JPH0514948U - 高圧プローブ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 テストピン操作レバーの回動動作に連動して
テストピンの露出・収容動作が直線的に行われる高圧プ
ローブにおいて、そのピンの移動量、すなわちピンの突
出量および引込み量が十分確保できるようにした高圧プ
ローブの提供。 【構成】 テストピン４のテストピンカバー部３と、テ
ストピン４を露出・収容自在に保つピン案内部材５と、
テストピンカバー部３と共に絶縁材料で一体形成した把
持部８と、把持部８と共に把持されることにより回動
し、ピン案内部材５を連動させるテストピン操作レバー
１０とを有し、ピン案内部材５のテストピン操作レバー
１０によって連動される部分にテーパ面５Ｂを形成した
ことを特徴とする高圧プローブ。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、高圧プローブに関し、詳しくは、電気製品等における絶縁体の耐電 圧値を測定するために耐圧試験器に附属して使用される高圧プローブに関する。

【０００２】

【従来の技術】

従来、家電用等の電気製品等においては、特にその筐体を構成している金属部 の表面と電源トランス等に接続される入力ラインとの間に十分な絶縁性が保たれ ているか否かという耐電圧値を安全性確保のために試験することが義務付けされ ており、かかる試験のために高電圧を発生する耐圧試験器に接続されて人手によ り保持され、耐電圧値の測定に携わるものとして高圧の印加用プローブが知られ ている。

【０００３】 なお、かかる耐電圧値は各国ごとに安全規格として定められているが、いずれ にせよ、耐圧試験器では数ＫＶという高電圧が発生する。そこで、このような高 電圧を印加するために人手によって保持される高圧プローブとしては、操作者に 感電等の事故が発生する危険のないようにする必要があり、安全操作が保証され るような構造が要求されてきた。

【０００４】 図４は、このような用途に使用されてきた従来の高圧プローブの一例を示す。 ここで、１００はその高圧プローブ、１０１は高圧プローブ１００のホルダ部（ 把持部）、１０２は把持部１０１に取付けられ、内部にテストピン１０３を格納 ・露出自在に保持するテストピンカバー部、１０４はテストピンカバー部１０２ の外部に取付けられた引金部である。なお、把持部１０１およびテストピンカバ ー部１０２，引金部１０４等は絶縁体で形成されると共に、テストピン１０３に はコード１０５が電気的に接続されていて、このコード１０５は把持部１０１内 を経て外部に導かれ、その端部にはテストピン１０３と不図示の耐圧試験器との 間のオン・オフを制御するための作動スイッチ１０６が設けられている。

【０００５】 このように構成された高圧プローブ１００では、その作動スイッチ１０６がプ ローブ本体とは別に設けられていて、取扱者は高圧プローブ１００の把持部１０ １を把持した状態で指先を引金部１０４にかけ、不図示のばねに抗してテストピ ンカバー部１０２を矢印Ａ方向に引くことによりテストピン１０３をテストピン カバー部１０２の先端部から露出させることができる。そこでこの状態でテスト の対象となる家電機器の検査部分にピン１０３を接触させた上、他方の手なり足 先なりで作動スイッチ１０６を矢印Ｂ方向に操作して“オン”となしテスト回路 をクローズとすることで不図示の耐圧試験器により被測定物に高電圧を印加し、 耐電圧値を測定することができる。

【０００６】

【考案が解決しようとする課題】

ところで、このような従来の高圧プローブでは、テストピン１０３を露出させ るための操作と、テスト回路をクローズし、テストピン１０３を介して高電圧を 印加する操作と、を分けて行うことにより、テストピン１０３を露出させただけ の状態では作動スイッチ１０６を操作しない限り安全が保たれるようにしている ものの、その操作順序が間違えられたりした場合、露出されたテストピン１０３ に誤って人体が接触すると感電するという危険がある。また、テストピン露出手 段と作動スイッチとが別体であるために、テスト時の動作が制約されて使い勝手 が悪い上、上述したような誤動作の虞がある。

【０００７】 そこで、かかる問題の解決のために人手によって握持可能な把持部にテストピ ン操作レバーを設け、このようなテストピン操作レバーによってテストピンを連 動させてプローブの先端から露出させるようにすると共に、上記のテストピン操 作レバーによるテストピン露出動作の最終行程に関連して作動スイッチを付勢可 能状態とするために、本出願人は図５に示すような構成を考えてきた。

【０００８】 図５はこのような構成によるもので、ここで、４はテストピン、５はテストピ ン４の後端部を絶縁状態で保持し、矢印Ｃ方向に移動自在なピン案内部材、１０ は不図示の把持部に支持ピン１１を介して回動自在に支持され、人手による矢印 Ｄ′方向の握持動作によりピン案内部材５を連動させるテストピン操作レバーで ある。なお、作動スイッチを付勢可能な状態とする機構については記載されてな いが、このような構成によりテストピン操作レバー１０の握持によりピン案内部 材５をスライドさせて、図５の（Ｂ）に示すようにテストピン４の先端部４Ａを 距離Ａ１だけ移動させ、不図示のピン保持孔からその先端を露出させることがで きる。

【０００９】 しかしながら、図５に示したようなテストピン操作手段では、上記連動動作を 行わせるためにテストピン操作レバー１０の回動端部が接触を保つピン案内部材 ５の後端部５Ａが案内部材５の移動方向に対して鉛直面に形成されているので、 テストピン４としてはテストピン操作レバー１０による案内部材後端部の移動量 Ｂ１分しか移動されない。

【００１０】 本考案の目的は、かかる問題点に着目し、テストピン操作レバーによる同じ回 動動作に対して、テストピンの移動量が一層高められるようになし、それによっ て、ピン先端部が収容時にはピン保持孔より十分奥に位置可能となり、さらにピ ン露出時にはその突出量が十分に保たれることによって、確実な操作と安全が保 証される高圧プローブを提供することにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】

かかる目的を達成するために、本考案は、耐電圧値測定のために絶縁物体に高 電圧を印加するテストピンを露出・収容自在に保つテストピンカバー部と、前記 テストピンを露出・収容自在に直線運動させるためのピン案内部材と、絶縁材料 で前記テストピンカバー部と一体に形成され、人手によって把持可能な把持部と 、該把持部と共に握持されることにより回動され、前記ピン案内部材を連動させ て前記テストピンを露出状態とするテストピン操作レバーとを有する高圧プロー ブにおいて、前記ピン案内部材を連動させるために前記テストピン操作レバーの 回動端部と接触を保つ前記ピン案内部材の後端部に、前記テストピン操作レバー の回動に連れて前記回動端部を摺動させるテーパ面を設け、該テーパ面に対応す る分だけ前記テストピンの直線運動量を増大させるようにしたことを特徴とする 。

【００１２】

【作用】

本考案によれば、テストピン操作レバーの回動動作に連動して、その回動端部 が摺動するピン案内部材の後端部にテーパ面を形成し、このテーパ面にテストピ ン操作レバーの回動端部が摺接しながらピン案内部材を介してテストピンを直線 運動させるようにしたので、ピン案内部材およびテストピンの直線運動方向の移 動量をテーパ面形成にかかわる分だけ大きくすることが可能となり、それだけテ ストピンの突出量ないしテストピンの引込み量を増して、高圧プローブに対する 安全性の向上に貢献することができる。

【００１３】

【実施例】

以下に、図面を参照しつつ、本考案を適用した好適な実施例を具体的に説明す る。

【００１４】 図１は本考案の一実施例を示す。図において、その（Ａ）および（Ｂ）は本考 案による高圧プローブの外観側面、および内部構造をそれぞれ未操作の状態で示 している。ここで、１は本考案によるピストル型の高圧プローブ、２はその一体 化された外筐、３はテストピンカバー部、４はテストピンカバー部３の先端に設 けられたピン保持孔３Ａに端部が引込まれた状態に保持されるテストピン、５は テストピン４の後端を支持した状態でテストピンカバー部３に沿って図の（Ｂ） に示すように矢印Ｃ方向に移動自在に保たれるピン案内部材であり、その後端に はテーパ面５Ｂが形成されている。

【００１５】 なお、ピン案内部材５はばね掛止部６との間に張架された復帰ばね７により未 操作時には（Ｂ）に示すようにテストピン４をピン保持孔３Ａから十分内部に引 き込んだ状態に保つ。また、８は把持部、９は引金部、１０は把持部８の引金部 ９近傍に設けられた支持ピン１１の周りに回動可能に支持されるテストピン操作 レバーである。ここでテストピン操作レバー１０はその回動する上端部がピン案 内部材５の後端に形成されているテーパ面５Ｂと摺動可能に当接されていて、復 帰ばね７のばね力により、矢印Ｄ方向に回動され引金部９近傍の外筐壁内部に向 けて偏倚された状態に保たれる。

【００１６】 さらにまた、１２はテストピン操作レバー１０に取付けられた第１スイッチ手 段としての第１マイクロスイッチ、１３は引金部９に配設され弾性体で形成され た第１マイクロスイッチ１２用の第１押ボタン、１４は外筐２の頂部に配設した 弾性体による第２押ボタン、１５はこの第２押ボタン１４の押下によって投入さ れる第２スイッチ手段としての第２マイクロスイッチである。なお、本実施例で は、外筐２に成形加工が比較的容易で耐衝撃性等においても優れ、耐電圧性の高 いＡＢＳ樹脂を用いて形成し、ピン案内部材５等には機械的性質、特に絶縁，摺 動性の点で安心できるアセタール樹脂を使用した。さらにまた、第１押ボタン１ ３や第２押ボタン１４はアセタール樹脂によって成形したが、これらの材料はい ずれも上記の樹脂系に限定されるものでないことは勿論である。

【００１７】 ついで、このように構成した高圧プローブ１による耐圧試験時の操作について 、図２および図３を参照しながら説明する。図２において、（Ａ）は未操作時に おけるテストピン４，テストピン操作レバー１０とこれに装着されている第１マ イクロスイッチ１２および第１押ボタン１３の相対位置を示している。すなわち 、この状態ではピン案内部材５は復帰ばね７のばね力によって先に図１で示した 如くテストピン４をテストピンカバー部３内に収納した状態に保つ。また、テス トピン操作レバー１０は第１マイクロスイッチ１２を第１押ボタン１３から離隔 した位置に保つ。

【００１８】 そこで、操作時には、まず、把持部８を片手で握持することにより図３の（Ａ ），（Ｂ）および図２の（Ｂ）に示すようにテストピン操作レバー１０を矢印Ｄ ′方向に回動させ、その先端部１０Ａをピン案内部材５のテーパ面５Ｂに沿って 摺動させつつ、ピン案内部材５を復帰ばね７のばね力に抗して矢印Ｅ方向に移動 させ、テストピン４を図３の（Ｂ）に示すようにピン保持孔３Ａから突出させる ことができる。しかし、このように取扱者の手掌によって把持部８が握持された だけの状態では図２のＢに示すように第１マイクロスイッチ１２と第１押ボタン １３とは近接状態に保たれるが未だ接触はしていない。そこで、この状態となっ たときに第１押ボタン１３を握持している手の人差指等で操作することにより初 めて第１マイクロスイッチ１２を“オン”の状態とすることができる。また、仮 に第１押ボタン１３の方を先に操作していたとしても図２の（Ｂ）に示すような テストピン４の突出状態とならない限り、第１マイクロスイッチ１２がオンとな ることはない。

【００１９】 さらにここで、図３の（Ａ）および（Ｂ）に従って、本考案によるテストピン 操作レバー１０の握持によって行われるピン露出動作にかかわる特色とその利点 について述べておく。

【００２０】 すなわち、本考案では先にも説明したようにピン案内部材５のテストピン操作 レバー１０回動端部１０Ａと摺動自在に当接する部分にテーパ面５Ｂを形成した 。これを先に示した図５の例と相対的に比較した場合、ピン案内部材５はこのテ ーパ面５Ｂ形成のために、長さＣ１分だけ後方に延在された形となる。そこでい ま、テストピン操作レバー１０を握持して、これをＤ′方向に回動させたとする と、その結果、テストピン４は図３の（Ｂ）に示すようにＡ２だけ移動される。 しかして、この移動量Ａ２は先に図５に示したテストピン操作レバー１１の回動 によるその先端部１０Ａの同方向の移動量Ｂ１に対し、上述したテーパ面５Ｂ形 成のための延在部Ｃ１を加えた量となり、それだけテストピン４の移動量の増大 を図ることができる。

【００２１】 従って、その分だけ、テストピン４をピン保持孔３Ａから引込めたり、突出さ せたりする量を増す傾向に用いるよう構成することができ、高圧プローブの操作 時の安全性をより一層確実なものとすることができる。

【００２２】 なお、先に図１に示した、第１マイクロスイッチ１２と第２マイクロスイッチ １５とはテスト回路において直列に配設されるもので、この双方のマイクロスイ ッチが“オン”とならない限り閉回路が構成されることはない。従って、これま でに述べてきた操作の段階では、仮に露出されたテストピン４に誤って人体が触 れたとしても感電するような虞はない。このあと、他方の手先で図１に示す第２ 押ボタン１４を押下することにより初めて第２マイクロスイッチ１５を“オン” となして安全に耐圧試験を実施することができる。また両手を使って操作せざる を得ないことから、誤って高電圧部に触れる危険がない。

【００２３】 以上説明してきたように、本実施例によれば、把持部８と共にテストピン操作 レバー１０を握持するだけで、テストピン４を十分な突出量だけピン保持孔３Ａ から突出することができると共に、不使用時には、テストピン４をピン保持孔３ Ａから十分後退した位置に保持することができて、このような高圧プローブに要 求されるまず第１のテストピン操作にかかわる安全性の確保に貢献できる。

【００２４】 さらにまた、本実施例では、このあとの２つのスイッチ手段の操作が行われな い限り、試験回路が閉回路とならず、しかも、第１のスイッチ手段はテストピン の突出が確認された状態でのみその操作を可能とするもので、また、テストピン を突出状態としない限り、仮にどのスイッチが誤操作されたとしても試験回路が 開成されることはなく、安心して操作ができ、高い安全性が得られるものである 。

【００２５】 なお、以上に述べた実施例ではピン案内部材５の後端部にテーパ面５Ｂを形成 し、かかるテーパ面５Ｂにテストピン操作レバー１０の回動端部１０Ａに当接さ せるようになして、この状態で復帰ばね７のばね力により、テストピン操作レバ ー１０を操作前の状態に保持させるようにした。しかし、本考案はこのような構 成に限られるものではなく、特に図示はしないが、ピン案内部材５の後端部に上 記と同様な形状のテーパ面を有する摺動溝を形成し、この摺動溝にテストピン操 作レバー１０の回動先端部を摺動自在に嵌め合わせることにより連動させるよう にしてもよい。また、この場合復帰ばねの位置は図１に示す位置に限らず、テス トピン操作レバー１０を図１の（Ｂ）の状態に保持可能とする限り、どのような 位置に設けられてもよいことは勿論である。さらにまた、この場合の復帰ばねは コイルばねに限らず、板ばねとすることも可能である。

【００２６】 さらにまた、上述の実施例では、好適例として、テストピン操作レバーのピン 突出最終行程のあとで操作可能状態に保たれる第１スイッチ手段と、これとは別 に操作される第２スイッチ手段とを有する場合について説明したが、これとは別 形態のスイッチ手段を有するような高圧プローブにおいてもそのテストピン操作 手段に対して本考案を適用できることはいうまでもない。

【００２７】

【考案の効果】

以上説明してきたように、本考案によれば、耐電圧値測定のために絶縁物体に 高電圧を印加するテストピンを露出・収容自在に保つテストピンカバー部と、前 記ピンを露出・収容自在に直線運動させるためのピン案内部材と、絶縁材料で前 記テストピンカバー部と一体に形成され、人手によって把持可能な把持部と、該 把持部と共に握持されることにより回動され、前記ピン案内部材を連動させて前 記テストピンを露出状態とするテストピン操作レバーとを有する高圧プローブに おいて、前記ピン案内部材を連動させるために前記テストピン操作レバーの回動 端部と接触を保つ前記ピン案内部材の後端部に、前記テストピン操作レバーの回 動に連れて前記回動端部を摺動させるテーパ面を設け、該テーパ面に対応する分 だけ前記テストピンの直線運動量を増大させるようにしたので、安全操作のため に必要な第１条件としてテストピンの収容時における引込量および露出時におけ る突出量を格別にテストピン操作レバーの回動量の増大に頼ることなく、十分に 保つことができ、信頼性の高い高圧プローブを提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例をその外観側面図（Ａ）およ
び内面透視図（Ｂ）の２態様でそれぞれ示す構成図であ
る。

【図２】本考案高圧プローブによるテストピン露出動作
の説明図である。

【図３】本考案高圧プローブによるテストピン露出動作
時のテストピンのストロークにかかわる説明図である。

【図４】従来例による構成をその操作状態と共に示す説
明図である。

【図５】本考案によらざるテストピン露出動作時のテス
トピンのストロークにかかわる説明図である。

【符号の説明】

１ 高圧プローブ ２ 外筐 ３ テストピンカバー部 ３Ａ ピン保持孔 ４ テストピン ５ ピン案内部材 ５Ｂ テーパ面 ７ 復帰ばね ８ 把持部 ９ 引金部 １０ テストピン操作レバー １０Ａ 回動端部 １２ 第１マイクロスイッチ １３ 第１押ボタン １４ 第２押ボタン １５ 第２マイクロスイッチ

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 耐電圧値測定のために絶縁物体に高電圧
   を印加するテストピンを露出・収容自在に保つテストピ
   ンカバー部と、 前記テストピンを露出・収容自在に直線運動させるため
   のピン案内部材と、絶縁材料で前記テストピンカバー部
   と一体に形成され、人手によって把持可能な把持部と、
   該把持部と共に握持されることにより回動され、前記ピ
   ン案内部材を連動させて前記テストピンを露出状態とす
   るテストピン操作レバーとを有する高圧プローブにおい
   て、 前記ピン案内部材を連動させるために前記テストピン操
   作レバーの回動端部と接触を保つ前記ピン案内部材の後
   端部に、前記テストピン操作レバーの回動に連れて前記
   回動端部を摺動させるテーパ面を設け、該テーパ面に対
   応する分だけ前記テストピンの直線運動量を増大させる
   ようにしたことを特徴とする高圧プローブ。