JP2521830Y2 - 高圧プローブ - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本考案は、高圧プローブに関し、
詳しくは、電気製品等における絶縁体の耐電圧値を測定
するために耐圧試験器に附属して使用される高圧プロー
ブに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、家電用等の電気製品等において
は、特にその筐体を構成している金属部の表面と電源ト
ランス等に接続される入力ラインとの間に十分な絶縁性
が保たれているか否かという耐電圧値を安全性確保のた
めに試験することが義務付けされており、かかる試験の
ために高電圧を発生する耐圧試験器に接続されて人手に
より保持され、耐電圧値の測定に携わるものとして高圧
の印加用プローブが知られている。

【０００３】なお、かかる耐電圧値は各国ごとに安全規
格として定められているが、いずれにせよ、耐圧試験器
では数ＫＶという高電圧が発生する。そこで、このよう
な高電圧を印加するために人手によって保持される高圧
プローブとしては、操作者に感電等の事故が発生する危
険のないようにする必要があり、安全操作が保証される
ような構造が要求されてきた。

【０００４】図４は、このような用途に使用されてきた
従来の高圧プローブの一例を示す。ここで、１００はそ
の高圧プローブ、１０１は高圧プローブ１００のホルダ
部（把持部）、１０２は把持部１０１に取付けられ、内
部にテストピン１０３を格納・露出自在に保持するテス
トピンカバー部、１０４はテストピンカバー部１０２の
外部に取付けられた引金部である。なお、把持部１０１
およびテストピンカバー部１０２，引金部１０４等は絶
縁体で形成されると共に、テストピン１０３にはコード
１０５が電気的に接続されていて、このコード１０５は
把持部１０１内を経て外部に導かれ、その端部にはテス
トピン１０３と不図示の耐圧試験器との間のオン・オフ
を制御するための作動スイッチ１０６が設けられてい
る。

【０００５】このように構成された高圧プローブ１００
では、その作動スイッチ１０６がプローブ本体とは別に
設けられていて、取扱者は高圧プローブ１００の把持部
１０１を把持した状態で指先を引金部１０４にかけ、不
図示のばねに抗してテストピンカバー部１０２を矢印Ａ
方向に引くことによりテストピン１０３をテストピンカ
バー部１０２の先端部から露出させることができる。そ
こでこの状態でテストの対象となる家電機器の検査部分
にピン１０３を接触させた上、他方の手なり足先なりで
作動スイッチ１０６を矢印Ｂ方向に操作して“オン”と
なしテスト回路をクローズとすることで不図示の耐圧試
験器により被測定物に高電圧を印加し、耐電圧値を測定
することができる。

【０００６】

【考案が解決しようとする課題】ところで、このような
従来の高圧プローブでは、テストピン１０３を露出させ
るための操作と、テスト回路をクローズし、テストピン
１０３を介して高電圧を印加する操作と、を分けて行う
ことにより、テストピン１０３を露出させただけの状態
では作動スイッチ１０６を操作しない限り安全が保たれ
るようにしているものの、その操作順序が間違えられた
りした場合、露出されたテストピン１０３に誤って人体
が接触すると感電するという危険がある。また、テスト
ピン露出手段と作動スイッチとが別体であるために、テ
スト時の動作が制約されて使い勝手が悪い上、上述した
ような誤動作の虞がある。

【０００７】そこで、かかる問題の解決のために人手に
よって握持可能な把持部にテストピン操作レバーを設
け、このようなテストピン操作レバーによってテストピ
ンを連動させてプローブの先端から露出させるようにす
ると共に、上記のテストピン操作レバーによるテストピ
ン露出動作の最終行程に関連して作動スイッチを付勢可
能状態とするために、本出願人は図５に示すような構成
を考えてきた。

【０００８】図５はこのような構成によるもので、ここ
で、４はテストピン、５はテストピン４の後端部を絶縁
状態で保持し、矢印Ｃ方向に移動自在なピン案内部材、
１０は不図示の把持部に支持ピン１１を介して回動自在
に支持され、人手による矢印Ｄ′方向の握持動作により
ピン案内部材５を連動させるテストピン操作レバーであ
る。なお、作動スイッチを付勢可能な状態とする機構に
ついては記載されてないが、このような構成によりテス
トピン操作レバー１０の握持によりピン案内部材５をス
ライドさせて、図５の（Ｂ）に示すようにテストピン４
の先端部４Ａを距離Ａ１だけ移動させ、不図示のピン保
持孔からその先端を露出させることができる。

【０００９】しかしながら、図５に示したようなテスト
ピン操作手段では、上記連動動作を行わせるためにテス
トピン操作レバー１０の回動端部が接触を保つピン案内
部材５の後端部５Ａが案内部材５の移動方向に対して鉛
直面に形成されているので、テストピン４としてはテス
トピン操作レバー１０による案内部材後端部の移動量Ｂ
１分しか移動されない。

【００１０】本考案の目的は、かかる問題点に着目し、
テストピン操作レバーによる同じ回動動作に対して、テ
ストピンの移動量が一層高められるようになし、それに
よって、ピン先端部が収容時にはピン保持孔より十分奥
に位置可能となり、さらにピン露出時にはその突出量が
十分に保たれることによって、確実な操作と安全が保証
される高圧プローブを提供することにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに、本考案は、耐電圧値測定のために絶縁物体に高電
圧を印加するテストピンを露出・収容自在に保つテスト
ピンカバー部と、前記テストピンを露出・収容自在に直
線運動させるためのピン案内部材と、絶縁材料で前記テ
ストピンカバー部と一体に形成され、人手によって把持
可能な把持部と、該把持部と共に握持されることにより
回動され、前記ピン案内部材を連動させて前記テストピ
ンを露出状態とするテストピン操作レバーとを有する高
圧プローブにおいて、前記ピン案内部材を連動させるた
めに前記テストピン操作レバーの回動端部と接触を保つ
前記ピン案内部材の後端部に、前記テストピン操作レバ
ーの回動に連れて前記回動端部を摺動させるテーパ面を
設け、該テーパ面に対応する分だけ前記テストピンの直
線運動量を増大させるようにしたことを特徴とする。

【００１２】

【作用】本考案によれば、テストピン操作レバーの回動
動作に連動して、その回動端部が摺動するピン案内部材
の後端部にテーパ面を形成し、このテーパ面にテストピ
ン操作レバーの回動端部が摺接しながらピン案内部材を
介してテストピンを直線運動させるようにしたので、ピ
ン案内部材およびテストピンの直線運動方向の移動量を
テーパ面形成にかかわる分だけ大きくすることが可能と
なり、それだけテストピンの突出量ないしテストピンの
引込み量を増して、高圧プローブに対する安全性の向上
に貢献することができる。

【００１３】

【実施例】以下に、図面を参照しつつ、本考案を適用し
た好適な実施例を具体的に説明する。

【００１４】図１は本考案の一実施例を示す。図におい
て、その（Ａ）および（Ｂ）は本考案による高圧プロー
ブの外観側面、および内部構造をそれぞれ未操作の状態
で示している。ここで、１は本考案によるピストル型の
高圧プローブ、２はその一体化された外筐、３はテスト
ピンカバー部、４はテストピンカバー部３の先端に設け
られたピン保持孔３Ａに端部が引込まれた状態に保持さ
れるテストピン、５はテストピン４の後端を支持した状
態でテストピンカバー部３に沿って図の（Ｂ）に示すよ
うに矢印Ｃ方向に移動自在に保たれるピン案内部材であ
り、その後端にはテーパ面５Ｂが形成されている。

【００１５】なお、ピン案内部材５はばね掛止部６との
間に張架された復帰ばね７により未操作時には（Ｂ）に
示すようにテストピン４をピン保持孔３Ａから十分内部
に引き込んだ状態に保つ。また、８は把持部、９は引金
部、１０は把持部８の引金部９近傍に設けられた支持ピ
ン１１の周りに回動可能に支持されるテストピン操作レ
バーである。ここでテストピン操作レバー１０はその回
動する上端部がピン案内部材５の後端に形成されている
テーパ面５Ｂと摺動可能に当接されていて、復帰ばね７
のばね力により、矢印Ｄ方向に回動され引金部９近傍の
外筐壁内部に向けて偏倚された状態に保たれる。

【００１６】さらにまた、１２はテストピン操作レバー
１０に取付けられた第１スイッチ手段としての第１マイ
クロスイッチ、１３は引金部９に配設され弾性体で形成
された第１マイクロスイッチ１２用の第１押ボタン、１
４は外筐２の頂部に配設した弾性体による第２押ボタ
ン、１５はこの第２押ボタン１４の押下によって投入さ
れる第２スイッチ手段としての第２マイクロスイッチで
ある。なお、本実施例では、外筐２に成形加工が比較的
容易で耐衝撃性等においても優れ、耐電圧性の高いＡＢ
Ｓ樹脂を用いて形成し、ピン案内部材５等には機械的性
質、特に絶縁，摺動性の点で安心できるアセタール樹脂
を使用した。さらにまた、第１押ボタン１３や第２押ボ
タン１４はアセタール樹脂によって成形したが、これら
の材料はいずれも上記の樹脂系に限定されるものでない
ことは勿論である。

【００１７】ついで、このように構成した高圧プローブ
１による耐圧試験時の操作について、図２および図３を
参照しながら説明する。図２において、（Ａ）は未操作
時におけるテストピン４，テストピン操作レバー１０と
これに装着されている第１マイクロスイッチ１２および
第１押ボタン１３の相対位置を示している。すなわち、
この状態ではピン案内部材５は復帰ばね７のばね力によ
って先に図１で示した如くテストピン４をテストピンカ
バー部３内に収納した状態に保つ。また、テストピン操
作レバー１０は第１マイクロスイッチ１２を第１押ボタ
ン１３から離隔した位置に保つ。

【００１８】そこで、操作時には、まず、把持部８を片
手で握持することにより図３の（Ａ），（Ｂ）および図
２の（Ｂ）に示すようにテストピン操作レバー１０を矢
印Ｄ′方向に回動させ、その先端部１０Ａをピン案内部
材５のテーパ面５Ｂに沿って摺動させつつ、ピン案内部
材５を復帰ばね７のばね力に抗して矢印Ｅ方向に移動さ
せ、テストピン４を図３の（Ｂ）に示すようにピン保持
孔３Ａから突出させることができる。しかし、このよう
に取扱者の手掌によって把持部８が握持されただけの状
態では図２のＢに示すように第１マイクロスイッチ１２
と第１押ボタン１３とは近接状態に保たれるが未だ接触
はしていない。そこで、この状態となったときに第１押
ボタン１３を握持している手の人差指等で操作すること
により初めて第１マイクロスイッチ１２を“オン”の状
態とすることができる。また、仮に第１押ボタン１３の
方を先に操作していたとしても図２の（Ｂ）に示すよう
なテストピン４の突出状態とならない限り、第１マイク
ロスイッチ１２がオンとなることはない。

【００１９】さらにここで、図３の（Ａ）および（Ｂ）
に従って、本考案によるテストピン操作レバー１０の握
持によって行われるピン露出動作にかかわる特色とその
利点について述べておく。

【００２０】すなわち、本考案では先にも説明したよう
にピン案内部材５のテストピン操作レバー１０回動端部
１０Ａと摺動自在に当接する部分にテーパ面５Ｂを形成
した。これを先に示した図５の例と相対的に比較した場
合、ピン案内部材５はこのテーパ面５Ｂ形成のために、
長さＣ１分だけ後方に延在された形となる。そこでい
ま、テストピン操作レバー１０を握持して、これをＤ′
方向に回動させたとすると、その結果、テストピン４は
図３の（Ｂ）に示すようにＡ２だけ移動される。しかし
て、この移動量Ａ２は先に図５に示したテストピン操作
レバー１１の回動によるその先端部１０Ａの同方向の移
動量Ｂ１に対し、上述したテーパ面５Ｂ形成のための延
在部Ｃ１を加えた量となり、それだけテストピン４の移
動量の増大を図ることができる。

【００２１】従って、その分だけ、テストピン４をピン
保持孔３Ａから引込めたり、突出させたりする量を増す
傾向に用いるよう構成することができ、高圧プローブの
操作時の安全性をより一層確実なものとすることができ
る。

【００２２】なお、先に図１に示した、第１マイクロス
イッチ１２と第２マイクロスイッチ１５とはテスト回路
において直列に配設されるもので、この双方のマイクロ
スイッチが“オン”とならない限り閉回路が構成される
ことはない。従って、これまでに述べてきた操作の段階
では、仮に露出されたテストピン４に誤って人体が触れ
たとしても感電するような虞はない。このあと、他方の
手先で図１に示す第２押ボタン１４を押下することによ
り初めて第２マイクロスイッチ１５を“オン”となして
安全に耐圧試験を実施することができる。また両手を使
って操作せざるを得ないことから、誤って高電圧部に触
れる危険がない。

【００２３】以上説明してきたように、本実施例によれ
ば、把持部８と共にテストピン操作レバー１０を握持す
るだけで、テストピン４を十分な突出量だけピン保持孔
３Ａから突出することができると共に、不使用時には、
テストピン４をピン保持孔３Ａから十分後退した位置に
保持することができて、このような高圧プローブに要求
されるまず第１のテストピン操作にかかわる安全性の確
保に貢献できる。

【００２４】さらにまた、本実施例では、このあとの２
つのスイッチ手段の操作が行われない限り、試験回路が
閉回路とならず、しかも、第１のスイッチ手段はテスト
ピンの突出が確認された状態でのみその操作を可能とす
るもので、また、テストピンを突出状態としない限り、
仮にどのスイッチが誤操作されたとしても試験回路が開
成されることはなく、安心して操作ができ、高い安全性
が得られるものである。

【００２５】なお、以上に述べた実施例ではピン案内部
材５の後端部にテーパ面５Ｂを形成し、かかるテーパ面
５Ｂにテストピン操作レバー１０の回動端部１０Ａに当
接させるようになして、この状態で復帰ばね７のばね力
により、テストピン操作レバー１０を操作前の状態に保
持させるようにした。しかし、本考案はこのような構成
に限られるものではなく、特に図示はしないが、ピン案
内部材５の後端部に上記と同様な形状のテーパ面を有す
る摺動溝を形成し、この摺動溝にテストピン操作レバー
１０の回動先端部を摺動自在に嵌め合わせることにより
連動させるようにしてもよい。また、この場合復帰ばね
の位置は図１に示す位置に限らず、テストピン操作レバ
ー１０を図１の（Ｂ）の状態に保持可能とする限り、ど
のような位置に設けられてもよいことは勿論である。さ
らにまた、この場合の復帰ばねはコイルばねに限らず、
板ばねとすることも可能である。

【００２６】さらにまた、上述の実施例では、好適例と
して、テストピン操作レバーのピン突出最終行程のあと
で操作可能状態に保たれる第１スイッチ手段と、これと
は別に操作される第２スイッチ手段とを有する場合につ
いて説明したが、これとは別形態のスイッチ手段を有す
るような高圧プローブにおいてもそのテストピン操作手
段に対して本考案を適用できることはいうまでもない。

【００２７】

【考案の効果】以上説明してきたように、本考案によれ
ば、耐電圧値測定のために絶縁物体に高電圧を印加する
テストピンを露出・収容自在に保つテストピンカバー部
と、前記ピンを露出・収容自在に直線運動させるための
ピン案内部材と、絶縁材料で前記テストピンカバー部と
一体に形成され、人手によって把持可能な把持部と、該
把持部と共に握持されることにより回動され、前記ピン
案内部材を連動させて前記テストピンを露出状態とする
テストピン操作レバーとを有する高圧プローブにおい
て、前記ピン案内部材を連動させるために前記テストピ
ン操作レバーの回動端部と接触を保つ前記ピン案内部材
の後端部に、前記テストピン操作レバーの回動に連れて
前記回動端部を摺動させるテーパ面を設け、該テーパ面
に対応する分だけ前記テストピンの直線運動量を増大さ
せるようにしたので、安全操作のために必要な第１条件
としてテストピンの収容時における引込量および露出時
における突出量を格別にテストピン操作レバーの回動量
の増大に頼ることなく、十分に保つことができ、信頼性
の高い高圧プローブを提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例をその外観側面図（Ａ）およ
び内面透視図（Ｂ）の２態様でそれぞれ示す構成図であ
る。

【図２】本考案高圧プローブによるテストピン露出動作
の説明図である。

【図３】本考案高圧プローブによるテストピン露出動作
時のテストピンのストロークにかかわる説明図である。

【図４】従来例による構成をその操作状態と共に示す説
明図である。

【図５】本考案によらざるテストピン露出動作時のテス
トピンのストロークにかかわる説明図である。

【符号の説明】

１ 高圧プローブ ２ 外筐 ３ テストピンカバー部 ３Ａ ピン保持孔 ４ テストピン ５ ピン案内部材 ５Ｂ テーパ面 ７ 復帰ばね ８ 把持部 ９ 引金部 １０ テストピン操作レバー １０Ａ 回動端部 １２ 第１マイクロスイッチ １３ 第１押ボタン １４ 第２押ボタン １５ 第２マイクロスイッチ

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 耐電圧値測定のために絶縁物体に高電圧
   を印加するテストピンを露出・収容自在に保つテストピ
   ンカバー部と、 前記テストピンを露出・収容自在に直線運動させるため
   のピン案内部材と、絶縁材料で前記テストピンカバー部
   と一体に形成され、人手によって把持可能な把持部と、
   該把持部と共に握持されることにより回動され、前記ピ
   ン案内部材を連動させて前記テストピンを露出状態とす
   るテストピン操作レバーとを有する高圧プローブにおい
   て、 前記ピン案内部材を連動させるために前記テストピン操
   作レバーの回動端部と接触を保つ前記ピン案内部材の後
   端部に、前記テストピン操作レバーの回動に連れて前記
   回動端部を摺動させるテーパ面を設け、該テーパ面に対
   応する分だけ前記テストピンの直線運動量を増大させる
   ようにしたことを特徴とする高圧プローブ。