JP2540473Y2 - スイッチ付ポテンショメータ - Google Patents

スイッチ付ポテンショメータ

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JP2540473Y2
JP2540473Y2 JP1989014690U JP1469089U JP2540473Y2 JP 2540473 Y2 JP2540473 Y2 JP 2540473Y2 JP 1989014690 U JP1989014690 U JP 1989014690U JP 1469089 U JP1469089 U JP 1469089U JP 2540473 Y2 JP2540473 Y2 JP 2540473Y2
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switch
current collector
potentiometer
insulator
slider
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JP1989014690U
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昭秀 三輪
健三 鈴木
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東京コスモス電機 株式会社
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  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Adjustable Resistors (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案はスイッチ付ポテンショメータに関し、詳し
くはスイッチ特性の改良に関するものである。
「従来の技術」 従来の技術を第4図乃至第6図に基づいて説明する。
ここに示すスイッチ付ポテンショメータは例えば自動
車用エンジンのスロットルバルブに連結して用いられ、
ポテンショメータに連動して動作するスイッチによって
アイドル位置を検出し、ポテンショメータによってスロ
ットルバルブの開度を検出するものである。
共通の絶縁基板1上に第1の集電体2と第2の集電体
3が例えば印刷法によって互いに平行に形成される。ス
イッチ用摺動子11の通路には第2の集電体3に続いて絶
縁体4が形成され、絶縁体4に続いて第1の抵抗体6が
形成されてスイッチパターンとされる。第1の抵抗体6
を形成したのはスイッチ用摺動子11との摩擦抵抗を小さ
くするためである。
このスイッチパターン上をスイッチ用摺動子11が摺動
接触し、第2の集電体3と絶縁体4の境界でスイッチが
開閉されアイドル位置とされる。
従来はこのスイッチの開閉時にチャタリングが発生す
る製品が製造されてしまう欠点がある。
その理由を以下に説明する。つまり第2の集電体3と
絶縁体4の形成順序は焼成温度の高い順に行なわれる。
このために第2の集電体3を形成した後に絶縁体4を形
成することになる。この結果第2の集電体3を形成した
後にこの第2集電体3に隣接して絶縁体4を印刷法によ
って被着するが、この際に絶縁体4の一部が第2の集電
体3の上に重ねられるので絶縁体4の厚さが表面近くで
薄くなる。
このために第5図に示すように第2の集電体3の凹凸
の特に凸部が絶縁体4の薄い部分を突抜けて絶縁体4の
領域となるべき部分に突出し第2の集電体3の微小な露
出部3−1が形成される。この露出部3−1にスイッチ
用摺動子11が接触することによってチャタリングが生じ
ることになる。
つまり第5図においてスイッチ用摺動子11を第5図
(イ)に示す矢印X方向に摺動させた時のスイッチ特性
を第6図に示す。
スイッチ用摺動子11が第2の集電体3と接触している
ときスイッチは閉であるが、スイッチ用摺動子11が第2
の集電体3と絶縁体4との境界を通過し、絶縁体4と接
触するとスイッチは開となる。
ここで絶縁体4の領域であるべき部分に第2の集電体
3の微小な露出部3−1が存在するとスイッチ用摺動子
11はこれと接触するためスイッチは再び閉となる。第2
集電体3の微小な露出部3−1の部分を通路するとスイ
ッチ用摺動子11は再び絶縁体4と接触してスイッチは開
となる。よって第2の集電体3の微小な露出部3−1の
部分でチャタリングが生じる事になる。
露出部3−1がない場合は、スイッチは第2の集電体
3と接触している時に閉で、絶縁体4と接触して開とな
るだけでチャタリングの発生は無い。
第6図に示したスイッチ特性は例えば第1の集電体2
と第2の集電体3の間に印加した電圧を負荷抵抗を用い
て降下させる電圧降下法により測定することができる。
なお、ポテンショメータパターンは絶縁基板1上のポ
テンショメータ用摺動子12の通路に第2の抵抗体8と第
3の集電体9が形成されて構成される。このポテンショ
メータ用摺動子12とスイッチ用摺動子11は互いに絶縁さ
れて絶縁基板1に回動自在に支持された回転体13に取付
けられる。
「考案が解決しようとする課題」 上述した理由によってチャタリングが発生するスイッ
チ付ポテンショメータが製造されてしまうが、チャタリ
ングが発生するスイッチを例えばアイドル位置検出スイ
ッチとして用いたとすると、誤検出の原因となり自動車
の運転に支障を来す欠点がある。
この考案の目的は、チャタリングの発生を防止するス
イッチ付ポテンショメータを提供することにある。
「課題を解決するための手段」 絶縁基板上に形成されたスイッチパターン上をスイッ
チ用摺動子が摺動接触し、ポテンショメータパターン上
をポテンショメータ用摺動子が摺動接触し、スイッチパ
ターンはほぼ平行に並べられた一対の集電体からなり、
少なくとも一方の集電体の一端側からその集電体の延長
方向に絶縁体が形成されてなるスイッチ付ポテンショメ
ータにおいて、この考案では集電体と絶縁体との間に、
これらを互いに離し、かつスイッチ用摺動子がはまり込
まない程度の間隙の溝をもうけたものである。
この考案の構成によれば集電体と絶縁体との間にこれ
らが互いに接触しないように溝を形成した構造としたか
ら、絶縁体となるべき領域に集電体の突部が露出するよ
うなことはない。
よってチャタリングの発生がないスイッチ付ポテンシ
ョメータを容易に作ることができる。
「実施例」 この考案の一実施例を第1図乃至第3図に基づいて説
明する。
例えばセラミックからなる絶縁基板1上に印刷手段で
銀粒子を含む第1の集電体2を形成し、これとほぼ平行
に並べて第2の集電体3を形成する。
絶縁基板1上にスイッチ用摺動子11の通路には第2の
集電体3の一端側から例えば軟質ガラスからなる絶縁体
4を形成するが、第2の集電体3と絶縁体4との間には
これらが互いに接触しないように溝5を設ける。溝5の
間隙は例えば0.3ミリメートル以下とされて、スイッチ
用摺動子11がはまり込まない程度の大きさとされる。
この考案で絶縁体4とはシート抵抗で1メグオーム
(1MΩ)以上の抵抗値を示すものをいう。
絶縁体4に続いてカーボン粒子を含む第1の抵抗体6
を形成し、この第1の抵抗体6の先端側に再び絶縁体4
と第2の集電体3とを形成する。
この絶縁体4と第2の集電体3との間にも溝5をもう
けてスイッチパターンを形成する。第1図に示した実施
例は第1の集電体2に対して第2の集電体3が2個から
なる単極双投のスイッチパターンを形成した場合を示
す。
第1の集電体2およひ第2の集電体3の各終端は絶縁
基板1の一端側に延長されてスイッチ用電極7とされ
る。
ポテンショメータパターンは第1図に示すように第2
の抵抗体8と第3の集電体9からなり、これらの各終端
は絶縁基板の一端側に延長形成されてポテンショメータ
用電極10とされる。
ポテンショメータ用摺動子12は第2の抵抗体8と第3
の集電体9上を摺動接触してスロットルバルブの開度を
検出することに利用される。
スイッチ用摺動子11とポテンショメータ用摺動子12は
互いに絶縁されて回動自在な回転体13に取付けられる。
溝5の形成方法は各種の方法が考えられる。第2図は
印刷時に溝5を形成した場合を示すが、第3図の例では
レーザを用いて第2の集電体3と絶縁体4との境界部分
をカットして形成した場合を示す。
この場合の溝5はシャープに形成することができる
し、また位置精度も高いので好ましい例である。
上述した両実施例では絶縁体4を第2の集電体3側に
おいて、この第2集電体3に続けて形成したがこの限り
でなく第1の集電体2側にもこの第1集電体2に続けて
絶縁体4を形成しても良い。
また上述した両実施例のスイッチは単極双投であるか
ら、例えば一方のスイッチでアイドリング位置を検出
し、他方のスイッチでアクセル位置を検出することがで
きる。
また第2図及び第3図において第2の集電体3の一端
側からその集電体3の延長方向に絶縁体4を形成し、更
にこれに続いて第1の抵抗体6を形成したが、これに限
らず第2の集電体3の一端側から合成樹脂からなる絶縁
体4を第1の抵抗体6の領域まで延長形成した構造を採
ることもできる。
またこの考案は回転形ポテンショメータに限らずスラ
イド形ポテンショメータにも適用することができること
は容易に理解できよう。
「考案の効果」 この考案によるスイッチ付ポテンショメータはスイッ
チパターンの第1集電体2又は第2集電体3のいずれか
一方又は双方の集電体の一端側からその集電体の延長方
向に絶縁体4を形成し、これら集電体と絶縁体との間
に、集電体と絶縁体とを互いに離し、かつスイッチ用摺
動子11がはまり込まない程度の間隙 おいて集電体と絶縁体とが互いに接触しないように、ほ
ぼ0.3ミリメートル以下の間隙の溝5をもうけたのでチ
ャタリングの発生を防止することができ、位置の検出に
関して信頼性が高く、かつスイッチ用摺動子が溝5には
まり込んで損傷することのないスイッチ付ポテンショメ
ータを提供することができ、その効果は実用に供して頗
る大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は考案のスイッチ付ポテンショメータの概念的構
成の平面図、第2図はこの考案の要部拡大図で(イ)は
平面図、(ロ)は(イ)のA−A断面図、第3図はこの
考案の他の実施例の要部拡大図で(イ)は平面図、
(ロ)は(イ)のB−B断面図、第4図は従来のスイッ
チ付ポテンショメータの概念的構成の平面図、第5図は
第4図の要部拡大図(イ)は平面図、(ロ)は(イ)の
C−C断面図、第6図はチャタリングが生じた場合のス
イッチ特性を示す波形図である。 1:絶縁基板、2:第1の集電体、3:第2の集電体、4:絶縁
体、5:溝、6:第1の抵抗体、7:スイッチ用電極、8:第2
の抵抗体、9:第3の集電体、10:ポテンショメータ用電
極、11:スイッチ用摺動子。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 実開 昭62−92610(JP,U) 実開 昭50−100645(JP,U) 実公 昭15−17017(JP,Y1) 実公 昭17−2060(JP,Y1)

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】絶縁基板上に形成されたスイッチパターン
    上をスイッチ用摺動子が摺動接触し、 ポテンショメータパターン上をポテンショメータ用摺動
    子が摺動接触し、 前記スイッチパターンはほぼ平行に並べられた一対の集
    電体からなり、 少なくとも一方の集電体の一端側からその集電体の延長
    方向に絶縁体が形成されてなるスイッチ付ポテンショメ
    ータにおいて、 前記集電体と前記絶縁体との間に、これらを互いに離
    し、かつ前記スイッチ用摺動子がはまり込まない程度の
    間隙の溝を設けたことを特徴とするスイッチ付ポテンシ
    ョメータ。
JP1989014690U 1989-02-10 1989-02-10 スイッチ付ポテンショメータ Expired - Lifetime JP2540473Y2 (ja)

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JPS5413534Y2 (ja) * 1974-01-23 1979-06-08
JPS6292610U (ja) * 1985-11-29 1987-06-13

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JPH02106803U (ja) 1990-08-24

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