JP2520855B2 - 3周波数ヘテロダインレ―ザ―干渉計及びそれを利用した長さ測定方法 - Google Patents

3周波数ヘテロダインレ―ザ―干渉計及びそれを利用した長さ測定方法

Info

Publication number
JP2520855B2
JP2520855B2 JP6259838A JP25983894A JP2520855B2 JP 2520855 B2 JP2520855 B2 JP 2520855B2 JP 6259838 A JP6259838 A JP 6259838A JP 25983894 A JP25983894 A JP 25983894A JP 2520855 B2 JP2520855 B2 JP 2520855B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frequency
light beam
laser
beam splitter
photodetector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP6259838A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH07253305A (ja
Inventor
壕 成 徐
明 世 鄭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
KANKOKU HYOJUN KAGAKU KENKYUIN
Original Assignee
KANKOKU HYOJUN KAGAKU KENKYUIN
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by KANKOKU HYOJUN KAGAKU KENKYUIN filed Critical KANKOKU HYOJUN KAGAKU KENKYUIN
Publication of JPH07253305A publication Critical patent/JPH07253305A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2520855B2 publication Critical patent/JP2520855B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02001Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
    • G01B9/02007Two or more frequencies or sources used for interferometric measurement
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02001Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
    • G01B9/02002Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties using two or more frequencies
    • G01B9/02003Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties using two or more frequencies using beat frequencies
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2290/00Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
    • G01B2290/70Using polarization in the interferometer

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は超精密長さ関連量測定用
レーザー干渉計に関するものであって、より詳しくは3
個周波数を有するレーザーをヘテロダイン干渉計の光源
に用いて3個周波数間の2次うなり周波数偏位を測定す
ることにより分解能が2倍に増加され得る3周波数ヘテ
ロダインレーザー干渉計及びそれを利用した長さ測定方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】ゼーマン(Zeeman)安定化レーザーを用い
る従来の2周波数ヘテロダイン干渉計においては干渉信
号の検出のため2モード(2周波数)間の1次うなり周
波数測定法を用いた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、3個縦
モードで発振し得るレーザー発振器を構成すれば上記レ
ーザー3個縦モードをそれぞれ数1
【0004】
【数1】
【0005】とするとき、2次うなり周波数は数2
【0006】
【数2】
【0007】に与えられるはずであり、これは上記2モ
ード(2周波数)である場合に1次うなり周波数値が数
【0008】
【数3】
【0009】に与えられるのと比較するときf2値には
2という因子が更に付く結果となる。本発明者はこのよ
うに、3周波数ヘテロダイン干渉計を用いれば物理量の
測定において分解能が2倍に向上され得ることに着眼し
て本発明の3周波数ヘテロダインレーザー干渉計を製作
するようになった。 本発明に先立って、本発明者は1
991年大韓民国特許出願第20544号によって3周
波数発振レーザーの周波数及び出力安定化方法を確立し
ている。
【0010】本発明によると、従来の2周波数ヘテロダ
インレーザー干渉計に比べて分解能が2倍に向上される
ばかりでなく、2つのモード間の周波数差異である数百
MHz信号の位相変化を検出するためのRF−ミキサー
等の如きRF−電子素子を用いる必要がなくレーザー出
力が大きいので多軸レーザー干渉計の製作が可能であ
り、レーザー干渉計から反射された光がレーザーに帰還
されて測定正確度が劣るようなことがなくなる等の多く
の長所がある。
【0011】本発明の目的は各種の物理量測定において
正確度をより改善させようとすることにある。
【0012】本発明のより具体的な目的は長さ等の物理
量を測定するにおいて分解能を2倍に向上させ得る3周
波数ヘテロダインレーザー干渉計及びそれを利用した長
さ等の物理量測定方法を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明による3周波数ヘ
テロダインレーザー干渉計は3個の縦モードで発振する
ようになったレーザー発振手段;上記レーザー発振手段
から出る光を透過光と反射光とに分離して反射光である
第1光束を基準光束として基準光検出器へ向かうように
し、透過光である第2光束は比較光束として偏光光束分
割器に進行するようにする光束分割器;上記基準光束に
対し3個モード周波数間の基準2次うなり周波数を検出
するための第1基準光検出器;上記2次うなり周波数信
号を増幅するための第1増幅器;上記増幅器の出力信号
のうち一定帯域の信号だけを選ぶための第1帯域通過フ
ィルター;上記比較光束の入力を受けて偏光方向によっ
て2種のスペクトルに分離して第1スペクトル及び第2
スペクトルをそれぞれ第1コーナーキューブプリズム及
び第2コーナーキューブプリズムに向かうようにする偏
光光束分割器;上記偏光光束分割器から上記第1及び第
2スペクトルの入力を受けて戻し反射させて上記偏光光
束分割器へ再入力させる第1及び第2コーナーキューブ
プリズム;上記偏光光束分割器から再び合成して出る第
1及び第2スペクトルの2次うなり周波数信号を検出す
るための第2光検出器;上記第2光検出器の出力側に順
次に連結され、上記第1増幅器及び第1帯域通過フィル
ターと同一な機能を行う第2増幅器及び第2帯域通過フ
ィルター;上記第1帯域通過フィルター及び第2帯域通
過フィルターの出力信号を基準信号入力端に入力を受け
て周波数カウントを行う2チャンネルカウンター;及び
上記2チャンネルカウンターにおいてカウントした値の
入力を受けて上記移動可能第2コーナーキューブプリズ
ムの移動距離を換算し、空気屈折率補正等を行って実際
の移動距離を換算し移動距離を数値で表示する移動長さ
表示装置;からなる。
【0014】上記光束分割器と第1光検出器の間及び偏
光光束分割器と第2光検出器の間には2次うなり信号検
出感度を高めるために第1偏光板及び第2偏光板をそれ
ぞれ設けることができる。
【0015】又、本発明のレーザー発振手段において3
周波数を1個のレーザー発振器によって発振させる方法
の他にも1又は2の周波数を有する複数個のレーザー発
振器を組み合わせて用いることも可能である。
【0016】本発明の更に他の形態による3周波数ヘテ
ロダインレーザー干渉計を利用した長さ測定方法は上記
の如き3周波数ヘテロダインレーザー干渉計を利用して
上記第2コーナーキューブプリズムを移動させながらド
プラ偏移を発生させ上記ドプラ偏移が生じた比較光束の
カウント値と基準光束のカウント値との差異から上記第
2コーナーキューブプリズムの移動長さを算出する方式
からなる。
【0017】
【実施例】以下において、本発明の1実施例に基づく3
周波数ヘテロダインレーザー干渉計及びそれを利用した
長さ測定方法を添付された図面を参照してより詳しく説
明する。しかしながら、以下の具体的な説明は1実施例
に過ぎないものであり、本実施例が本発明の範囲を局限
させるものと理解されてはならない。
【0018】本発明は長さ測定だけでなく角度測定、真
円度及び表面荒さ測定、真直度及び平面度測定にも同じ
原理を適用して応用され得ることは当業者において自明
なことである。
【0019】既存の2周波数ヘテロダイン干渉計の光学
的分解能は単一光路程(Single path)干渉計の場合はλ
/2(λは用いるレーザー波長)であったが、本発明に
よる干渉計の場合には単一光路程干渉計のλ/4の光学
的な分解能を有する。このような干渉計を長さ測定に用
い、既存の干渉信号分解及び検出電子装置を利用する場
合、既存の測定精度を2倍に改善させ得ることを意味す
る。
【0020】既存のヘテロダインレーザー干渉計が周波
数と偏光とが互いに異なる2個モードで発振するレーザ
ーを光源に採択した2周波数ヘテロダインレーザー干渉
計である反面に、本発明はヘテロダインレーザー干渉計
に3個の周波数とその偏光が隣接して互いに垂直である
3個モードを有するレーザーを光源に採択することが本
質的に異なる点である。
【0021】第1図は本発明の1実施例に基づく3周波
数ヘテロダインレーザー干渉計を利用した長さ測定シス
テムの概略的な装置図である。
【0022】3周波数レーザー発振器(1)は3個縦モ
ード発振するHe−Neレーザーであって3個縦モード
等はそれぞれ水平偏光(‖)、垂直偏光(⊥)、水平偏
光(‖)であるか、垂直偏光(⊥)、水平偏光(‖)、
垂直偏光(⊥)の順に羅列される。又これらのそれぞれ
の光周波数は数4
【0023】
【数4】
【0024】であって、これらの間の2次うなり周波数
である数5
【0025】
【数5】
【0026】が数百KHz〜数拾MHzであり、レーザー
共振器の長さを自動制御してこのうなり周波数を一定に
安定化させて用いる。又fbの値を任意の値になるよう
にするためには外部に偏光光束分割器と光音響変調素子
(acousto-optic modulator)を利用して偏光方向に分離
してそのうち1方の光周波数、即ちf2光周波数を、又は
f1とf3周波数を光音響変調周波数を利用してfmだけ
移動させて用いることができる。
【0027】このような特性を有する3周波数又は3波
長のレーザーを用いて第1図の如き3周波数ヘテロダイ
ンレーザー干渉計を構成する。
【0028】図2と図3は用いられるレーザーの発振光
スペクトルと偏光方向を表している。図1で用いられる
レーザーの発振光スペクトルは図2又は図3と同じスペ
クトルを持つことができる。
【0029】3個のモードの周波数の大きさは数6
【0030】
【数6】
【0031】の如くなり、偏光は水平(‖)、垂直
(⊥)、水平(‖)(図2)であるか垂直(⊥)、水平
(‖)、垂直(⊥)(図3)の如く配列されることを示
す。以下においては図2のスペクトルを基準として説明
しようとする。図2の如きスペクトル、即ち3個周波数
(波長)を有するレーザー発振手段(1)から出る光は
光束分割器(2)から光の一部が反射されて第1偏光板
(6)を通過したあと、第1基準光検出器(8)におい
て3個モードの周波数間の基準2次うなり周波数である
信号数7
【0032】
【数7】
【0033】が検出される。このとき2次うなり信号検
出感度を高めるために第1偏光板(6)を挿入する。上
記第1偏光板(6)を適当な角度に回転して信号感度が
最大となる角度に合わせておく。この2次うなり周波数
信号を第1増幅器(10)、中心周波数がfbである第
1帯域通過フィルター(12)を経て2チャンネルカウ
ンター(14)の基準信号入力端に入力して周波数カウ
ントを行う。このときカウンター値CRは数8
【0034】
【数8】
【0035】となる。ここでtは積分時間を示した。一
方、光束分割器(2)を通過したレーザー光は再び偏光
光束分割器(3)で3個モードのそれぞれの偏光方向に
よって図4(b)の第1スペクトル(21)及び図4
(c)の第2スペクトル(22)の如く分離される。前
にも言及した如く、本実施例ではレーザースペクトルが
図2と同じであるときに対してのみ説明することにする
(図3のスペクトルを有するレーザーに対しても同じ原
理が適用される)。
【0036】図1及び図4において示した如く偏光光束
分割器(3)から反射した第1スペクトルのf1及びf3
周波数成分は再び第1コーナーキューブプリズム(4)
に入射して戻し反射され偏光光束分割器(3)の反射面
から再び反射して第2偏光板(7)を経て第2光検出器
(9)に入射される。
【0037】一方、偏光光束分割器(3)を通過した第
2スペクトルにはf2周波数成分だけ存在する。このf2
周波数成分のレーザー光束は定められている移動可能第
2コーナーキューブプリズム(5)に入射して戻し反射
され偏光光束分割器(3)を再び通過し第2偏光板
(7)を通過して第2光検出器(9)に入射される。こ
のとき検出器に入射された周波数成分は全部がf1、 f
2、 f3、3個であり、これらの間の2次うなり周波数f
bは基準第1光検出器(8)において検出した周波数と
同じ数9
【0038】
【数9】
【0039】である。 若し、移動可能第2コーナーキ
ューブプリズム(5)が速度Vで偏光光束分割器側に動
くと、第2コーナーキューブプリズム(5)から戻し反
射をするf2周波数はドプラ周波数偏移が生じてf2′に
変わり次の数10のとおりになる。
【0040】
【数10】
【0041】Vがその反対方向に動けば△f2の符号は
−値を有する。
【0042】ここでは△f2は数11
【0043】
【数11】
【0044】である。(3)式のCは光速度である。こ
のとき第2光検出器(9)で検出される2次うなり周波
数fb′は数12
【0045】
【数12】
【0046】となり、数13
【0047】
【数13】
【0048】である場合に数14
【0049】
【数14】
【0050】となる。このfb′を2チャンネルカウン
ター(14)の他の1入力端に入力させてカウントすれ
ばそのカウント値は数15
【0051】
【数15】
【0052】となる。故にカウンターの2チャンネルで
カウントした値(1)と(6)式の差異から数16
【0053】
【数16】
【0054】を求めることができる。又(3)式におい
て速度Vは数17
【0055】
【数17】
【0056】である。又移動可能第2コーナーキューブ
プリズム(5)の移動距離Sは速度Vの時間積分から数
18
【0057】
【数18】
【0058】となる。ここで数19
【0059】
【数19】
【0060】であってf2周波数モードの真空波長であ
る。この式を(7)式と比較すれば数20
【0061】
【数20】
【0062】となった。即ち、普通2波長ヘテロダイン干
渉計においての移動距離Sが数21
【0063】
【数21】
【0064】で与えられるのに反し、(9)式のSは1
/2ファクターが更に付いていることが分かる。これか
ら本発明で提案する3個波長ヘテロダインレーザー干渉
計の分解能は既存の2波長ヘテロダイン干渉計の分解能
より2倍に改善されることが分かる。即ち2次うなり信
号を利用するのが、通常の2波長ヘテロダイン干渉計の
1次うなり信号を利用することより光学的分解能が2倍
に改善できることを表す。若し電子装置を利用してうな
り信号をカウントするとき簡単に△Cの分解能を1と仮
定すると 2周波数ヘテロダイン干渉計の分解能はλ/
2(λは使用波長として633nmのヘリウムネオンレー
ザーを用いる場合には数22
【0065】
【数22】
【0066】である)であり本発明の3波長レーザー干
渉計の分解能はλ/4となる。 以上において本発明は
記載された具体例に対してのみ詳しく説明されたが、本
発明の範囲内で多様な変形及び修正が可能であることは
当業者において明白なことであり、かかる変形及び修正
が添付された特許請求範囲に属するのは当然である。
【0067】
【発明の効果】本発明は、以上に詳しく説明したとお
り、従来の2周波数ヘテロダインレーザー干渉計に比べ
て分解能が2倍に向上され、電子素子等を簡略化でき、
測定正確度、信頼性を向上させるなど、多くの効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は本発明の1実施例に基づく3周波数ヘテ
ロダインレーザー干渉計を利用した長さ測定システムの
概略的装置図である。
【図2】図2は本発明の3周波数レーザースペクトルの
1形態を見せる図面である。
【図3】図3は本発明の3周波数レーザースペクトルの
更に他の1形態を見せる図面である。
【図4】図4はレーザースペクトルが図3と同じとき偏
光光束分割器(3)によって分解される各スペクトルを
見せる図面である。
【符号の説明】
1 3周波数レーザー発振器 2 光束分割器 3 偏光光束分割器 4 第1コーナーキューブプリズム 5 第2コーナーキューブプリズム 6 第1偏光板 7 第2偏光板 8 第1光検出器 9 第2光検出器 10 第1増幅器 11 第2増幅器 12 第1帯域通過フィルター 13 第2帯域通過フィルター 14 2チャンネルカウンター 15 移動長さ表示装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−366704(JP,A) 特開 平7−280539(JP,A) 特開 平1−206283(JP,A) 特開 平2−187603(JP,A) 特開 平6−102009(JP,A) 特開 平6−129812(JP,A) 特開 平6−201319(JP,A) 特開 平6−241718(JP,A) 特公 平7−35963(JP,B2)

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ヘテロダインレーザー干渉計において、3
    個縦モードで発振するようになったレーザー発振手段
    (1);上記レーザー発振手段(1)から出る光を透過
    光と反射光とに分離して反射光である第1光束を基準光
    束として基準第1光検出器(8)へ向かうようにし、透
    過光である第2光束は比較光束として偏光光束分割器
    (3)へ進行するようにする光束分割器(2);上記基
    準光束に対し3個モード周波数間の基準2次うなり周波
    数を検出するための基準第1光検出器(8);上記2次
    うなり周波数信号を増幅するための第1増幅器(1
    0);上記増幅器の出力信号のうち一定帯域の信号だけ
    を選ぶための第1帯域通過フィルター(12);上記比
    較光束の入力を受けて偏光方向によって2種のスペクト
    ルに分離して、分離された第1スペクトル及び第2スペ
    クトルをそれぞれ第1コーナーキューブプリズム(4)
    及び移動可能な第2コーナーキューブプリズム(5)へ
    向かうようにする偏光光束分割器(3);上記偏光光束
    分割器(3)から上記第1及び第2スペクトルの入力を
    受けて戻し反射させて上記偏光光束分割器へ再入力させ
    る上記第1及び第2コーナーキューブプリズム(4、
    5);上記偏光光束分割器から再び合成されて出る第1
    及び第2スペクトルの2次うなり周波数信号を検出する
    ための第2光検出器(9);上記第2光検出器(9)の
    出力側に順次に連結され、上記第1増幅器(10)及び
    第1帯域通過フィルター(12)と同一な機能を行う第
    2増幅器(11)及び第2帯域通過フィルター(1
    3);上記第1帯域通過フィルター(12)及び第2帯
    域通過フィルター(13)の出力信号の入力を受けて周
    波数カウントを行う2チャンネルカウンター(14);
    及び上記2チャンネルカウンターでカウントした値の入
    力を受けて上記移動可能な第2コーナーキューブプリズ
    ム(5)の移動距離を換算し、空気屈折率補正等を行っ
    て実際の移動距離を換算し移動距離を数値にて表示する
    移動長さ表示装置(15);から成る3周波数ヘテロダ
    インレーザー干渉計。
  2. 【請求項2】上記レーザー発振手段(1)が3周波数ヘ
    リウムネオン(He−Ne)レーザーを発振するように
    なったことを特徴とする請求項1記載の3周波数ヘテロ
    ダインレーザー干渉計。
  3. 【請求項3】上記レーザー発振手段(1)が1又は2の
    周波数で発振される複数個のレーザーの発振器等から構
    成されて全体的に3周波数を成すようになったことを特
    徴とする請求項1記載の3周波数ヘテロダインレーザー
    干渉計。
  4. 【請求項4】上記光束分割器(2)と上記第1光検出器
    (8)の間及び上記偏光光束分割器(3)と上記第2光
    検出器(9)の間に2次うなり信号検出感度を高めるた
    めに第1偏光板(6)及び第2偏光板(7)を設けるこ
    とを特徴とする請求項1記載の3周波数ヘテロダインレ
    ーザー干渉計。
  5. 【請求項5】3個縦モードで発振するようになったレー
    ザー発振手段(1);上記レーザー発振手段(1)から
    出る光を透過光と反射光とに分離して反射光である第1
    光束を基準光束として基準第1光検出器(8)へ向かう
    ようにし、透過光である第2光束は比較光束として偏光
    光束分割器(3)へ進行するようにする光束分割器
    (2);上記基準光束に対し3個モード周波数間の基準
    2次うなり周波数を検出するための基準第1光検出器
    (8);上記2次うなり周波数信号を増幅するための第
    1増幅器(10);上記増幅器の出力信号のうち一定帯
    域の信号だけを選ぶための第1帯域通過フィルター(1
    2);上記比較光束の入力を受けて偏光方向によって2
    種のスペクトルに分離して、分離された第1スペクトル
    及び第2スペクトルをそれぞれ第1コーナーキューブプ
    リズム(4)及び移動可能な第2コーナーキューブプリ
    ズム(5)へ向かうようにする偏光光束分割器(3);
    上記偏光光束分割器(3)から上記第1及び第2スペク
    トルの入力を受けて戻し反射させて上記偏光光束分割器
    へ再入力させる上記第1及び第2コーナーキューブプリ
    ズム(4、5);上記偏光光束分割器から再び合成され
    て出る第1及び第2スペクトルの2次うなり周波数信号
    を検出するための第2光検出器(9);上記第2光検出
    器(9)の出力側に順次に連結され、上記第1増幅器
    (10)及び第1帯域通過フィルター(12)と同一な
    機能を行う第2増幅器(11)及び第2帯域通過フィル
    ター(13);上記第1帯域通過フィルター(12)及
    び第2帯域通過フィルター(13)の出力信号の入力を
    受けて周波数カウントを行う2チャンネルカウンター
    (14);及び上記2チャンネルカウンターでカウント
    した値の入力を受けて上記移動可能な第2コーナーキュ
    ーブプリズム(5)の移動距離を換算し、空気屈折率補
    正等を行って実際の移動距離を換算し移動距離を数値に
    て表示する移動長さ表示装置(15);から成る3周波
    数ヘテロダインレーザー干渉計において、3個周波数で
    発振される発振手段(1)によって隣接するモードの偏
    光方法が異なる3個周波数光束を発振させ、上記移動可
    能な第2コーナーキューブプリズムを測定すべき距離だ
    け所定の速度で移動させながら、周波数におけるドプラ
    偏移を発生させ、上記ドプラ偏移が生じた比較光束の2
    次うなり周波数カウント値と基準光束の周波数カウント
    値との差異を2チャンネルカウンター(14)によって
    算出することにより一連の演算式によって上記第2コー
    ナーキューブプリズムの移動長さを上記長さ表示装置
    (15)に表示する3周波数ヘテロダインレーザー干渉
    計を利用した長さ測定方法。
  6. 【請求項6】上記発振手段(1)から発生される上記3
    周波数レーザー光束が3個縦モードで発振するHe−N
    eレーザーであって、3個の縦モード等がそれぞれ水平
    偏光(‖)、垂直偏光(⊥)、水平偏光(‖)である
    か、垂直偏光(⊥)、水平偏光(‖)、垂直偏光(⊥)
    の順に配列されることを特徴とする請求項5記載の長さ
    測定法。
JP6259838A 1993-12-28 1994-09-30 3周波数ヘテロダインレ―ザ―干渉計及びそれを利用した長さ測定方法 Expired - Fee Related JP2520855B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019930030360A KR970005500B1 (ko) 1993-12-28 1993-12-28 3주파수 헤테로다인 레이저 간섭계 및 그를 이용한 길이 측정방법
KR1993P30360 1993-12-28

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07253305A JPH07253305A (ja) 1995-10-03
JP2520855B2 true JP2520855B2 (ja) 1996-07-31

Family

ID=19373367

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6259838A Expired - Fee Related JP2520855B2 (ja) 1993-12-28 1994-09-30 3周波数ヘテロダインレ―ザ―干渉計及びそれを利用した長さ測定方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5579109A (ja)
JP (1) JP2520855B2 (ja)
KR (1) KR970005500B1 (ja)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1095542C (zh) * 2000-02-25 2002-12-04 清华大学 双真空室双频测相空气折射率干涉仪
JP4286460B2 (ja) * 2001-01-18 2009-07-01 パイオニア株式会社 レーザ測長器及びレーザ測長方法
US7009710B2 (en) * 2001-08-20 2006-03-07 Agilent Technologies, Inc. Direct combination of fiber optic light beams
US6934035B2 (en) * 2001-12-18 2005-08-23 Massachusetts Institute Of Technology System and method for measuring optical distance
US7365858B2 (en) * 2001-12-18 2008-04-29 Massachusetts Institute Of Technology Systems and methods for phase measurements
US7557929B2 (en) * 2001-12-18 2009-07-07 Massachusetts Institute Of Technology Systems and methods for phase measurements
US6847455B1 (en) 2002-01-25 2005-01-25 The United States Of America As Represented By The Department Of Energy Heterodyne interferometer with angstrom-level periodic nonlinearity
KR100468155B1 (ko) * 2002-06-27 2005-01-26 한국과학기술원 이종모드 헬륨-네온 레이저와 슈퍼 헤테로다인위상측정법을 이용한 헤테로다인 레이저 간섭계
RU2233736C2 (ru) * 2002-07-11 2004-08-10 Раховский Вадим Израилович Нанометрическое позиционирующее устройство
US7126695B2 (en) * 2003-10-10 2006-10-24 The Boeing Company Heterodyne frequency modulated signal demodulator and method of operating the same
NL2003134C (en) * 2008-09-11 2010-03-16 Univ Delft Tech LASER INTERFEROMETER.
CN101907443B (zh) * 2010-06-23 2012-03-07 清华大学 一种能量天平可动互感线圈的位移测量装置
CN102582556A (zh) * 2011-01-07 2012-07-18 华东交通大学 一种汽车主动防碰撞系统
KR101235274B1 (ko) * 2011-08-23 2013-02-21 서강대학교산학협력단 장시간 안정도를 갖는 헤테로다인 간섭계 및 이를 이용한 유체 채널 리드아웃 센서
CN102865821B (zh) * 2012-09-19 2015-10-07 哈尔滨工业大学 光路平衡型高速高分辨率激光外差干涉测量方法与装置
CN102853769B (zh) * 2012-09-19 2015-06-03 哈尔滨工业大学 高速高分辨率激光外差干涉测量方法与装置
CN102853770B (zh) * 2012-09-19 2015-10-07 哈尔滨工业大学 基于小频差与光束分离的激光外差干涉测量方法与装置
CN111442715B (zh) * 2020-03-02 2021-09-07 哈尔滨工业大学 基于一体式二次分光组件的外差激光干涉仪

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01206283A (ja) * 1988-02-13 1989-08-18 Brother Ind Ltd 光ヘテロダイン測定装置
US5153669A (en) * 1991-03-27 1992-10-06 Hughes Danbury Optical Systems, Inc. Three wavelength optical measurement apparatus and method

Also Published As

Publication number Publication date
KR970005500B1 (ko) 1997-04-16
JPH07253305A (ja) 1995-10-03
KR950019635A (ko) 1995-07-24
US5579109A (en) 1996-11-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2520855B2 (ja) 3周波数ヘテロダインレ―ザ―干渉計及びそれを利用した長さ測定方法
US3891321A (en) Optical method and apparatus for measuring the relative displacement of a diffraction grid
US5784161A (en) Heterodyne interferometer arrangement with tunable lasers, a heterodyne interferometer, a comparison interferometer and a reference interferometer
KR100328007B1 (ko) 다중패스 간섭법을 사용하여 공기의 굴절률을 측정하는 슈퍼헤테 로다인 방법 및 장치
US5159408A (en) Optical thickness profiler using synthetic wavelengths
JPH0543961B2 (ja)
US5757489A (en) Interferometric apparatus for measuring a physical value
EP0512450B1 (en) Wavelength variation measuring apparatus
JP2000205814A (ja) ヘテロダイン干渉計
JPH09178415A (ja) 光波干渉測定装置
JPH08320206A (ja) 光波干渉測定装置および光波干渉測定方法
JP2013083581A (ja) 計測装置
JPH06229922A (ja) 高精度空気屈折率計
JP3109900B2 (ja) 測定装置
JPH11183116A (ja) 光波干渉測定方法および装置
JPS58169004A (ja) 大気中での高精度干渉測長法
JPS6338102A (ja) 微小変位測定方法および微小変位測定装置
JPS60306A (ja) 合成波長法による測距方法
WO1998008047A1 (en) Superheterodyne method and apparatus for measuring the refractive index of air using multiple-pass interferometry
JPH1144503A (ja) 光波干渉測定装置
JPH06117810A (ja) 外乱補正機能付きアブソリュ−ト測長器
KR100418727B1 (ko) 가스의 고유한 광학적 성질을 측정하는 장치 및 방법
JPH01143931A (ja) 複屈折ファイバーのモード複屈折率測定方法および装置
JPH10206109A (ja) 光波干渉測定装置
JPH0225703A (ja) 干渉計

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees