JP2505761Y2 - 光ディスク検査装置校正用基準板 - Google Patents
光ディスク検査装置校正用基準板Info
- Publication number
- JP2505761Y2 JP2505761Y2 JP5710088U JP5710088U JP2505761Y2 JP 2505761 Y2 JP2505761 Y2 JP 2505761Y2 JP 5710088 U JP5710088 U JP 5710088U JP 5710088 U JP5710088 U JP 5710088U JP 2505761 Y2 JP2505761 Y2 JP 2505761Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- standard sample
- optical disk
- film
- optical disc
- reference plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5710088U JP2505761Y2 (ja) | 1988-04-27 | 1988-04-27 | 光ディスク検査装置校正用基準板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5710088U JP2505761Y2 (ja) | 1988-04-27 | 1988-04-27 | 光ディスク検査装置校正用基準板 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01162122U JPH01162122U (enrdf_load_stackoverflow) | 1989-11-10 |
| JP2505761Y2 true JP2505761Y2 (ja) | 1996-07-31 |
Family
ID=31282955
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5710088U Expired - Lifetime JP2505761Y2 (ja) | 1988-04-27 | 1988-04-27 | 光ディスク検査装置校正用基準板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2505761Y2 (enrdf_load_stackoverflow) |
-
1988
- 1988-04-27 JP JP5710088U patent/JP2505761Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01162122U (enrdf_load_stackoverflow) | 1989-11-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR960013995B1 (ko) | 반도체 웨이퍼 기판의 표면온도 측정 방법 및 열처리 장치 | |
| US4210401A (en) | Visible and infrared polarization ratio spectroreflectometer | |
| EP0582645B1 (fr) | Procede et dispositif d'etalonnage d'un pyrometre optique et plaquettes etalons correspondantes | |
| JPS6367549A (ja) | 光ディスク用レジスト原盤の欠陥検査及び膜厚測定装置 | |
| JP2505761Y2 (ja) | 光ディスク検査装置校正用基準板 | |
| JPH0443815Y2 (enrdf_load_stackoverflow) | ||
| JPH0626976Y2 (ja) | 光デイスク検査装置校正用基準板 | |
| JPH04319646A (ja) | 物体の反射及び/又は透過特性を測定する装置 | |
| JPH0443814Y2 (enrdf_load_stackoverflow) | ||
| JP4849709B2 (ja) | 平坦度等測定装置 | |
| JP2003132591A (ja) | 光ディスク検査装置 | |
| JP2588965B2 (ja) | 電界測定用プローブ | |
| US6635896B1 (en) | Optical disk stamper examination machine, optical disk stamper examination method, and optical disk stamper | |
| JP4802431B2 (ja) | 膜厚測定方法及び光ディスクにおける膜厚測定方法 | |
| JPH0675035B2 (ja) | 反射率測定装置 | |
| JPH03214043A (ja) | 反射率の測定方法および装置 | |
| JPH04506413A (ja) | 半透明要素の光学的伝達ファクタ又は密度を測定するのに使用する装置及び方法 | |
| JPS62284221A (ja) | 光デイスク用光学ヘツドのビ−ムスポツト径の測定方法 | |
| JPS60212842A (ja) | 光学記録部材の評価装置 | |
| JP2657868B2 (ja) | ヘッド浮上量測定における干渉波較正方法 | |
| JP2006184173A (ja) | 光透過率測定方法 | |
| JP2502054Y2 (ja) | スタンパおよびディスクの検査装置 | |
| JPS60191448A (ja) | 光デイスクの反射膜検査装置 | |
| JPS6224130A (ja) | 屈折率測定装置 | |
| JPS5950349A (ja) | 熱定数測定装置 |