JP2575210B2 - 非停電絶縁診断装置 - Google Patents
非停電絶縁診断装置Info
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、運転中の受変電設備機器の絶縁診断を非
停電のもとで行うことができる非停電絶縁診断装置に関
するものである。
停電のもとで行うことができる非停電絶縁診断装置に関
するものである。
従来のこの種の装置として第３図に示すものがあっ
た。
た。
図はビル等の受変電室に設置された電気機器の絶縁劣
化診断を活線の状態で行う非停電絶縁診断装置の構成図
であり、図において、１は母線、２はプッシング端子４
を介して母線１から課電される被診断機器、３は接地、
５は被診断機器２の接地線である。６は前記接地線５に
クランプしたクランプ型電流センサCT2、７は計測部、
８は標準抵抗を内蔵し、母線１に脱着可能な診断ロッ
ド、９は診断ロッド用のアース線である。
化診断を活線の状態で行う非停電絶縁診断装置の構成図
であり、図において、１は母線、２はプッシング端子４
を介して母線１から課電される被診断機器、３は接地、
５は被診断機器２の接地線である。６は前記接地線５に
クランプしたクランプ型電流センサCT2、７は計測部、
８は標準抵抗を内蔵し、母線１に脱着可能な診断ロッ
ド、９は診断ロッド用のアース線である。
次に動作について説明する。最初に第５図（ａ）の等
価回路、および同図（ｂ）のベクトル図を参照して説明
する。まず、被診断機器２の大地絶縁抵抗をRX、並列静
電容量をCXとすると、これらを経由して、接地線５に破
線で示す大地漏れ電流IXが流れる。第５図（ｂ）はこれ
をベクトル図で示したもので、母線電圧Ｖに対して大地
漏れ電流IXは該母線電圧Ｖと同相の電流成分IRXで表わ
される。また、電流成分ICXは電圧成分Ｖよりもπ/2進
みの成分で表わされる。このうち機器の絶縁劣化と強い
相関を示す成分は大地絶縁抵抗RXの電流成分IRXであ
り、これと大地静電容量CXの電流成分ICXとの比をとっ
て誘電体損失率tanδを定義し、このtanδの大小で機器
絶縁劣化の程度を表わしている。
価回路、および同図（ｂ）のベクトル図を参照して説明
する。まず、被診断機器２の大地絶縁抵抗をRX、並列静
電容量をCXとすると、これらを経由して、接地線５に破
線で示す大地漏れ電流IXが流れる。第５図（ｂ）はこれ
をベクトル図で示したもので、母線電圧Ｖに対して大地
漏れ電流IXは該母線電圧Ｖと同相の電流成分IRXで表わ
される。また、電流成分ICXは電圧成分Ｖよりもπ/2進
みの成分で表わされる。このうち機器の絶縁劣化と強い
相関を示す成分は大地絶縁抵抗RXの電流成分IRXであ
り、これと大地静電容量CXの電流成分ICXとの比をとっ
て誘電体損失率tanδを定義し、このtanδの大小で機器
絶縁劣化の程度を表わしている。
そこで、診断ロッド８を当該被診断機器２が接続され
ている母線１の一線に接触させると、内蔵された標準抵
抗RSを経由して、母線電圧Ｖと完全に同相の基準信号電
流ISが流れ、この基準信号電流ISを計測部７に入力す
る。一方、被診断機器２の大地漏れ電流IXはクランプ型
電流センサCT2（６）によって磁気結合的に検出され、
この漏れ電流iXを計測部７の他の端子に入力する。計測
部７では第５図（ｂ）に示すように基準信号電流ISをπ
/2遅らせ、且つ静電容量CXの電流成分ICXと相殺するよ
うな利得制御を行うことにより、すなわちベクトル演算
関数φにて処理されたφ・IS成分を用いることで、大地
漏れ電流IXの中から絶縁抵抗RXの電流成分IRXを検出す
る。その後、計測部７においてtanδ＝IRX/|φ・IS|,CX
＝｜φ|/ωRS,RX＝1/ωCXtanδなる内部演算を実行し
て、tanδ,CX,RXをそれぞれ計測部７に表示させる。こ
こで、ωは母線交流電圧の角周波数である。また、クラ
ンプ型電流センサCT2（６）によって検出された漏れ電
流iXは大地漏れ電流IXと同価に扱っている。
ている母線１の一線に接触させると、内蔵された標準抵
抗RSを経由して、母線電圧Ｖと完全に同相の基準信号電
流ISが流れ、この基準信号電流ISを計測部７に入力す
る。一方、被診断機器２の大地漏れ電流IXはクランプ型
電流センサCT2（６）によって磁気結合的に検出され、
この漏れ電流iXを計測部７の他の端子に入力する。計測
部７では第５図（ｂ）に示すように基準信号電流ISをπ
/2遅らせ、且つ静電容量CXの電流成分ICXと相殺するよ
うな利得制御を行うことにより、すなわちベクトル演算
関数φにて処理されたφ・IS成分を用いることで、大地
漏れ電流IXの中から絶縁抵抗RXの電流成分IRXを検出す
る。その後、計測部７においてtanδ＝IRX/|φ・IS|,CX
＝｜φ|/ωRS,RX＝1/ωCXtanδなる内部演算を実行し
て、tanδ,CX,RXをそれぞれ計測部７に表示させる。こ
こで、ωは母線交流電圧の角周波数である。また、クラ
ンプ型電流センサCT2（６）によって検出された漏れ電
流iXは大地漏れ電流IXと同価に扱っている。
このように被診断機器２が母線１の一線と大地との間
に電気的に設置されている場合には、機器を電路から切
り離すことなく絶縁診断することが可能である。
に電気的に設置されている場合には、機器を電路から切
り離すことなく絶縁診断することが可能である。
しかし、上記の計測方法では第４図に示すように被診
断機器２が母線１の二線間、あるいは三線相互間から課
電されている場合には、以下の理由により絶縁診断をす
ることが不可能となる。
断機器２が母線１の二線間、あるいは三線相互間から課
電されている場合には、以下の理由により絶縁診断をす
ることが不可能となる。
例えば、第６図（ａ）の等価回路、および同図（ｂ）
のベクトル図は上記理由を図示したものである。第４図
のように被診断機器２がｕ相とｖ相の母線から課電され
ている場合には、第６図（ａ）のように各相と大地間の
大地絶縁抵抗RXu,RXv、および大地静電容量CXu,CXvに対
応して、それぞれ大地漏れ電流IRXu,IRXvおよびICXu,I
CXvが流れる。第６図（ｂ）はこれら各電流成分と母線
電圧Vu,Vvとの位相関係をベクトル的に示している。同
図には被診断機器２全体の大地漏れ電流IXがｕ相の成分
IXu、およびｖ相の成分IXvから構成されることが示され
ている。そして大地漏れ電流IXがICXuとICXvのベクトル
和ICX、およびIRXuとIRXvのベクトル和IRXの成分に分解
され、IRX/ICXがtanδであることも示している。
のベクトル図は上記理由を図示したものである。第４図
のように被診断機器２がｕ相とｖ相の母線から課電され
ている場合には、第６図（ａ）のように各相と大地間の
大地絶縁抵抗RXu,RXv、および大地静電容量CXu,CXvに対
応して、それぞれ大地漏れ電流IRXu,IRXvおよびICXu,I
CXvが流れる。第６図（ｂ）はこれら各電流成分と母線
電圧Vu,Vvとの位相関係をベクトル的に示している。同
図には被診断機器２全体の大地漏れ電流IXがｕ相の成分
IXu、およびｖ相の成分IXvから構成されることが示され
ている。そして大地漏れ電流IXがICXuとICXvのベクトル
和ICX、およびIRXuとIRXvのベクトル和IRXの成分に分解
され、IRX/ICXがtanδであることも示している。
さて、大地漏れ電流ICXuとICXvが等しいときには、ベ
クトル和ICXは、各相母線から標準抵抗RSを経由して得
られる基準信号電流ISuおよびISvのベクトル和IS（図示
せず）をベクトル演算関数φにて処理されたφ・IS成分
によって相殺される。したがって漏れ電流IXの中から正
確にIRXuとIRXvのベクトル和であるIRXを検出すること
ができるので、計測部７の内部演算からtanδ等を計測
できる。
クトル和ICXは、各相母線から標準抵抗RSを経由して得
られる基準信号電流ISuおよびISvのベクトル和IS（図示
せず）をベクトル演算関数φにて処理されたφ・IS成分
によって相殺される。したがって漏れ電流IXの中から正
確にIRXuとIRXvのベクトル和であるIRXを検出すること
ができるので、計測部７の内部演算からtanδ等を計測
できる。
しかし、一般に各相の接地に対する大地静電容量CXu
およびCXvは１〜５％程度相異しているので、上記した
φ・Is成分によって大地漏れ電流ICXを正確に相殺させ
ることは不可能であり、よってtanδや絶縁抵抗を演算
表示させると誤差が大となって計測の意味を失う。
およびCXvは１〜５％程度相異しているので、上記した
φ・Is成分によって大地漏れ電流ICXを正確に相殺させ
ることは不可能であり、よってtanδや絶縁抵抗を演算
表示させると誤差が大となって計測の意味を失う。
このことは被診断機器２が母線の三線間から課電され
る場合についても同様である。
る場合についても同様である。
従来の非停電絶縁診断装置は以上のように構成されて
いるので、被診断機器が母線の一つの相から課電される
場合のみしか有効な絶縁診断結果を出力することはでき
なかった。また、現場安全の見地からすれば診断ロッド
を直接母線に接触させる行為が伴う作業は大変危険であ
るという課題があった。
いるので、被診断機器が母線の一つの相から課電される
場合のみしか有効な絶縁診断結果を出力することはでき
なかった。また、現場安全の見地からすれば診断ロッド
を直接母線に接触させる行為が伴う作業は大変危険であ
るという課題があった。
この発明は上記のような課題を解消するためになされ
たもので、被診断機器が複数の相から課電されている場
合であっても非停電で絶縁診断することができ、また診
断ロッドを母線に接触させる必要がなくして安心して現
場作業を実行できる非停電絶縁診断装置を得ることを目
的とする。
たもので、被診断機器が複数の相から課電されている場
合であっても非停電で絶縁診断することができ、また診
断ロッドを母線に接触させる必要がなくして安心して現
場作業を実行できる非停電絶縁診断装置を得ることを目
的とする。
この発明に係る非停電絶縁診断装置は、母線に接続さ
れた被診断装置の接地線にクランプ型変成器を磁気誘導
セットし、商用周波より充分高い周波数の高周波電流を
高周波電源より供給し、前記被診断機器の接地線に計測
部の一方の入力端子を接続する。そして、他の入力端子
を、母線に繋がれた他の機器の接地相当線にクランプ型
電流センサを介して磁気誘導セットし、前記計測部にお
いて検出した高周波電流に起因する漏れ電流より演算に
よって絶縁抵抗、誘電体損失率及び静電容量を求め表示
するようにしたものである。
れた被診断装置の接地線にクランプ型変成器を磁気誘導
セットし、商用周波より充分高い周波数の高周波電流を
高周波電源より供給し、前記被診断機器の接地線に計測
部の一方の入力端子を接続する。そして、他の入力端子
を、母線に繋がれた他の機器の接地相当線にクランプ型
電流センサを介して磁気誘導セットし、前記計測部にお
いて検出した高周波電流に起因する漏れ電流より演算に
よって絶縁抵抗、誘電体損失率及び静電容量を求め表示
するようにしたものである。
この発明における非停電絶縁診断装置は被診断機器の
接地線にクランプ型変成器を磁気誘導セットと、そのク
ランプ型変成器の１次側から高周波電源により高周波の
電流を供給すると共に、前記被診断機器の接地線に計測
部の一方の入力端子を接続し、他の入力端子を母線に接
続した他の機器の接地相当線にクランプ型電流センサを
介して磁気誘導セットし、前記高周波電流によって接地
線に誘起された電圧による被診断機器の絶縁状態に対応
した漏れ電流を検出して、演算によって誘電体損失率等
を求めるので、良好な検出信号下での非停電絶縁診断を
可能とする。
接地線にクランプ型変成器を磁気誘導セットと、そのク
ランプ型変成器の１次側から高周波電源により高周波の
電流を供給すると共に、前記被診断機器の接地線に計測
部の一方の入力端子を接続し、他の入力端子を母線に接
続した他の機器の接地相当線にクランプ型電流センサを
介して磁気誘導セットし、前記高周波電流によって接地
線に誘起された電圧による被診断機器の絶縁状態に対応
した漏れ電流を検出して、演算によって誘電体損失率等
を求めるので、良好な検出信号下での非停電絶縁診断を
可能とする。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。図
中、第３図及び第４図と同一の部分は同一の符号をもっ
て図示した第１図において、10は被診断機器２の接地線
５にクランプされた磁気誘導セットのクランプ型変成器
CT1（10）、11はクランプ型変成器CT1（10）の一次側に
電流を供給し接地線５に高周波電圧を磁気誘導する高周
波電源、13は被診断機器２に隣接する比較的静電容量の
大きい他の機器、６は前記他の機器13の接地線14にクラ
ンプして取り付けたクランプ型電流センサCT2（６）、2
0はクランプ型電流センサCT2（６）により検出された電
流から周波数ｆの漏れ電流Ixfを抽出する電流抽出部、
７は被診断機器２の接地線５に印加される電圧Vfを基準
にして、電流抽出部20により抽出された漏れ電流Ixfか
ら被診断機器２の誘電体損失率を演算する計測部であ
る。
中、第３図及び第４図と同一の部分は同一の符号をもっ
て図示した第１図において、10は被診断機器２の接地線
５にクランプされた磁気誘導セットのクランプ型変成器
CT1（10）、11はクランプ型変成器CT1（10）の一次側に
電流を供給し接地線５に高周波電圧を磁気誘導する高周
波電源、13は被診断機器２に隣接する比較的静電容量の
大きい他の機器、６は前記他の機器13の接地線14にクラ
ンプして取り付けたクランプ型電流センサCT2（６）、2
0はクランプ型電流センサCT2（６）により検出された電
流から周波数ｆの漏れ電流Ixfを抽出する電流抽出部、
７は被診断機器２の接地線５に印加される電圧Vfを基準
にして、電流抽出部20により抽出された漏れ電流Ixfか
ら被診断機器２の誘電体損失率を演算する計測部であ
る。
次に第２図（ａ），（ｂ）を参照して動作について説
明する。
明する。
まず、クランプ型変成器CT1（10）はその１次側巻線
のターン数、高周波電源11の周波数及び、インピーダン
ス等を適当に選ぶことにより、鉄心磁束密度１〜1.5テ
スラにて、接地線のａ点と接地３間に１ターン当り、例
えば1035Hz、10Vの電圧Vfを誘導することができる。こ
の誘起電圧Vfは母線電圧6600Vに比較すると充分低く、
機器の絶縁に悪影響を与えることはない。ここで、例え
ば被診断機器２が三相機器の場合には、第２図（ａ）に
示すようにu,v,w相と接地（３）間にはそれぞれ静電容
量Cxu,Cxv,Cxw、および絶縁抵抗Rxu,Rxv,Rxwが存在す
る。被診断機器２が変圧器の場合には静電容量CXの大き
さは1,000〜5,000pF程度、また、計器用変圧器等では50
〜100pF程度である。一方、受変電設備機器で静電容量
の大きい引込用ケーブルや進相コンデンサ等では静電容
量Cou,Cov,Cowとして10,000〜100,000pFが存在し、これ
が被診断機器２と並列に入るの合前記10V程度の高周波
の誘導電圧Vfはそのほとんどが被診断機器２に加わるこ
ととなる。
のターン数、高周波電源11の周波数及び、インピーダン
ス等を適当に選ぶことにより、鉄心磁束密度１〜1.5テ
スラにて、接地線のａ点と接地３間に１ターン当り、例
えば1035Hz、10Vの電圧Vfを誘導することができる。こ
の誘起電圧Vfは母線電圧6600Vに比較すると充分低く、
機器の絶縁に悪影響を与えることはない。ここで、例え
ば被診断機器２が三相機器の場合には、第２図（ａ）に
示すようにu,v,w相と接地（３）間にはそれぞれ静電容
量Cxu,Cxv,Cxw、および絶縁抵抗Rxu,Rxv,Rxwが存在す
る。被診断機器２が変圧器の場合には静電容量CXの大き
さは1,000〜5,000pF程度、また、計器用変圧器等では50
〜100pF程度である。一方、受変電設備機器で静電容量
の大きい引込用ケーブルや進相コンデンサ等では静電容
量Cou,Cov,Cowとして10,000〜100,000pFが存在し、これ
が被診断機器２と並列に入るの合前記10V程度の高周波
の誘導電圧Vfはそのほとんどが被診断機器２に加わるこ
ととなる。
したがって絶縁抵抗RX、および静電容量CXに起因する
周波数ｆの漏れ電流IXfは三相一括的に母線１を経由し
てケーブルやコンデンサ等の他の機器13に流入する。こ
の漏れ電流IXfは他の機器13の接地15を通って高周波電
圧注入点の接地３へ戻ってくるので、接地線５にクラン
プ型電流センサを磁気誘導セットして検出すれば良いと
考えられるが、被診断機器２の架台が据え付けられてい
るコンクリート床の抵抗を介する循環電流も接地３へ戻
ることとなり、漏れ電流IXfの検出を接地線５で行うこ
とは困難である。そこで、第１図、および第２図（ａ）
に示すように計測部７の一方の入力端子をケーブルやコ
ンデンサの接地線14にクランプ型電流センサCT2（６）
を介して磁気誘導セットすることによりこれを可能にす
る。クランプ型電流センサCT2（６）の出力には漏れ電
流IXf以外に静電容量C0の大きさに相応する商用周波の
電流Icoも含まれるので、電流抽出部20が商用周波数の
電流Icoを除去して周波数ｆの漏れ電流Ixfを抽出する。
周波数ｆの漏れ電流IXfは三相一括的に母線１を経由し
てケーブルやコンデンサ等の他の機器13に流入する。こ
の漏れ電流IXfは他の機器13の接地15を通って高周波電
圧注入点の接地３へ戻ってくるので、接地線５にクラン
プ型電流センサを磁気誘導セットして検出すれば良いと
考えられるが、被診断機器２の架台が据え付けられてい
るコンクリート床の抵抗を介する循環電流も接地３へ戻
ることとなり、漏れ電流IXfの検出を接地線５で行うこ
とは困難である。そこで、第１図、および第２図（ａ）
に示すように計測部７の一方の入力端子をケーブルやコ
ンデンサの接地線14にクランプ型電流センサCT2（６）
を介して磁気誘導セットすることによりこれを可能にす
る。クランプ型電流センサCT2（６）の出力には漏れ電
流IXf以外に静電容量C0の大きさに相応する商用周波の
電流Icoも含まれるので、電流抽出部20が商用周波数の
電流Icoを除去して周波数ｆの漏れ電流Ixfを抽出する。
そして、計測部７は他の入力端子からａ点の誘起電圧
Vfを入力するが、これをベクトル演算関数θにて処理さ
せることにより、第２図（ｂ）ベクトル図のようにθ・
Vfを用いてICXfを相殺させ、漏れ電流IXfを誘起電圧Vf
と同相成分のIRXfとπ/2進みのICXfに分解する。その
後、tanδ＝IRX/|θ・Vf|,CX＝｜θ|2πf,RX＝1/2πfCX
tanδなる内部演算を行って、tanδ,CX,RXをそれぞれ計
測部７に表示させる。
Vfを入力するが、これをベクトル演算関数θにて処理さ
せることにより、第２図（ｂ）ベクトル図のようにθ・
Vfを用いてICXfを相殺させ、漏れ電流IXfを誘起電圧Vf
と同相成分のIRXfとπ/2進みのICXfに分解する。その
後、tanδ＝IRX/|θ・Vf|,CX＝｜θ|2πf,RX＝1/2πfCX
tanδなる内部演算を行って、tanδ,CX,RXをそれぞれ計
測部７に表示させる。
なお、上記実施例ではクランプ型電流センサCT
2（６）は静電容量の大きい他の機器13の接地線14に取
り付ける例について説明したが、第２図（ａ）の破線で
示すように、接地線５と14のそれぞれｂ点とｃ点に接地
相当線としての電流リターン線15Lを取り付け、このリ
ターン線15Lにクランプ型電流センサCT2（６）を設ける
ようにしてもよい。この方式の場合には静電容量の大き
い他の機器13が複数個ある場合に、それら機器の接地点
からそれぞれリターン線を取り付け、これらリターン線
を一括してクランプ型電流センサCT2（６）でクランプ
できる特長がある。
2（６）は静電容量の大きい他の機器13の接地線14に取
り付ける例について説明したが、第２図（ａ）の破線で
示すように、接地線５と14のそれぞれｂ点とｃ点に接地
相当線としての電流リターン線15Lを取り付け、このリ
ターン線15Lにクランプ型電流センサCT2（６）を設ける
ようにしてもよい。この方式の場合には静電容量の大き
い他の機器13が複数個ある場合に、それら機器の接地点
からそれぞれリターン線を取り付け、これらリターン線
を一括してクランプ型電流センサCT2（６）でクランプ
できる特長がある。
また、上記実施例では被診断機器２が三相の場合につ
いて説明したが、二相から課電される機器、あるいは一
つの相から課電される機器であってもよく、上記実施例
と同様の効果を奏する。
いて説明したが、二相から課電される機器、あるいは一
つの相から課電される機器であってもよく、上記実施例
と同様の効果を奏する。
以上のように、この発明によれば、インダクタンス成
分を接続しない被診断装置の接地線に高周波電流を供給
し、その被診断装置の接地線に印加される電圧を基準に
して、電流抽出部により抽出された高周波電流から被診
断装置の誘電体損失率を演算するように構成したので、
単相の被診断装置に限らず、三相の被診断装置の絶縁診
断を非停電の条件下で安全確実に行うことができる効果
がある。
分を接続しない被診断装置の接地線に高周波電流を供給
し、その被診断装置の接地線に印加される電圧を基準に
して、電流抽出部により抽出された高周波電流から被診
断装置の誘電体損失率を演算するように構成したので、
単相の被診断装置に限らず、三相の被診断装置の絶縁診
断を非停電の条件下で安全確実に行うことができる効果
がある。
第１図はこの発明の一実施例による非停電絶縁診断装置
を示す構成図、第２図（ａ），（ｂ）は第１図の等価回
路図およびベクトル図、第３図および第４図は従来の停
電絶縁診断装置を示す構成図、第５図および第６図は夫
々第３図及び第４図の等価回路図およびベクトル図であ
る。 図において、１は母線、２は被診断機器、5,14は接地
線、６はクランプ型電流センサ、７は計測部、10はクラ
ンプ型変成器、11は高周波電源、13は他の機器、20は電
流抽出部である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
を示す構成図、第２図（ａ），（ｂ）は第１図の等価回
路図およびベクトル図、第３図および第４図は従来の停
電絶縁診断装置を示す構成図、第５図および第６図は夫
々第３図及び第４図の等価回路図およびベクトル図であ
る。 図において、１は母線、２は被診断機器、5,14は接地
線、６はクランプ型電流センサ、７は計測部、10はクラ
ンプ型変成器、11は高周波電源、13は他の機器、20は電
流抽出部である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭55−27971（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−57159（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−135876（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】高圧母線に接続されたインダクタンス成分
を接続しない被診断装置の接地線に磁気誘導セットした
クランプ型変成器と、前記クランプ型変成器の１次側に
所定周波数の高周波電流を供給する高周波電源と、前記
高圧母線に接続された他の機器の接地線に磁気誘導セッ
トしたクランプ型電流センサと、前記クランプ型電流セ
ンサにより検出された電流から前記所定周波数の高周波
電流を抽出する電流抽出部と、前記被診断装置の接地線
に印加される電圧を基準にして、前記電流抽出部により
抽出された高周波電流から前記被診断装置の誘電体損失
率を演算する計測部とを備えた非停電絶縁診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1216936A JP2575210B2 (ja) | 1989-08-23 | 1989-08-23 | 非停電絶縁診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1216936A JP2575210B2 (ja) | 1989-08-23 | 1989-08-23 | 非停電絶縁診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0381671A JPH0381671A (ja) | 1991-04-08 |
| JP2575210B2 true JP2575210B2 (ja) | 1997-01-22 |
Family
ID=16696251
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1216936A Expired - Fee Related JP2575210B2 (ja) | 1989-08-23 | 1989-08-23 | 非停電絶縁診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2575210B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3063720B2 (ja) | 1997-12-12 | 2000-07-12 | 日本電気株式会社 | ノイズフィルタ機能付きバスバー構造 |
| TWI539169B (zh) * | 2014-04-08 | 2016-06-21 | Univ Kao Yuan | High Sensitivity Non - grounded DC Power Supply Insulation Resistance Detection Method and Its Circuit |
| CN109374980B (zh) * | 2018-08-24 | 2021-07-23 | 国网天津市电力公司电力科学研究院 | 一种分相电缆介损测量中的杂散电流抑制方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5527971A (en) * | 1978-08-21 | 1980-02-28 | Fuji Electric Co Ltd | Loss angle meter |
| JPS5557159A (en) * | 1978-10-23 | 1980-04-26 | Showa Electric Wire & Cable Co Ltd | Constant supervisory method for cable anticorrosive layer |
-
1989
- 1989-08-23 JP JP1216936A patent/JP2575210B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0381671A (ja) | 1991-04-08 |
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