JP2580852B2 - 集積回路の冷却構造 - Google Patents
集積回路の冷却構造Info
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- JP2580852B2 JP2580852B2 JP2198891A JP19889190A JP2580852B2 JP 2580852 B2 JP2580852 B2 JP 2580852B2 JP 2198891 A JP2198891 A JP 2198891A JP 19889190 A JP19889190 A JP 19889190A JP 2580852 B2 JP2580852 B2 JP 2580852B2
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- conductive compound
- cooling plate
- cooling structure
- cooling
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73253—Bump and layer connectors
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15312—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a pin array, e.g. PGA
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は情報処理装置等の電子機器に使用される集積
回路の冷却構造に関し、特に水などの液体冷媒を集積回
路の近傍に循環させ集積回路で発生した熱を伝導により
冷媒へ排出させる冷却構造に関する。
回路の冷却構造に関し、特に水などの液体冷媒を集積回
路の近傍に循環させ集積回路で発生した熱を伝導により
冷媒へ排出させる冷却構造に関する。
近年集積回路の高集積化および回路実装の高密度化が
大幅に進むに伴ない情報処理装置等の電子機器内の発熱
密度も増大している。このため従来の冷却ファンを用い
た強制空冷方式では機器の信頼性を保つ上での冷却能力
は限界に達している。これに代わるものとして水などの
熱容量の大きな液体冷媒を集積回路の近傍に循環させ発
生した熱を伝導により液体冷媒へ排出する方式が考案さ
れ実用化されるに至っている。
大幅に進むに伴ない情報処理装置等の電子機器内の発熱
密度も増大している。このため従来の冷却ファンを用い
た強制空冷方式では機器の信頼性を保つ上での冷却能力
は限界に達している。これに代わるものとして水などの
熱容量の大きな液体冷媒を集積回路の近傍に循環させ発
生した熱を伝導により液体冷媒へ排出する方式が考案さ
れ実用化されるに至っている。
第３図は従来の集積回路を冷却構造を示す断面図であ
る。101は集積回路で配線基板102上に複数個搭載されて
いる。冷却板103との間の微小間隙104はペースト状の熱
伝導性コンパウンド105が充填されており、集積回路101
で発生した熱は熱伝導性コンパウンド105を通って冷却
板103へ伝わりさらに冷却板103に取り付けられた冷媒流
路106を有する冷却器107へと伝わり液体冷媒へ排出され
る。
る。101は集積回路で配線基板102上に複数個搭載されて
いる。冷却板103との間の微小間隙104はペースト状の熱
伝導性コンパウンド105が充填されており、集積回路101
で発生した熱は熱伝導性コンパウンド105を通って冷却
板103へ伝わりさらに冷却板103に取り付けられた冷媒流
路106を有する冷却器107へと伝わり液体冷媒へ排出され
る。
上述した従来の冷却構造において熱伝導性コンパウン
ドはペースト状であるため流動性があり、垂直に実装さ
れたときに集積回路の上面から移動落下し熱抵抗が大き
くなるという問題があるほか、集積回路の動作時、非動
作時の温度差による部品の膨張、収縮の繰り返しによっ
ても熱伝導性コンパウンドが集積回路の上面より移動，
落下してしまう危険があり、これにより集積回路と、液
体冷媒との間の熱抵抗が増大して集積回路の温度が上昇
し、電子機器の信頼性が低下するという欠点がある。
ドはペースト状であるため流動性があり、垂直に実装さ
れたときに集積回路の上面から移動落下し熱抵抗が大き
くなるという問題があるほか、集積回路の動作時、非動
作時の温度差による部品の膨張、収縮の繰り返しによっ
ても熱伝導性コンパウンドが集積回路の上面より移動，
落下してしまう危険があり、これにより集積回路と、液
体冷媒との間の熱抵抗が増大して集積回路の温度が上昇
し、電子機器の信頼性が低下するという欠点がある。
本発明の冷却構造は、複数個の集積回路を搭載した配
線基板にフランジを取り付け、前記フランジに金属製の
冷却板を前記集積回路と微小間隙を隔てて対向するよう
固着し、前記微小間隙に熱伝導性コンパウンドを充填
し、前記冷却板に液体冷媒の出入口と内部の冷媒流路と
を具備した冷却器を取り付け、前記集積回路に前記微小
間隙を囲んで前記熱伝導性コンパウンドの移動を防止す
る枠を設けたことを特徴とする。
線基板にフランジを取り付け、前記フランジに金属製の
冷却板を前記集積回路と微小間隙を隔てて対向するよう
固着し、前記微小間隙に熱伝導性コンパウンドを充填
し、前記冷却板に液体冷媒の出入口と内部の冷媒流路と
を具備した冷却器を取り付け、前記集積回路に前記微小
間隙を囲んで前記熱伝導性コンパウンドの移動を防止す
る枠を設けたことを特徴とする。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本実施例を示す縦断面図である。
１はチップキャリアに収容された集積回路、２は配線
基板で集積回路１が複数個搭載されておりその反対側の
面には信号、電源の接続のための入出力ピン３を有して
いる。配線基板２にはフランジ４が取り付けられ、フラ
ンジ４には金属製の冷却板５が集積回路１と対向するよ
うねじ６により固着される。ここで冷却板５は集積回路
１の上面と微小間隙７を形成するよう加工されており、
微小間隙７にはシリコーンオイル、鉱油などに金属酸化
物などの熱伝導性の物質を混入した熱伝導性コンパウン
ド８が充填されている。冷却板５には液体冷媒の出入口
９、内部に冷媒流路10を有する冷却器11がねじ12によっ
て取付けられている。集積回路１で発生した熱は熱伝導
性コンパウンド８を介して冷却板５へ伝わり、さらに冷
却器11へと伝わって内部を流れる液体冷媒へと排熱され
る。
基板で集積回路１が複数個搭載されておりその反対側の
面には信号、電源の接続のための入出力ピン３を有して
いる。配線基板２にはフランジ４が取り付けられ、フラ
ンジ４には金属製の冷却板５が集積回路１と対向するよ
うねじ６により固着される。ここで冷却板５は集積回路
１の上面と微小間隙７を形成するよう加工されており、
微小間隙７にはシリコーンオイル、鉱油などに金属酸化
物などの熱伝導性の物質を混入した熱伝導性コンパウン
ド８が充填されている。冷却板５には液体冷媒の出入口
９、内部に冷媒流路10を有する冷却器11がねじ12によっ
て取付けられている。集積回路１で発生した熱は熱伝導
性コンパウンド８を介して冷却板５へ伝わり、さらに冷
却器11へと伝わって内部を流れる液体冷媒へと排熱され
る。
集積回路１の上面の外周部には第２図に示すようにゴ
ムなどの柔かい材料で作られた枠13が設けられており、
枠12は冷却板５を取り付けたときに集積回路１の上面と
冷却板５との微小間隙７を囲むため熱伝導性コンパウン
ド８は集積回路１の上面から移動しない。
ムなどの柔かい材料で作られた枠13が設けられており、
枠12は冷却板５を取り付けたときに集積回路１の上面と
冷却板５との微小間隙７を囲むため熱伝導性コンパウン
ド８は集積回路１の上面から移動しない。
したがって配線基板２を垂直に実装した場合でも熱伝
導性コンパウンド８が集積回路１の上面から落下するこ
とはない。また集積回路１の動作時、非動作時における
温度差により部品が膨張、収縮を繰り返しても熱伝導性
コンパウンド８は移動しない。これにより熱抵抗の上昇
が起こらず集積回路１の温度を低く保つことができるの
で電子機器の信頼性を良好に保つことができる。
導性コンパウンド８が集積回路１の上面から落下するこ
とはない。また集積回路１の動作時、非動作時における
温度差により部品が膨張、収縮を繰り返しても熱伝導性
コンパウンド８は移動しない。これにより熱抵抗の上昇
が起こらず集積回路１の温度を低く保つことができるの
で電子機器の信頼性を良好に保つことができる。
以上説明したように本発明は集積回路の上面に集積回
路と冷却板との微小間隙を囲む枠を設け熱伝導性コンパ
ウンドの移動を防止したことにより、集積回路を搭載し
た配線基板を垂直に実装したときに生じるコンパウンド
の落下や、集積回路の動作時、非動作時の温度差による
部品の膨張，収縮に起因するコンパウンドの移動が起こ
らない。したがって集積回路と冷媒との間の熱抵抗を低
く抑えることができ、電子機器の信頼性をじゅうぶん保
つことができるという効果がある。
路と冷却板との微小間隙を囲む枠を設け熱伝導性コンパ
ウンドの移動を防止したことにより、集積回路を搭載し
た配線基板を垂直に実装したときに生じるコンパウンド
の落下や、集積回路の動作時、非動作時の温度差による
部品の膨張，収縮に起因するコンパウンドの移動が起こ
らない。したがって集積回路と冷媒との間の熱抵抗を低
く抑えることができ、電子機器の信頼性をじゅうぶん保
つことができるという効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示す縦断面図、第２図は第
１図に示す集積回路１に枠13を設けたことを示す斜視
図、第３図は従来の集積回路の冷却構造を示す縦断面図
である。 １……集積回路、２……配線基板、３……入出力ピン、
４……フランジ、５……冷却板、６……ねじ、７……微
小間隙、８……熱伝導性コンパウンド、９……冷媒入口
（出口）、10……冷媒流路、11……冷却器、12……ね
じ、13……枠、101……集積回路、102……配線基板、10
3……冷却板、104……微小間隙、105……熱伝導性コン
パウンド、106……冷媒流路、107……冷却器。
１図に示す集積回路１に枠13を設けたことを示す斜視
図、第３図は従来の集積回路の冷却構造を示す縦断面図
である。 １……集積回路、２……配線基板、３……入出力ピン、
４……フランジ、５……冷却板、６……ねじ、７……微
小間隙、８……熱伝導性コンパウンド、９……冷媒入口
（出口）、10……冷媒流路、11……冷却器、12……ね
じ、13……枠、101……集積回路、102……配線基板、10
3……冷却板、104……微小間隙、105……熱伝導性コン
パウンド、106……冷媒流路、107……冷却器。
Claims (1)
- 【請求項１】複数個の集積回路を搭載した配線基板にフ
ランジを取り付け、前記フランジに金属製の冷却板を前
記集積回路と微小間隙を隔てて対向するよう固着し、前
記微小間隙に熱伝導性コンパウンドを充填し、前記冷却
板に液体冷媒の出入口と内部の冷媒流路とを具備した冷
却器を取り付け、前記集積回路に前記微小間隙を囲んで
前記熱伝導性コンパウンドの移動を防止する枠を儲けた
ことを特徴とする集積回路の冷却構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2198891A JP2580852B2 (ja) | 1990-07-26 | 1990-07-26 | 集積回路の冷却構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2198891A JP2580852B2 (ja) | 1990-07-26 | 1990-07-26 | 集積回路の冷却構造 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0485861A JPH0485861A (ja) | 1992-03-18 |
| JP2580852B2 true JP2580852B2 (ja) | 1997-02-12 |
Family
ID=16398658
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2198891A Expired - Lifetime JP2580852B2 (ja) | 1990-07-26 | 1990-07-26 | 集積回路の冷却構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2580852B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4673949B2 (ja) | 1999-11-12 | 2011-04-20 | 富士通株式会社 | 半導体ユニットおよびその製造方法 |
| WO2006087770A1 (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-24 | Fujitsu Limited | パッケージユニット |
| JP2009053082A (ja) * | 2007-08-28 | 2009-03-12 | Elpida Memory Inc | 半導体試験装置及び半導体試験方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03232260A (ja) * | 1990-02-07 | 1991-10-16 | Nec Corp | 集積回路の冷却装置 |
-
1990
- 1990-07-26 JP JP2198891A patent/JP2580852B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0485861A (ja) | 1992-03-18 |
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