ
ターンで接続された第2の端子と、プローブカード側へ
信号を、プリント基板上のパターンで接続する第3の端
子と、ファミリーボード側の接地に、プリント基板上の
パターンで接続された第4の端子と、第3の端子と第1
の端子の間、第3の端子と第2の端子の間または第3の
端子と第4の端子の間を短絡するショートピースとを備
えている。
【0010】第3の考案では、互いに異なる電源に接続
された複数の電源端子と、プローブカード側へ電源を接
続し、かつ、互いに導通した複数の出力端子とを備え、
前記電源端子のいずれかと前記出力端子のいずれかとの
間をショートピースで短絡する。
【0011】
【作用】次に、この考案によるアタッチメントボードの
構成を図6により説明する。図6の1と2はセレクタ、
3A〜3Cはコンデンサ、4はアタッチメントボードで
あり、図6はアタッチメントボード4の内部回路図であ
る。図6では、セレクタ1が3個例示されているが、実
際にはプローブカードが必要とするピン数のセレクタ1
が設けられる。
【0012】ファミリーボード側から送られてきた信号
は、アタッチメントボード4上のセレクタ1に伝えられ
る。セレクタ1は、後述のショートピースにより、信
号、接地、電源が切換えられる。切換えられた信号は、
セレクタ1を通して、プロープカード側に伝えられる。
セレクタ1は各ピンに設けられ、各ピンがそれぞれ信
号、接地、電源に切換えられる。
【0013】多種類の電源の中からセレクタ2により使
用する電源が選ばれる。コンデンサ3A〜3Cは電源、
接地間のノイズを取り除くためのものであり、コンデン
サ3A〜3Cは、使用する電源の条件等により、1ピン
ごとに1個、2ピンごとに1個等のように取りつけられ
る。コンデンサ3A〜3Cは、ピンの切換えに関係な
く、常に電源、接地間に接続される。信号以外のピン
は、任意に電源、接地ピンを増やせること、また、デバ
イス9に比較的近いところで、接続できること等から、
図6によれば高周波でも測定することができる。
【0014】
【実施例】次に、セレクタ1の実施例の回路を図1によ
り説明する。図1の1A〜1Cはセレクタ1の端子、1
Eはショートピースである。図1は端子1Aに電源が接
続された場合であり、端子1Aと端子1B間をショート
ピース1Eで接続している。図1のファミリーボード
で電源と信号、接地が短絡しないように信号を切り離
す。
【0015】図2は端子1Aに接地が接続された場合で
あり、端子1Aと端子1C間をショートピース1Eで接
続している。図2でも、ファミリーボード側で信号と電
源、接地が短絡しないように信号を切り離す。
【0016】次に、ショートピース1Eの外観図を図3
により説明する。図3の1Fと1Gはピンであり、内部
で短絡されている。ピン1F・1Gの間は、プリント基
板のピッチ間隔で形成される。ピン1F・1Gの部分以
外は、エポキシ樹脂などで覆われる。図1と図2の端子
1A・1B間、端子1A・1C間はショートピース1E
ピン1F・1Gの間隔で形成される。
【0017】次に、セレクタ2の実施例の回路を図4に
より説明する。図4の2A〜2Dは電源側の端子、2E
〜2Hは出力側の端子である。図4は、4種類の電源か
ら1つの電源を選ぶものであり、ショートピース1Eに
より端子2Bと端子2Fを接続している。電源の種類を
変えるときは、ショートピース1Eの位置を移動する。
図4の端子数を増やせば、選ぶ電源の種類を増やすこと
ができる。
【0018】次に、図1と図2に対する応用例を図5に
より説明する。図5の1Dは出力側の端子であり、端子
1A・1D間はショートピース1Eのピン1F・1Gの
間隔で形成される。図5では、端子1D・1B間または
端子1D・1C間にショートピース1Eを接続したとき
は、端子1A・1D間が切り離される。
【0019】
【考案の効果】この考案によれば、任意の端子を信号、
電源、接地用に設定し、必要とする端子間をショートピ
ースで短絡するので、1種類のアタッチメントボードで
多品種のデバイスに対応することができる。また、デバ
イス近くで電源、接地を強化することができるので、高
周波の測定ができる。また、ショートピースで回路を実
現しているので、実装スペースを取らない。
【図面の簡単な説明】
【図1】端子1Aに電源が接続された場合のセレクタl
の実施例の回路図である。
【図2】図1の端子1Aに接地が接続された場合の回路
図である。
【図3】図1に使用されるショートピース1Eの外観図
である。
【図4】図6のセレクタ2の実施例の回路図である。
【図5】図1と図2に対する応用例の回路図である。
【図6】この考案によるアタッチメントボードの構成図
である。
【図7】従来技術によるICテスタ、アタッチメントボ
ードおよびプローバの位置関係説明図である。
【図8】従来技術によるアタッチメントボード8の回路
図である。
【図9】従来技術によるアタッチメントボードの他の回
路図である。
【符号の説明】
1 セレクタ 2 セレクタ 3A コンデンサ 3B コンデンサ 3C コンデンサ 4 アタッチメントボード 5 ICテスタ 6 テストヘッド 7 プローバ 8 アタッチメントボード 9 デバイス
フロントページの続き (72)考案者 加藤忠義 東京都大田区蒲田4丁目19番7号 安藤 電気株式会社内 (72)考案者 佐藤俊弥 東京都大田区蒲田4丁目19番7号 安藤 電気株式会社内 審査官 西島 篤宏 (56)参考文献 特開 昭64−21374(JP,A) 実開 昭55−106876(JP,U) 実開 昭62−14675(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01R 31/26 H01L 21/66 H01R 11/00

Claims (3)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ファミリーボード側の信号を接続する第
    1の端子と、ファミリーボード側の電源に接続された 第2の端子と、ファミリーボード側の接地に接続された 第3の端子と、 第1の端子と第2の端子間または第1の端子と第3の端
    子間を短絡するショートピースとを備え、 ファミリーボード側とプローブカード側の信号線が接続
    されており、 ショートピースで第1の端子と第2の端子間または第1
    の端子と第3の端子間を短絡したときは、第1の端子の
    プローブカード側の信号線をファミリーボード側で切り
    離すことを特徴とするプローバのアタッチメントボー
    ド。
  2. 【請求項2】 ファミリーボード側の信号を、プリント
    基板上のパターンで接続する第1の端子と、 ファミリーボード側の電源に、プリント基板上のパター
    ンで接続された第2の端子と、 プローブカード側へ信号を、プリント基板上のパターン
    で接続する第3の端子と、 ファミリーボード側の接地に、プリント基板上のパター
    ンで接続された第4の端子と、第3の端子と第1の端子の間、第3の端子と第2の端子
    の間または第3の端子と第4の端子の間を短絡するショ
    ートピースと を備えことを特徴とするプローバのアタ
    ッチメントボード。
  3. 【請求項3】 互いに異なる電源に接続された複数の電
    源端子と、 プローブカード側へ電源を接続し、かつ、互いに導通し
    た複数の出力端子とを備え、 前記電源端子のいずれかと前記出力端子のいずれかとの
    間をショートピースで短絡する ことを特徴とするプロー
    バのアタッチメントボード。
JP1991025769U 1991-03-25 1991-03-25 プローバのアタッチメントボード Expired - Lifetime JP2584908Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1991025769U JP2584908Y2 (ja) 1991-03-25 1991-03-25 プローバのアタッチメントボード

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1991025769U JP2584908Y2 (ja) 1991-03-25 1991-03-25 プローバのアタッチメントボード

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0543081U JPH0543081U (ja) 1993-06-11
JP2584908Y2 true JP2584908Y2 (ja) 1998-11-11

Family

ID=12175055

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1991025769U Expired - Lifetime JP2584908Y2 (ja) 1991-03-25 1991-03-25 プローバのアタッチメントボード

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2584908Y2 (ja)

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55106876U (ja) * 1979-01-23 1980-07-25
JPS59192981A (ja) * 1983-04-15 1984-11-01 Mitsubishi Electric Corp Icソケツトアダプタ
JPH0134297Y2 (ja) * 1985-07-09 1989-10-18
JPS6267474A (ja) * 1985-09-20 1987-03-27 Mitsubishi Electric Corp 半導体試験装置
JPS6421374A (en) * 1987-07-17 1989-01-24 Nec Corp Apparatus for testing integrated circuit

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0543081U (ja) 1993-06-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3565893B2 (ja) プローブ装置及び電気回路素子計測装置
US5014002A (en) ATE jumper programmable interface board
US3917984A (en) Printed circuit board for mounting and connecting a plurality of semiconductor devices
US4130723A (en) Printed circuit with laterally displaced ground and signal conductor tracks
WO1999041812A1 (en) Ic socket
US6287132B1 (en) Connector with staggered contact design
WO2005101645A2 (en) Apparatus for providing a high frequency loop back with a dc path for a parametric test
US5068602A (en) DUT board for a semiconductor device tester having a reconfigurable coaxial interconnect grid and method of using same
US20140273569A1 (en) Active probe adaptor
CN211603445U (zh) 一种用于测试数字芯片振铃效应的系统
JPH10227830A (ja) Icテスタ用テストボード
US7567087B2 (en) Evaluation board and cable assembly evaluation method
JP2584908Y2 (ja) プローバのアタッチメントボード
US6030254A (en) Edge connector interposing probe
JP3093308U (ja) カードコネクタ構造
WO2003007002A3 (en) Interface apparatus for integrated circuit testing
JPH07335701A (ja) プロービング装置
US6194909B1 (en) Constructive module of an electronic telecommunications equipment, with an interface towards a testing and diagnosing system
US6411113B1 (en) Radio frequency test fixture
JPH06224530A (ja) プリント配線基板
JP2601680Y2 (ja) 接地基板つきオートハンドラ用コンタクトボード
JP2590502Y2 (ja) Icテスタ用プローバに使用する電源接地強化アタッチメントボード
JP2539860Y2 (ja) テストヘッド
SU841074A1 (ru) Устройство дл подключени микро-CXEM K изМЕРиТЕльНОй СиСТЕМЕ
JPH0720193A (ja) Dutボード

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19980721