JP2542496B2 - 複数サンプルの同時分析用nmr - Google Patents
複数サンプルの同時分析用nmrInfo
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- JP2542496B2 JP2542496B2 JP60184380A JP18438085A JP2542496B2 JP 2542496 B2 JP2542496 B2 JP 2542496B2 JP 60184380 A JP60184380 A JP 60184380A JP 18438085 A JP18438085 A JP 18438085A JP 2542496 B2 JP2542496 B2 JP 2542496B2
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- G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は核磁気共鳴装置の分野に関し、特に複数の個
別のサンプルを同時に分析することに関するものであ
る。
別のサンプルを同時に分析することに関するものであ
る。
発明の背景 従来技術の核磁気共鳴分析において、同時測定を複合
サンプルに対して行っていた。たとえば、NMR映像の研
究ためのファントム(対象生物組織の密度と実効原子番
号に、できるだけ近似したある体積をもつ物質)を構成
するために、複数の個別のサプルを使用することは知ら
れていた。一つの典型的な例において、そのようなファ
ントムは、傾きが制御される磁場と平行になる軸部をも
つ複数のサンプルから成る。このような装置の目的は空
間的な分解能に主眼をおくものである。このような例に
おける全サンプルは、共鳴周波数が磁場の傾きに一致し
て変化する単一の共通物質から成る。
サンプルに対して行っていた。たとえば、NMR映像の研
究ためのファントム(対象生物組織の密度と実効原子番
号に、できるだけ近似したある体積をもつ物質)を構成
するために、複数の個別のサプルを使用することは知ら
れていた。一つの典型的な例において、そのようなファ
ントムは、傾きが制御される磁場と平行になる軸部をも
つ複数のサンプルから成る。このような装置の目的は空
間的な分解能に主眼をおくものである。このような例に
おける全サンプルは、共鳴周波数が磁場の傾きに一致し
て変化する単一の共通物質から成る。
従来技術において、NMRスペクトロメータの観測チャ
ネルおよびロックチャネルからのデータを引き出すこと
も知られている。ある実験において、較正物質が米国特
許第3,427,532号および第3,530,371号に説明されたサン
プル(“内部基準”)の中に混入された。それらサンプ
ルは個別的ではない。というのは、内部基準となるサン
プルと対象のサンプルとが同じ体積にわたって分離する
ことなく一緒になって分布し、その体積にわたった場が
サンプルされるからである。
ネルおよびロックチャネルからのデータを引き出すこと
も知られている。ある実験において、較正物質が米国特
許第3,427,532号および第3,530,371号に説明されたサン
プル(“内部基準”)の中に混入された。それらサンプ
ルは個別的ではない。というのは、内部基準となるサン
プルと対象のサンプルとが同じ体積にわたって分離する
ことなく一緒になって分布し、その体積にわたった場が
サンプルされるからである。
他のロック・チャネルの装置において、分極磁場の励
起周波数に対する一定比を維持するための磁場周波数制
御信号を生成するために、較正物質からの信号が分離さ
れる(“外部基準”)。このタイプのロック・チャネル
装置の例は米国特許第3,495,162号および第3,434,043号
に開示されている。
起周波数に対する一定比を維持するための磁場周波数制
御信号を生成するために、較正物質からの信号が分離さ
れる(“外部基準”)。このタイプのロック・チャネル
装置の例は米国特許第3,495,162号および第3,434,043号
に開示されている。
このような内部基準および外部基準の場合のいずれ
も、公知の物質を基準としており、これは分布するもの
でない。基準は制御ループを作動する信号を与えるため
のものである。つまり、このようなロック・チャネル装
置は、外部基準の場合ではサンプルの近くに置かれたロ
ック専用サンプルの信号を、内部基準の場合では、スペ
クトル中の鋭い信号を分散波形として、これをロック基
準とし、磁場の変化によりスペクトルがこの基準から変
化したとき、ロック用位相検波器に微小電圧があらわ
ら、これを打ち消すようにフラックススタビライザーに
電流を流し、磁場の安定化を図っている。
も、公知の物質を基準としており、これは分布するもの
でない。基準は制御ループを作動する信号を与えるため
のものである。つまり、このようなロック・チャネル装
置は、外部基準の場合ではサンプルの近くに置かれたロ
ック専用サンプルの信号を、内部基準の場合では、スペ
クトル中の鋭い信号を分散波形として、これをロック基
準とし、磁場の変化によりスペクトルがこの基準から変
化したとき、ロック用位相検波器に微小電圧があらわ
ら、これを打ち消すようにフラックススタビライザーに
電流を流し、磁場の安定化を図っている。
したがって、スペクトル応答は、ロック・チャネルの
影響を受ける。そのため、(外部または内部)基準とサ
ンプルスペクトル応答とはそれぞれ独立して変化するこ
とができない。
影響を受ける。そのため、(外部または内部)基準とサ
ンプルスペクトル応答とはそれぞれ独立して変化するこ
とができない。
従来技術において、仕切を使用することにより、サン
プル・チューブ内で軸線方向にサンプルを分けることも
知られている。仕切については、仕切材の磁化率によっ
て選択される。仕切の体積磁化率は、その仕切によって
軸線方向に不連続性が生じないようにサンプル溶液の全
体積磁化率と整合する。このようにして、サンプルの軸
線方向の広がりを、磁気スペクトルメータのプローブ・
コイルの感知体積の選択された部分内に限定してもよ
い。この技術は米国特許第4,549,136号に記載されてい
る。
プル・チューブ内で軸線方向にサンプルを分けることも
知られている。仕切については、仕切材の磁化率によっ
て選択される。仕切の体積磁化率は、その仕切によって
軸線方向に不連続性が生じないようにサンプル溶液の全
体積磁化率と整合する。このようにして、サンプルの軸
線方向の広がりを、磁気スペクトルメータのプローブ・
コイルの感知体積の選択された部分内に限定してもよ
い。この技術は米国特許第4,549,136号に記載されてい
る。
本発明の目的とするところは、スペクトロメータ分析
の質を実質的の改良することにあるのではなく、本発明
の実施例に示す装置のごとく、複数の被分析サンプルに
対する処理量を改良することにある。つまり、本発明
は、処理能力を複数のサンプを同時に分析することによ
って改良することに関する。本発明において、多くのサ
ブシステムが多数のサンプルに効率よく配分されてい
る。
の質を実質的の改良することにあるのではなく、本発明
の実施例に示す装置のごとく、複数の被分析サンプルに
対する処理量を改良することにある。つまり、本発明
は、処理能力を複数のサンプを同時に分析することによ
って改良することに関する。本発明において、多くのサ
ブシステムが多数のサンプルに効率よく配分されてい
る。
たとえば、分極磁場およびRF励起装置がスペクトロメ
ータの有効容積内にある複数のサンプルに同時に作用す
ることができる。ここで、信号処理装置が全体的に励起
されたサンプルを個別的に処理するように区分されてお
り、またサンプルがスペクトル応答に関して都合よく異
質ものとなるときは、信号RF信号処理装置が重ね合わさ
れた信号を十分に処理する。
ータの有効容積内にある複数のサンプルに同時に作用す
ることができる。ここで、信号処理装置が全体的に励起
されたサンプルを個別的に処理するように区分されてお
り、またサンプルがスペクトル応答に関して都合よく異
質ものとなるときは、信号RF信号処理装置が重ね合わさ
れた信号を十分に処理する。
他の実施態様として、処理能力を改良してそれぞれの
サンプルに起因するという特徴をもつ、重ね合わされた
スペクトルを得ることを望むときは、異質のサンプルの
同時分析が利用される。動作を僅かに変えることで、上
記異種のサンプルの1つが分析の、またはスペクトル基
準として(前述したロック装置の器具上の基準とは対照
的である)、役立つものとなる。基準のスペクトルの大
きさや位置が、複合スペクトルの比較のための目標とな
る。
サンプルに起因するという特徴をもつ、重ね合わされた
スペクトルを得ることを望むときは、異質のサンプルの
同時分析が利用される。動作を僅かに変えることで、上
記異種のサンプルの1つが分析の、またはスペクトル基
準として(前述したロック装置の器具上の基準とは対照
的である)、役立つものとなる。基準のスペクトルの大
きさや位置が、複合スペクトルの比較のための目標とな
る。
実施例 本発明の内容は第1図の最良に示されている。その第
1図は典型的なNMR分析装置の簡略化されたブロック図
である。高磁場を形成する超伝導磁石31がクライオスタ
ットの中に収納されている。そのクライオスタットにあ
る穴30内に、プローブ・モジュール32が配置される。そ
の穴の中は室温である。
1図は典型的なNMR分析装置の簡略化されたブロック図
である。高磁場を形成する超伝導磁石31がクライオスタ
ットの中に収納されている。そのクライオスタットにあ
る穴30内に、プローブ・モジュール32が配置される。そ
の穴の中は室温である。
サンプル・チューブ80を収納するスピナー組立体33は
超伝導磁石31の軸線方向に向く磁場の中でサンプル・チ
ューブを支え、高速で回転させる。このような回転は、
回転を与えるために、スピナーに連結された加圧空気供
給源34により行われる。PF送信機/受信機、および信号
プロセッサ35がプローブ・モジュール32に接続されてい
る。
超伝導磁石31の軸線方向に向く磁場の中でサンプル・チ
ューブを支え、高速で回転させる。このような回転は、
回転を与えるために、スピナーに連結された加圧空気供
給源34により行われる。PF送信機/受信機、および信号
プロセッサ35がプローブ・モジュール32に接続されてい
る。
プローブは、図示されていないが、サンプル・チュー
ブ内のサンプルを励起し、共鳴スペクトルを検出する手
段(サンプルを励起するための電磁波を発生させるため
の電源(励起エネルギー源)に接続されコイル(サンプ
ルに電磁波を印加する手段)、並びにサンプルからの信
号を受信するコイル)を有している。信号プロセッサは
また、ディスプレー手段36によって略示的に示されてい
るように、調査中にサンプルのスペクトル分布を導出
し、表示する手段を含んでいる。
ブ内のサンプルを励起し、共鳴スペクトルを検出する手
段(サンプルを励起するための電磁波を発生させるため
の電源(励起エネルギー源)に接続されコイル(サンプ
ルに電磁波を印加する手段)、並びにサンプルからの信
号を受信するコイル)を有している。信号プロセッサは
また、ディスプレー手段36によって略示的に示されてい
るように、調査中にサンプルのスペクトル分布を導出
し、表示する手段を含んでいる。
第2図において、スペクトルメータの有効容積で軸線
方向のサンプル・チューブ80が示されている。サンプル
・チューブ80はその中に配置され、N+1個の磁気感受
性仕切(プラグ)84によりサンプル・チューブ80内のサ
ンプル空間がN個のサブ空間に分割されている。サブ空
間は被分析用の個々のサンプルでそれぞれ満たしてい
る。仕切は、米国特許第4,549,136号に論じられている
ように、それぞれのサンプルによって占められる軸線方
向の間隔の境界を正確に定めている。その仕切は、サン
プル空間への磁気の乱れがほとんどあらわれないように
選択される。(一つの受信感受性仕切(プラグ)は二つ
のサンプルのサブ空間を明確に画成するのに十分なもの
で、それぞれの空間はコイルが配置された容積、すなわ
ち有効容積の両端を越えて軸線方向に伸びている。
方向のサンプル・チューブ80が示されている。サンプル
・チューブ80はその中に配置され、N+1個の磁気感受
性仕切(プラグ)84によりサンプル・チューブ80内のサ
ンプル空間がN個のサブ空間に分割されている。サブ空
間は被分析用の個々のサンプルでそれぞれ満たしてい
る。仕切は、米国特許第4,549,136号に論じられている
ように、それぞれのサンプルによって占められる軸線方
向の間隔の境界を正確に定めている。その仕切は、サン
プル空間への磁気の乱れがほとんどあらわれないように
選択される。(一つの受信感受性仕切(プラグ)は二つ
のサンプルのサブ空間を明確に画成するのに十分なもの
で、それぞれの空間はコイルが配置された容積、すなわ
ち有効容積の両端を越えて軸線方向に伸びている。
同時分析をする上で、分析用のサンプルが近似したも
のである場合は、個々のサンプル空間が第3図にブロッ
クより示された装置のように、励起・観測兼用コイルに
対応付けて個別的に定められることが望ましい。個々の
コイル86Aおよび86Bは各々の信号検出チャネルを画成す
る。それら信号検出チャネルはRF増幅器88A及び88B、位
相検知器90A及び90B、並びにアナログ・デジタルコンバ
ータ(AD)92A及び92Bをそれぞれ含む。そして、操作者
が順に各々の受信したADC出力を読み、順に各々の処理
を実行する。RF発信器94は適切な送受信切り替え器96A
及び96Bにより各コイルを励起する。各々のサンプルに
応答した個々のスペクトルが第3図の装置による多重分
析の結果として生ずることは明らかである。図示の装置
に換え、数個のサンプル空間を包含する一つのコイルを
励起コイル、さらに各サンプルに配置されるコイルを観
測用コイルとする装置を利用し得ることは分かるであろ
う。
のである場合は、個々のサンプル空間が第3図にブロッ
クより示された装置のように、励起・観測兼用コイルに
対応付けて個別的に定められることが望ましい。個々の
コイル86Aおよび86Bは各々の信号検出チャネルを画成す
る。それら信号検出チャネルはRF増幅器88A及び88B、位
相検知器90A及び90B、並びにアナログ・デジタルコンバ
ータ(AD)92A及び92Bをそれぞれ含む。そして、操作者
が順に各々の受信したADC出力を読み、順に各々の処理
を実行する。RF発信器94は適切な送受信切り替え器96A
及び96Bにより各コイルを励起する。各々のサンプルに
応答した個々のスペクトルが第3図の装置による多重分
析の結果として生ずることは明らかである。図示の装置
に換え、数個のサンプル空間を包含する一つのコイルを
励起コイル、さらに各サンプルに配置されるコイルを観
測用コイルとする装置を利用し得ることは分かるであろ
う。
他の実施例において、複数個のサンプル空間を幾何学
的にまたがる1つの観測用コイルを有するスペクトロメ
ータ(励起コイルとしては複数個のサンプル全体につい
て励起する別のコイルでもよく、又は観測用コイルと兼
用とするものでもよい)に、第2図に示すサンプル・チ
ューブ80を配置し、そのサンプル・チューブ80を使って
同時に分析すべく、非常に異なる特徴をもつ複数のサン
プルが用意される。信号検知チャネルに含まれる観測用
コイルにより混合信号が観測され、信号検知チャネル
は、フーリエ変換により重ね合わされたスペクトルを導
出する。この実施例に関連したスペクトルは、第4図
(a)−(c)に示されている。第4(a)図は重水素
を含んだクロロフォルム内の2−クロロナフタレンの従
来方法により得られたスペクトルであり、第4(b)図
は同じ溶剤内のメントールの同様に得られたスペクトル
である。第2図の構造物のサンプル・チューブを利用し
て、それぞれのサンプルはプラグ84により画成された対
応するセル内に配置され(ベスペル(vespel)型ポリイ
ミド)、そして第4(c)図の組み合わされたスペクト
ルはスペクトルメータの磁石についてシムコイルを用い
て更に補償することなく得られたものである。溶剤のラ
インの近傍にある第4(a)−(c)図のデータは第5
(a)−(c)図にそれぞれ拡大して示されている。複
数のサンプルのスペクトル(第5(c)図)といずれか
一つのサンプルのスペクトルとの差異は一つのサンプル
のスペクトル同士の間の差異によりも際だったものでは
ない。特に、個々のスペクトルラインの重なり合いは観
測されない。第5(c)は第5(a)図および第5
(b)図と比較するとができるもので、それらのピーク
のすそのが合成溶剤のピークにおいて非常に強調されて
いないことを示している。結局、磁場の(プラグ84によ
る)局部的な歪みはほとんど観測することができない。
重ね合わされたスペクトル内で十分に分離した個々のス
ペクトルラインを形成するために選択されたサンプルの
対が多くの分析の目的に対して相互に影響を及ぼすこと
がないということは明らかである。
的にまたがる1つの観測用コイルを有するスペクトロメ
ータ(励起コイルとしては複数個のサンプル全体につい
て励起する別のコイルでもよく、又は観測用コイルと兼
用とするものでもよい)に、第2図に示すサンプル・チ
ューブ80を配置し、そのサンプル・チューブ80を使って
同時に分析すべく、非常に異なる特徴をもつ複数のサン
プルが用意される。信号検知チャネルに含まれる観測用
コイルにより混合信号が観測され、信号検知チャネル
は、フーリエ変換により重ね合わされたスペクトルを導
出する。この実施例に関連したスペクトルは、第4図
(a)−(c)に示されている。第4(a)図は重水素
を含んだクロロフォルム内の2−クロロナフタレンの従
来方法により得られたスペクトルであり、第4(b)図
は同じ溶剤内のメントールの同様に得られたスペクトル
である。第2図の構造物のサンプル・チューブを利用し
て、それぞれのサンプルはプラグ84により画成された対
応するセル内に配置され(ベスペル(vespel)型ポリイ
ミド)、そして第4(c)図の組み合わされたスペクト
ルはスペクトルメータの磁石についてシムコイルを用い
て更に補償することなく得られたものである。溶剤のラ
インの近傍にある第4(a)−(c)図のデータは第5
(a)−(c)図にそれぞれ拡大して示されている。複
数のサンプルのスペクトル(第5(c)図)といずれか
一つのサンプルのスペクトルとの差異は一つのサンプル
のスペクトル同士の間の差異によりも際だったものでは
ない。特に、個々のスペクトルラインの重なり合いは観
測されない。第5(c)は第5(a)図および第5
(b)図と比較するとができるもので、それらのピーク
のすそのが合成溶剤のピークにおいて非常に強調されて
いないことを示している。結局、磁場の(プラグ84によ
る)局部的な歪みはほとんど観測することができない。
重ね合わされたスペクトル内で十分に分離した個々のス
ペクトルラインを形成するために選択されたサンプルの
対が多くの分析の目的に対して相互に影響を及ぼすこと
がないということは明らかである。
上記の説明は、軸線方向に整列された複数のサンプル
配列に関するものであった。複数のサンプルの分析につ
いては、それぞれを平行にして、直線状に配置しない例
を「参考例」として第6図を参照して説明する。
配列に関するものであった。複数のサンプルの分析につ
いては、それぞれを平行にして、直線状に配置しない例
を「参考例」として第6図を参照して説明する。
このような配列において、半径方向の不均一性がサン
プル空間の本来的に導かれるものである。その効果の程
度は、多くのパラメータやサンプル及びサンプル・チュ
ーブを形成する物質の磁化率に依存するが、一般的に
は、その不均一性の平均化は回転によりなすことができ
る。この並行配列において、個々のサンプルは、隣接し
たサンプルによる各サンプルに関する局部的な方位方向
の不均一性を平均化するために各々の軸線のまわりに回
転させられる。第6図に、個々のサンプルを各々の軸線
のまわりに同時に回転させる回転装置の例が示されてい
る。一般的なステイターハウジング105がそれぞれのロ
ータ107及び109をジェット110−114から供給される空気
ベアリング上に支持する。ステイターハウジング105は
プレナム108(及び108′)を形成するインサート106
(及び106′)を有する。サンプル・チューブ116および
118はそれぞれサンプルのタービン部分117および117′
上へのジェット115からの駆動ガスにより回転させられ
る。空気ベアリングスピナーの構造上の詳細も本発明の
範囲外である。このような装置の説明は米国特許第4,27
5,350号になされている。
プル空間の本来的に導かれるものである。その効果の程
度は、多くのパラメータやサンプル及びサンプル・チュ
ーブを形成する物質の磁化率に依存するが、一般的に
は、その不均一性の平均化は回転によりなすことができ
る。この並行配列において、個々のサンプルは、隣接し
たサンプルによる各サンプルに関する局部的な方位方向
の不均一性を平均化するために各々の軸線のまわりに回
転させられる。第6図に、個々のサンプルを各々の軸線
のまわりに同時に回転させる回転装置の例が示されてい
る。一般的なステイターハウジング105がそれぞれのロ
ータ107及び109をジェット110−114から供給される空気
ベアリング上に支持する。ステイターハウジング105は
プレナム108(及び108′)を形成するインサート106
(及び106′)を有する。サンプル・チューブ116および
118はそれぞれサンプルのタービン部分117および117′
上へのジェット115からの駆動ガスにより回転させられ
る。空気ベアリングスピナーの構造上の詳細も本発明の
範囲外である。このような装置の説明は米国特許第4,27
5,350号になされている。
並行に(非共直線的に)配列された複数のサンプル
を、共鳴信号の組み合わせのために一般的な観測用コイ
ルまたは他の多重チャネル配列の中に再度配置してもよ
い。これにより、個々のサンプル信号はそれぞれの観測
用コイルおよび第3図と同様の対応したチャネルにより
処理される。
を、共鳴信号の組み合わせのために一般的な観測用コイ
ルまたは他の多重チャネル配列の中に再度配置してもよ
い。これにより、個々のサンプル信号はそれぞれの観測
用コイルおよび第3図と同様の対応したチャネルにより
処理される。
前に説明した本発明により、NMRスペクトロメータの
経済的、かつ容易で広範囲な利用を行うことができる。
サンプルの処理可能な速度で測定された処理量は複数の
サンプルを並行にして同時に得られたデータにより増大
する。
経済的、かつ容易で広範囲な利用を行うことができる。
サンプルの処理可能な速度で測定された処理量は複数の
サンプルを並行にして同時に得られたデータにより増大
する。
本発明は好適実施例に基づいて説明してきたが、平均
的当業者であれば特許請求の範囲によって画成される発
明の範囲から逸脱することなく、特定の条件を満たす変
更、変形を行うことができることは明らかである。
的当業者であれば特許請求の範囲によって画成される発
明の範囲から逸脱することなく、特定の条件を満たす変
更、変形を行うことができることは明らかである。
【図面の簡単な説明】 第1図はインパルスNMRスペクトロメータの略示ブロッ
ク図である。 第2図は、本発明における分析用の複数の分離したサン
プル・チューブを示す。 第3図は、個別の観測コイルが個別のサンプルに対応し
ている装置の一例を示す。 第4(a)図は、重水素を含むクロロフォルム内の2−
クロロナフタレンのスペクトルである。 第4(b)図は、重水素を含むクロロフォルム内のメン
トールのスペクトルである。 第4(c)図は、二つの個別のサンプルからの信号応答
(上記(a)、(b)に対応したもの)が信号観測コイ
ルにいおて混合されているサンプルスヘクトルである。 第5(a)−(c)図は、スケールを拡大した溶媒ライ
ンの詳細を示す。 第6図は、本発明に関し参考例として挙げた、複数の並
行で、共直線性でないように配列されたサンプルをスピ
ンさせる装置の断面を示す。 [主要符号の説明] 80、116、118……サンプル・チューブ 84……プラグ(仕切) 84A、B……コイル 88A、B……RF増幅器 90A、B……位相感知検出器
ク図である。 第2図は、本発明における分析用の複数の分離したサン
プル・チューブを示す。 第3図は、個別の観測コイルが個別のサンプルに対応し
ている装置の一例を示す。 第4(a)図は、重水素を含むクロロフォルム内の2−
クロロナフタレンのスペクトルである。 第4(b)図は、重水素を含むクロロフォルム内のメン
トールのスペクトルである。 第4(c)図は、二つの個別のサンプルからの信号応答
(上記(a)、(b)に対応したもの)が信号観測コイ
ルにいおて混合されているサンプルスヘクトルである。 第5(a)−(c)図は、スケールを拡大した溶媒ライ
ンの詳細を示す。 第6図は、本発明に関し参考例として挙げた、複数の並
行で、共直線性でないように配列されたサンプルをスピ
ンさせる装置の断面を示す。 [主要符号の説明] 80、116、118……サンプル・チューブ 84……プラグ(仕切) 84A、B……コイル 88A、B……RF増幅器 90A、B……位相感知検出器
Claims (2)
- 【請求項1】異なる特徴を有する個々のサンプルを同時
に分析するための核磁気共鳴装置であって、 a)励起エネルギー源及びそれを前記複数のサンプルに
共通して印加する手段を含む核磁気共鳴分析装置と、 b)信号検出チャネルと、 c)前記サンプルを軸線方向に整列して支持するサンプ
ル・チューブと、 から成り、 前記各サンプルが溶剤を含み、 前記それぞれの溶剤が実質的に同様の体積磁化率を示
し、 隣接した前記サンプルが、そのサンプル内の溶剤の体積
磁化率と実質的に一致するように選択された材料から成
る仕切により分離され、 前記信号検出チャネルが一つの観測用コイルを含み、 前記コイルが前記サンプル・チューブの近傍で複数のサ
ンプル空間を幾何学的にまたがって配置され、サンプル
からの信号がその共鳴スペクトルを形成するために処理
されるようにRF処理装置と導通している、 ところの核磁気共鳴装置。 - 【請求項2】類似した特徴を有する個々のサンプルを同
時に分析するための核磁気共鳴装置であって、 a)励起エネルギー源及びそれを前記複数のサンプルに
共通して印加する手段を含む核磁気共鳴分析装置と、 b)複数の信号検出チャネルと、 c)前記複数のサンプルを軸線方向に整列して支持する
サンプル・チューブと、 から成り、 前記各サンプルが溶剤を含み、 前記それぞれの溶剤が実質的に同様の体積磁化率を示
し、 隣接した前記サンプルが、そのサンプル内の溶剤の体積
磁化率と実質的に一致するように選択された材料から成
る仕切により分離され、 前記複数の信号検出チャネルが各々対応する複数の観測
用コイルを含み、 前記コイルのそれぞれが前記サンプル・チューブの前記
サンプルのそれぞれに対応した位置に配置され、それぞ
れのサンプルからの信号がそれからそれぞれの共鳴スペ
クトルを形成するために個々に処理されるようにそれぞ
れのRF処理装置と導通している、 ところの核磁気共鳴装置。
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