JP2506304B2 - 回路基板の試験装置 - Google Patents
回路基板の試験装置Info
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- JP2506304B2 JP2506304B2 JP5062549A JP6254993A JP2506304B2 JP 2506304 B2 JP2506304 B2 JP 2506304B2 JP 5062549 A JP5062549 A JP 5062549A JP 6254993 A JP6254993 A JP 6254993A JP 2506304 B2 JP2506304 B2 JP 2506304B2
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- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、回路基板の試験装置
に関し、特に、高密度な回路基板上の所望のテスト・ポ
イントまたは確認ポイントヘプローブの先端を自動的に
移動させて接触させるように構成したものである。
に関し、特に、高密度な回路基板上の所望のテスト・ポ
イントまたは確認ポイントヘプローブの先端を自動的に
移動させて接触させるように構成したものである。
【０００２】
【従来の技術】集積回路、抵抗、コンデンサなどの電子
部品を実装した回路基板を試験する際に、回路基板のテ
スト・ポイント、電源供給ポイント、信号入出力ポイン
トにそれぞれ複数のプローブを接触させて、回路基板を
動作させながら調整したり、試験する装置は従来より提
案されている。
部品を実装した回路基板を試験する際に、回路基板のテ
スト・ポイント、電源供給ポイント、信号入出力ポイン
トにそれぞれ複数のプローブを接触させて、回路基板を
動作させながら調整したり、試験する装置は従来より提
案されている。
【０００３】しかし、このような従来の試験装置は、大
量生産される製品の回路基板を試験するために開発され
たものであるから、試験対象となる回路基板に合わせ
て、各プローブの位置が予め設定されており、設定され
たプローブの位置を任意に変更することは困難である。
量生産される製品の回路基板を試験するために開発され
たものであるから、試験対象となる回路基板に合わせ
て、各プローブの位置が予め設定されており、設定され
たプローブの位置を任意に変更することは困難である。
【０００４】そのために、試作した少数の回路基板など
の動作試験をする際には、回路基板を動作させながら、
電圧計のリード線の先端を所望のテスト・ポイントに接
触させて電圧を測定したり、オシロスコープのプローブ
の先端を所望のテスト・ポイントに接触させて波形を観
測している。
の動作試験をする際には、回路基板を動作させながら、
電圧計のリード線の先端を所望のテスト・ポイントに接
触させて電圧を測定したり、オシロスコープのプローブ
の先端を所望のテスト・ポイントに接触させて波形を観
測している。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、最近の実装さ
れる電子部品は小型化されており、実装される回路基板
も高密度化されているので、手でプローブの先端を所望
のテスト・ポイントに接触させる際には、高度の注意力
を要し、プローブの先端を誤って異なるテスト・ポイン
トに接触させたり、プローブの先端で線間を短絡させた
りして、回路基板上の電子部品を破壊することがあっ
た。
れる電子部品は小型化されており、実装される回路基板
も高密度化されているので、手でプローブの先端を所望
のテスト・ポイントに接触させる際には、高度の注意力
を要し、プローブの先端を誤って異なるテスト・ポイン
トに接触させたり、プローブの先端で線間を短絡させた
りして、回路基板上の電子部品を破壊することがあっ
た。
【０００６】そこで、この発明は、このような問題点を
解決するために考えられたものであって、プローブの先
端を予め設定した回路基板上の任意の位置へ自動的に移
動させて、所望のテスト・ポイントに正確に接触させる
ことを目的としている。
解決するために考えられたものであって、プローブの先
端を予め設定した回路基板上の任意の位置へ自動的に移
動させて、所望のテスト・ポイントに正確に接触させる
ことを目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】試験すべき回路基板１を
載置し、回路基板１と平行な面をＸ、Ｙ方向に移動する
プローブ保持部材22、および、このローブ保持部材22に
保持されて回路基板１と垂直なＺ方向に突出するプロー
ブ21を有する試験台２と、回路基板１に係わる回路図、
指示書などのイメージ・データをマークの座標データと
ともに格納する第１のメモリと、第１のメモリに格納さ
れているデータを表示する表示器31と、回路基板１にプ
ローブ21を接触させるべき位置の座標を、マークの座標
データと対応させて格納する第２のメモリと、表示器31
に表示されたマークを選択することにより、プローブ21
を接触させるべき回路基板１の座標を第２のメモリより
読み出す手段と、この第２のメモリより読み出されたデ
ータに基づいて、プローブ21を接触させるべき位置へ、
プローブ保持部材22を移動させる手段とを具備してい
る。
載置し、回路基板１と平行な面をＸ、Ｙ方向に移動する
プローブ保持部材22、および、このローブ保持部材22に
保持されて回路基板１と垂直なＺ方向に突出するプロー
ブ21を有する試験台２と、回路基板１に係わる回路図、
指示書などのイメージ・データをマークの座標データと
ともに格納する第１のメモリと、第１のメモリに格納さ
れているデータを表示する表示器31と、回路基板１にプ
ローブ21を接触させるべき位置の座標を、マークの座標
データと対応させて格納する第２のメモリと、表示器31
に表示されたマークを選択することにより、プローブ21
を接触させるべき回路基板１の座標を第２のメモリより
読み出す手段と、この第２のメモリより読み出されたデ
ータに基づいて、プローブ21を接触させるべき位置へ、
プローブ保持部材22を移動させる手段とを具備してい
る。
【０００８】
【実施例】この発明の回路基板の試験装置は、図１に示
すように、試験すべき回路基板１を載置し、回路基板１
と平行な面内においてプローブを直交するＸ、Ｙ方向に
移動するプローブ移動装置を備えた試験台２と、キーボ
ード32、マウス33などの入力装置が接続され、ＣＲＴ表
示器31が接続されて、データを格納するメモリを有する
コンピュータ本体３と、回路図や指示書をイメージとし
てコンピュータ３に入力するイメージ・リーダ４と、直
交するＸ、Ｙ方向の座標を入力するデジタイザ５とによ
り構成されている。
すように、試験すべき回路基板１を載置し、回路基板１
と平行な面内においてプローブを直交するＸ、Ｙ方向に
移動するプローブ移動装置を備えた試験台２と、キーボ
ード32、マウス33などの入力装置が接続され、ＣＲＴ表
示器31が接続されて、データを格納するメモリを有する
コンピュータ本体３と、回路図や指示書をイメージとし
てコンピュータ３に入力するイメージ・リーダ４と、直
交するＸ、Ｙ方向の座標を入力するデジタイザ５とによ
り構成されている。
【０００９】試験台２に設けられたプローブ移動装置
は、図２の斜視図に示すように、２つのパルス・モータ
23、24によりタイミング・ベルト25、26を介して直交す
る２方向にそれぞれ駆動される直交した棒材27、28と、
これら２本の棒材27、28の交点に滑動自在に配置された
プローブ保持部材22と、このプローブ保持部材22に設け
られ、プローブ21の先端を回路基板１と直交するＺ方向
に突出させるプローブ突出装置とを備えており、このプ
ローブ21は、可撓性のリード線を介して、外部の電圧計
やオシロスコープなどの測定機器９の入力端子に接続さ
れる。
は、図２の斜視図に示すように、２つのパルス・モータ
23、24によりタイミング・ベルト25、26を介して直交す
る２方向にそれぞれ駆動される直交した棒材27、28と、
これら２本の棒材27、28の交点に滑動自在に配置された
プローブ保持部材22と、このプローブ保持部材22に設け
られ、プローブ21の先端を回路基板１と直交するＺ方向
に突出させるプローブ突出装置とを備えており、このプ
ローブ21は、可撓性のリード線を介して、外部の電圧計
やオシロスコープなどの測定機器９の入力端子に接続さ
れる。
【００１０】イメージ・リーダ４は、回路図、調整指示
書、修理指示書などのイメージ・データを読み取るもの
で、読み取ったイメージ・データをマウス33のポインタ
34（図３、図４）とともにＣＲＴ表示器31に表示させ
る。
書、修理指示書などのイメージ・データを読み取るもの
で、読み取ったイメージ・データをマウス33のポインタ
34（図３、図４）とともにＣＲＴ表示器31に表示させ
る。
【００１１】デジタイザ５は、試験台２に載置された回
路基板１の各テスト・ポイントの位置を直交するＸ、Ｙ
方向の座標に変換して入力するものである。
路基板１の各テスト・ポイントの位置を直交するＸ、Ｙ
方向の座標に変換して入力するものである。
【００１２】次に、このように構成された回路基板の試
験装置の動作および操作方法について説明する。
験装置の動作および操作方法について説明する。
【００１３】(1) イメージ・リーダ４に回路図を載置し
てコンピュータ３に読み込ませる。読み込んだイメージ
・データは、ＣＲＴ表示器31にそのまま表示させる。
てコンピュータ３に読み込ませる。読み込んだイメージ
・データは、ＣＲＴ表示器31にそのまま表示させる。
【００１４】(2) 図３に示すように、ＣＲＴ表示器31の
画面に表示されている回路図の登録したい位置へ、マウ
ス33を操作してポインタ34を合わせたのち、クリックす
ると、その位置に「●」印が表示されるから、キーボー
ド32より適当な英数字（ｎ）を入力して、「●」印の位
置の座標（Xn、Yn）と入力した英数字（ｎ）とを対応さ
せて登録（第１のメモリに格納）する。同様な操作を繰
り返し行なって、回路図上の必要なすべての位置を登録
する。
画面に表示されている回路図の登録したい位置へ、マウ
ス33を操作してポインタ34を合わせたのち、クリックす
ると、その位置に「●」印が表示されるから、キーボー
ド32より適当な英数字（ｎ）を入力して、「●」印の位
置の座標（Xn、Yn）と入力した英数字（ｎ）とを対応さ
せて登録（第１のメモリに格納）する。同様な操作を繰
り返し行なって、回路図上の必要なすべての位置を登録
する。
【００１５】(3) 試験台２に試験すべき回路基板１を載
置したのち、デジタイザ５により座標を入力しながら、
試験台２のプローブ21を回路基板１の所望のテスト・ポ
イントへ移動させて合致させる。そして、プローブ21が
テスト・ポイントに合致すると、先に回路図において
「●」印を付して登録した対応する座標（Xn、Yn）の英
数字（ｎ）と、同じ英数字（ｎ）をキーボード32より入
力して、回路図の「●」印の位置の座標（Xn、Yn）と、
回路基板上のテスト・ポイントの座標（xn、yn）とを対
応させて登録（第２のメモリに格納）する。
置したのち、デジタイザ５により座標を入力しながら、
試験台２のプローブ21を回路基板１の所望のテスト・ポ
イントへ移動させて合致させる。そして、プローブ21が
テスト・ポイントに合致すると、先に回路図において
「●」印を付して登録した対応する座標（Xn、Yn）の英
数字（ｎ）と、同じ英数字（ｎ）をキーボード32より入
力して、回路図の「●」印の位置の座標（Xn、Yn）と、
回路基板上のテスト・ポイントの座標（xn、yn）とを対
応させて登録（第２のメモリに格納）する。
【００１６】なお、回路基板上のテスト・ポイントの座
標の登録は、デジタイザの代わりに試験台２において行
なうことができる。
標の登録は、デジタイザの代わりに試験台２において行
なうことができる。
【００１７】すなわち、２つのパルス・モータ23、24に
それぞれロータリーエンコーダを結合し、各パルス・モ
ータ23、24を手動で動かすか、適当なパルス信号により
低速度で動かして、プローブ21を回路基板１の所望のテ
スト・ポイントへ移動させて合致させる。合致したとき
にロータリーエンコーダから出力されているデータよ
り、テスト・ポイントの座標（xn、yn）のデータを得る
ことができる。
それぞれロータリーエンコーダを結合し、各パルス・モ
ータ23、24を手動で動かすか、適当なパルス信号により
低速度で動かして、プローブ21を回路基板１の所望のテ
スト・ポイントへ移動させて合致させる。合致したとき
にロータリーエンコーダから出力されているデータよ
り、テスト・ポイントの座標（xn、yn）のデータを得る
ことができる。
【００１８】このようにして、回路図上に「●」印を付
した各位置の座標（Xn、Yn）と、回路基板の各テスト・
ポイントの座標（xn、yn）とを英数字（ｎ）により対応
させて第１のメモリおよび第２のメモリに格納すること
ができる。
した各位置の座標（Xn、Yn）と、回路基板の各テスト・
ポイントの座標（xn、yn）とを英数字（ｎ）により対応
させて第１のメモリおよび第２のメモリに格納すること
ができる。
【００１９】(4) 試験台２に載置された回路基板１を試
験する際には、ＣＲＴ表示器31に先に入力した回路図
（図３）を表示させる。表示された回路図には、プロー
ブ21を接触させるべき回路基板１上の各テスト・ポイン
トの位置が予め「●」印を付して登録されているので、
プローブ21を接触させたい回路図上の「●」印の位置
に、マウス33を操作してポインタ34を合わせたのち、ク
リックすると、第１のメモリよりその位置の座標（Xn、
Yn）に対応する英数字データ（ｎ）が読み出され、
験する際には、ＣＲＴ表示器31に先に入力した回路図
（図３）を表示させる。表示された回路図には、プロー
ブ21を接触させるべき回路基板１上の各テスト・ポイン
トの位置が予め「●」印を付して登録されているので、
プローブ21を接触させたい回路図上の「●」印の位置
に、マウス33を操作してポインタ34を合わせたのち、ク
リックすると、第１のメモリよりその位置の座標（Xn、
Yn）に対応する英数字データ（ｎ）が読み出され、
【００２０】(5) 第２のメモリを検索して、英数字デー
タ（ｎ）を有する回路基板１の座標（xn、yn）のデータ
を探し出し、プローブ移動装置のパルス・モータ23、24
を駆動することにより、回路図上にクリックした「●」
印の位置の座標（Xn、Yn）に対応する回路基板１の座標
（xn、yn）へプローブ21を移動させたのち、
タ（ｎ）を有する回路基板１の座標（xn、yn）のデータ
を探し出し、プローブ移動装置のパルス・モータ23、24
を駆動することにより、回路図上にクリックした「●」
印の位置の座標（Xn、Yn）に対応する回路基板１の座標
（xn、yn）へプローブ21を移動させたのち、
【００２１】(6) プローブ21の先端を回路基板１と垂直
なＺ方向に突出させて、回路基板１のテスト・ポイント
に接触させる。
なＺ方向に突出させて、回路基板１のテスト・ポイント
に接触させる。
【００２２】(7) 回路基板の所望のテスト・ポイントに
接触されたプローブ21は、リード線を介して、外部の電
圧計やオシロスコープなどの測定機器９の入力端子に接
続され、電圧の測定や波形の観測を行なうことができ
る。
接触されたプローブ21は、リード線を介して、外部の電
圧計やオシロスコープなどの測定機器９の入力端子に接
続され、電圧の測定や波形の観測を行なうことができ
る。
【００２３】以上で説明した実施例においては、イメー
ジ・リーダ４によって回路図を読み込んで格納している
が、回路図の代わりに、図４に示すように、各指示内容
の行頭に「●」印を付した調整指示書、修理指示書など
を読み込ませ、この指示書を表示させながらマウス33を
操作して、各指示内容の行頭の「●」印にポインタ34を
合わせることにより、プローブ21の先端を回路基板の所
望のテスト・ポイントに接触させるように動作させても
よいのである。
ジ・リーダ４によって回路図を読み込んで格納している
が、回路図の代わりに、図４に示すように、各指示内容
の行頭に「●」印を付した調整指示書、修理指示書など
を読み込ませ、この指示書を表示させながらマウス33を
操作して、各指示内容の行頭の「●」印にポインタ34を
合わせることにより、プローブ21の先端を回路基板の所
望のテスト・ポイントに接触させるように動作させても
よいのである。
【００２４】
【発明の効果】以上の実施例に基づく説明から明らかな
ように、この発明の回路基板の試験装置によると、作業
者は、表示器に表示されている回路図または指示書を見
ながら、マウス33でポインタ34を所望の位置に合わせて
クリックすることにより、対応する回路基板のテスト・
ポイントにプローブの先端を自動的に接触させることが
できるので、注意力を要する作業から解放され、回路基
板の試験・調整作業の能率を著しく向上させることがで
きる。
ように、この発明の回路基板の試験装置によると、作業
者は、表示器に表示されている回路図または指示書を見
ながら、マウス33でポインタ34を所望の位置に合わせて
クリックすることにより、対応する回路基板のテスト・
ポイントにプローブの先端を自動的に接触させることが
できるので、注意力を要する作業から解放され、回路基
板の試験・調整作業の能率を著しく向上させることがで
きる。
【図１】この発明の回路基板の試験装置の一実施例を示
す概要図、
す概要図、
【図２】図１に示す装置における試験台の詳細を示す斜
視図、
視図、
【図３】表示器の画面に表示されるイメージの一例を示
す図、
す図、
【図４】表示器の画面に表示されるイメージの他の一例
を示す図である。
を示す図である。
１ 回路基板 ２ 試験台 21 プローブ 22 プローブ保持部材 23、24 パルス・モータ ３ コンピュータ 31 ＣＲＴ表示器 32 キーボード 33 マウス 34 ポインタ ４ イメージ・リーダ ５ デジタイザ ９ 測定機器
Claims (1)
- 【請求項１】 試験すべき回路基板を載置し、該回路基
板と平行な面をＸ、Ｙ方向に移動するプローブ保持部材
と、該ローブ保持部材に保持されて上記回路基板と垂直
なＺ方向に突出するプローブとを有する試験台と、 上記回路基板に係わる回路図、指示書などのイメージ・
データをマークの座標データとともに格納する第１のメ
モリと、 該第１のメモリに格納されているデータを表示する表示
器と、 上記回路基板にプローブを接触させるべき位置の座標
を、上記マークの座標データと対応させて格納する第２
のメモリと、 上記表示器に表示されたマークを選択することにより、
プローブを接触させるべき上記回路基板の座標を上記第
２のメモリより読み出す手段と、 該第２のメモリより読み出されたデータに基づいて、プ
ローブを接触させるべき位置へ、上記プローブ保持部材
を移動させる手段と、 を具備することを特徴とする回路基板の試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5062549A JP2506304B2 (ja) | 1993-03-01 | 1993-03-01 | 回路基板の試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5062549A JP2506304B2 (ja) | 1993-03-01 | 1993-03-01 | 回路基板の試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06249920A JPH06249920A (ja) | 1994-09-09 |
| JP2506304B2 true JP2506304B2 (ja) | 1996-06-12 |
Family
ID=13203444
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5062549A Expired - Fee Related JP2506304B2 (ja) | 1993-03-01 | 1993-03-01 | 回路基板の試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2506304B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4604554B2 (ja) * | 2004-05-26 | 2011-01-05 | 株式会社日立製作所 | プローブ装置 |
| CN103884979B (zh) * | 2014-03-13 | 2016-09-07 | 江苏钜芯集成电路技术股份有限公司 | 一种无线二合一鼠标端芯片的批量测试方法 |
| CN110837036A (zh) * | 2019-11-07 | 2020-02-25 | 东南大学 | 一种电路板故障自动检测系统 |
| CN111781493B (zh) * | 2020-07-28 | 2024-08-16 | 北京创元成业科技有限公司 | 一种电路板电参数测量系统 |
-
1993
- 1993-03-01 JP JP5062549A patent/JP2506304B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06249920A (ja) | 1994-09-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |