JP2542782Y2

JP2542782Y2 - パーツガイドロータ

Info

Publication number: JP2542782Y2
Application number: JP1671492U
Authority: JP
Inventors: 久好松山
Original assignee: Kyocera Corp
Current assignee: Kyocera Corp
Priority date: 1992-03-27
Filing date: 1992-03-27
Publication date: 1997-07-30
Anticipated expiration: 2007-03-27
Also published as: JPH0577124U

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本考案は、チップコンデンサーや
チップ抵抗などの小型電子部品の製造工程中、検査や梱
包時に用いる回転式のパーツガイドロータに関する。

【０００２】

【従来の技術】小型の電子部品は、近年セラミック化に
より３ｍｍ角以下に小型化され、大量に生産されてい
る。例えば、セラミックチップコンデンサーやセラミッ
クチップ抵抗などがその代表例であるが、小型形状、大
量生産のために、検査や梱包の機械化、自動化、高速化
は必須技術となっている。

【０００３】従来より、これらの小型電子部品を検査、
梱包するために、整列して供給する手段として、パーツ
ガイドロータが使用されている。例えば、図４にセラミ
ックチップ抵抗用のパーツガイドロータを示すように、
このロータ１はガラスエポキシ材からなる円盤状体であ
り、周囲に電子部品２を収納し供給するための凹部１１
を多数形成し、中央部に位置決め孔１２を備えたもので
ある。そして、このロータ１を回転させながら、供給部
３より上記凹部１１に電子部品２を供給し、２ヵ所の検
査部４、４で各電子部品２の抵抗値などを２回検査し、
不良品は排出部５、５より排出するとともに、良品はマ
ガジン６に供給されるようになっていた。なお、図５に
示すように検査部４では、２つの端子４ａで各電子部品
２の抵抗値などを検出し、所定範囲内であるかどうか検
査するようになっていた。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】ところが、このような
従来のロータ１を成すガラスエポキシ材は、セラミック
スよりもはるかに硬度が低いものであるため、セラミッ
ク製電子部品の供給に用いると、凹部１１が摩耗しやす
いという問題があった。凹部１１が摩耗すると、例えば
検査部４などで誤動作やトラブルが生じやすくなるた
め、ある程度凹部１１が摩耗すると、ロータ１を交換し
なければならなかった。

【０００５】実際には、ガラスエポキシ材からなるロー
タ１を用いてセラミック製電子部品の供給を行った場
合、約５０時間（３００万個程度）の使用で、凹部１１
の摩耗のために交換しなければならなかった。そのた
め、４日毎にロータ１の交換、セッティング、調整を行
う必要があり、凹部１１の摩耗によるトラブルも含め
て、通常これらのパーツガイドロータの稼働率は５０〜
６０％しかないものであった。

【０００６】これに対し、電子部品は今後一層小型化さ
れ、より高速供給が求められるが、上記のように、効率
のよい高速パーツガイドロータは得られていなかった。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記に鑑みて本考案は、
パーツガイドロータを、ビッカース硬度６００〜１６０
０ｋｇ／ｍｍ²のセラミックスにより形成し、その周辺
部を肉薄とするとともに該周辺部に電子部品を供給する
ための凹部を形成したものである。

【０００８】なお、本考案のパーツガイドロータにおい
て最も重要な点は、ロータ自体が摩耗しにくいように硬
度の高い材質とするとともに、供給する電子部品にも傷
をつけないようにすることである。そのためには、パー
ツガイドロータの材質として、セラミック製電子部品と
同程度の硬度のものを用いれば良い。ここで、通常の電
子部品を構成するセラミックスは、アルミナ（ビッカー
ス硬度１６００ｋｇ／ｍｍ²）、チタン酸バリウム（ビ
ッカース硬度６００ｋｇ／ｍｍ²）であることから、ロ
ータとしてビッカース硬度６００〜１６００ｋｇ／ｍｍ
²のセラミックスを用いれば良い。

【０００９】さらに、上記したように、ロータによる供
給の途中で抵抗値などの検査部があるため、ロータ自体
の厚みは電子部品よりも薄くしなければならない。その
ため、このような薄い形状としても割れや欠けをなくす
ためには、ロータを成すセラミックスの破壊靱性Ｋ_1Cを
５．０ＭＰａ√ｍ以上とすれば良い。

【００１０】

【実施例】以下本考案の実施例を説明する（従来例と同
一部分は同一符号を用いる）。

【００１１】図１に本考案のパーツガイドロータを示す
ように、このロータ１はジルコニア、窒化珪素などのセ
ラミックスからなる円盤体であって、周辺に電子部品を
収納し供給するための多数の凹部１１を有し、中央部に
は位置決め孔１２を備えている。また、凹部１１近傍の
断面図を図２（Ａ）に示すように、これらの凹部１１を
形成した周辺部１３は中央部に比べて肉薄となってい
る。つまり、このロータ１を使用する場合は、凹部１１
に電子部品を収納して供給することになるが、途中に抵
抗値などの検査工程があるため、この凹部１１を形成し
た周辺部１３の厚みｔは、電子部品の厚みよりも薄くし
なければならず、通常この厚みｔは０．４ｍｍ以下とす
ることが望ましい。ところが、ロータ１全体をこの厚み
とすると強度が低くなって、割れや欠けが生じやすくな
るため、全体の厚みＴは１ｍｍ以上とし、周辺部１３の
みを厚みｔが０．４ｍｍ以下の薄肉部としてある。

【００１２】また、この薄肉とした周辺部１３の幅ｄ
は、凹部１１の長さＬよりも大きくする必要があり、通
常５ｍｍ以上とする。ただし、この幅ｄが大きすぎると
周辺部１３に反りが生じやすくなってしまうことから、
種々実験の結果、幅ｄが１０ｍｍ以下であれば反り量を
０．０５ｍｍ以下に抑えることができ、充分に使用に耐
えられることがわかった。即ち、上記周辺部１３の幅ｄ
は５〜１０ｍｍ、好ましくは５〜７ｍｍのものが良い。
さらに、この周辺部１３は上部のみを段落とししたもの
であり、周辺部１３の下面は中央部と同一面となってい
ることから、電子部品を安定して供給することができ
る。また、周辺部１３の上面は平坦度０．０５ｍｍ以下
の平坦な面としてある。

【００１３】なお、上記図２（Ａ）の実施例では、周辺
部１３と中央部との境界１６を段形状としたが、図２
（Ｂ）に示すように、この境界１６を滑らかな曲面形状
とすればエッジからのクラック発生を防ぐことができ
る。

【００１４】さらに、図３に凹部１１の拡大図を示すよ
うに、この凹部１１の入口エッジ部１４には、角度αが
５〜３０°の面取りを形成して、チッピングを防止して
ある。また、凹部１１のコーナー部１５は、曲率半径Ｒ
が０．２ｍｍ以下の曲面状とすることによって、クラッ
クなどの発生を防止してある。

【００１５】次に、本考案のパーツガイドロータの使用
方法を説明する。

【００１６】図４に示すように、本考案のロータ１を回
転させながら、凹部１１に電子部品２を供給し、この電
子部品２は、途中２回の検査部４で抵抗値などの検査を
行い、不良品は排出部５より排出され、一方良品は最終
的にマガジン６中に収納されるようになっている。この
とき、本考案のロータ１はセラミックスからなるため、
耐摩耗性に優れており、かつその硬度が電子部品を構成
するセラミック材と近似するため、セラミック製電子部
品２にもキズを付けにくい。

【００１７】このような本考案のロータ１を形成する材
質は、ビッカース硬度が６００〜１６００ｋｇ／ｍｍ²
で、かつ破壊靱性Ｋ_1Cが５．０ＭＰａ√ｍ以上のセラミ
ックスからなっており、具体的には、ジルコニアセラミ
ックスまたは窒化珪素質セラミックスから成っている。

【００１８】ここで、ジルコニアセラミックスとは、Ｚ
ｒＯ₂を主成分とし、安定化剤としてＹ₂Ｏ₃を２〜
４．５モル％、好ましくは２．５〜３．５モル％含み、
正方晶の結晶構造をもつジルコニアが５０％以上、好ま
しくは８０％以上であり、平均結晶粒子径が２μｍ以
下、好ましくは１μｍ以下であるような部分安定化ジル
コニアセラミックスを用いる。この部分安定化ジルコニ
アセラミックスは、応力が加わった時に生じる、正方晶
から単斜晶への応力誘起変態のメカニズムにより、強
度、靱性の極めて高いセラミックスである。

【００１９】また、窒化珪素質セラミックスとは、Ｓｉ
₃Ｎ₄を主成分とし、焼結助剤としてＹ₂Ｏ₃、Ａｌ₂
Ｏ₃を含有したものを、常圧焼成またはＨＩＰ（熱間静
水圧プレス）焼成して得られる焼結体を用いる。この窒
化珪素質セラミックスは、結晶がアスペクト比（長径／
短径の比）２〜２０の針状となって、強度、靱性を高め
ることができる。

【００２０】これらのジルコニアセラミックス、窒化珪
素質セラミックスの特性を、ガラスエポキシやアルミナ
セラミックスと比較して表１に示す。この表１より明ら
かに、本考案のジルコニアセラミックス、窒化珪素質セ
ラミックスのビッカース硬度は、ガラスエポキシよりも
はるかに大きいが、アルミナセラミックスよりも低く、
６００〜１６００ｋｇ／ｍｍ²の範囲内となっている。
そのため、これらのセラミックスからなる本考案のロー
タ１は、供給する電子部品にキズを付けにくい。

【００２１】また、本考案のジルコニアセラミックス、
窒化珪素質セラミックスは破壊靱性Ｋ_1Cが５．０以上と
大きく、曲げ強度も５０ｋｇ／ｍｍ²以上と大きいた
め、ロータ１の周辺部１３を０．４ｍｍ以下と薄く形成
しても、欠けや割れが生じることを防止できる。さら
に、本考案のジルコニアセラミックス、窒化珪素質セラ
ミックスは体積固有抵抗が１０¹²Ω・ｃｍ以上と完全な
絶縁体であり、電子部品に対して悪影響を及ぼすことは
ない。

【００２２】

【表１】

【００２３】ここで、実際に図１に示すパーツガイドロ
ータをさまざまなセラミックスおよび従来のガラスエポ
キシ材で試作し、その特性を比較した。ロータ１の大き
さは直径７０ｍｍ、中央部の厚みＴが１ｍｍ、周辺部１
３の厚みｔが０．３７ｍｍ、周辺部１３の幅ｄは６．５
ｍｍ、凹部１１は、幅１．１ｍｍ、長さＬ１．０５ｍｍ
で、５個形成した。さまざまな材質による特性の比較を
表２に示すように、本考案のジルコニアセラミックスま
たは窒化珪素質セラミックスを用いたロータは、すべて
の点で優れた特性を有することが確認される。

【００２４】

【表２】

【００２５】次に、上記ジルコニアセラミックスで形成
した本考案のロータ、および比較例であるガラスエポキ
シからなるロータを用いて、セラミック製チップ抵抗の
搬送を行い、凹部の摩耗のため寿命となるまでの時間を
比較したところ、比較例では５０時間で寿命となったも
のが、本考案実施例では１２００時間となり、きわめて
寿命を長くできることが確認できた。

【００２６】

【考案の効果】このように本考案によれば、パーツガイ
ドロータをビッカース硬度６００〜１６００ｋｇ／ｍｍ
²のセラミックスで形成し、その周辺部を肉薄とすると
ともに、該周辺部に電子部品を供給するための凹部を形
成したことによって、ロータ自体が耐摩耗性に優れると
ともに、セラミック製電子部品にもキズをつけにくくす
ることができ、長期間良好に使用することができること
から、ロータの交換頻度を低くし、電子部品の検査、梱
包工程を高速で効率良くすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案のパーツガイドロータを示す平面図であ
る。

【図２】（Ａ）は図１中のＸ−Ｘ線断面図、（Ｂ）は他
の実施例を示す断面図である。

【図３】図１中のＡ部拡大図である。

【図４】一般的なパーツガイドロータの使用方法を説明
するための図である。

【図５】図４中のＹ−Ｙ線断面図である。

【符号の説明】

１・・・ロータ１１・・凹部１２・・位置決め孔１３・・周辺部２・・・電子部品３・・・供給部４・・・検査部５・・・排出部６・・・マガジン

Claims

(57)【実用新案登録請求の範囲】

【請求項１】ビッカース硬度６００〜１６００ｋｇ／ｍ
ｍ²のセラミックスから成り、かつ円盤状を成すととも
に周辺部を肉薄とし、該周辺部に電子部品を供給するた
めの凹部を多数備えて成るパーツガイドロータ。