JP2513615B2 - Storage device with ECC circuit - Google Patents

Storage device with ECC circuit

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JP2513615B2
JP2513615B2 JP61006333A JP633386A JP2513615B2 JP 2513615 B2 JP2513615 B2 JP 2513615B2 JP 61006333 A JP61006333 A JP 61006333A JP 633386 A JP633386 A JP 633386A JP 2513615 B2 JP2513615 B2 JP 2513615B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ECC回路付のデータ処理装置用記憶装置、
特にECC回路のチエツク機能を持つ記憶装置に関する。
The present invention relates to a storage device for a data processing device having an ECC circuit,
In particular, it relates to a memory device having a check function of an ECC circuit.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

ハードウエアの異常検出手段として、パリテイチエツ
ク技術がある。パリテイチエツク技術は、パリテイビツ
ト発生部と、該発生部よりのパリテイビツトをハードウ
エアに送出し(記憶させを含む)、その出力をみてパリ
テイビツトがどうなつているかよりハードウエアの故障
を診断するパリテイチエツク回路とより成る。
Parity check technology is available as a means for detecting hardware abnormality. The parity check technology sends a parity bit generation unit and a parity bit from the generation unit to the hardware (including storing), and by checking the output, a parity flag that diagnoses a hardware failure based on what the parity bit is doing. It consists of a check circuit.

かかるパリテイビツト発生部,パリテイチエツク回路
の正常性のチエツクを行う従来例として、特開昭59−23
0342号公報記載のものがある。
As a conventional example for checking the normality of the parity bit generating section and the parity check circuit, Japanese Patent Laid-Open No. 59-23 is known.
There is one described in Japanese Patent No. 0342.

特開昭59−230342号には、ハードウエアの異常により
発生し得る符号誤りを模擬した符号誤りを発生し、これ
をハードウエアに送り、その出力をパリテイチエツク回
路でチエツクせしめた。
In JP-A-59-230342, a code error simulating a code error that may occur due to hardware abnormality is generated, sent to the hardware, and the output thereof is checked by a parity check circuit.

チエツクの結果、所期の通り異常であればパリテイチ
エツク回路等は正常と判断され、正常であれば逆にパリ
テイチエツク回路等は異常との判断を下す。
If the result of the check is abnormal as expected, the parity check circuit or the like is determined to be normal, and if normal, the parity check circuit or the like is determined to be abnormal.

パリテイチエツク技術は、回路手段として簡単な構成
でよいとの利点を持つ。
The parity check technology has an advantage that a simple structure may be used as a circuit means.

然るに、パリテイチエツク技術は、エラー発生の有無
のチエツクであるため、エラーの修正機能は持たない。
より高度なエラー対策として、ECC(エラー訂正コー
ド)方式が提案されている。
However, the parity check technology does not have an error correction function because it is a check of whether or not an error has occurred.
An ECC (error correction code) method has been proposed as a more advanced error countermeasure.

このECC方式は、エラー発生した場合、そのエラーを
修正し、正常なデータに訂正を行うとの技術である。エ
ラー発生は1ビツトの場合と、2ビツトの場合との2つ
があり、1ビツトエラーの場合、修正すること、2ビツ
トエラーの場合、2ビツトエラー発生を知らせること、
を行う。3ビツト以上のエラー対策用のECC方式もあ
る。
This ECC system is a technique that, when an error occurs, corrects the error and corrects normal data. There are two error occurrences, one bit error and two bit error. If one bit error occurs, correct it. If two bit error occurs, notify two bit error occurrence.
I do. There is also an ECC method for dealing with errors of 3 bits or more.

かかるECC方式は、エラーチエツク及び修正のための
チエツクビツトを持つ。チエツクビツトと本来のデータ
とは一定の論理的関係を必要とする。この論理的関係は
公知である。
Such ECC schemes have error checking and checking bits for correction. The check bit and the original data require a certain logical relationship. This logical relationship is known.

ECC方式は、データ処理装置の主記憶装置なるハード
ウエアのエラーチエツクのために主として使われる。そ
こで、問題となるのがECC方式を実現するハードウエア
自体(ECC回路)の故障チエツクである。
The ECC method is mainly used for error checking of hardware which is a main storage device of a data processing device. Therefore, the problem is the failure check of the hardware itself (ECC circuit) that implements the ECC system.

更に詳述する。 Further details will be described.

データ処理装置の主記憶装置は、半導体技術の急激な
る進展により、より高集積化,大容量化が進み、それに
伴い書込データの1ビツト誤りに対する自動修正ハード
ウエアは常識化しつつある。この自動修正回路は一般に
ECC回路と呼ばれる。
With the rapid progress of semiconductor technology, the main storage device of a data processing device has become more highly integrated and has a larger capacity, and along with this, automatic correction hardware for one-bit error in write data is becoming common knowledge. This automatic correction circuit is generally
Called ECC circuit.

第6図は、ECC方式を採用したデータ処理装置の従来
例である。メモリ1は、データメモリ2とチエツクビツ
トメモリ3とECC回路4とより成る。2つのプロセツサ
7,8はバス6、メモリ制御回路5を介してメモリ1とデ
ータの読み/書きを行う。
FIG. 6 shows a conventional example of a data processing device adopting the ECC system. The memory 1 comprises a data memory 2, a check bit memory 3 and an ECC circuit 4. Two processors
Reference numerals 7 and 8 read / write data from / to the memory 1 via the bus 6 and the memory control circuit 5.

チエツクビツトメモリ3は、ECCチエツクのためのチ
エツクビツトを記憶する。書込みデータに対応してチエ
ツクビツトは形成される。例えば書込みデータが16ビツ
トであれば6ビツト、32ビツトであれば7ビツトを必要
とする。従つて、書込みデータ毎に1個のチエツクビツ
ト(6ビツトとか7ビツトとかの意)が設定される。
The check bit memory 3 stores the check bit for the ECC check. A check bit is formed corresponding to the write data. For example, if the write data is 16 bits, 6 bits are required, and if the write data is 32 bits, 7 bits are required. Therefore, one check bit (meaning 6 bits or 7 bits) is set for each write data.

ECC回路4は、CPU7又は8からの書込みデータをメモ
リ制御回路5から受けて、該書込みデータ対応のチエツ
クビツトを作成すること、この作成したチエツクビツト
をチエツクビツトメモリ3に送り記憶させること、同時
に書込みデータをデータメモリ2に記憶させること、及
びデータメモリ2からのデータ読出し時に読出しデータ
と共にチエツクビツトメモリ3から読出した該データ対
応のチエツクビツトとを取込みエラー発生ビツトのチエ
ツク及び修正を行うこと、読出したデータ又は修正後の
データをメモリ制御回路5に送出すること、の機能を持
つ。更に、2ビツトエラーチエツクを行う機能も持つ。
The ECC circuit 4 receives write data from the CPU 7 or 8 from the memory control circuit 5 and creates a check bit corresponding to the write data, sends the created check bit to the check bit memory 3, and stores the write data at the same time. In the data memory 2, and at the time of reading data from the data memory 2, check data corresponding to the data read from the check bit memory 3 together with the read data, check and correct the error occurrence bit, and read the data. Alternatively, the modified data is sent to the memory control circuit 5. In addition, it also has the function of performing a 2-bit error check.

第7図は、16ビツト書込みデータD0〜D15、6ビツト
チエツクビツトC0〜C5のフオーマツトを示す。第8図は
16ビツトデータとチエツクビツトとの関係を示す図であ
る。チエツクビツトの繰り方は、種々あり、図では6ビ
ツトの中の1ビツトを“1"にする形式をとらせた。この
他に、ECCの方式に従つて種々のチエツクビツト形式を
とる。
FIG. 7 shows the format of 16-bit write data D0 to D15, 6-bit check bit C0 to C5. Figure 8
It is a figure which shows the relationship between 16-bit data and a check bit. There are various ways to check a check bit. In the figure, one bit out of 6 bits is set to "1". In addition to this, various check bit formats are adopted according to the ECC system.

第9図は、ECC回路4を中心とする詳細構成図を示
す。ECC回路4の他に、エラー注入レジスタ11、書込み
/読出し制御回路15、チエツクビツトのビツト数対応の
エクスクルーセブオア12,13,…,14を持つ。
FIG. 9 shows a detailed configuration diagram centering on the ECC circuit 4. In addition to the ECC circuit 4, it has an error injection register 11, a write / read control circuit 15, and exclusive ORs 12, 13, ..., 14 corresponding to the number of check bits.

メモリ制御回路(MCU)5を介してCPUから送られてく
る書込みデータはバス8を介してECC回路4に入力す
る。ECC回路4は、この書込みデータに対応したチエツ
クビツトを作成する。作成したチエツクビツト(例えば
6ビツト)は出力26となり、ゲート12,13,…,14を介し
てチエツクビツトメモリ3に書込まれる。同時に、書込
みデータも出力25として送出されメモリ2に書込まれ
る。
Write data sent from the CPU via the memory control circuit (MCU) 5 is input to the ECC circuit 4 via the bus 8. The ECC circuit 4 creates a check bit corresponding to this write data. The created check bit (for example, 6 bits) becomes an output 26, and is written in the check bit memory 3 through the gates 12, 13 ,. At the same time, write data is also sent out as output 25 and written in the memory 2.

一方、読出し時には、メモリ2をアクセスしてデータ
を読出してデータ27としてECC回路4に送り、同時にチ
エツクビツトメモリもアクセスされデータ28としてチエ
ツクビツトが読出され、ECC回路に送る。
On the other hand, at the time of reading, the memory 2 is accessed to read the data and send it as the data 27 to the ECC circuit 4. At the same time, the check bit memory is also accessed and the check bit is read as the data 28 and sent to the ECC circuit.

ECC回路4は、チエツクビツトとデータとをチエツク
し、1ビツトエラー発生していれば修正を行い、2ビツ
トエラー発生していればその旨の表示を行う。修正後の
データはバス8を介してメモリ制御回路5に送られる。
The ECC circuit 4 checks the check bit and the data, corrects if a 1-bit error has occurred, and displays it if a 2-bit error has occurred. The corrected data is sent to the memory control circuit 5 via the bus 8.

尚、書込み/読出し制御回路15は、縦方向アドレスRA
S ADDRと横方向アドレスCAS ADDRと書込み/読出し指
令WEとを発生する。縦方向アドレスRAS ADDRと横方向
アドレスCAS ADDRとの組合せによつてメモリアドレス
が特定化される。
The write / read control circuit 15 uses the vertical address RA
It generates S ADDR, lateral address CAS ADDR, and write / read command WE. The memory address is specified by the combination of the vertical address RAS ADDR and the horizontal address CAS ADDR.

エラー注入レジスタ11は、ECC回路チエツク時に、故
意にチエツクビツトを操作し強制的にシングルビツトエ
ラー又はダブルビツトエラーを発生するためのレジスタ
である。このレジスタ11を操作することによつて、任意
のエラーを発生させる。エラーチエツクビツトはゲート
12,13,…,14を介してチエツクビツトメモリ3に格納さ
れる。
The error injection register 11 is a register for intentionally operating a check bit and forcibly generating a single bit error or a double bit error at the time of checking the ECC circuit. By operating this register 11, an arbitrary error is generated. The error check bit is the gate
It is stored in the check bit memory 3 via 12, 13 ,.

ECC回路4は、このチエツクビツトを読出す。 The ECC circuit 4 reads this check bit.

次いでCPUへのエラー割込みの有無,読出されたメモ
リ2からのデータとエラーチエツクビツトとの相関をと
る。これにより、ECC回路4自体の診断が可能となる。
Then, the presence or absence of an error interrupt to the CPU and the correlation between the read data from the memory 2 and the error check bit are calculated. As a result, the ECC circuit 4 itself can be diagnosed.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

前記特開昭59−230342号公報記載のものは、パリテイ
チエツク手段のハードウエア自体の故障の有無のチエツ
クを行う。従つて、ECC回路のチエツクには適用できな
い。
The one disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 59-230342 checks whether or not the hardware of the parity check means itself has a failure. Therefore, it cannot be applied to the check of ECC circuit.

前記第2の実施例である第6図〜第9図によれば、以
下の如き問題がある。
According to FIGS. 6 to 9 of the second embodiment, there are the following problems.

もし1ビツトのデータ誤りであれば、このエラーを検
出するハードウエアはECC回路の50%から60%のみ正常
動作していれば検出できる。裏返せば、残りのハードウ
エアは該1ビツト誤りに対しては何ら関与しないことに
なる。そこで、第9図に示した如きエラー注入レジスタ
11を設けることとした。
If there is a 1-bit data error, the hardware that detects this error can detect it if only 50% to 60% of the ECC circuit is operating normally. Turning it inside out, the rest of the hardware has nothing to do with the one bit error. Therefore, the error injection register as shown in FIG.
We decided to provide 11.

上述のECC回路とメモリ部分の故障率との関係からし
て、できるだけ少いハードウエアでECCチエツクを実現
することが望ましい。然るに、第9図の例では、チエツ
クビツトの数のエクスクルーセブオアゲートを必要とす
ること、エラー注入レジスタ11を設けること、を必要と
する。従つて、このゲートやレジスタを含めての故障の
問題があり、ハードウエアの数自体も大となり、全体と
して適切なECCチエツク手段の提供とはみられなかつ
た。
Considering the relationship between the ECC circuit and the failure rate of the memory section, it is desirable to realize the ECC check with as little hardware as possible. However, in the example of FIG. 9, it is necessary to provide the exclusive or gates of the number of check bits and to provide the error injection register 11. Therefore, there is a problem of failure including the gate and the register, the number of hardware itself becomes large, and it is not considered to be the provision of an appropriate ECC check means as a whole.

本発明の目的は、ECC回路の診断手段を複雑化させる
ことなく、且つECC回路の全機能の故障診断を可能にし
た記憶装置を提供することにある。
It is an object of the present invention to provide a storage device that enables failure diagnosis of all functions of the ECC circuit without complicating the diagnostic means of the ECC circuit.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は、チエツクビツトメモリに書込み禁止端子を
設け、ECC回路チエツク時に該禁止端子に書込み禁止信
号を印加せしめた。
According to the present invention, the check bit memory is provided with the write inhibit terminal, and the write inhibit signal is applied to the inhibit terminal during the ECC circuit check.

〔作用〕[Action]

ECC回路チエツク時に書込み禁止信号がチエツクビツ
トメモリに印加される結果、その時のデータメモリに書
込まれるデータに対して、チエツクビツトメモリには前
回の書込みデータ対応のチエツクビツトが残ることにな
る。この結果、両者は関連のないこととなり、エラー発
生の検出となる。即ち、データとチエツクビツトとの不
整合状態が生れ、これを検出することによつて、エラー
検出時はECC回路は正常,正常検出時はECC回路は異常と
の判断を下せる。
As a result of the write inhibit signal being applied to the check bit memory during the check of the ECC circuit, the check bit corresponding to the previous write data remains in the check bit memory for the data written in the data memory at that time. As a result, the two are not related to each other, and the occurrence of an error is detected. That is, an inconsistency between the data and the check bit is generated, and by detecting this, it is possible to judge that the ECC circuit is normal when an error is detected and abnormal when the normal is detected.

〔実施例〕〔Example〕

本発明の実施例を第1図に示す。本実施例は、メモリ
制御回路5、ECC回路、書込み/読出し制御回路15、デ
ータメモリ2、チエツクビツトメモリ3、オアゲート19
より成る。更に、メモリ制御回路5の中に、診断フラグ
レジスタ17を持つ。チエツクビツトメモリ3の書込み/
読出し指令端子WEはオアゲート19の出力を入力させるこ
ととした。この端子WEは、書込み禁止信号の機能も持
つ。
An embodiment of the present invention is shown in FIG. In this embodiment, a memory control circuit 5, an ECC circuit, a write / read control circuit 15, a data memory 2, a check bit memory 3, an OR gate 19 are provided.
Consists of Further, the memory control circuit 5 has a diagnostic flag register 17. Writing to check bit memory 3 /
The output of the OR gate 19 is input to the read command terminal WE. This terminal WE also has a function of a write inhibit signal.

データメモリ2、チエツクビツトメモリ3は、ダイナ
ミツクRAM(D−RAM)を使用している。D−RAMへの書
込/読出制御は第2図に示す様にRASアドレスとRAS信
号,CASアドレスとCAS信号によりアドレス情報が該メモ
リに渡され、書込か読出かはWE信号により制御される。
もしWEがON(図中ではLOWアクデイブ故、信号がLOWレベ
ルのときを示す。)であれば入力データ25,26がメモリ
2,3にそれぞれ書込まれる。本例では、データメモリ2
のWE入力としてWE(DATA)−N信号22、チエツクビツト
メモリのWE入力としてWE(CHECK BIT)−N信号として
示している。もし診断フラグ17がONであり診断モードで
あれば診断モード信号18がONしその結果、ゲート19が閉
じ、WE(CHECK BIT)−NはOFFする。つまりチエツク
ビツトメモリ3にはデータ書込みは行われないことにな
る。この様子を第3図に示す。
The data memory 2 and the check bit memory 3 use dynamic RAM (D-RAM). As shown in FIG. 2, the writing / reading control to the D-RAM is such that the address information is passed to the memory by the RAS address and the RAS signal, the CAS address and the CAS signal, and the writing or reading is controlled by the WE signal. It
If WE is ON (indicates that the signal is LOW level because it is LOW active in the figure), the input data 25 and 26 are stored in the memory.
It is written in 2 and 3, respectively. In this example, the data memory 2
WE (DATA) -N signal 22 as the WE input and WE (CHECK BIT) -N signal as the WE input of the check bit memory. If the diagnostic flag 17 is ON and in the diagnostic mode, the diagnostic mode signal 18 is turned ON, and as a result, the gate 19 is closed and WE (CHECK BIT) -N is turned OFF. That is, no data is written to the check bit memory 3. This is shown in FIG.

本発明に於て誤り検出・訂正回路の診断を行う場合の
手順を第4図、及び第5図により説明する。第4図は誤
り検出・訂正回路の第一の機能である1ビツト誤り訂正
機能の診断手順である。診断用データとしてはA,Bの2
種類を用意する。診断用データAとBは互いに1ビツト
ちがうデータである。簡単のためにデータビツトの長さ
を4ビツトとし、Aを“1111"とするとBは“1101"とす
る。診断をはじめるにあたり、まず診断モード信号18を
オフ状態にし、Aを書込む。冗長符号の書込信号は禁止
されないのでデータとしてAが、冗長符号としてAに対
応するものがメモリに書込まれる。続いて診断モード信
号18をオン状態にし、Bを書込む。ここで冗長符号の書
込信号が禁止されるので、データとしてはBが書込まれ
るが、冗長符号はAに対応するものが格納されたままに
なつている。このためデータと冗長符号の対応は成立せ
ず、メモリは1ビツト誤りの状態にある。この状態で読
出しを行つた場合、1ビツト誤り訂正機能が正常に動作
していればデータはBからAに訂正されるはずである。
したがつてCPUは、読出したデータがAであれば1ビツ
ト訂正機能は正常であり、Aでなければ異常があると判
断できる。
The procedure for diagnosing the error detection / correction circuit in the present invention will be described with reference to FIGS. 4 and 5. FIG. 4 shows a diagnostic procedure of the 1-bit error correction function which is the first function of the error detection / correction circuit. 2 for A and B as diagnostic data
Prepare the type. The diagnostic data A and B are one bit different from each other. For the sake of simplicity, assume that the length of the data bit is 4 bits, A is "1111", and B is "1101". Before starting the diagnosis, the diagnosis mode signal 18 is turned off and A is written. Since the write signal of the redundant code is not prohibited, A as the data and the redundant code corresponding to A are written in the memory. Then, the diagnostic mode signal 18 is turned on and B is written. Here, since the write signal of the redundant code is prohibited, B is written as the data, but the redundant code corresponding to A is still stored. Therefore, the correspondence between the data and the redundant code is not established, and the memory is in a 1-bit error state. When reading is performed in this state, the data should be corrected from B to A if the 1-bit error correction function is operating normally.
Therefore, the CPU can determine that the one-bit correction function is normal if the read data is A and abnormal if it is not A.

第5図は誤り検出・訂正回路の第二の機能である2ビ
ツト誤り、検出機能の診断手順である。1ビツト誤り訂
正機能の診断時と同様診断用データA,Bを用意する。こ
こでAとBは互いに2ビツトちがうデータである。すな
わちAを“1111"とするならば、Bを“1001"とする。1
ビツト誤り訂正機能診断時と同じ手順でA,Bを書き込む
とメモリにはデータとしてBが、冗長符号としてAに対
応するものが格納される。このためデータと冗長符号の
対応は成立せず、メモリは2ビツト誤りの状態にある。
この状態で読出しを行つた場合、2ビツト誤り検出機能
が正常に動作していれば誤り検出・訂正回路はこれを検
知し、割込を発生するはずである。したがつてデータの
読出し後に割込があれば2ビツト誤り検出機能は正常で
あり、割込がなければ異常であると判断できる。
FIG. 5 is a diagnostic procedure for the second function of the error detection / correction circuit, that is, the 2-bit error detection function. 1) Prepare diagnostic data A and B as at the time of diagnosis of bit error correction function. Here, A and B are data that are two bits different from each other. That is, if A is "1111", B is "1001". 1
When A and B are written in the same procedure as in the bit error correction function diagnosis, B is stored as data and the one corresponding to A is stored as a redundant code in the memory. Therefore, the correspondence between the data and the redundant code is not established, and the memory is in a 2-bit error state.
When reading is performed in this state, if the 2-bit error detection function is operating normally, the error detection / correction circuit should detect this and generate an interrupt. Therefore, if there is an interrupt after reading the data, it can be determined that the 2-bit error detection function is normal, and if there is no interrupt, it is abnormal.

このようにして特定のデータに対して誤りパターンと
なりうるデータをそれぞれ診断モード信号をオン状態に
して書込むことにより容易に誤り検出・訂正回路の各機
能の診断を行うことができる。本実施例にて診断用に新
たに必要となるハードウエアは診断モード信号による書
込制御信号の禁止用アンド回路と診断モード信号を保持
するためのレジスタのみでよく記憶装置内の全ハードウ
エアに於けるごとく一部分ですむという利点がある。
In this way, each function of the error detection / correction circuit can be easily diagnosed by writing the data which may become an error pattern for the specific data with the diagnostic mode signal turned on. The hardware newly required for the diagnosis in this embodiment is only the AND circuit for prohibiting the write control signal by the diagnostic mode signal and the register for holding the diagnostic mode signal. There is an advantage that it only requires a part.

尚、本実施例の他に次のような変形がある。 In addition to the present embodiment, there are the following modifications.

実施例では冗長ビツトの書込み禁止としたが、データ
の書込みを禁止させてもよい。また、書込み禁止は、全
ビツトではなく、一部のビツトであつてもよい。
Although the writing of the redundant bit is prohibited in the embodiment, the writing of data may be prohibited. Further, the write-inhibition may be applied to some bits instead of all bits.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明によれば、データあるいは冗長符号の一部の書
込禁止により任意の組合せのデータ/冗長符号間の対応
不成立を実現できるので、誤り検出回路が検出しうる全
ての誤りパターンに対する動作が診断可能であり、また
いかに複雑な誤り検出回路にも対応可能であるという効
果がある。
According to the present invention, it is possible to realize the non-correspondence between data / redundant codes of any combination by prohibiting the writing of a part of the data or the redundant code. It is possible to cope with a complicated error detection circuit.

更に本発明の実施にあたつてはわずかなハードウエア
を追加すればよいので、価格への影響が少なく、回路実
装面での制約をうけにくいという効果がある。
Further, in order to implement the present invention, since a small amount of hardware may be added, the effect on the price is small, and there is an effect that it is difficult to be restricted by the circuit mounting aspect.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の実施例図、第2図、第3図はタイムチ
ヤート、第4図、第5図は本実施例の処理フロー図、第
6図は従来例図、第7図はデータフオマツト例図、第8
図はデータとチエツクビツトとの関係の一例を示す図、
第9図は従来例の詳細構成図である。 5……メモリ制御回路(MCU)、4……ECC回路、2……
データメモリ、3……チエツクビツトメモリ、19……ゲ
ート、17……フラグレジスタ。
FIG. 1 is an embodiment diagram of the present invention, FIGS. 2 and 3 are time charts, FIGS. 4 and 5 are process flow charts of this embodiment, FIG. 6 is a conventional example diagram, and FIG. Data format example, 8th
The figure shows an example of the relationship between data and check bits,
FIG. 9 is a detailed configuration diagram of a conventional example. 5 ... Memory control circuit (MCU), 4 ... ECC circuit, 2 ...
Data memory, 3 ... Check bit memory, 19 ... Gate, 17 ... Flag register.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】データに応じた冗長ビットを作成して該デ
ータを第1メモリに格納すると共に該冗長ビットを第2
メモリに格納し、前記第1メモリから読み出した前記デ
ータを前記第2メモリから読み出した対応する冗長ビッ
トを用いてチェック及び誤り訂正を行うECC回路付記憶
装置において、ECC回路診断時に診断用データを前記第
1メモリに格納するとき該診断用データに対する冗長ビ
ットの前記第2メモリへの書き込みを禁止させる書き込
み禁止端子を前記第2メモリに設けると共に、ECC回路
診断時に前記書き込み禁止端子に書き込み禁止信号を印
加して前記第2メモリに格納されていた以前の冗長ビッ
トを保持する手段を設け、ECC回路診断時には前記第1
メモリから読み出した診断用データを、前記第2メモリ
から読み出した、以前の冗長ビットを用いてチェック及
び誤り訂正を行わせることを特徴とするECC回路付記憶
装置。
1. A redundant bit corresponding to data is created, the data is stored in a first memory, and the redundant bit is stored in a second memory.
In a storage device with an ECC circuit that stores the data in a memory and checks and error-corrects the data read from the first memory by using a corresponding redundant bit read from the second memory, the diagnostic data is stored during ECC circuit diagnosis. A write inhibit terminal is provided in the second memory to inhibit writing of redundant bits for the diagnostic data to the second memory when stored in the first memory, and a write inhibit signal to the write inhibit terminal during ECC circuit diagnosis. Is provided to hold the previous redundant bit stored in the second memory, and the first circuit is used during ECC circuit diagnosis.
A storage device with an ECC circuit, wherein the diagnostic data read from the memory is checked and error-corrected by using the previous redundant bit read from the second memory.
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