JP2806856B2 - Diagnostic device for error detection and correction circuit - Google Patents

Diagnostic device for error detection and correction circuit

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JP2806856B2
JP2806856B2 JP8012903A JP1290396A JP2806856B2 JP 2806856 B2 JP2806856 B2 JP 2806856B2 JP 8012903 A JP8012903 A JP 8012903A JP 1290396 A JP1290396 A JP 1290396A JP 2806856 B2 JP2806856 B2 JP 2806856B2
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error detection
data
correction
signal
unit
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隆宏 小倉
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甲府日本電気株式会社
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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は誤り検出訂正回路の
診断装置に関し、特に誤り検出訂正符号生成部(以下、
ECG部という。)および誤り検出訂正部(以下、EC
C部という。)を有する誤り検出訂正回路の診断装置に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a diagnostic device for an error detection and correction circuit, and more particularly to an error detection and correction code generation unit (hereinafter, referred to as an error detection and correction code generation unit)
It is called ECG department. ) And an error detection and correction unit (hereinafter referred to as EC
Part C. ).

【0002】[0002]

【従来の技術】情報処理システムの信頼性を向上させる
ためには、各構成装置の正常動作を確保しなければなら
ない。誤り検出訂正回路は主として記憶装置に採用さ
れ、書き込み/読み出しの際に発生する恐れのある1ビ
ットエラーを検出訂正することができる。しかしなが
ら、上記のような誤り検出訂正回路自身の誤動作も皆無
ではなく、その正常性を診断することが重要である。
2. Description of the Related Art In order to improve the reliability of an information processing system, it is necessary to ensure normal operation of each component device. The error detection and correction circuit is mainly employed in a storage device, and can detect and correct a 1-bit error that may occur at the time of writing / reading. However, there is no malfunction of the error detection and correction circuit itself, and it is important to diagnose its normality.

【0003】従来、このような誤り検出訂正回路の診断
については種々の工夫が施されてきた。たとえば、特開
昭58−207155号公報によれば、上位装置あるい
は診断制御装置によりECG部へテストデータを与え、
診断制御部の制御により制御部の出力データの一部信号
の極性を反転し、ECC部へ入力する。そして、ECC
部が送出するエラー検出信号を参照することによって、
ECG部とECC部の正常性を診断していた。
Conventionally, various measures have been taken to diagnose such an error detection and correction circuit. For example, according to Japanese Patent Application Laid-Open No. 58-207155, test data is supplied to an ECG unit by a host device or a diagnostic control device.
Under the control of the diagnosis control unit, the polarity of a part of the output data of the control unit is inverted and input to the ECC unit. And ECC
By referring to the error detection signal sent by the
The normality of the ECG and ECC sections was diagnosed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上記のような誤り検出
訂正回路の診断方法において、診断の精度を向上させる
ためには、ECG部へのテストデータのパターンを多数
用意すること,およびECG部の出力データの信号の一
部の極性を反転するパターンを増加することが必要であ
る。したがって、信頼度の高い確実な診断を行なうため
には長時間を要し、その間上位装置や診断制御装置を拘
束しなければならない。
In the above-described method of diagnosing the error detection and correction circuit, in order to improve the accuracy of the diagnosis, it is necessary to prepare a large number of test data patterns for the ECG unit and It is necessary to increase the pattern for inverting the polarity of a part of the output data signal. Therefore, it takes a long time to perform a reliable diagnosis with high reliability, during which time the host device and the diagnostic control device must be restrained.

【0005】すなわち、上位装置または診断制御装置は
上記のテストデータのパターンを多数生成する手段を備
えると共に、各パターンごとにECG部の出力信号の極
性を反転する複数の制御信号を設定しなければならな
い。
That is, the host device or the diagnostic control device must include means for generating a large number of the above test data patterns, and a plurality of control signals for inverting the polarity of the output signal of the ECG unit must be set for each pattern. No.

【0006】本発明の目的は、上位装置または診断制御
装置を介在させずに、テストデータのすべてのパターン
を逐次生成し、さらに各パターンごとにすべての極性反
転パターンを逐次生成するようにして、上記の欠点を改
善した誤り検出訂正回路の診断装置を提供することにあ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to sequentially generate all patterns of test data without the intervention of a host device or a diagnostic control device, and to sequentially generate all polarity inversion patterns for each pattern. It is an object of the present invention to provide a diagnostic device for an error detection / correction circuit in which the above disadvantages are improved.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明による誤り検出訂
正回路の診断装置は、書き込みデータに誤り検出訂正符
号を付加して記憶部に書き込む誤り検出訂正符号生成部
と、前記記憶部から読み出したデータに含まれる1ビッ
トのエラーを検出訂正し読み出しデータとして送出する
誤り検出訂正部とを有する記憶装置において、カウンタ
が設定するテストデータに前記誤り検出訂正符号生成部
を介して誤り検出訂正符号を付加して診断データを生成
し、前記診断データを1ビットごとに反転して前記誤り
検出訂正部に入力し、前記誤り検出訂正部が送出するエ
ラー検出信号によってその正常性を判断するようにして
構成される。
According to the present invention, there is provided an error detection / correction circuit diagnostic apparatus according to the present invention, wherein an error detection / correction code is added to write data and written to a storage unit. An error detection / correction unit that detects and corrects a 1-bit error included in the data and sends it out as read data, wherein the error detection / correction code is added to the test data set by the counter via the error detection / correction code generation unit. The diagnostic data is generated by adding the diagnostic data, the diagnostic data is inverted bit by bit and input to the error detection and correction unit, and its normality is determined based on an error detection signal sent from the error detection and correction unit. Be composed.

【0008】また、本発明による誤り検出訂正回路の診
断装置は、書き込みデータに誤り検出訂正符号を付加し
て記憶部に書き込む誤り検出訂正符号生成部と、前記記
憶部から読み出したデータに含まれる1ビットのエラー
を検出訂正し読み出しデータとして送出する誤り検出訂
正部とを有する記憶装置において、前記誤り検出訂正符
号生成部および前記誤り検出訂正部を含む誤り検出訂正
回路を診断するテストデータを保持するフリップフロッ
プと、前記テストデータを逐次変更して設定するカウン
タと、前記フリップフロップの内容および前記カウンタ
の内容を逐次変更する加算器と、前記テストデータに前
記誤り検出訂正符号生成部を介して誤り検出訂正符号を
付加した診断データのビット列に対応するデコード信号
を前記カウンタの出力信号に従って生成するデコーダ
と、前記診断データおよび前記デコード信号を入力し前
記診断データの任意の1ビットを反転して前記誤り検出
訂正部に送出する信号反転回路とを具備し、前記誤り検
出訂正部が前記信号反転回路の生成した1ビットエラー
を検出訂正するか否かを検知するようにして構成され
る。
Further, an error detection / correction circuit diagnostic apparatus according to the present invention includes an error detection / correction code generation unit for adding an error detection / correction code to write data and writing the same to a storage unit, and the data read from the storage unit. In a storage device having an error detection and correction unit for detecting and correcting a 1-bit error and transmitting the same as read data, test data for diagnosing an error detection and correction circuit including the error detection and correction code generation unit and the error detection and correction unit is stored. A flip-flop, a counter for sequentially changing and setting the test data, an adder for sequentially changing the content of the flip-flop and the content of the counter, and the test data via the error detection and correction code generation unit. A decode signal corresponding to a bit string of diagnostic data to which an error detection and correction code is added And a signal inverting circuit for receiving the diagnostic data and the decode signal, inverting any one bit of the diagnostic data, and sending the inverted signal to the error detection and correction unit. The unit is configured to detect whether or not to detect and correct the one-bit error generated by the signal inversion circuit.

【0009】さらに、本発明による誤り検出訂正回路の
診断装置は、前記誤り検出訂正部が送出するデータを前
記フリップフロップに保持されているテストデータと比
較して両者が一致しないときエラー信号を送出する比較
器を備えるようにして構成される。
Further, the diagnostic device for an error detection / correction circuit according to the present invention compares the data transmitted by the error detection / correction unit with the test data held in the flip-flop, and transmits an error signal when the two do not match. The comparator is configured to include a comparator.

【0010】すなわち、本発明では、ECG部へのテス
トデータを加算器によって連続して変化させている。こ
のため上位装置を使わずに高速にすべてのデータパター
ンをECG部へ入力することができる。
That is, in the present invention, the test data to the ECG section is continuously changed by the adder. Therefore, all data patterns can be input to the ECG unit at high speed without using a host device.

【0011】さらに、ECG部からの出力信号を反転さ
せるために使うデコーダーの入力信号を加算器によって
発生させている。このため上位装置を使わずに高速にす
べてのエラーパターンを発生させることができる。
Further, an input signal of a decoder used for inverting an output signal from the ECG unit is generated by an adder. Therefore, all error patterns can be generated at high speed without using a host device.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本発明について図面を参照
しながら説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to the drawings.

【0013】図1は本発明の実施の形態を示すブロック
図である。同図において、本発明による誤り検出訂正回
路の診断装置は、ライトデータ31に誤り検出訂正符号
を付加してRAM部20に書き込むECG部21と、前
記RAM部から読み出したデータに含まれる1ビットの
エラーを検出訂正しリードデータ32として送出するE
CC部22とを有する記憶装置において、前記ECG部
および前記ECC部を含む誤り検出訂正回路を診断する
テストデータ35を保持するフリップフロップ(以下、
F/Fという。)4と、前記テストデータを逐次変更し
て設定するカウンタ3と、前記F/Fの内容および前記
カウンタの内容を逐次変更する加算器1および2と、前
記テストデータ35に前記ECG部を介して誤り検出訂
正符号を付加した診断データ36のビット列に対応する
デコード信号を前記カウンタの出力信号に従って生成す
るデコーダ5と、前記診断データ36および前記デコー
ド信号を入力し前記診断データの任意の1ビットを反転
して前記ECC部に送出する信号反転回路6とを具備す
る。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. In the figure, a diagnostic device for an error detection and correction circuit according to the present invention includes an ECG unit 21 that adds an error detection and correction code to write data 31 and writes the same to a RAM unit 20; E is detected and corrected and transmitted as read data 32 E
In the storage device having the CC unit 22, a flip-flop (hereinafter, referred to as “test data”) holding test data 35 for diagnosing the error detection and correction circuit including the ECG unit and the ECC unit.
It is called F / F. ) 4, a counter 3 for sequentially changing and setting the test data, adders 1 and 2 for sequentially changing the contents of the F / F and the counter, and the test data 35 via the ECG unit. A decoder 5 for generating a decode signal corresponding to the bit string of the diagnostic data 36 to which the error detection and correction code is added according to the output signal of the counter; And a signal inverting circuit 6 for inverting the signal and sending the inverted signal to the ECC unit.

【0014】さらに、セレクタ23および24は通常の
運用モードと診断モードとを切替える機能を有し、診断
モードセレクト信号33によって作動する。
Further, the selectors 23 and 24 have a function of switching between a normal operation mode and a diagnostic mode, and are activated by a diagnostic mode select signal 33.

【0015】なお、F/F4はセレクタ23の出力を入
力信号とする4ビット構成でリセット機能を備えてい
る。また、カウンタ3は加算器2の出力を入力信号とす
る3ビット構成のF/Fであり、リセット機能を備えて
いる。さらに、加算器2は上記のカウンタ3の出力を入
力信号とし、それに“1”を加算して出力し、それを再
びカウンタ3に入力する。このとき、オーバフローが発
生したら、それをオーバーフロー信号34として加算器
1へ送出する。そして、このとき加算器1はF/F4の
出力信号に“1”を加算して出力し、これをF/F4に
入力し新たなテストデータ35とする。
The F / F 4 has a 4-bit configuration using the output of the selector 23 as an input signal and has a reset function. The counter 3 is a 3-bit F / F using the output of the adder 2 as an input signal, and has a reset function. Further, the adder 2 takes the output of the counter 3 as an input signal, adds "1" to the input signal, outputs the result, and inputs it to the counter 3 again. At this time, if an overflow occurs, it is sent to the adder 1 as an overflow signal 34. Then, at this time, the adder 1 adds "1" to the output signal of the F / F4 and outputs it, and inputs this to the F / F4 to make new test data 35.

【0016】次に、上記の誤り検出訂正回路の診断装置
の動作について説明する。
Next, the operation of the diagnostic device for the error detection and correction circuit will be described.

【0017】まず、通常運用時、RAM部20へのデー
タ書き込み動作では、診断モードセレクト信号33は論
理“0”である。この時、F/F4にはライトデータ3
1が入力される。そしてF/F4の出力信号およびEC
G部21の出力信号はRAM部20へ入力される。
First, during normal operation, in a data write operation to the RAM section 20, the diagnostic mode select signal 33 is at logic "0". At this time, the write data 3 is stored in the F / F 4.
1 is input. And the output signal of F / F4 and EC
The output signal of the G unit 21 is input to the RAM unit 20.

【0018】RAM部20からのデータ読み出し動作で
は、RAM部の出力信号はECC部22へ入力され、入
力データの誤りを検出訂正されたECC部の出力信号は
リードデータ32となる。
In a data read operation from the RAM section 20, an output signal of the RAM section is input to the ECC section 22, and an output signal of the ECC section in which an error in the input data is detected and corrected becomes read data 32.

【0019】診断時は、診断モードセレクト信号33は
論理“1”となる。そしてリセット信号により、F/F
4およびカウンタ3の初期値を“0”にする。この時デ
コーダ5の出力は、“10000000”となり、信号
反転回路6は診断データ36のビット0を反転し、EC
C部22へ入力する。
At the time of diagnosis, the diagnostic mode select signal 33 becomes logic "1". The reset signal causes the F / F
4 and the initial value of the counter 3 are set to "0". At this time, the output of the decoder 5 becomes “10000000”, and the signal inverting circuit 6 inverts bit 0 of the diagnostic data 36,
Input to C section 22.

【0020】このときECG部21およびECC部22
が正常ならば、ECCエラー検出信号37は論理“1”
となる。ECCエラー検出信号37を常に観測し、それ
が論理“1”以外であれば異常であることがわかる。
At this time, the ECG unit 21 and the ECC unit 22
Is normal, the ECC error detection signal 37 becomes logic "1".
Becomes The ECC error detection signal 37 is always observed, and if it is other than the logic "1", it is understood that the ECC error is abnormal.

【0021】次に、カウンタ3には加算器2によって
“001”の値を入力する。この時F/F4は“000
0”のままであるが、デコーダ5の出力は“01000
000”となり、信号反転回路6は診断データのビット
1を反転しECC部22へ入力する。この時もECCエ
ラー検出信号37を観測することにより、回路の異常を
知ることができる。
Next, the value of "001" is input to the counter 3 by the adder 2. At this time, F / F4 is “000”
0 ”, but the output of the decoder 5 is“ 01000 ”.
000 ", and the signal inverting circuit 6 inverts the bit 1 of the diagnostic data and inputs it to the ECC unit 22. At this time, by observing the ECC error detection signal 37, the abnormality of the circuit can be known.

【0022】同様にしてカウンタ3が“111”になる
まで診断を行う。その後、カウンタ3が“000”とな
るとき、加算器2のオーバーフロー信号34が“1”に
なる。このとき加算器1は入力信号に1を加えた“00
01”をF/F4へ入力する。この後も同様にカウンタ
3の値が“000”から“111”になるまで診断を行
う。
In the same manner, diagnosis is performed until the counter 3 becomes "111". Thereafter, when the counter 3 becomes “000”, the overflow signal 34 of the adder 2 becomes “1”. At this time, the adder 1 adds “1” to the input signal to “00”.
01 is input to the F / F 4. Thereafter, diagnosis is performed until the value of the counter 3 changes from "000" to "111".

【0023】すなわち、上記のようにしてF/F4を
“0000”から“1111”まで変化させ、それぞれ
において診断データ36を1ビットずつ全ビット反転さ
せたパターンで診断を行う。
That is, as described above, the F / F4 is changed from "0000" to "1111", and the diagnosis is performed in a pattern in which the diagnostic data 36 is inverted one bit at a time in each case.

【0024】図2は本発明の実施の他の形態を示すブロ
ック図である。同図において、本発明の誤り検出訂正回
路の診断装置は、診断モードのときECC部22の出力
データとF/F4が保持するテストデータ35とを比較
する比較器7を備えている。そして比較器7は両者が一
致しないときに比較エラー検出信号38を送出する。上
記以外の構成および機能は図1に示すものと同じであ
る。
FIG. 2 is a block diagram showing another embodiment of the present invention. In the figure, the diagnostic device of the error detection and correction circuit of the present invention includes a comparator 7 for comparing output data of the ECC unit 22 with test data 35 held by the F / F 4 in a diagnostic mode. The comparator 7 sends out a comparison error detection signal 38 when the two do not match. Configurations and functions other than those described above are the same as those shown in FIG.

【0025】図2において、診断モードでは、比較器7
はECC部22の出力データをテストデータ35と比較
し、一致したならば比較エラー検出信号38を論理
“0”とする。したがってECCエラー検出信号37と
比較エラー検出信号38とを常に観測し、ECCエラー
検出信号37が論理“1”および比較エラー検出信号3
8が論理“0”以外であれば異常であることがわかる。
In FIG. 2, in the diagnostic mode, the comparator 7
Compares the output data of the ECC unit 22 with the test data 35, and if they match, sets the comparison error detection signal 38 to logic "0". Therefore, the ECC error detection signal 37 and the comparison error detection signal 38 are always observed, and the ECC error detection signal 37 becomes the logic “1” and the comparison error detection signal 3
If 8 is other than logic "0", it is understood that an abnormality has occurred.

【0026】すなわち、ECCエラー検出信号の有無に
加えて、誤り検出訂正回路への入力データとその出力デ
ータとを比較した比較エラー検出信号を観測することに
より、その正常性を高精度で診断することができる。
That is, in addition to the presence / absence of the ECC error detection signal, the normality of the error is diagnosed with high accuracy by observing the comparison error detection signal obtained by comparing the input data to the error detection / correction circuit with the output data. be able to.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明は
テストデータを生成するために加算器と信号反転回路を
設けることにより、全データパターンでECG部および
ECC部の診断を実施することができる。すなわち、上
位装置や診断制御装置を介在させずに、短時間のうちに
誤り検出訂正回路の正常性を精度よく診断できるという
効果がある。
As described above in detail, according to the present invention, by providing an adder and a signal inverting circuit for generating test data, diagnosis of the ECG section and the ECC section can be performed with all data patterns. Can be. That is, there is an effect that the normality of the error detection and correction circuit can be accurately diagnosed in a short time without the intervention of a host device or a diagnostic control device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態を示すブロック図。FIG. 1 is a block diagram illustrating an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施の他の形態を示すブロック図。FIG. 2 is a block diagram showing another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,2 加算器 3 カウンタ 4 F/F 5 デコーダ 6 信号反転回路 7 比較器 20 RAM部 21 ECG部 22 ECC部 23,24 セレクタ 33 診断モードセレクト信号 37 ECCエラー検出信号 38 比較エラー検出信号 1, 2 adder 3 counter 4 F / F 5 decoder 6 signal inverting circuit 7 comparator 20 RAM unit 21 ECG unit 22 ECC unit 23, 24 selector 33 diagnostic mode select signal 37 ECC error detection signal 38 comparison error detection signal

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G06F 11/08 320 G06F 11/22 G06F 12/16──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) G06F 11/08 320 G06F 11/22 G06F 12/16

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 書き込みデータに誤り検出訂正符号を付
加して記憶部に書き込む誤り検出訂正符号生成部と、前
記記憶部から読み出したデータに含まれる1ビットのエ
ラーを検出訂正し読み出しデータとして送出する誤り検
出訂正部とを有する記憶装置において、 前記誤り検出訂正符号生成部および前記誤り検出訂正部
を含む誤り検出訂正回路を診断するテストデータを保持
するフリップフロップと、前記テストデータを逐次変更
して設定するカウンタと、前記フリップフロップの内容
および前記カウンタの内容を逐次変更する加算器と、前
記テストデータに前記誤り検出訂正符号生成部を介して
誤り検出訂正符号を付加した診断データのビット列に対
応するデコード信号を前記カウンタの出力信号に従って
生成するデコーダと、前記診断データおよび前記デコー
ド信号を入力し前記診断データの任意の1ビットを反転
して前記誤り検出訂正部に送出する信号反転回路とを具
備し、 前記誤り検出訂正部が前記信号反転回路が生成した1ビ
ットエラーを検出訂正するか否かを検知することを特徴
とする誤り検出訂正回路の診断装置。
1. An error detection and correction code generation unit for adding an error detection and correction code to write data and writing the data to a storage unit, detecting and correcting a 1-bit error included in data read from the storage unit, and transmitting the data as read data. And a flip-flop for holding test data for diagnosing an error detection and correction circuit including the error detection and correction code generation unit and the error detection and correction unit, and sequentially changing the test data. A counter to be set, an adder for sequentially changing the contents of the flip-flop and the contents of the counter, and a bit string of diagnostic data obtained by adding an error detection and correction code to the test data via the error detection and correction code generation unit. A decoder for generating a corresponding decode signal according to the output signal of the counter; And a signal inverting circuit for receiving the decode signal, inverting any one bit of the diagnostic data, and sending the inverted signal to the error detection and correction unit, wherein the error detection and correction unit generates A diagnostic device for an error detection and correction circuit, which detects whether or not a bit error is detected and corrected.
【請求項2】 請求項記載の誤り検出訂正回路の診断
装置において、前記誤り検出訂正部が送出するデータを
前記フリップフロップに保持されているテストデータと
比較して両者が一致しないときエラー信号を送出する比
較器を備えることを特徴とする誤り検出訂正回路の診断
装置。
2. A diagnostic device for an error detection and correction circuit according to claim 1 , wherein data transmitted by said error detection and correction unit is compared with test data held in said flip-flop, and an error signal is output when both data do not match. A diagnostic circuit for an error detection and correction circuit, comprising:
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