JP2576948Y2 - 重量・寸法測定装置 - Google Patents
重量・寸法測定装置Info
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- JP2576948Y2 JP2576948Y2 JP1993008519U JP851993U JP2576948Y2 JP 2576948 Y2 JP2576948 Y2 JP 2576948Y2 JP 1993008519 U JP1993008519 U JP 1993008519U JP 851993 U JP851993 U JP 851993U JP 2576948 Y2 JP2576948 Y2 JP 2576948Y2
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Description
【考案の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、炉などの特殊雰囲気下
に配置される試料に適用可能な重量・寸法測定装置に関
し、その測定精度の向上を図った重量・寸法測定装置に
関するものである。
に配置される試料に適用可能な重量・寸法測定装置に関
し、その測定精度の向上を図った重量・寸法測定装置に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】例えば、炉に置かれる試料としてプレス
成形体がある。このプレス成形体は原料にワックスを混
練し所要形状にプレスしたグリーン体を炉において先ず
デワックスし、しかる後、焼結処理することにより最終
製品に仕上げられる。デワックス処理工程は、真空排気
した炉内でグリーン体を加熱し、成形体中に含まれるワ
ックスを徐々に蒸発させて除去する工程である。この
際、温度制御や圧力制御が早急に過ぎると、ワックスの
抜けが速く、したがって成形体の脱脂や焼結収縮が予想
以上に速く進行し、成形体に変形やひび割れ等を惹起す
る原因になる。しかして、従来では炉内における成形体
の変化を実際にモニタするのは困難とされていたため、
焼結完了後、あるいは脱脂を中断して、炉から取り出さ
れた成形体の状態を検査し、温度制御や圧力制御がいか
にあるべきかを経験や感に頼って評価するようにしてき
た。そのため、評価に客観性が乏しく、処理工程を確立
するのに長い時間を要していた。また、製品の品質を向
上させることも難しいという問題があった。
成形体がある。このプレス成形体は原料にワックスを混
練し所要形状にプレスしたグリーン体を炉において先ず
デワックスし、しかる後、焼結処理することにより最終
製品に仕上げられる。デワックス処理工程は、真空排気
した炉内でグリーン体を加熱し、成形体中に含まれるワ
ックスを徐々に蒸発させて除去する工程である。この
際、温度制御や圧力制御が早急に過ぎると、ワックスの
抜けが速く、したがって成形体の脱脂や焼結収縮が予想
以上に速く進行し、成形体に変形やひび割れ等を惹起す
る原因になる。しかして、従来では炉内における成形体
の変化を実際にモニタするのは困難とされていたため、
焼結完了後、あるいは脱脂を中断して、炉から取り出さ
れた成形体の状態を検査し、温度制御や圧力制御がいか
にあるべきかを経験や感に頼って評価するようにしてき
た。そのため、評価に客観性が乏しく、処理工程を確立
するのに長い時間を要していた。また、製品の品質を向
上させることも難しいという問題があった。
【０００３】そこで、本考案者は、炉への悪影響を最少
限に抑止しつつ、成形体の寸法および重量を高い精度で
測定できるようにした重量・寸法測定装置を開発し、特
開平３−６３５９０号において提案した。このものは、
図５に示すように、上向面１ａ上に試料Ａを保持する受
皿１と、この受皿１が設置される設置台２と、受皿１お
よび試料Ａに交互に接触し得る位置に配設され受皿１を
試料Ａとともに持ち上げ設置台２から離間させ得るプロ
ーブ３と、このプローブ３を試料Ａと受皿１の間で相対
変位させたときの該プローブ３の上端部の移動量を該上
端部に掛かる荷重とともに検出する検出手段４とを具備
してなる。そして、例えば次のような測定原理に基づい
て試料Ａの重量変化および寸法変化を測定する。先ず、
プローブ３を図５に示す位置から下方に向かって移動さ
せると、プローブ３が試料上のＰ1 点に接触し、図７に
示すようにプローブ上端部に掛かる荷重が減少する。次
に、プローブ３を図５に示す位置から上方に向かって移
動させると、プローブ３が受皿１のＰ2 点を持ち上げ、
図７に示すようにプローブ上端部に掛かる荷重が増加す
る。そして、検出手段４により検出されるＰ1 点からＰ
2 点までのプローブ移動量Ｘは、試料Ａと受皿１の寸法
Ｌに対応しており、試料Ａの寸法変化はＸの変化として
測定できる。また、Ｐ2 点に接触する前後において検出
手段４により検出されるプローブ荷重差Ｗは、試料Ａと
受皿１の重量Ｗに対応しており、試料Ａの重量変化はＷ
の変化として測定できる。かくして、同装置は、試料Ａ
の寸法変化と重量変化をほぼ同時に求める機能を発揮す
る。これらの測定は、炉床Ｆが沈降したり、プローブ３
が伸びる等の外因が生じても、正確に保たれる。何故な
ら、常に相対的な測定を基調としており、測定差をとっ
たときにそれらの外因がキャンセルされるからである。
限に抑止しつつ、成形体の寸法および重量を高い精度で
測定できるようにした重量・寸法測定装置を開発し、特
開平３−６３５９０号において提案した。このものは、
図５に示すように、上向面１ａ上に試料Ａを保持する受
皿１と、この受皿１が設置される設置台２と、受皿１お
よび試料Ａに交互に接触し得る位置に配設され受皿１を
試料Ａとともに持ち上げ設置台２から離間させ得るプロ
ーブ３と、このプローブ３を試料Ａと受皿１の間で相対
変位させたときの該プローブ３の上端部の移動量を該上
端部に掛かる荷重とともに検出する検出手段４とを具備
してなる。そして、例えば次のような測定原理に基づい
て試料Ａの重量変化および寸法変化を測定する。先ず、
プローブ３を図５に示す位置から下方に向かって移動さ
せると、プローブ３が試料上のＰ1 点に接触し、図７に
示すようにプローブ上端部に掛かる荷重が減少する。次
に、プローブ３を図５に示す位置から上方に向かって移
動させると、プローブ３が受皿１のＰ2 点を持ち上げ、
図７に示すようにプローブ上端部に掛かる荷重が増加す
る。そして、検出手段４により検出されるＰ1 点からＰ
2 点までのプローブ移動量Ｘは、試料Ａと受皿１の寸法
Ｌに対応しており、試料Ａの寸法変化はＸの変化として
測定できる。また、Ｐ2 点に接触する前後において検出
手段４により検出されるプローブ荷重差Ｗは、試料Ａと
受皿１の重量Ｗに対応しており、試料Ａの重量変化はＷ
の変化として測定できる。かくして、同装置は、試料Ａ
の寸法変化と重量変化をほぼ同時に求める機能を発揮す
る。これらの測定は、炉床Ｆが沈降したり、プローブ３
が伸びる等の外因が生じても、正確に保たれる。何故な
ら、常に相対的な測定を基調としており、測定差をとっ
たときにそれらの外因がキャンセルされるからである。
【０００４】
【考案が解決しようとする課題】ところが、このような
装置においても、寸法変化に対して測定誤差の入り込む
余地がある。例えば、図６に想像線で示すように測定中
に炉床Ｆが傾いた場合を考えると、受皿１はその下面１
ｂにおいて設置台２の上面２ａに平面的に面接触するた
め、炉床Ｆが傾くと受皿１が試料Ａとともに追従して傾
く。これに対して、プローブ３は常に鉛直姿勢を保つた
め、プローブ３の接点が移動し、プローブ３により検出
される試料Ａと受皿１の見掛け上の寸法Ｌ´が実寸Ｌよ
りも増大する。このように、図示装置は、炉床Ｆへの熱
的影響が大きい炉や、炉床Ｆが脆弱である炉に適用した
ときに、寸法測定に誤差が生じ易いという問題がある。
装置においても、寸法変化に対して測定誤差の入り込む
余地がある。例えば、図６に想像線で示すように測定中
に炉床Ｆが傾いた場合を考えると、受皿１はその下面１
ｂにおいて設置台２の上面２ａに平面的に面接触するた
め、炉床Ｆが傾くと受皿１が試料Ａとともに追従して傾
く。これに対して、プローブ３は常に鉛直姿勢を保つた
め、プローブ３の接点が移動し、プローブ３により検出
される試料Ａと受皿１の見掛け上の寸法Ｌ´が実寸Ｌよ
りも増大する。このように、図示装置は、炉床Ｆへの熱
的影響が大きい炉や、炉床Ｆが脆弱である炉に適用した
ときに、寸法測定に誤差が生じ易いという問題がある。
【０００５】本考案は、このような課題に着目してなさ
れたものであって、炉床が傾いたときにも試料寸法を正
確に測定することができるようにした重量・寸法測定装
置を提供することを目的としている。
れたものであって、炉床が傾いたときにも試料寸法を正
確に測定することができるようにした重量・寸法測定装
置を提供することを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本考案は、かかる目的を
達成するために、次のような構成を採用したものであ
る。
達成するために、次のような構成を採用したものであ
る。
【０００７】すなわち、本考案に係る重量・寸法測定装
置は、上向面上に試料を保持する受皿と、この受皿が設
置される設置台と、受皿および試料に交互に接触し得る
位置に配設され受皿を試料とともに持ち上げ設置台から
離間させ得るプローブと、このプローブを試料と受皿の
間で相対変位させたときの該プローブ上端部の移動量を
該プローブ上端部に掛かる荷重とともに検出する検出手
段とを具備してなり、試料の上下寸法と重量とをほぼ同
時に測定し得るようにしたものにおいて、前記受皿又は
設置台の一方に球面状の接面を形成し、受皿を設置台上
に設置したときに両者間にその接面に沿って環状の接触
部が形成されるようにしたことを特徴とする。
置は、上向面上に試料を保持する受皿と、この受皿が設
置される設置台と、受皿および試料に交互に接触し得る
位置に配設され受皿を試料とともに持ち上げ設置台から
離間させ得るプローブと、このプローブを試料と受皿の
間で相対変位させたときの該プローブ上端部の移動量を
該プローブ上端部に掛かる荷重とともに検出する検出手
段とを具備してなり、試料の上下寸法と重量とをほぼ同
時に測定し得るようにしたものにおいて、前記受皿又は
設置台の一方に球面状の接面を形成し、受皿を設置台上
に設置したときに両者間にその接面に沿って環状の接触
部が形成されるようにしたことを特徴とする。
【０００８】
【作用】このような構成のものであれば、炉床が傾いて
も、その後にプローブが設置台から受皿を試料とともい
持ち上げて再びその受皿を設置台上に下ろす動作を行う
ことで、試料の傾きが防止される。すなわち、設置台が
傾いても受皿はプローブに持ち上げられた際に鉛直姿勢
を取り戻すため、再着地する際に受皿は設置台に対して
球面状の接面に沿って従前とは異なる新たな相対位置に
着地する。そして、このとき再び環状の接触部が形成さ
れ、試料は鉛直姿勢のままで受皿を介して設置台上に安
定設置する。このため、本構造を採用すると、炉床が傾
いてもプローブの接点を移動することがなく、試料に見
掛け上の寸法変化が生じる不具合を確実に防止すること
になる。
も、その後にプローブが設置台から受皿を試料とともい
持ち上げて再びその受皿を設置台上に下ろす動作を行う
ことで、試料の傾きが防止される。すなわち、設置台が
傾いても受皿はプローブに持ち上げられた際に鉛直姿勢
を取り戻すため、再着地する際に受皿は設置台に対して
球面状の接面に沿って従前とは異なる新たな相対位置に
着地する。そして、このとき再び環状の接触部が形成さ
れ、試料は鉛直姿勢のままで受皿を介して設置台上に安
定設置する。このため、本構造を採用すると、炉床が傾
いてもプローブの接点を移動することがなく、試料に見
掛け上の寸法変化が生じる不具合を確実に防止すること
になる。
【０００９】
【実施例】以下、本考案の一実施例を、図面を参照して
説明する。
説明する。
【００１０】この重量・寸法測定装置は、図５に示した
従来装置と基本的に同じ構成要素を具備してなるもの
で、図１に示すように、上向面１ａ上に試料Ａを保持す
る受皿１と、この受皿１が設置される設置台２と、受皿
１および試料Ａに交互に接触し得る位置に配設され受皿
１を試料Ａとともに持ち上げ設置台２から離間させ得る
プローブ３と、このプローブ３を試料Ａと受皿１の間で
相対変位させたときの該プローブ３の上端部の移動量を
該上端部に掛かる荷重とともに検出する検出手段４とを
具備してなる。そして、プローブ３を、試料Ａ上のＰ1
点に接触する位置と受皿１上のＰ2 点に接触する位置と
の間で相対変位させ、検出手段４において試料寸法Ｌお
よび荷重Ｗを測定するようになっている。
従来装置と基本的に同じ構成要素を具備してなるもの
で、図１に示すように、上向面１ａ上に試料Ａを保持す
る受皿１と、この受皿１が設置される設置台２と、受皿
１および試料Ａに交互に接触し得る位置に配設され受皿
１を試料Ａとともに持ち上げ設置台２から離間させ得る
プローブ３と、このプローブ３を試料Ａと受皿１の間で
相対変位させたときの該プローブ３の上端部の移動量を
該上端部に掛かる荷重とともに検出する検出手段４とを
具備してなる。そして、プローブ３を、試料Ａ上のＰ1
点に接触する位置と受皿１上のＰ2 点に接触する位置と
の間で相対変位させ、検出手段４において試料寸法Ｌお
よび荷重Ｗを測定するようになっている。
【００１１】このような構成において、本実施例におけ
る試料設置構造は、設置台２の上端に球状の接面５2 を
形成するとともに、受皿１の下面に円錐部５1 を設け、
受皿１を設置台２の上端に設置したときに、前記接面５
2 と円錐部５1 との間に環状の接触部５が形成されるよ
うにしている。
る試料設置構造は、設置台２の上端に球状の接面５2 を
形成するとともに、受皿１の下面に円錐部５1 を設け、
受皿１を設置台２の上端に設置したときに、前記接面５
2 と円錐部５1 との間に環状の接触部５が形成されるよ
うにしている。
【００１２】このような設置構造を採用すると、図２に
想像線で示すように、炉床Ｆが傾いても、その後にプロ
ーブ３が設置台２から受皿１を試料Ａとともに持ち上げ
て再びそれらを設置台２上に下ろす動作を行うことで受
皿１および試料Ａの傾きの防止が図られることになる。
つまり、設置台２が傾いても受皿１はプローブ３に持ち
上げられた際に鉛直姿勢を取り戻し、再着地する際に設
置台２に対して球面状の接面５2 に沿って従前とは異な
る新たな相対位置に着地する。そして、このとき接面５
2 と円筒部５1 との間に再び環状の接触部５が形成さ
れ、試料Ａは受皿１を介して鉛直姿勢のままで設置台２
上に安定設置することになる。したがって、本構造を採
用すると、炉床Ｆが傾いても、プローブ３はやはり試料
Ａ上のＰ1点と受皿１上のＰ2 点とに接触して測定を行
うことになり、接点移動により試料Ａの見掛け上の寸法
Ｌが測定される不具合を解消することができる。このた
め、本装置は、炉床Ｆへの熱的影響が大きい炉や、炉床
Ｆが脆弱である炉に適用しても、寸法測定精度を高いレ
ベルに保つことが可能になる。
想像線で示すように、炉床Ｆが傾いても、その後にプロ
ーブ３が設置台２から受皿１を試料Ａとともに持ち上げ
て再びそれらを設置台２上に下ろす動作を行うことで受
皿１および試料Ａの傾きの防止が図られることになる。
つまり、設置台２が傾いても受皿１はプローブ３に持ち
上げられた際に鉛直姿勢を取り戻し、再着地する際に設
置台２に対して球面状の接面５2 に沿って従前とは異な
る新たな相対位置に着地する。そして、このとき接面５
2 と円筒部５1 との間に再び環状の接触部５が形成さ
れ、試料Ａは受皿１を介して鉛直姿勢のままで設置台２
上に安定設置することになる。したがって、本構造を採
用すると、炉床Ｆが傾いても、プローブ３はやはり試料
Ａ上のＰ1点と受皿１上のＰ2 点とに接触して測定を行
うことになり、接点移動により試料Ａの見掛け上の寸法
Ｌが測定される不具合を解消することができる。このた
め、本装置は、炉床Ｆへの熱的影響が大きい炉や、炉床
Ｆが脆弱である炉に適用しても、寸法測定精度を高いレ
ベルに保つことが可能になる。
【００１３】なお、各部の具体的な形状、構造などは上
記実施例のものに限定されるものではなく、本考案の趣
旨を逸脱しない範囲で種々変形が可能である。例えば、
上記実施例では接面５2 を球面状にしているが、図３に
示すように点Ｏを中心とする半径Ｒ上の部分球面６2 に
よって環状接触部６を形成してもよい。その球面６2は
接線方向のテーパ面で近似させることもできる。また、
上記実施例では設置台２側に球面状の接面５2 を設けた
が、図４に示すように受皿１側に球面状の接面７1 を設
け、これを設置台２側の円筒部７2 で受けて環状接触部
７を形成するようにしてもよい。
記実施例のものに限定されるものではなく、本考案の趣
旨を逸脱しない範囲で種々変形が可能である。例えば、
上記実施例では接面５2 を球面状にしているが、図３に
示すように点Ｏを中心とする半径Ｒ上の部分球面６2 に
よって環状接触部６を形成してもよい。その球面６2は
接線方向のテーパ面で近似させることもできる。また、
上記実施例では設置台２側に球面状の接面５2 を設けた
が、図４に示すように受皿１側に球面状の接面７1 を設
け、これを設置台２側の円筒部７2 で受けて環状接触部
７を形成するようにしてもよい。
【００１４】
【考案の効果】本考案に係る重量・寸法測定装置は、以
上説明したように、受皿又は設置台の一方の接面を球面
状に成形し、受皿を設置台上に設置したときに両者間に
その接面に沿って環状の接触部が形成されるようにした
ものである。このため、試料を受皿を介して常に鉛直姿
勢に保持したまま設置台上に安定設置させ、炉床が傾い
たときにも試料に実際とは異なる見掛け上の寸法変化が
生じることを防止することができる。そして、重量・寸
法測定装置の測定精度を有効に向上させるという優れた
効果を奏する。
上説明したように、受皿又は設置台の一方の接面を球面
状に成形し、受皿を設置台上に設置したときに両者間に
その接面に沿って環状の接触部が形成されるようにした
ものである。このため、試料を受皿を介して常に鉛直姿
勢に保持したまま設置台上に安定設置させ、炉床が傾い
たときにも試料に実際とは異なる見掛け上の寸法変化が
生じることを防止することができる。そして、重量・寸
法測定装置の測定精度を有効に向上させるという優れた
効果を奏する。
【図１】本考案の一実施例を示す一部破断した要部正面
図。
図。
【図２】図１の作用説明図。
【図３】本考案の他の実施例を示す図１に対応した部分
拡大正面図。
拡大正面図。
【図４】本考案のさらに他の実施例を示す図１に対応し
た部分拡大正面図。
た部分拡大正面図。
【図５】従来例を示す図１に対応した正面図。
【図６】図５の作用説明図。
【図７】同従来例の動作説明図。
１…受皿 １ａ…上向面 ２…設置台 ３…プローブ ４…検出手段 ５、６、７…接触部 ５2 、６2 、７1 …接面 Ａ…試料 Ｌ…寸法 Ｗ…重量
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01D 21/02 G01B 5/02 G01G 19/14
Claims (1)
- 【請求項１】上向面上に試料を保持する受皿と、この受
皿が設置される設置台と、受皿および試料に交互に接触
し得る位置に配設され受皿を試料とともに持ち上げ設置
台から離間させ得るプローブと、このプローブを試料と
受皿の間で相対変位させたときの該プローブ上端部の移
動量を該プローブ上端部に掛かる荷重とともに検出する
検出手段とを具備してなり、試料の上下寸法と重量とを
ほぼ同時に測定し得るようにした重量・寸法測定装置に
おいて、 前記受皿又は設置台の一方に球面状の接面を形成し、受
皿を設置台上に設置したときに両者間にその接面に沿っ
て環状の接触部が形成されるようにしたことを特徴とす
る重量・寸法測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993008519U JP2576948Y2 (ja) | 1993-03-03 | 1993-03-03 | 重量・寸法測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993008519U JP2576948Y2 (ja) | 1993-03-03 | 1993-03-03 | 重量・寸法測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0669737U JPH0669737U (ja) | 1994-09-30 |
| JP2576948Y2 true JP2576948Y2 (ja) | 1998-07-23 |
Family
ID=18528574
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1993008519U Expired - Fee Related JP2576948Y2 (ja) | 1993-03-03 | 1993-03-03 | 重量・寸法測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2576948Y2 (ja) |
-
1993
- 1993-03-03 JP JP1993008519U patent/JP2576948Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0669737U (ja) | 1994-09-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |