KR900010415A - Ic소자 특성 테스트용 시스템의 체크장치 - Google Patents

Ic소자 특성 테스트용 시스템의 체크장치 Download PDF

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KR900010415A
KR900010415A KR1019880016521A KR880016521A KR900010415A KR 900010415 A KR900010415 A KR 900010415A KR 1019880016521 A KR1019880016521 A KR 1019880016521A KR 880016521 A KR880016521 A KR 880016521A KR 900010415 A KR900010415 A KR 900010415A
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KR1019880016521A
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황성만
전재국
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안시환
삼성전자 주식회사
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내용 없음

Description

IC소자 특성 테스트용 시스템의 체크장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도 본 발명에 따른 체크 장치를 IC소자 특성 테스트용 시스템에 연결한 것을 보인 모식도, 제2도는 본 발명에 따른 체크장치내의 저항값을 가변하여 그 값으로 측정미터를 체크하는 데이터 흐름도, 제3도는 본 발명에 따른 체크장치내의 저항값을 가변하여 각 전원전압 공급부의 출력전압을 체크하는 데이터 흐름도.

Claims (1)

  1. 출력 DC 전압을 가변하는 전원전압 공급부(10)의 각 출력을 입력으로 하는 매트릭스 회로(40)일단에 측정 미터(30)를 연결하고, 상기 매트릭스 회로(40)와 전원전압 공급부(20)에서 출력되는 전압을 측정하고자 하는 IC 소자의 리드핀에 연결하여 상기 측정미터(30)로 소자의 특성을 테스트하는 것에 있어서, 매트릭스 회로(40)의 출력단과 전원전압 공급부(20)의 출력단에 부하저항을 가변하는 부하 저항 변환부(50A)와 부하 전압 변환부(50B)를 연결하여 측정미터(30)가 부하의 변화에 따라서 각 전원전압 공급부(10) (20)의 출력 특성을 체크하도록 구성됨을 특징으로 하는 IC소자 특성 테스트용 시스템의 체크장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019880016521A 1988-12-12 1988-12-12 Ic소자 특성 테스트용 시스템의 체크장치 KR900010415A (ko)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030094808A (ko) * 2002-06-07 2003-12-18 이종길 PC 기반 linear tester에서의 측정 및 릴레이 매트릭스보드 회로설계 기술
KR100483327B1 (ko) * 2001-06-29 2005-04-14 (주) 현대테크 전자 부품 및 모듈의 신뢰성 테스트에 이용되는 리니어테스트 장치

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