JP2568145Y2 - 信号時間差測定装置 - Google Patents
信号時間差測定装置Info
- Publication number
- JP2568145Y2 JP2568145Y2 JP1992057300U JP5730092U JP2568145Y2 JP 2568145 Y2 JP2568145 Y2 JP 2568145Y2 JP 1992057300 U JP1992057300 U JP 1992057300U JP 5730092 U JP5730092 U JP 5730092U JP 2568145 Y2 JP2568145 Y2 JP 2568145Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- time difference
- input terminal
- signal
- input
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G04—HOROLOGY
- G04F—TIME-INTERVAL MEASURING
- G04F10/00—Apparatus for measuring unknown time intervals by electric means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/3193—Tester hardware, i.e. output processing circuits with comparison between actual response and known fault free response
- G01R31/31937—Timing aspects, e.g. measuring propagation delay
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、同一周期の第１および
第２のアナログ信号を矩形波に波形整形して、第１およ
び第２のアナログ信号の時間差を測定する信号時間差測
定装置に関する。
第２のアナログ信号を矩形波に波形整形して、第１およ
び第２のアナログ信号の時間差を測定する信号時間差測
定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４はこの種の時間差測定装置の従来例
を示す構成図、図５は図４の従来例の各信号のダイミン
グ図である。
を示す構成図、図５は図４の従来例の各信号のダイミン
グ図である。
【０００３】本従来例は位相差測定機能も併せもち、入
力端子１１，１２と、コンデンサ１３，１４と、波形整
形部１７，１８と、Ｄフリップフロップ２２，２３、周
期測定回路２４および時間差測定回路２５からなる測定
部２１と、演算部２８と、表示部２７とから構成されて
いる。測定部２１の周期測定回路２４と時間差測定回路
２５は、たとえば特公昭６３−３２７２号公報、特開昭
６２−２９４９９３号公報、特開昭６３−１９１９７０
号公報等に記載されている構成のものである。
力端子１１，１２と、コンデンサ１３，１４と、波形整
形部１７，１８と、Ｄフリップフロップ２２，２３、周
期測定回路２４および時間差測定回路２５からなる測定
部２１と、演算部２８と、表示部２７とから構成されて
いる。測定部２１の周期測定回路２４と時間差測定回路
２５は、たとえば特公昭６３−３２７２号公報、特開昭
６２−２９４９９３号公報、特開昭６３−１９１９７０
号公報等に記載されている構成のものである。
【０００４】入力端子１１，１２からそれぞれ入力され
たアナログの信号Ｓ11，Ｓ12は、ＤＣ成分がコンデンサ
１３，１４で除去されて、スレッショルド電圧が０Ｖに
設定されている波形整形部１７，１８に入力し、矩形波
に波形整形される。波形整形された信号Ｓ21，Ｓ22はそ
れぞれ入力端子１９，２０を通って測定部２１に入力
し、信号Ｓ21の周期Ｐ（Ｓ22の周期と同じ）と立上りか
ら立上りまでの時間差Ｔがそれぞれ周期測定回路２４、
時間差測定回路２５によって測定される。演算部２８
は、周期Ｐと時間差Ｔを測定部２１から入力して時間差
Ｔを表示部２７に表示するとともに、位相差（Ｔ／Ｐ）
×３６０°の演算を行い、この位相差をも表示部２７に
表示する。
たアナログの信号Ｓ11，Ｓ12は、ＤＣ成分がコンデンサ
１３，１４で除去されて、スレッショルド電圧が０Ｖに
設定されている波形整形部１７，１８に入力し、矩形波
に波形整形される。波形整形された信号Ｓ21，Ｓ22はそ
れぞれ入力端子１９，２０を通って測定部２１に入力
し、信号Ｓ21の周期Ｐ（Ｓ22の周期と同じ）と立上りか
ら立上りまでの時間差Ｔがそれぞれ周期測定回路２４、
時間差測定回路２５によって測定される。演算部２８
は、周期Ｐと時間差Ｔを測定部２１から入力して時間差
Ｔを表示部２７に表示するとともに、位相差（Ｔ／Ｐ）
×３６０°の演算を行い、この位相差をも表示部２７に
表示する。
【０００５】
【考案が解決しようとする課題】上述した従来の時間差
測定装置は、入力端子１１から入力端子１９までの信号
伝播時間τ1 と、入力端子１２から入力端子２０までの
信号伝播時間τ2 が等しいものと仮定して信号Ｓ21，Ｓ
22の時間差Ｔを測定しているが、波形整形部１７，１８
はデバイスのばらつき等で信号伝播時間の差を±１００
ピコ秒以下に押えることは難しく、また、その信号伝播
時間は入力信号の周波数や振幅、周囲の温度等の条件で
ある程度変化するので、ある条件下で各々の伝播時間を
等しくすることができたとしても、条件が変わると各々
の伝播時間を等しくすることができず、この伝播時間の
差によって、測定精度を高くすることができないという
欠点がある。
測定装置は、入力端子１１から入力端子１９までの信号
伝播時間τ1 と、入力端子１２から入力端子２０までの
信号伝播時間τ2 が等しいものと仮定して信号Ｓ21，Ｓ
22の時間差Ｔを測定しているが、波形整形部１７，１８
はデバイスのばらつき等で信号伝播時間の差を±１００
ピコ秒以下に押えることは難しく、また、その信号伝播
時間は入力信号の周波数や振幅、周囲の温度等の条件で
ある程度変化するので、ある条件下で各々の伝播時間を
等しくすることができたとしても、条件が変わると各々
の伝播時間を等しくすることができず、この伝播時間の
差によって、測定精度を高くすることができないという
欠点がある。
【０００６】本考案の目的は、各信号の伝播時間の差に
よる影響が少なく、高精度な時間差測定ができる信号時
間差測定装置を提供することにある。
よる影響が少なく、高精度な時間差測定ができる信号時
間差測定装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本考案の信号時間差測定
装置は、同一周期のそれぞれ第１，第２のアナログ信号
を入力する第１，第２の入力端子と、アナログ信号を入
力し、矩形波に波形整形するスレッショルド電圧が同一
の第１，第２の波形整形部と、入力側が第１または第２
の入力端子に切替接続され、出力側が第１の波形整形部
の入力端に接続された第１の切替スイッチと、入力側が
第２または第１の入力端子に切替接続され、出力側が第
２の波形整形部の入力端に接続された第２の切替スイッ
チと、第１および第２の波形整形部の出力信号である第
１および第２の矩形波信号を入力し、両信号の周期と両
信号の立上りから立上りまたは立下がりから立下がりま
での時間差を測定する測定部と、第１，第２の切替スイ
ッチがそれぞれ第１，第２の入力端子に切替えられたと
き前記測定部で測定された時間差Ｔ1 と、第１，第２の
切替スイッチがそれぞれ第２，第１の入力端子に切替え
られたとき前記測定部で測定された時間差Ｔ2 と、前記
測定部で測定された周期Ｐを入力し、真の前記時間差と
してＴX ＝（Ｔ1−Ｔ2 ＋Ｐ）／２を演算する演算部と
を有する。
装置は、同一周期のそれぞれ第１，第２のアナログ信号
を入力する第１，第２の入力端子と、アナログ信号を入
力し、矩形波に波形整形するスレッショルド電圧が同一
の第１，第２の波形整形部と、入力側が第１または第２
の入力端子に切替接続され、出力側が第１の波形整形部
の入力端に接続された第１の切替スイッチと、入力側が
第２または第１の入力端子に切替接続され、出力側が第
２の波形整形部の入力端に接続された第２の切替スイッ
チと、第１および第２の波形整形部の出力信号である第
１および第２の矩形波信号を入力し、両信号の周期と両
信号の立上りから立上りまたは立下がりから立下がりま
での時間差を測定する測定部と、第１，第２の切替スイ
ッチがそれぞれ第１，第２の入力端子に切替えられたと
き前記測定部で測定された時間差Ｔ1 と、第１，第２の
切替スイッチがそれぞれ第２，第１の入力端子に切替え
られたとき前記測定部で測定された時間差Ｔ2 と、前記
測定部で測定された周期Ｐを入力し、真の前記時間差と
してＴX ＝（Ｔ1−Ｔ2 ＋Ｐ）／２を演算する演算部と
を有する。
【０００８】
【作用】第１のアナログ信号が第１の入力端子に入力し
てから第１の矩形波信号が測定部に入力するまでの信号
伝播時間をτ1 、第２のアナログ信号が第２の入力端子
に入力して第２の矩形波信号が測定部に入力するまでの
信号伝播時間をτ2 とする。
てから第１の矩形波信号が測定部に入力するまでの信号
伝播時間をτ1 、第２のアナログ信号が第２の入力端子
に入力して第２の矩形波信号が測定部に入力するまでの
信号伝播時間をτ2 とする。
【０００９】第１，第２の切替スイッチをそれぞれ第
１，第２の入力端子に切り替えたとき、真の時間差ＴX
と測定されたＴ1 と信号伝播時間τ1 ，τ2 の間には図
２（Ａ）から ＴX ＋τ2 ＝τ1 ＋Ｔ1 …（１） の関係が成立する。また、第１，第２の切替スイッチを
それぞれ第２，第１の入力端子に切替えたとき、真の時
間ＴX と測定された時間差Ｔ2 と周期Ｐと信号伝播時間
τ1 ，τ2 の間には図２（Ｂ）から Ｐ−ＴX ＋τ2 ＝τ1 ＋Ｔ2 …（２） の関係が成立する。
１，第２の入力端子に切り替えたとき、真の時間差ＴX
と測定されたＴ1 と信号伝播時間τ1 ，τ2 の間には図
２（Ａ）から ＴX ＋τ2 ＝τ1 ＋Ｔ1 …（１） の関係が成立する。また、第１，第２の切替スイッチを
それぞれ第２，第１の入力端子に切替えたとき、真の時
間ＴX と測定された時間差Ｔ2 と周期Ｐと信号伝播時間
τ1 ，τ2 の間には図２（Ｂ）から Ｐ−ＴX ＋τ2 ＝τ1 ＋Ｔ2 …（２） の関係が成立する。
【００１０】（１），（２）式から（３）式 ＴX ＝（Ｔ1 −Ｔ2 ＋Ｐ）／２ …（３） が得られる。（３）式には信号伝播時間τ1 ，τ2 は含
まれておらず、信号伝播時間τ1 ，τ2 の影響を受けず
に時間差ＴX が求められる。
まれておらず、信号伝播時間τ1 ，τ2 の影響を受けず
に時間差ＴX が求められる。
【００１１】
【実施例】次に、本考案の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【００１２】図１は本考案の第１の実施例を示す信号時
間差測定装置の構成図、図２（Ａ）は切替スイッチ１
５，１６がそれぞれ接点１５1 ，１６1 に切替えられた
ときの第１の実施例の各信号のタイミング図、図２
（Ｂ）は切替スイッチ１５，１６がそれぞれ接点１５
2 ，１６2 に切替えられたときの第１の実施例の各信号
のタイミング図である。
間差測定装置の構成図、図２（Ａ）は切替スイッチ１
５，１６がそれぞれ接点１５1 ，１６1 に切替えられた
ときの第１の実施例の各信号のタイミング図、図２
（Ｂ）は切替スイッチ１５，１６がそれぞれ接点１５
2 ，１６2 に切替えられたときの第１の実施例の各信号
のタイミング図である。
【００１３】本実施例は、図４の従来例にコンデンサ１
３と波形整形部１７間、コンデンサ１４と波形整形部１
８間に切替スイッチ１５，１６が付加され、演算部２６
の構成が演算部２８と異なっている。図４の従来例と共
通の部分には同符号を付して説明を省略する。切替スイ
ッチ１５は、コンデンサ１３を介して入力端子１１に接
続された接点１５1 と、コンデンサ１４を介して入力端
子１２に接続された接点１５2 と、波形整形部１７の入
力端に接続された出力端１５3 を有している。切替スイ
ッチ１６は、コンデンサ１４を介して入力端子１２に接
続された接点１６1 と、コンデンサ１３を介して入力端
子１１に接続された接点１６2 と、波形整形部１８の入
力端に接続された出力端１６3 を有している。下記の４
つの経路の信号伝播時間は等しくなるように配線する。
３と波形整形部１７間、コンデンサ１４と波形整形部１
８間に切替スイッチ１５，１６が付加され、演算部２６
の構成が演算部２８と異なっている。図４の従来例と共
通の部分には同符号を付して説明を省略する。切替スイ
ッチ１５は、コンデンサ１３を介して入力端子１１に接
続された接点１５1 と、コンデンサ１４を介して入力端
子１２に接続された接点１５2 と、波形整形部１７の入
力端に接続された出力端１５3 を有している。切替スイ
ッチ１６は、コンデンサ１４を介して入力端子１２に接
続された接点１６1 と、コンデンサ１３を介して入力端
子１１に接続された接点１６2 と、波形整形部１８の入
力端に接続された出力端１６3 を有している。下記の４
つの経路の信号伝播時間は等しくなるように配線する。
【００１４】 入力端子１１→切替スイッチ１５の接点１５1 入力端子１１→切替スイッチ１６の接点１６2 入力端子１２→切替スイッチ１５の接点１５2 入力端子１２→切替スイッチ１６の接点１６1 波形整形部１７，１８には同一のデバイスが使用され
る。ただし、クロストークの問題があるので同一のパッ
ケージ内の回路は使用されない。入力端子１１から入力
端子１９までの信号伝播時間をτ1 、入力端子１２から
入力端子２０までの信号伝播時間をτ2 とする。測定部
２１は、入力端子１９の信号の立上りと入力端子２０の
信号の立上り間の時間差を正確に測定できるように校正
されている。演算部２６は、切替スイッチ１５，１６が
それぞれ接点１５1 ，１６1 に切替えられたとき測定部
２１で測定された時間差Ｔ1 と、切替スイッチ１５，１
６がそれぞれ接点１５2 ，１６2 に切替えられたとき測
定部２１で測定された時間差Ｔ2 と、測定部２１で測定
された周期Ｐを入力し、時間差ＴX ＝（Ｔ1 −Ｔ2 ＋
Ｐ）／２および位相差（ＴX ／Ｐ）×３６０°を演算
し、演算結果を表示部２７に表示する。
る。ただし、クロストークの問題があるので同一のパッ
ケージ内の回路は使用されない。入力端子１１から入力
端子１９までの信号伝播時間をτ1 、入力端子１２から
入力端子２０までの信号伝播時間をτ2 とする。測定部
２１は、入力端子１９の信号の立上りと入力端子２０の
信号の立上り間の時間差を正確に測定できるように校正
されている。演算部２６は、切替スイッチ１５，１６が
それぞれ接点１５1 ，１６1 に切替えられたとき測定部
２１で測定された時間差Ｔ1 と、切替スイッチ１５，１
６がそれぞれ接点１５2 ，１６2 に切替えられたとき測
定部２１で測定された時間差Ｔ2 と、測定部２１で測定
された周期Ｐを入力し、時間差ＴX ＝（Ｔ1 −Ｔ2 ＋
Ｐ）／２および位相差（ＴX ／Ｐ）×３６０°を演算
し、演算結果を表示部２７に表示する。
【００１５】次に、本実施例の動作について説明する。
まず、演算部２６は切替スイッチ１５，１６をそれぞれ
接点１５1 ，１６1 に切替える。入力端子１１，１２か
らそれぞれ入力されたアナログの信号Ｓ11，Ｓ12は、Ｄ
Ｃ成分がコンデンサ１３，１４で除去されて、スレッシ
ョルド電圧が０Ｖに設定されている波形整形部１７，１
８に入力し、矩形波に波形整形される。波形整形された
信号Ｓ21，Ｓ22はそれぞれ入力端子１９，２０を通って
測定部２１に入力し、信号Ｓ21の周期Ｐと両信号Ｓ21，
Ｓ22の立上りから立上りまでの時間差Ｔ1 がそれぞれ周
期測定回路２４、時間差測定回路２５によって測定され
る。次に演算部２６は、切替スイッチ１５，１６をそれ
ぞれ接点１５2 ，１６2 に切替え、測定部２１の時間差
測定回路２５は両信号Ｓ21，Ｓ22の立上りから立上りま
での時間差Ｔ2 を測定する。次に演算部２６は、測定部
２１が測定した周期Ｐと時間差Ｔ1 ，Ｔ2 から前記
（３）式の演算を行い、真の時間差ＴX を求める。そし
て演算部２６は、求めた時間差ＴX を表示部２７に表示
するとともに、周期Ｐと時間差Ｔ1 ，Ｔ2 を測定部２１
から入力して位相差（ＴX ／Ｐ）×３６０°＝（Ｔ1 −
Ｔ2 ＋Ｐ）×１８０°／Ｐの演算を行い、この位相差を
も表示部２７に表示する。
まず、演算部２６は切替スイッチ１５，１６をそれぞれ
接点１５1 ，１６1 に切替える。入力端子１１，１２か
らそれぞれ入力されたアナログの信号Ｓ11，Ｓ12は、Ｄ
Ｃ成分がコンデンサ１３，１４で除去されて、スレッシ
ョルド電圧が０Ｖに設定されている波形整形部１７，１
８に入力し、矩形波に波形整形される。波形整形された
信号Ｓ21，Ｓ22はそれぞれ入力端子１９，２０を通って
測定部２１に入力し、信号Ｓ21の周期Ｐと両信号Ｓ21，
Ｓ22の立上りから立上りまでの時間差Ｔ1 がそれぞれ周
期測定回路２４、時間差測定回路２５によって測定され
る。次に演算部２６は、切替スイッチ１５，１６をそれ
ぞれ接点１５2 ，１６2 に切替え、測定部２１の時間差
測定回路２５は両信号Ｓ21，Ｓ22の立上りから立上りま
での時間差Ｔ2 を測定する。次に演算部２６は、測定部
２１が測定した周期Ｐと時間差Ｔ1 ，Ｔ2 から前記
（３）式の演算を行い、真の時間差ＴX を求める。そし
て演算部２６は、求めた時間差ＴX を表示部２７に表示
するとともに、周期Ｐと時間差Ｔ1 ，Ｔ2 を測定部２１
から入力して位相差（ＴX ／Ｐ）×３６０°＝（Ｔ1 −
Ｔ2 ＋Ｐ）×１８０°／Ｐの演算を行い、この位相差を
も表示部２７に表示する。
【００１６】本実施例は、従来例における誤差の主要因
であった信号伝播時間τ1 ，τ2 の影響を受けずに時間
差測定を行うことができる。本実施例の測定精度は上述
した４つの経路の信号伝播時間がどこまで揃えられるか
で決まるが、これらの経路は受動回路であり、各信号伝
播時間の差を±５０ピコ秒以下に押えることは容易であ
る。したがって、本実施例は従来例に比べより高精度な
時間差測定を簡便に行うことができる。
であった信号伝播時間τ1 ，τ2 の影響を受けずに時間
差測定を行うことができる。本実施例の測定精度は上述
した４つの経路の信号伝播時間がどこまで揃えられるか
で決まるが、これらの経路は受動回路であり、各信号伝
播時間の差を±５０ピコ秒以下に押えることは容易であ
る。したがって、本実施例は従来例に比べより高精度な
時間差測定を簡便に行うことができる。
【００１７】ここで、前記（１），（２）式を加算する
と下記（４）式 τ1 −τ2 ＝（Ｐ−Ｔ1 −Ｔ2 ）／２ …（４） が得られ、ある入力信号（既知の信号でなくてもよい）
に対して周期Ｐ，時間差Ｔ1 ，Ｔ2 を測定することで、
信号伝播時間の差τ1 −τ2 の値を求めることができ
る。今、あらかじめ測定された周期Ｐ，時間差Ｔ1 ，Ｔ
2 を周期Ｐ0 ，時間差Ｔ01，Ｔ02とすると、前記（４）
式は下記（５）式 τ1 −τ2 ＝（Ｐ0 −Ｔ01−Ｔ02）／２ …（５） となる。前記（５）式の関係を前記（１）式に代入する
と、下記（６）式 ＴX ＝Ｔ1 ＋（Ｐ0 −Ｔ01−Ｔ02）／２ …（６） となり、あらかじめ信号伝播時間の差τ1 −τ2 ＝（Ｐ
0 −Ｔ01−Ｔ02）／２の値を求めておくと、真の時間差
ＴX は時間差Ｔ1 の測定だけで求めることができ、測定
はより容易になる。これまでの説明では便宜的に信号の
立上りから立上りでの時間差測定を扱ってきたが、信号
の立下がりから立下がりまでの時間差測定については、
波形整形部１７，１８のあとにそれぞれインバータを挿
入するだけで、測定手順はまったく同様である。
と下記（４）式 τ1 −τ2 ＝（Ｐ−Ｔ1 −Ｔ2 ）／２ …（４） が得られ、ある入力信号（既知の信号でなくてもよい）
に対して周期Ｐ，時間差Ｔ1 ，Ｔ2 を測定することで、
信号伝播時間の差τ1 −τ2 の値を求めることができ
る。今、あらかじめ測定された周期Ｐ，時間差Ｔ1 ，Ｔ
2 を周期Ｐ0 ，時間差Ｔ01，Ｔ02とすると、前記（４）
式は下記（５）式 τ1 −τ2 ＝（Ｐ0 −Ｔ01−Ｔ02）／２ …（５） となる。前記（５）式の関係を前記（１）式に代入する
と、下記（６）式 ＴX ＝Ｔ1 ＋（Ｐ0 −Ｔ01−Ｔ02）／２ …（６） となり、あらかじめ信号伝播時間の差τ1 −τ2 ＝（Ｐ
0 −Ｔ01−Ｔ02）／２の値を求めておくと、真の時間差
ＴX は時間差Ｔ1 の測定だけで求めることができ、測定
はより容易になる。これまでの説明では便宜的に信号の
立上りから立上りでの時間差測定を扱ってきたが、信号
の立下がりから立下がりまでの時間差測定については、
波形整形部１７，１８のあとにそれぞれインバータを挿
入するだけで、測定手順はまったく同様である。
【００１８】次に、プローブ使用時の信号時間差測定に
ついて説明する。図３は本考案の第２の実施例を示す信
号時間差測定装置の要部構成図である。プローブ３６は
プローブ内部回路３１およびフック３３からなり、プロ
ーブ３７はプローブ内部回路３２およびフック３４から
なる。プローブ内部回路３１，３２はそれぞれ接続点４
１，４２に接続され、フック３３，３４はそれぞれ切替
スイッチ１５，１６に接続されている。接続点４１，４
２はそれぞれコンデンサ１３，１４を介して波形整形部
１７，１８に接続されている。また、測定用クロックを
出力する図示しない発信器が接続点４５およびインバー
タ３５に接続され、インバータ３５は接続点４６に接続
されている。ここで、下記の４つの経路の信号伝播時間
は等しくなるように構成されている。
ついて説明する。図３は本考案の第２の実施例を示す信
号時間差測定装置の要部構成図である。プローブ３６は
プローブ内部回路３１およびフック３３からなり、プロ
ーブ３７はプローブ内部回路３２およびフック３４から
なる。プローブ内部回路３１，３２はそれぞれ接続点４
１，４２に接続され、フック３３，３４はそれぞれ切替
スイッチ１５，１６に接続されている。接続点４１，４
２はそれぞれコンデンサ１３，１４を介して波形整形部
１７，１８に接続されている。また、測定用クロックを
出力する図示しない発信器が接続点４５およびインバー
タ３５に接続され、インバータ３５は接続点４６に接続
されている。ここで、下記の４つの経路の信号伝播時間
は等しくなるように構成されている。
【００１９】 接続点４５→切替スイッチ１５の接点１５1 →接続点４３ 接続点４５→切替スイッチ１６の接点１６2 →接続点４４ 接続点４６→切替スイッチ１５の接点１５2 →接続点４３ 接続点４６→切替スイッチ１６の接点１６1 →接続点４４ このような構成により、前記（５），（６）式と同様の
演算でプローブ３６，３７間の信号伝播時間の差も含め
た接続点４１，４２の信号伝播時間の差τ1 −τ2 を求
めることができ、よってプローブの先端で真の時間差Ｔ
X を測定することができる。
演算でプローブ３６，３７間の信号伝播時間の差も含め
た接続点４１，４２の信号伝播時間の差τ1 −τ2 を求
めることができ、よってプローブの先端で真の時間差Ｔ
X を測定することができる。
【００２０】
【考案の効果】以上説明したように本考案は、第１，第
２の切替スイッチがそれぞれ第１，第２の入力端子に切
替えられたとき測定部で測定された時間差と、第１，第
２の切替スイッチがそれぞれ第２，第１の入力端子に切
替えられたとき測定部で測定された時間差と、前記測定
部で測定された周期から、真の時間差を求めることによ
り、わずかなコストで、各信号の伝播時間の差による影
響が少ない、高精度な時間差測定ができる効果がある。
２の切替スイッチがそれぞれ第１，第２の入力端子に切
替えられたとき測定部で測定された時間差と、第１，第
２の切替スイッチがそれぞれ第２，第１の入力端子に切
替えられたとき測定部で測定された時間差と、前記測定
部で測定された周期から、真の時間差を求めることによ
り、わずかなコストで、各信号の伝播時間の差による影
響が少ない、高精度な時間差測定ができる効果がある。
【図１】本考案の第１の実施例を示す信号時間差測定装
置の構成図である。
置の構成図である。
【図２】同図（Ａ）は切替スイッチ１５，１６がそれぞ
れ接点１５1 ，１６1 に切替えられたときの第１の実施
例の各信号のタイミング図、同図（Ｂ）は切替スイッチ
１５，１６がそれぞれ接点１５2 ，１６2 に切替えられ
たときの第１の実施例の各信号のタイミング図である。
れ接点１５1 ，１６1 に切替えられたときの第１の実施
例の各信号のタイミング図、同図（Ｂ）は切替スイッチ
１５，１６がそれぞれ接点１５2 ，１６2 に切替えられ
たときの第１の実施例の各信号のタイミング図である。
【図３】本考案の第２の実施例を示す信号時間差測定装
置の要部構成図である。
置の要部構成図である。
【図４】この種の時間差測定装置の従来例を示す構成図
である。
である。
【図５】図４の従来例の各信号のタイミング図である。
１１，１２ 入力端子 １３，１４ コンデンサ １５，１６ 切替スイッチ １７，１８ 波形整形部 ２１ 測定部 ２２，２３ Ｄフリップフロップ ２４ 周期測定回路 ２５ 時間差測定回路 ２６ 演算部 ２７ 表示部
Claims (1)
- 【請求項１】 同一周期のそれぞれ第１，第２のアナロ
グ信号を入力する第１，第２の入力端子と、 アナログ信号を入力し、矩形波に波形整形するスレッシ
ョルド電圧が同一の第１，第２の波形整形部と、 入力側が第１または第２の入力端子に切替接続され、出
力側が第１の波形整形部の入力端に接続された第１の切
替スイッチと、 入力側が第２または第１の入力端子に切替接続され、出
力側が第２の波形整形部の入力端に接続された第２の切
替スイッチと、 第１および第２の波形整形部の出力信号である第１およ
び第２の矩形波信号を入力し、両信号の周期と両信号の
立上りから立上りまたは立下がりから立下がりまでの時
間差を測定する測定部と、 第１，第２の切替スイッチがそれぞれ第１，第２の入力
端子に切替えられたとき前記測定部で測定された時間差
Ｔ1 と、第１，第２の切替スイッチがそれぞれ第２，第
１の入力端子に切替えられたとき前記測定部で測定され
た時間差Ｔ2 と、前記測定部で測定された周期Ｐを入力
し、真の前記時間差としてＴX ＝（Ｔ1−Ｔ2 ＋Ｐ）／
２を演算する演算部とを有する信号時間差測定装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992057300U JP2568145Y2 (ja) | 1992-08-14 | 1992-08-14 | 信号時間差測定装置 |
| NL9301383A NL193846C (nl) | 1992-08-14 | 1993-08-10 | Meetinrichting voor het meten van een tijdsinterval tussen twee ingangssignalen. |
| US08/106,880 US5319614A (en) | 1992-08-14 | 1993-08-16 | Time interval measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992057300U JP2568145Y2 (ja) | 1992-08-14 | 1992-08-14 | 信号時間差測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0618989U JPH0618989U (ja) | 1994-03-11 |
| JP2568145Y2 true JP2568145Y2 (ja) | 1998-04-08 |
Family
ID=13051709
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1992057300U Expired - Fee Related JP2568145Y2 (ja) | 1992-08-14 | 1992-08-14 | 信号時間差測定装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5319614A (ja) |
| JP (1) | JP2568145Y2 (ja) |
| NL (1) | NL193846C (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5065923A (en) * | 1990-08-14 | 1991-11-19 | Richard Hoefer | Food supporting element for attachment to a food container |
| FR2725326B1 (fr) * | 1994-10-04 | 1996-10-25 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de mesure de la duree d'un intervalle de temps |
| US7791116B1 (en) * | 1998-10-14 | 2010-09-07 | Micron Technology, Inc. | CMOS imager having a nitride dielectric |
| CN100350206C (zh) * | 2005-06-23 | 2007-11-21 | 西安理工大学 | 电弧炉控制系统的智能优化控制方法 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3983481A (en) * | 1975-08-04 | 1976-09-28 | Ortec Incorporated | Digital intervalometer |
| FR2342521A1 (fr) * | 1976-02-27 | 1977-09-23 | Anvar | Dispositif de mesure d'intervalle de temps separant les apparitions de deux impulsions correlees a amplitude et temps de montee distincts |
| CA1065060A (en) * | 1976-04-01 | 1979-10-23 | David L. Freeman | Cross-correlator circuit |
| US4164648A (en) * | 1978-06-23 | 1979-08-14 | Hewlett-Packard Company | Double vernier time interval measurement using triggered phase-locked oscillators |
| US4613951A (en) * | 1984-10-11 | 1986-09-23 | Hewlett-Packard Company | Time interval measuring apparatus and method |
-
1992
- 1992-08-14 JP JP1992057300U patent/JP2568145Y2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-08-10 NL NL9301383A patent/NL193846C/nl not_active IP Right Cessation
- 1993-08-16 US US08/106,880 patent/US5319614A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| NL193846B (nl) | 2000-08-01 |
| NL193846C (nl) | 2000-12-04 |
| JPH0618989U (ja) | 1994-03-11 |
| NL9301383A (nl) | 1994-03-01 |
| US5319614A (en) | 1994-06-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN102970007B (zh) | 用于时间电流转换的方法和装置 | |
| JPH10319052A (ja) | 導体中の電流を測定するための方法およびデバイス | |
| JP2583833Y2 (ja) | パルス測定装置 | |
| JP2568145Y2 (ja) | 信号時間差測定装置 | |
| JPH0650772Y2 (ja) | 走行検出装置 | |
| JPS62142281A (ja) | ケ−ブル遅延時間測定方法 | |
| US6349267B1 (en) | Rise and fall time measurement circuit | |
| JPH07280857A (ja) | パルス幅測定回路 | |
| RU2309415C1 (ru) | Устройство для измерения емкости конденсаторного датчика | |
| JPS63191979A (ja) | 伝送路パラメ−タ測定装置 | |
| SU1682825A1 (ru) | Цифровой термометр | |
| KR0128545B1 (ko) | 펄스폭 계산 및 재발생기 | |
| JPH04198773A (ja) | 半導体装置の試験装置 | |
| SU558231A1 (ru) | Измеритель модул коэффициента передачи тока транзисторов в импульсном режиме | |
| RU1798726C (ru) | Устройство дл измерени коэффициента гармоник выходных сигналов четырехполюсников | |
| JP2541595Y2 (ja) | Ｉｃ試験装置 | |
| SU943612A1 (ru) | Устройство дл измерени коэффициента усилени по току транзисторов | |
| JPH0313741Y2 (ja) | ||
| JPH078795U (ja) | 高分解能時間計測装置 | |
| JPH06324096A (ja) | ユニバーサルカウンタ | |
| SU789945A1 (ru) | Устройство дл поверки тесламетров импульсного пол | |
| SU1137337A1 (ru) | Устройство дл измерени температуры | |
| SU543885A1 (ru) | Цифровой фазометр | |
| JPS6257227B2 (ja) | ||
| JPH02214913A (ja) | クロック調整方式 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19971216 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |