JP2552354Y2 - Assembly board - Google Patents
Assembly boardInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本考案はチップ部品を実装するた
めの単一基板を複数枚有し、これらの単一基板の境界
を、所謂、ミシン目の様に分離用孔と基板接続部とを交
互に配設して構成した集合基板に関する。The present invention has a plurality of single substrates for mounting chip components, and a boundary between these single substrates is defined by a separation hole and a substrate connecting portion like a so-called perforation. Are alternately arranged.
【0002】[0002]
【従来の技術】チップ部品を実装する基板は、その実装
効率を向上させるために、一般にミシン目の様に分離用
孔と基板接続部とを交互に配設して構成した境界によっ
て囲まれた単一基板を複数枚有した集合基板としてい
る。従って、各種チップ部品を実装後に上記各基板接続
部を切断して、各単一基板に分離させている。2. Description of the Related Art A board on which chip components are mounted is generally surrounded by boundaries formed by alternately arranging separation holes and board connection portions like perforations in order to improve the mounting efficiency. The aggregate substrate has a plurality of single substrates. Therefore, after mounting various chip components, the above-mentioned board connecting portions are cut off to separate each single board.
【0003】図6を用いてこのことを説明する。集合基
板50には、長孔から成る分離用孔54と基板接続部6
0とを交互に配設してその境界とした二枚の単一基板5
2A,52Bが用意されている。この基板接続部60の
近傍部分Aを拡大図示したものが図7である。各チップ
部品を実装後各単一基板を分離させるためには基板接続
部60をニッパー等によって切断しなければならない。
このニッパー62による切断の様子を示したものが図8
と図9である。図8は図7の矢視線B−Bにより、図9
は図7の矢視線C−Cによる断面図である。This will be described with reference to FIG. The collective substrate 50 has a separation hole 54 formed of a long hole and a substrate connecting portion 6.
0 and two single substrates 5 which are alternately arranged and serve as boundaries between them.
2A and 52B are prepared. FIG. 7 is an enlarged view of a portion A in the vicinity of the board connecting portion 60. In order to separate each single board after mounting each chip component, the board connecting portion 60 must be cut with a nipper or the like.
FIG. 8 shows a state of cutting by the nipper 62.
FIG. FIG. 8 is shown by arrows BB in FIG.
FIG. 8 is a sectional view taken along line CC of FIG. 7.
【0004】[0004]
【考案が解決しようとする課題】然しながら、ニッパー
62によって各基板接続部60を切断すると、ニッパー
の刃の厚みのためにその周辺領域にストレスが作用し、
その結果基板接続部60の近傍に実装されているチップ
部品58にクラック58Aが発生したり、チップ部品実
装に使用されている半田にクラックが生じたりする。従
って、基板接続部の近くにはチップ部品を配置すること
ができず、基板の設計上において大きな制約となってい
た。このことを図6でいうと、斜線で示す各領域53は
有効に使用できないこととなる。However, when each substrate connecting portion 60 is cut by the nipper 62, stress acts on the peripheral region due to the thickness of the nipper blade.
As a result, cracks 58A occur in the chip components 58 mounted in the vicinity of the board connection portion 60, and cracks occur in the solder used for mounting the chip components. Therefore, it is not possible to arrange chip components near the substrate connection part, which has been a great restriction in designing the substrate. Referring to FIG. 6, this means that the hatched areas 53 cannot be used effectively.
【0005】この切断時に発生するクラックの防止では
ないが、基板にチップ部品を実装したり、半田リフロー
する工程において当該基板が変形したり、破損すること
を防止するために当該基板には補助用分割基板部を設け
ることがあり、特公平1─49031号公報にこのこと
が開示されている。そしてこの公報には、前記補助用分
割基板部をミシン目状に打抜き成形する際に、当該ミシ
ン目部にクラックが発生することを防止するため捨て孔
10を形成している。この捨て孔が、以下に述べる本発
明のストレスを緩和する孔と一見同じ様に見える。[0005] This is not to prevent the cracks generated at the time of cutting, but to prevent the substrate from being deformed or damaged in the process of mounting chip components on the substrate or performing a solder reflow process, the substrate is provided with an auxiliary. In some cases, a divided substrate portion is provided, and this is disclosed in Japanese Patent Publication No. 1-49031. In this publication, a disposal hole 10 is formed in order to prevent a crack from being generated in the perforated portion when the auxiliary divided substrate portion is punched and formed into a perforated shape. This discarded hole looks at first glance as the stress relieving hole of the present invention described below.
【0006】しかしこの公報の捨て孔は、補助用分割基
板部をミシン目状に打抜き成形する際に同時に打抜き成
形されると共に、その打抜きに使用された金型のポンチ
がこの捨て孔に入って補助用分割基板部を保持、固定す
る作用によってミシン目部の割れを防止するものであ
り、本発明のようにミシン目部を切り取る際のストレス
の低減のための孔ではない。また、公報の捨て孔はスリ
ット8,8′によって囲まれた補助用分割基板部を対象
としていることも本発明の場合と異なり、更に大きな相
違点は、上述した捨て孔10の目的から、当該捨て孔1
0はミシン目部の孔9の近くには形成することができな
いが、本発明の孔は、基板接続部の近傍に設けることに
よって初めてその切断時のストレスを低減することがで
きるという孔の形成場所の相違である。However, the discard hole of this publication is simultaneously punched and formed when the auxiliary divided substrate portion is punched and formed in a perforated shape, and the punch of the die used for the punching enters the discard hole. This is to prevent the perforated portion from being broken by the action of holding and fixing the auxiliary divided substrate portion, and is not a hole for reducing stress at the time of cutting the perforated portion as in the present invention. Also, the discarded hole in the publication is different from the case of the present invention in that the discarded hole is directed to the auxiliary divided substrate portion surrounded by the slits 8 and 8 ′. Discard hole 1
0 cannot be formed near the hole 9 at the perforation, but the hole of the present invention can be formed only in the vicinity of the substrate connecting portion so that the stress at the time of cutting can be reduced for the first time. The difference in place.
【0007】よって本考案は、基板接続部を切断しても
その周囲の基板部やチップ部品にストレスを与えない構
造の集合基板の提供を目的とする。Accordingly, an object of the present invention is to provide a collective substrate having a structure in which even when a substrate connecting portion is cut, no stress is applied to the surrounding substrate portion and chip components.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】上記目的に鑑みて本考案
は、チップ部品を実装するための複数枚の単一基板を有
し、これらの単一基板の境界を分離用孔と基板接続部と
を交互に配設して構成した集合基板であって、前記基板
接続部の近傍に該基板接続部の切断時に発生するストレ
スを緩和する孔を設けたことを特徴とする集合基板を提
供する。SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above-mentioned object, the present invention has a plurality of single substrates for mounting chip components, and separates the boundaries of these single substrates with a separation hole and a substrate connecting portion. Are provided alternately, wherein holes are provided in the vicinity of the substrate connecting portion to alleviate the stress generated when the substrate connecting portion is cut. .
【0009】[0009]
【作用】ニッパーによって基板接続部を切断すると、そ
のニッパーの刃の厚みのためにその周囲にストレスが発
生するが、基板接続部の近傍に孔を設けたことによって
そのストレスを吸収、緩和する。When the substrate connecting portion is cut by the nipper, stress is generated around the cutting edge due to the thickness of the blade of the nipper, but the stress is absorbed and reduced by providing a hole near the substrate connecting portion.
【0010】[0010]
【実施例】以下、本考案を添付図面に示す実施例に基づ
き、更に詳細に説明する。図1は本考案に係るチップ部
品を実装するための集合基板10を示している。この集
合基板10は、各単一基板を分離させるための長孔14
と、それらの間に配置された基板接続部20とによって
囲まれた三枚の単一基板12A,12B,12Cを有し
ている。これらの各単一基板の各基板接続部20の近傍
には丸孔16又は16Iを設けている。丸孔16は各単
一基板の境界の外側位置に形成されており、丸孔16I
は内側位置に形成されたものを示す。これらの丸孔は基
板接続部20の近傍であればよく、特にその内外は問わ
ない。単一基板配置のスペースの関係上、外側になった
り内側になったりするのである。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in more detail with reference to the embodiments shown in the accompanying drawings. FIG. 1 shows a collective substrate 10 for mounting chip components according to the present invention. The aggregate substrate 10 has a long hole 14 for separating each single substrate.
And three single substrates 12A, 12B, and 12C surrounded by the substrate connecting portion 20 disposed therebetween. A round hole 16 or 16I is provided in the vicinity of each board connection part 20 of each of these single boards. The round holes 16 are formed at positions outside the boundaries of each single substrate, and the round holes 16I
Indicates the one formed at the inner position. These round holes may be in the vicinity of the board connecting portion 20, and the inside and outside thereof are not particularly limited. It may be outside or inside due to the space of the single substrate arrangement.
【0011】図2は単一基板12Aの一つの基板接続部
20の近傍を拡大図示したものであるが、丸孔16は単
一基板12Aの外側に設けてある。他の変形例として長
孔16Lを単一基板12Aの外側に設け、また他の変形
例として丸孔16Iを単一基板12Aの内側に設けてい
る。FIG. 2 is an enlarged view of the vicinity of one substrate connecting portion 20 of the single substrate 12A. The round hole 16 is provided outside the single substrate 12A. As another modification, a long hole 16L is provided outside the single substrate 12A, and as another modification, a round hole 16I is provided inside the single substrate 12A.
【0012】次に、本考案の効果を図3から図5を参照
しながら説明する。図3は幅が1mmであって互いの間
隔が図示の通り2.5mmである長孔14間の基板接続
部20の近傍にストレス緩和用の孔を設けていない従来
の集合基板を示している。この基板接続部20をニッパ
ーによって切断する際のストレスによる歪を、基板接続
部20から2mm離れた測定点MP1において測定し
た。Next, the effects of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 3 shows a conventional collective substrate having a width of 1 mm and a distance between each other of 2.5 mm as shown in FIG. . The strain due to the stress when the substrate connecting portion 20 was cut by the nipper was measured at a measurement point MP1 separated from the substrate connecting portion 20 by 2 mm.
【0013】また、図4は上記図3の集合基板に対し
て、基板接続部20から2mm離れた図示の位置に直径
が2mmの丸孔16を形成した本考案に係る集合基板を
示している。この基板接続部20をニッパーによって切
断する際のストレスによる歪を、図3の場合と同じ位置
である基板接続部20から2mm離れた測定点MP2に
おいて測定した。FIG. 4 shows a collective substrate according to the present invention in which a round hole 16 having a diameter of 2 mm is formed at a position shown in FIG. . The distortion caused by the stress when the substrate connecting portion 20 was cut by the nipper was measured at a measurement point MP2 which was the same position as in FIG. 3 and was 2 mm away from the substrate connecting portion 20.
【0014】上記の各歪測定において、基板接続部20
の切断に使用するニッパーの厚さ寸法を二種類用い、そ
れぞれのニッパーによる切断ストレスに対する歪の測定
を行っている。図5に示すように二種類のニッパーの刃
先角度θは同じであるが、厚さ寸法は異なり、一方は
0.9mm、他方は0.5mmである。In each of the above-described strain measurements, the substrate connecting portion 20
Using two types of thickness of the nipper used for cutting, the strain for the cutting stress by each nipper is measured. As shown in FIG. 5, the two types of nippers have the same cutting edge angle θ, but have different thickness dimensions, one being 0.9 mm and the other being 0.5 mm.
【0015】図5の測定データD1とD2は、共に切断
対象が図3に示す従来の集合基板であり、それぞれ厚さ
寸法が0.9mmのニッパーによる切断、厚さ寸法が
0.5mmのニッパーによる切断に対する測定点MP1
の圧縮歪である。また、測定データD3とD4は、共に
切断対象が図4に示す本発明の集合基板であり、それぞ
れ厚さ寸法が0.9mmのニッパーによる切断、厚さ寸
法が0.5mmのニッパーによる切断に対する測定点M
P2の圧縮歪である。また丸印M1,M2,M3,M4
はそれぞれ各データの平均値を示している。The measurement data D1 and D2 shown in FIG. 5 are both of the conventional collective substrate shown in FIG. 3 which is to be cut, cut by a nipper having a thickness of 0.9 mm, and a nipper having a thickness of 0.5 mm. Measuring point MP1 for cutting by
Is the compression strain. Further, the measurement data D3 and D4 indicate that the object to be cut is the collective substrate of the present invention shown in FIG. Measurement point M
This is the compression strain of P2. Also, circles M1, M2, M3, M4
Indicates the average value of each data.
【0016】これらの測定結果、平均値データM1とM
2とを比較すると、ニッパーの薄い方が歪が小さいこと
がわかる。また、他の平均値データM3とM4とを比較
しても同様のことがいえる。更に、平均値データM1と
M3、または平均値データM2とM4とを比較すると、
従来の集合基板よりも本考案に係る集合基板の方が発生
する圧縮歪が低減されることが分かる。この実験では歪
が約4割低減されている。As a result of these measurements, the average data M1 and M
Comparison with No. 2 shows that the thinner the nipper, the smaller the distortion. The same can be said of comparing the other average value data M3 and M4. Furthermore, comparing the average value data M1 and M3 or the average value data M2 and M4,
It can be seen that the compressive strain generated by the collective substrate according to the present invention is reduced as compared with the conventional collective substrate. In this experiment, the distortion was reduced by about 40%.
【0017】図4に示す様に、切断に伴う応力や歪を低
減させるための孔16は基板接続部20の近傍に設ける
ことが望ましいが、この孔をあまり近づけると集合基板
を製造する際に基板にクラックが入るため、図の寸法L
を基板の板厚以上に設計することが望ましい。As shown in FIG. 4, it is desirable to provide a hole 16 for reducing stress and strain caused by cutting in the vicinity of the substrate connecting portion 20. However, if this hole is too close, it becomes difficult to manufacture a collective substrate. The dimensions L shown in the figure
Is desirably designed to be equal to or greater than the thickness of the substrate.
【0018】[0018]
【考案の効果】以上の説明から明らかなように本考案に
よれば、基板接続部をニッパーによって切断する際に生
ずる歪を、前記基板接続部の近傍に設けた孔によって緩
和することができる。従って、基板接続部の近傍が破損
することがなく、そこへチップ部品の配置ができ、基板
を有効に使用した設計が可能となり、高密度実装も可能
となる。また、ニッパーの厚さを厚くしても基板接続部
の切断に際してのストレスが緩和されるので、ニッパー
の耐久性を向上させることができる。As is apparent from the above description, according to the present invention, the distortion generated when the substrate connecting portion is cut by the nipper can be reduced by the holes provided near the substrate connecting portion. Accordingly, the vicinity of the board connection portion is not damaged, chip components can be arranged there, a design using the board can be effectively used, and high-density mounting is also possible. Further, even when the thickness of the nipper is increased, the stress at the time of cutting the substrate connecting portion is reduced, so that the durability of the nipper can be improved.
【図1】図1は本考案に係る集合基板の平面図である。FIG. 1 is a plan view of a collective substrate according to the present invention.
【図2】図2は本考案に係る集合基板の基板接続部近傍
の拡大図である。FIG. 2 is an enlarged view of the vicinity of a board connecting portion of the collective board according to the present invention.
【図3】図3は従来の集合基板の基板接続部近傍の拡大
図であり、図5の実験の対象を示す図である。FIG. 3 is an enlarged view of the vicinity of a board connecting portion of a conventional collective board, and is a view showing an object of the experiment of FIG. 5;
【図4】図4は本考案に係る集合基板の基板接続部近傍
の拡大図であり、図5の実験の対象を示す図である。FIG. 4 is an enlarged view of the vicinity of a board connecting portion of the collective board according to the present invention, and is a view showing an object of the experiment of FIG. 5;
【図5】図5は本考案に係る集合基板の効果を説明する
ためのグラフである。FIG. 5 is a graph for explaining an effect of the collective substrate according to the present invention.
【図6】図6は従来の集合基板の平面図である。FIG. 6 is a plan view of a conventional collective substrate.
【図7】図7は図6のA部の拡大図である。FIG. 7 is an enlarged view of a portion A in FIG. 6;
【図8】図8は図7の基板接続部のニッパーによる切断
時の矢視線B─Bによる断面図である。FIG. 8 is a cross-sectional view taken along line BB of FIG. 7 when the substrate connecting portion of FIG. 7 is cut by a nipper.
【図9】図9は図7の基板接続部のニッパーによる切断
時の矢視線C−Cによる断面図である。9 is a cross-sectional view taken along line CC of FIG. 7 at the time of cutting the board connecting portion of FIG. 7 with a nipper.
10 集合基板 12A,12B,12C 単一基板 14 分離用孔 16,16I ストレス緩和用孔 18 チップ部品 20 基板接続部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Collective board 12A, 12B, 12C Single board 14 Separation hole 16, 16I Stress relaxation hole 18 Chip component 20 Board connection part
Claims (1)
一基板を有し、これらの単一基板の境界を分離用孔と基
板接続部とを交互に配設して構成した集合基板であっ
て、前記基板接続部の近傍に該基板接続部の切断時に発
生するストレスを緩和する孔を設けたことを特徴とする
集合基板。1. A collective board comprising a plurality of single boards for mounting chip components, and a boundary between these single boards is formed by alternately arranging separation holes and board connecting portions. And a hole provided in the vicinity of the substrate connection portion for relaxing stress generated when the substrate connection portion is cut.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9540891U JP2552354Y2 (en) | 1991-10-24 | 1991-10-24 | Assembly board |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
JP9540891U JP2552354Y2 (en) | 1991-10-24 | 1991-10-24 | Assembly board |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0538936U JPH0538936U (en) | 1993-05-25 |
JP2552354Y2 true JP2552354Y2 (en) | 1997-10-29 |
Family
ID=14136854
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9540891U Expired - Fee Related JP2552354Y2 (en) | 1991-10-24 | 1991-10-24 | Assembly board |
Country Status (1)
Country | Link |
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Families Citing this family (3)
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JP4803002B2 (en) * | 2006-11-27 | 2011-10-26 | パナソニック電工株式会社 | Metal printed circuit board |
JP5513983B2 (en) * | 2010-05-20 | 2014-06-04 | パナソニック株式会社 | Assembly board |
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1991
- 1991-10-24 JP JP9540891U patent/JP2552354Y2/en not_active Expired - Fee Related
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