KR100483327B1 - 전자 부품 및 모듈의 신뢰성 테스트에 이용되는 리니어테스트 장치 - Google Patents

전자 부품 및 모듈의 신뢰성 테스트에 이용되는 리니어테스트 장치 Download PDF

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KR100483327B1 KR10-2002-0031967A KR20020031967A KR100483327B1 KR 100483327 B1 KR100483327 B1 KR 100483327B1 KR 20020031967 A KR20020031967 A KR 20020031967A KR 100483327 B1 KR100483327 B1 KR 100483327B1
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Abstract

본 발명은 각종 전자 부품 및 모듈의 신뢰성 테스트에 이용되는 리니어 테스트 장치에 관한 것이다. 리니어 테스트 장치는 호스트 피씨에 의해 정밀 조정되는 전압 및 전류를 발생시키는 정밀 전압 및 전류 공급 회로부, 신뢰성 테스트를 원하는 지점의 출력 신호값을 16비트 고해상도 A/D 변환기를 통해 디지털화하여 호스트 피씨의 모니터상에 디스플레이하는 측정 보드부, 호스트 피씨를 이용하여 신뢰성 테스트를 원하는 지점의 인가신호 및 데이터 측정 지점이 쉽게 선택될 수 있도록 다수개의 측정 단자를 제어하는 외부 제어용 입/출력 보드부, 신뢰성 테스트를 원하는 지점의 출력값을 측정 보드부로 전달하는 릴레이 메트릭스부로 구성된다. 리니어 테스트 장치를 범용 피씨의 슬롯에 손쉽게 장착하고 간단한 프로그램 변경으로 전자 부품 및 모듈의 신뢰성을 테스트함으로써 테스트에 소요되는 비용 및 시간을 단축시키고, 다양한 요구조건을 충족시킬 수 있으므로 양호한 테스트 결과를 얻을 수 있다.

Description

전자 부품 및 모듈의 신뢰성 테스트에 이용되는 리니어 테스트 장치{Test apparatus used in confidence test of electronic device and module}
본 발명은 전자 부품 및 모듈의 신뢰성을 테스트하기 위한 리니어 테스트 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 피씨 슬롯에 간편하게 장착할 수 있고, 내부로 인가되는 전압 및 전류를 정밀하게 제어하여 정확한 테스트 결과를 얻을 수 있는 리니어 테스트 장치에 관한 것이다.
종래에는 개발된 각종 전자 부품 및 부품의 모듈별로 그 신뢰성을 테스트하기 위한 테스트 장치를 개별적으로 각각 주문 제작하여 사용하였다. 이처럼 부품 및 모듈에 따라 개별적으로 주문 제작된 테스트 장치는 새로운 하이브라이드 IC, 회로기판(PCB) 또는 신규 개발된 부품 및 모듈에 호환적으로 사용할 수 없는 단점이 있다.따라서, 주문 제작된 테스트 장치가 없을 경우에는 고가의 각종 계측장비를 이용하는 복잡한 테스트 과정을 거쳐 일일이 수작업으로 부품의 신뢰성을 확인함으로써 시간 및 비용이 크게 소요되었다. 또한, 부품의 전량을 테스트하는 것이 실질적으로 불가능하여 무작위로 선별된 샘플에 대해서만 그 신뢰성을 테스트함으로써 양산된 전체 부품중의 양호한 부품의 비율을 나타내는 수율(yield)이 저하되는 문제점이 있다.
본 분야에서는 전술한 바와 같은 문제점을 해소하기 위하여 피씨(Personal Computer:PC)를 이용한 범용 테스트 장치를 개발하였다. 피씨를 이용한 범용 테스트 장치를 구현하기 위해서는 피씨상에서의 정밀 전압 및 전류원 보드 설계 기술을 확보하여 정확한 전압 및 전류를 테스트 장치 내부로 인가하는 것이 필수적이다.그러나, 종래에는 전압 및 전류를 아날로그 방식으로 제어함으로써 테스트 장치 내부로 인가되는 전압 및 전류의 정확도가 불안정하여 테스트 결과의 신뢰성이 저하되었다. 뿐만 아니라, 불안정한 전압 및 전류를 조절하기 위한 수작업이 수반되므로 시간 및 비용이 크게 소요되는 종래의 문제점을 여전히 해소하지 못하고 있는 실정이다.
따라서, 본 발명의 첫번 째 목적은 전술한 바와 같은 종래의 문제점을 해소할 수 있는 개선된 리니어 테스트 장치를 제공함에 있다.
본 발명에 따른 기술의 두번 째 목적은 내부로 인가되는 전압 및 전류가 정확하게 제어되는 개선된 리니어 테스트 장치를 제공함에 있다.
본 발명에 따른 기술의 세번 째 목적은 부품 또는 모듈 테스트에 소요되는 비용 및 시간을 단축시킬 수 있는 개선된 리니어 테스트 장치를 제공함에 있다.
본 발명에 따른 기술의 네번 째 목적은 여러 부품의 성능을 테스트할 수 있는 개선된 리니어 테스트 장치를 제공함에 있다.
아울로, 본 발명에 따른 기술의 다섯번 째 목적은 테스트 결과에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있는 개선된 리니어 테스트 장치를 제공함에 있다.
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전술한 목적을 달성하기 위해 구성되는 본 발명은 각종 전자 부품 및 모듈의 신뢰성 테스트에 이용되는 리니어 테스트 장치에 있어서, 호스트 피씨에 의해 가변적으로 정밀 조정된 전압 및 전류를 발생시키는 한편, 고전력을 발생시키는 고전력 전압/전류 소스 보드부와 중간정도의 전력을 발생시키는 미디엄 전력 전압/전류 소스 보드부로 구성되는 정밀 전압 및 전류 공급 회로부; 신뢰성 테스트를 원하는 지점의 전압, 전류, 주파수 사이클, 라이징 타임 또는 폴링 타임의 출력 신호값들을 측정한 뒤, 이를 16비트 고해상도 아날로그/디지털 변환기를 통해 디지털화하여 호스트 피씨의 모니터상에 디스플레이하는 측정 보드부; 호스트 피씨를 이용하여 신뢰성 테스트를 원하는 지점의 인가신호 및 데이터 측정 지점이 손쉽게 선택될 수 있도록 하기 위하여 다수개의 측정 단자를 제어하는 외부 제어용 입/출력 보드부; 및 신뢰성 테스트를 원하는 지점의 출력 신호값들을 선택하여 이를 측정 보드부로 전달하는 릴레이 메트릭스부로 구성되어 호스트 피씨의 슬롯에 장착되는 구성으로 이루어진다.이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면들을 참조하여 상세히 설명하고자 한다.
도 1 은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 리니어 테스트부(10)의 블록 구성도를 나타낸 것으로서, 본 발명을 보다 용이하게 설명하기 위하여 리니어 테스트부(10)가 장착되는 호스트 피씨 및 테스트 대상인 시험 부품 및 모듈을 도면상에 함께 도시하였다.
도면을 참조하면, 호스트 피씨(1)는 인터페이스 보드(2)를 통하여 데이터 버스(3)와 연결된다. 데이터 버스(3)에는 본 발명에 따른 정밀 전압 및 전류 공급 회로부(6), 측정 보드부(7) 및 외부 제어용 입/출력 보드(8)가 연결되어 있다. 그리고, 정밀 전압 및 전류 공급 회로부(6), 측정 보드부(7) 및 외부 제어용 입/출력 보드(8)는 신호인가 및 측정을 위해 구현된 릴레이 메트릭스(9)에 연결되어 있다. 정밀 전압 및 전류 공급 회로부(6), 측정 보드부(7) 및 외부 제어용 입/출력 보드(8), 신호인가 및 측정을 위해 구현된 릴레이 메트릭스(9)는 본 발명에 따라 구현된 리니어 테스트부(10)로, 릴레이 메트릭스(9)는 테스트 대상이 되는 시험 부품 및 모듈(11)과 연결되어 있다.
리니어 테스트부(10)에 포함되는 정밀 전압 및 전류 공급 회로부(4)는 리니어 테스트기(10)의 핵심 구성으로, 고전력을 발생시키는 고전력 전압/전류 소스 보드(4)와 중간 정도의 전력을 발생시키는 미디엄 전력 전압/전류 소스 보드(5)로 구성된다. 정밀 전압 및 전류 공급 회로부(4)는 호스트 피씨(1)에 의해 그 전압 및 전류가 가변적으로 정밀 조정될 수 있다. 그리고, 정밀 조정된 전압 및 전류에 대한 신호들은 릴레이 메트릭스를 통하여 테스트하고자 하는 부품 및 모듈의 원하는 지점으로 인가되어 진다.
측정 보드부(7)에서는 사용자(즉, 테스트 작업자)가 측정을 원하는 지점의 예컨대, 전압, 전류, 주파수 사이클, 라이징 타임(rising time), 폴링 타임(falling time) 등과 같은 출력 신호값들을 릴레이 메트릭스(9)를 통하여 획득한 뒤, 이러한 아날로그 신호 데이터를 16비트 고해상도 아날로그/디지털 변화기를 통해 디지털 신호 데이터로 변환한다. 그리고 나서, 디지털 신호 데이터를 사용자 호스트 피씨의 모니터상에 디스플레이되도록 한다.전술한 바와 같이 전압, 전력, 주파수 사이클 등에 대한 디지털 신호 데이터가 모니터상에 디스플레이되면 사용자는 이러한 디지털 신호 데이터를 용이하게 확인 할 수 있는데, 특히 정밀 전압 및 전류 공급 회로부(4)로부터 출력되는 전압 및 전류에 대한 디지털 신호 데이터를 실시간 확인하고 정밀하게 제어함으로써 부품 및 모듈에 대한 보다 정확한 테스트를 실시할 수 있게 된다.
외부 제어용 입/출력 보드(8)는 호스트 피씨(1)에서 릴레이 메트릭스(9)를 제어하여 사용자가 테스트를 원하는 지점의 인가신호 및 데이터 측정 지점이 손쉽게 선택될 수 있도록 하기 위하여 수많은 측정 단자를 제어하는 기능을 수행한다.
전술한 바와 같이 본 발명에서는 호스트 피씨 슬롯에 간편하게 장착할 수 있는 리니어 테스트부(10)를 제공한다. 그리고, 호스트 피씨상에서 프로그램만 간단히 변경하여 리니어 테스트부(10)로 인가하고자 하는 전압 및 전류값을 매우 정밀하게 제어함으로써 부품 및 모듈의 신뢰성 테스트를 보다 효과적이고 정확하게 수행할 수 있게 된다.
도 2 는 본 발명에 따른 리니어 테스트부의 정밀 전압 및 전류 공급 회로의 블록 구성도, 도 3 은 본 발명에 따른 정밀 전압 및 전류 공급 회로의 설계도, 도 4 는 본 발명에 따른 리니어 테스트부의 전체 설계도이다.
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도 2 내지 도 4 에 도시된 바와 같이 본 발명에 따라 구현된 리니어 테스트 장치는 모든 PCB, 전자 부품, 부품 모듈, 자동차 관련 하이브리드 IC의 신뢰성을 테스트하는데 적합하게 사용될 수 있다. 그리고, 종래와 같은 복잡한 계측기기들을 구비함이 없이 호스트 피씨의 슬롯에 간단히 장착시켜 사용할 수 있으므로 실용적이면서도 효율적인 신뢰성 테스트를 실현할 수 있다. 또한, 대부분 수입에 의존하던 종래의 계측기기들을 본 발명에 따른 리니어 테스트 장치로 대치함으로써 외화 낭비를 줄일 수 있는 부가적인 효과가 발생한다.
전술한 바와 같은 본 발명은 도면에 따라 설명되고 예를들어 한정되었지만 사안에 따라 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 본 분야에 통상의 지식을 가진자들에게 있어서는 여러 가지 변화와 변경이 가능함은 물론이다.
이상에서와 같이 본 발명에서는 각종 전자 부품 및 모듈의 신뢰성 테스트에 이용되는 리니어 테스트 장치를 제작함에 있어서, 사용자의 호스트 피씨에 의해 가변적으로 정밀 조정된 전압 및 전류를 발생시킬 수 있는 정밀 전압 및 전류 공급 회로부를 적용함으로써 양호한 신뢰성 테스트 결과를 얻을 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 리니어 테스트 장치는 범용 피씨의 슬롯에 장착하여 사용할 수 있도록 하고, 간단한 프로그램 변경으로 전자 부품 및 모듈의 신뢰성을 테스트함으로써 테스트에 소요되는 비용 및 시간을 단축시킬 수 있는 효과를 거둘 수 있다.
도 1 은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 리니어 테스트 장치의 블록 구성도.
도 2 는 본 발명에 따른 리니어 테스트 장치에 적용되는 정밀 전압 및 전류 공급 회로의 블록 구성도.
도 3 은 본 발명에 따른 정밀 전압 및 전류 공급 회로의 설계도.
도 4 는 본 발명에 따른 리니어 테스트 장치의 전체 설계도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
1:호스트 피씨 2:인터페이스 보오드
3:데이터 버스 4:고전력 V/I 소스 보드
5:미디엄 전력 V/I 소스 보드 6:정밀 전압 및 전류 공급 회로
7:측정 보드부 8:외부 제어용 입/출력 보드
9:릴레이 메트릭스 10:리니어 테스트 장치
11:시험 부품 및 모듈

Claims (4)

  1. 각종 전자 부품 및 모듈의 신뢰성 테스트에 이용되는 리니어 테스트 장치에 있어서:
    호스트 피씨에 의해 가변적으로 정밀 조정된 전압 및 전류를 발생시키는 한편, 고전력을 발생시키는 고전력 전압/전류 소스 보드부와 중간정도의 전력을 발생시키는 미디엄 전력 전압/전류 소스 보드부로 구성되는 정밀 전압 및 전류 공급 회로부;
    신뢰성 테스트를 원하는 지점의 전압, 전류, 주파수 사이클, 라이징 타임 또는 폴링 타임의 출력 신호값들을 측정한 뒤, 이를 16비트 고해상도 아날로그/디지털 변환기를 통해 디지털화하여 상기 호스트 피씨의 모니터상에 디스플레이하는 측정 보드부;
    상기 호스트 피씨를 이용하여 신뢰성 테스트를 원하는 지점의 인가신호 및 데이터 측정 지점이 손쉽게 선택될 수 있도록 하기 위하여 다수개의 측정 단자를 제어하는 외부 제어용 입/출력 보드부; 및
    신뢰성 테스트를 원하는 지점의 출력 신호값들을 선택하여 이를 상기 측정 보드부로 전달하는 릴레이 메트릭스부로 구성되어 상기 호스트 피씨의 슬롯에 장착되는 것을 특징으로 하는 리니어 테스트 장치.
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  3. 삭제
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115639395B (zh) * 2022-11-18 2023-03-14 湖南恩智测控技术有限公司 电子负载并机电流回显算法、并机系统和电子设备

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR900010415A (ko) * 1988-12-12 1990-07-07 안시환 Ic소자 특성 테스트용 시스템의 체크장치
JPH04357479A (ja) * 1991-06-04 1992-12-10 Fujitsu Ltd 半導体試験装置
JPH0862307A (ja) * 1994-08-17 1996-03-08 Advantest Corp 高精度電圧試験装置
KR20000041071A (ko) * 1998-12-21 2000-07-15 윤종용 다수의 정전압들/정전류들을 발생하는 단일의 테스트 보드
KR20010015401A (ko) * 1999-07-23 2001-02-26 마찌다 가쯔히꼬 반도체 집적회로의 검사장치 및 검사방법
KR20010019178A (ko) * 1999-08-25 2001-03-15 윤종용 전압 레벨 테스트 장치
KR20020060893A (ko) * 2001-01-13 2002-07-19 주식회사 푸르던텍 보드 테스트 시스템

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR900010415A (ko) * 1988-12-12 1990-07-07 안시환 Ic소자 특성 테스트용 시스템의 체크장치
JPH04357479A (ja) * 1991-06-04 1992-12-10 Fujitsu Ltd 半導体試験装置
JPH0862307A (ja) * 1994-08-17 1996-03-08 Advantest Corp 高精度電圧試験装置
KR20000041071A (ko) * 1998-12-21 2000-07-15 윤종용 다수의 정전압들/정전류들을 발생하는 단일의 테스트 보드
KR20010015401A (ko) * 1999-07-23 2001-02-26 마찌다 가쯔히꼬 반도체 집적회로의 검사장치 및 검사방법
KR20010019178A (ko) * 1999-08-25 2001-03-15 윤종용 전압 레벨 테스트 장치
KR20020060893A (ko) * 2001-01-13 2002-07-19 주식회사 푸르던텍 보드 테스트 시스템

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