JP2024046884A - 分析装置 - Google Patents

Abstract

【課題】光源の温度を適切に制御することによって光源を効果的に使用することができる分析装置を提供する。【解決手段】本発明に係る分析装置は、光源筐体の内部を温調する筐体内温調機構、発光素子を実装した基板を支持するベース、前記ベースを温調するベース温調機構、を備え、前記ベース温調機構は前記ベースが外気に対して露出しないように覆っている。【選択図】図２

Description

本発明は、試料に対して光を照射することにより前記試料中の測定対象物質を分析する分析装置に関する。

試料の特性を分析する分析装置のなかには、試料に対して光を照射してその反応を分析するタイプのものがある。このタイプの分析装置は、光を出射する光源（発光素子）を備えている。光源の動作特性は、光源またはその周辺環境の温度によって影響を受ける場合がある。

特許文献１は、吸光度計及び該吸光度計を用いた半導体製造装置を記載している。同文献は、『高温のサンプルガスを測定する場合に、光源部から受光部までの距離を長くしなくても、光源部や受光部をサンプルガスの熱から保護でき、測定精度を高く保持できる吸光度計を得る。サンプルガスを収容する収容空間１１を備えるサンプル収容部１０と、収容空間１１内に光を照射する光源部２０と、収容空間１１内から出射した光を受光する受光部３０と、サンプル収容部１０の光源部２０側に隣接して設置される第１の断熱部４０ａ及びサンプル収容部１０の受光部３０側に隣接して設置される第２の断熱部４０ｂと、第１の断熱部４０ａに隣接して設置される第１の冷却部５０ａ及び第２の断熱部４０ｂに隣接して設置される第２の冷却部５０ｂとを備える。』という技術を記載している（要約参照）。

ＷＯ２０１８／０５２０７４

特許文献１に記載された吸光度計は、光源部２０、第１の冷却部５０１、第１の断熱部４０ａ、サンプル収容部１０、がそれぞれ独立したパーツとして設置されており、光源を交換する際の作業性が良い。一方で、光源部２０は温調されておらず、かつ一部が外気に露出している。光源の光量は光源温度によって影響を受けることを鑑みると、（１）外気温が低い場合、電源投入前の光源の温度が低いため、電源を投入してから光源の光量が安定するまでに要する時間が長い、（２）外気温が変動した場合、光源部の温度も変動し、最終的に光源の光量が変動する、という課題があると考えられる。

本発明は、上記のような課題に鑑みてなされたものであり、光源の温度を適切に制御することによって光源を効果的に使用することができる分析装置を提供することを目的とする。

本発明に係る分析装置は、光源筐体の内部を温調する筐体内温調機構、発光素子を実装した基板を支持するベース、前記ベースを温調するベース温調機構、を備え、前記ベース温調機構は前記ベースが外気に対して露出しないように覆っている。

本発明に係る分析装置によれば、光源の温度を適切に制御することによって光源を効果的に使用することができる。本発明のその他の課題、構成、効果などについては、以下の実施形態の説明により明らかとなる。

自動分析装置１００の全体構成図である。 発光ダイオードユニット１２０の構成を説明する断面図である。 筐体内温調機構４０７の役割を有する機構として筐体４０１に流路を形成し、さらにベース温調機構４１８にも流路を形成して両者ともに恒温液で温調した場合の断面図である。 図３に示す構成における、発光ダイオード点灯前の発光ダイオードユニット１２０の動作と伝熱経路を示す。 図３に示す構成における、発光ダイオード点灯後の発光ダイオードユニット１２０の動作と伝熱経路を示す。 ベース温調機構４１８がない従来の発光ダイオードユニット１２０の構成を説明する断面図である。 図６に示す構成における、発光ダイオード点灯後の伝熱経路を示す。 図３の構成における発光ダイオード点灯前の温度分布を示す図である。 図６の構成における発光ダイオード点灯前の温度分布を示す図である。 発光ダイオード点灯後の時間経過に伴う、基板４０２の温度変化を示す図である。 図９Ａに示す基板４０２の温度変動の、１０分間の標準偏差を示す図である。 発光ダイオードユニット１２０の周囲温度の時間変化を示す。 図１０に示す温度環境下で発光ダイオード４０５を点灯させた場合における基板４０２温度の経時変化を示す図である。

＜分析装置の構成＞
図１は、本発明の実施形態に係る自動分析装置１００の全体構成図である。自動分析装置１００は、搬送ライン１０１、ローター１０２、試薬ディスク１０３、反応ディスク１０４、分注機構１０５、攪拌機構１０６、分光器１０７、反応セル洗浄機構１０８、ノズル洗浄機構１０９、制御部１１５、入力部１２３、表示部１２４等から構成される。

搬送ライン１０１は、検体を入れた検体容器１１０を保持する検体ラック１１１を、検体分注位置１２１まで必要量だけ移送する。分注機構１０５は、検体分注位置１２１で検体容器１１０から反応セル１１２（反応容器）へ検体を分注する。搬送ライン１０１は更に、ローター１０２と接続されている。ローター１０２を回転させることにより、他の搬送ライン１０１との間で検体ラック１１１のやり取りが行われる。

試薬ディスク１０３は、試薬を入れた試薬容器１１３を保持し、分注機構１０５が分注動作を行えるポジションまで試薬容器１１３を回転移送する。分注機構１０５は、試薬分注位置１２２で試薬容器１１３から反応セル１１２へ試薬を分注する。なお、試薬は、比色分析に必要な量だけ反応セル１１２へ分注され、分析対象となる検体中の成分と反応する。

反応ディスク１０４は、反応セル１１２を保持し、比色分析を行う分光器１０７、攪拌機構１０６、反応セル洗浄機構１０８等がそれぞれ動作する位置を示す動作ポジションまで各動作の対象となる反応セル１１２を回転移送する。なお、反応セル１１２は、水などの恒温媒体によって保温される。これにより、検体と試薬との混合物である反応液において、検体中の成分と試薬の化学反応が促進される。

分注機構１０５は、比色分析を行う検体を検体容器１１０から吸引し、反応セル１１２に吐出する。分注機構１０５は、分析対象に応じた試薬を試薬容器１１３から吸引し、反応セル１１２に吐出する。分注機構１０５は、アーム１１８、ノズル１１６、分注機構用モーター１１９を備える。アーム１１８は、ノズル１１６と液面センサ１１７を保持する。ノズル１１６は、液面センサ１１７に接続されている。液面センサ１１７は、静電容量変化により液体の有無を検出する。分注機構１０５が分注動作を行うポジションの近傍には、シールド部１１４が設置される。分注機構用モーター１１９は、分注機構１０５を上下方向、または回転方向に移動させる。

攪拌機構１０６は、検体容器１１０から反応セル１１２に吐出された検体中の分析対象成分と、試薬容器１１３から反応セル１１２に吐出された試薬の反応を促進するために、反応セル１１２中の反応液を攪拌する。

発光ダイオードユニット１２０は、攪拌機構１０６により攪拌され化学反応した反応液に光を照射する。分光器１０７は、反応液を通過した透過光を分光する。分光された透過光に基づいて、吸光度測定による比色分析が行われる。

反応セル洗浄機構１０８は、比色分析が終了した反応セル１１２から反応液の吸引を行い、洗剤などを吐出し、反応セル１１２を洗浄する。

ノズル洗浄機構１０９は、検体又は試薬を分注した分注機構１０５のノズル１１６の先端を洗浄する。これにより、ノズル１１６に付着した残留物が取り除かれ、次の分析対象に影響を及ぼさない。制御部１１５は、プロセッサ、メモリ等から構成され、各機構および装置等を制御する。

入力部１２３は、キーボード、マウス、タッチパネル等から構成され、ユーザからの指示を制御部１１５に入力する。表示部１２４は、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉd Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）等から構成され、操作画面等を表示する。

＜発光ダイオードユニットの基本構成＞
図２は、発光ダイオードユニット１２０の構成を説明する断面図である。発光ダイオードユニット１２０は、筐体４０１の内部に基板４０２などの部材を収容した構造を有する。発光ダイオードユニット１２０から発せられた光は、光軸４０４に沿って筐体４０１の開口部（図２における符号４０４の隣の矢印に沿った位置）から出力される。

筐体４０１は、発光ダイオード４０５、基板４０２、ベース４０６が配置される空間（筐体内部空間）を有する。この空間は、発光ダイオード４０５を恒温に保つために、外部の温度が変動しても恒温に保つ必要がある。したがって、筐体４０１は体積をなるべく大きくする、比熱が大きく熱伝導率が小さい材料とする、ことにより、時定数を大きくする必要がある。例えば後述する筐体内温調機構４０７よりも比熱が大きく熱伝導率が小さい材料を用いる必要がある。

ベース４０６には、発光ダイオード４０５が実装される基板４０２が接触して配置されるとともに、筐体４０１と機械的に接触して取り付けられて筐体４０１の外壁の一部を構成する。したがって、ベース４０６の位置を調整することにより、発光ダイオード４０５の光軸４０４と筐体４０１の開口部とを揃えることができる。すなわち、ベース４０６は基板４０２を支持するとともに、光軸４０４の位置合わせをする部材としての役割を有する。筐体４０１とベース４０６と基板４０２と光軸４０４をこのような構成とすることにより、筐体４０１が有する開口部と光軸４０４は、筐体４０１とベース４０６の位置を調整することにより揃えることができる。ベース４０６は、筐体４０１から取り外し可能に取り付けられる。このように取り外し可能とすることにより、発光ダイオード４０５が故障などにより交換する際に、筐体４０１を生化学分析装置から取り外すことなく、発光ダイオード４０５と基板４０２が取り付けられたベース４０６ごと、筐体４０１から取り外して交換することができる。したがって、発光ダイオード４０５交換後にベース４０６を取り付ける際の光軸合わせは、ベース４０６と筐体４０１の調整のみでよく、容易になる。ベース４０６はねじにより筐体４０１に取り付けられてもよい。

ベース４０６を交換する際には、まずベース温調機構４１８を筐体４０１から取り外す。これによりベース温調機構４１８はベース４０６からも取り外されることになる。さらにベース４０６を筐体４０１から取り外す。ベース４０６を交換する場合であっても、ベース温調機構４１８は交換せず再利用してもよい。

発光ダイオード４０５の電源投入後における、発光ダイオードユニット１２０の温度変動に関して説明する。発光ダイオード４０５への電源投入後は、発光ダイオード４０５の温度が上昇するとともに、発光ダイオード４０５の熱が伝熱して、基板４０２とベース４０６の温度も上昇する。さらに一定時間が経過すると、発光ダイオード４０５と基板４０２とベース４０６が定常温度に達し、発光ダイオード４０５の光量や波長が安定する。したがって、発光ダイオード４０５に電源を投入した後に速やかに光量を安定させるには、発光ダイオード４０５、基板４０２、ベース４０６の温度を速やかに安定させる必要がある。そのためベース４０６は、体積をなるべく小さくする、比熱が小さく熱伝導率が大きい金属などの材料（例えばアルミニウム）で構成し、時定数を小さくする必要がある。

ベース温調機構４１８は、ベース４０６が外気に対して露出する箇所が無いようにベース４０６の周囲を覆うとともに、ベース４０６に接触してベース４０６を温調する。ベース温調機構４１８はベース４０６および筐体４０１から取り外し可能に取り付けられる。筐体内温調機構４０７は、筐体内部空間の温度を恒温に保つために筐体４０１に接触して筐体４０１を温調する。

ベース温調機構４１８または筐体内温調機構４０７の少なくともいずれかが、内部に流路を形成しその水路に恒温液を流通させるものであってもよい。その場合、ベース温調機構４１８または筐体内温調機構４０７の体積は、なるべく大きくする、比熱が大きく熱伝導率が小さい材料で構成する、ことが必要となる。ベース温調機構４１８は、ベース４０６よりも比熱が大きく熱伝導率が小さい材料で構成することが必要である。筐体内温調機構４０７は、筐体４０１よりも比熱が大きく熱伝導率が小さい材料で構成することが必要である。

ベース温調機構４１８または筐体内温調機構４０７の少なくともいずれかが、ペルチェ素子を用いて温調を実施するように構成したものであってもよい。その場合、ペルチェ素子の温度変動に連動してベース温調機構４１８または筐体内温調機構４０７も温度変動させるために、時定数を小さくする必要がある。したがって、ベース温調機構４１８または筐体内温調機構４０７の体積をなるべく小さくする、比熱が小さく熱伝導率が大きい金属などの材料（例えばアルミニウム）で構成する、ことが必要となる。ベース温調機構４１８は、比熱がベース４０６以下であり熱伝導率がベース４０６以上の材料で構成することが必要である。筐体内温調機構４０７は、比熱が筐体４０１以下であり熱伝導率が筐体４０１以上の材料で構成することが必要である。

発光ダイオード４０５の温度を速やかに安定させるために、基板４０２に基板温調機構４３０を配置して、基板４０２を直接温調してもよい。基板温調機構４３０は、内部流路を有しその流路に恒温液を流通させることにより温調してもよいし、ペルチェ素子を用いて温調を実施してもよい。筐体内温調機構４０７とベース温調機構４１８によって十分な温調機能を提供できるのであれば、基板温調機構４３０はなくともよい。以下の説明では基板温調機構４３０を適宜省略する。

＜発光ダイオードユニットの構成（水冷）＞
図３は、筐体内温調機構４０７の役割を有する機構として筐体４０１に流路を形成し、さらにベース温調機構４１８にも流路を形成して両者ともに恒温液で温調した場合の断面図である。

筐体４０１において、恒温液は筐体内流路入口４０９から注入され、筐体内流路４１１を循環し、筐体内流路出口４１０から排出される。ベース温調機構４１８において、恒温液はベース温調機構流路入口４２０から注入され、ベース温調機構流路４１９を循環し、ベース温調機構流路出口４２１から排出される。恒温液の温度は、例えば発光ダイオードユニット１２０の外気温よりも高い温度に設定する。この場合は、温度を下げたければ水量を減らすことによって伝搬する熱量が低下して自然に温度が低下するので、冷却動作が可能な素子などを別途設ける必要がなく、簡便な構成によって温度調整が可能となる利点がある。恒温液は、例えば自動分析装置１００が試料の温度を一定に維持するために備える恒温槽において用いられる恒温液を流用したものであってもよい。この場合、その恒温液を発光ダイオードユニット１２０に対して供給することにより、発光ダイオードユニット１２０が独自の恒温液供給源を備える必要がないので、有用である。このように恒温液を自動分析装置１００との間で共用する場合、恒温液の流量などの制御は、自動分析装置１００に委ねてもよい。あるいは例えば発光ダイオードユニット１２０の内部に流量調整弁などを配置することにより、発光ダイオードユニット１２０自身が流量制御機能を備えてもよい。

＜発光ダイオード点灯前の動作と伝熱経路＞
図４は、図３に示す構成における、発光ダイオード点灯前の発光ダイオードユニット１２０の動作と伝熱経路を示す。スタンバイ状態などの非測定時には、発光ダイオードユニット１２０に対して電源が投入されない。この際に、筐体内流路４１１とベース温調機構流路４１９にあらかじめ恒温液を流通させておく。これにより筐体４０１とベース温調機構４１８が恒温液程度の温度まで温められる。温められた筐体４０１の熱は、筐体内空間４０８へ伝熱し（点線矢印）、これにより筐体内空間４０８が予熱される。一方、温められたベース温調機構４１８の熱は、接触面を介して、それぞれベース４０６、基板４０２、発光ダイオード４０５へ伝熱し（黒色矢印）、これにより発光ダイオード４０５が予熱される。このように、筐体内空間４０８と発光ダイオード４０５を予熱することにより、外気温が低い場合でも発光ダイオードユニット１２０に対して電源を投入してから光量が安定するまでに要する時間を短くすることができる。

＜発光ダイオード点灯後の動作と伝熱経路＞
図５は、図３に示す構成における、発光ダイオード点灯後の発光ダイオードユニット１２０の動作と伝熱経路を示す。発光ダイオードユニット１２０に対して電源が投入されると、発光ダイオード４０５が発光するとともに、発光ダイオード４０５の温度が時間経過に伴って次第に上昇する。発光ダイオード４０５の熱は、発光ダイオード４０５と基板４０２との間の接触面を介して基板４０２へ伝熱する（図５中の太線矢印）。基板４０２の熱は基板４０２とベース４０６の接触面を介してベース４０６へ伝熱し（図５中の黒色点線矢印）、ベース４０６の熱はベース４０６とベース温調機構４１８の接触面を介してベース温調機構４１８へ伝熱する（図５中の黒色実線矢印）。さらに、ベース温調機構４１８の熱は、ベース温調機構流路４１９中の恒温液へ放熱される。

＜従来の構成（ベース温調機構なし）＞
図６は、ベース温調機構４１８がない従来の発光ダイオードユニット１２０の構成を説明する断面図である。図６の構成において、ベース４０６の一部は筐体４０１に接触し、外気への露出面４２２は外気へ露出している。

＜従来の構成（ベース温調機構なし）の放熱経路＞
図７は、図６に示す構成における、発光ダイオード点灯後の伝熱経路を示す。発光ダイオード４０５点灯後に発せられる熱は、発光ダイオード４０５と基板４０２との間の接触面を介して基板４０２へ伝熱し（図６中の太線矢印）、基板４０２の熱は基板４０２とベース４０６の接触面を介してベース４０６へ伝熱する（図６中の黒色点線矢印）。さらに、ベース４０６の熱はベースの外気への露出面４２２から外気へ放熱される（図７中の黒色実線矢印）。

＜効果１（予熱で立上時間早い）＞
図８Ａは、図３の構成における発光ダイオード点灯前の温度分布を示す図である。図８Ａに示すようにベース温調機構４１８がある場合、筐体内流路入口４０９、筐体内流路出口４１０、ベース温調機構流路入口４２０、ベース温調機構流路出口４２１から３７℃の恒温液が出入りする。この場合、ベース４０６は恒温液の温度と同じ３７℃である。

図８Ｂは、図６の構成における発光ダイオード点灯前の温度分布を示す図である。図８Ｂに示すようにベース温調機構４１８がない場合、筐体内流路入口４０９、筐体内流路出口４１０から３７℃の恒温液が出入りするが、ベース４０６の外気への露出面４２２が２７℃の外気に接しているので、ベース４０６の温度は３６℃である。すなわち、図８Ａに示すベース温調機構４１８がある場合の方が、図８Ｂに示すベース温調機構４１８がない場合よりも、ベース４０６の温度を水温程度の高い温度まで予熱することができる。その結果、ベース温調機構４１８がある場合はベース温調機構４１８がない場合と比較して、発光ダイオード点灯後に温度が安定するまでに要する時間を短縮することができる。

＜効果２（放熱性能良いので立上時間早い）＞
図９Ａは、発光ダイオード点灯後の時間経過に伴う、基板４０２の温度変化を示す図である。図９Ａに示すように、ベース温調機構なし（点線）、ベース温調機構あり（実線）、ともに、基板４０２の温度は発光ダイオード点灯した時間（０秒）から時間経過とともに上昇する。ある程度時間が経過すると、基板４０２の温度は定常に達し、ベース温調機構なし（点線）の場合では４８℃、ベース温調機構あり（実線）の場合では４３℃でそれぞれ安定する。この温度差はベース温調機構４１８の放熱効果によるものと考えられる。

図９Ｂは、図９Ａに示す基板４０２の温度変動の、１０分間の標準偏差を示す図である。基板温度の１０分間の標準偏差は、発光ダイオード点灯後に基板４０２の温度が速やかに定常温度に到達したかどうかを判断する指標である。すなわち、基板温度の１０分間の標準偏差の低下時間が早いと、基板温度が速やかに定常温度に到達したことを意味する。この基板温度の１０分間の標準偏差は、発光ダイオード電源の投入後から時間経過とともに低下し、０．０１℃程度まで低下すると、発光ダイオードの光量や波長も安定することがわかっている。

図９Ｂに示すように１０分間の標準偏差が０．０１℃程度まで低下するのに要する時間は、ベース温調機構なし（点線）の場合で１２００秒程度であるのに対し、ベース温調機構あり（実線）の場合で１４０秒程度である。すなわち、ベース温調機構４１８があるほうが、時間短縮することができる。これは、定常温度が低いほうがより早く定常温度に達することによるものと考えられる。

＜効果３（水温支配のため温度変動小）＞
図１０は、発光ダイオードユニット１２０の周囲温度の時間変化を示す。図１０が示すように、周囲温度は２℃程度変動する場合がある。

図１１は、図１０に示す温度環境下で発光ダイオード４０５を点灯させた場合における基板４０２温度の経時変化を示す図である。ベース温調機構なし（点線）では、基板温度は０．０３５℃変動してしまうのに対し、ベース温調機構あり（実線）では、基板温度は０．０１５℃の変動に抑えることができる。

＜本発明のまとめ＞
本発明に係る自動分析装置１００は、筐体内温調機構４０７によって温調された恒温空間内にベース４０６を配置し、さらにベース温調機構４１８によって発光ダイオード４０５、基板４０２、ベース４０６を予熱することができる。また、ベース温調機構４１８を設置することにより、発光ダイオード４０５に電源を投入した後の発光ダイオード４０５、基板４０２、ベース４０６の放熱性能が向上し、ベース温調機構４１８がない場合よりも、発光ダイオード４０５の温度を低くすることができる。これにより、（１）電源を投入してから光量が安定するまでに要する時間を短くすることができる。また、ベース４０６はベース温調機構４１８によって温調されるとともに、筐体内温調機構４０７によって温調された恒温空間に配置されているので、外気温変動の影響を受けない。したがって、（２）外気温が変動した場合でも、発光ダイオードの発光効率の変動を抑制することができる。

１００…自動分析装置、１０１…搬送ライン、１０２…ローター、１０３…試薬ディスク、１０４…反応ディスク、１０５…分注機構、１０６…攪拌機構、１０７…分光器、１０８…反応セル洗浄機構、１０９…ノズル洗浄機構、１１０…検体容器、１１１…検体ラック、１１２…反応セル、１１３…試薬容器、１１４…シールド部、１１５…制御部、１１６…ノズル、１１７…液面センサ、１１８…アーム、１１９…分注機構用モーター、１２０…発光ダイオードユニット、１２１…検体分注位置、１２２…試薬分注位置、１２３…入力部、１２４…表示部、４０１…筐体、４０２…基板、４０４…光軸、４０５…発光ダイオード、４０６…ベース、４０７…筐体内温調機構、４０８…筐体内空間、４０９…筐体内流路入口、４１０…筐体内流路出口、４１１…筐体内流路、４１８…ベース温調機構、４１９…ベース温調機構流路、４２０…ベース温調機構流路入口、４２１…ベース温調機構流路出口、４２２…露出面、４３０…基板温調機構

Claims (15)

1. 試料に対して光を照射することにより前記試料中の測定対象物質を分析する分析装置であって、
   前記光を出射する発光素子、
   前記発光素子を載置する基板、
   前記基板を支持するベース、
   前記発光素子と前記基板を収容する筐体、
   前記筐体の内部を温調する筐体内温調機構、
   前記ベースを温調するベース温調機構、
   を備え、
   前記ベース温調機構は、前記ベースが外気に対して露出しないように前記ベースを覆っており、
   前記ベース温調機構は、前記ベースに対して接触することにより前記ベースを直接温調する
   ことを特徴とする分析装置。
2. 前記ベースは、前記筐体に対して着脱可能に構成されている
   ことを特徴とする請求項１記載の分析装置。
3. 前記筐体は、前記発光素子と前記基板を収容する筐体内部空間を有し、
   前記発光素子と前記基板は、前記ベースと前記筐体によって前記筐体内部空間のなかに封止されている
   ことを特徴とする請求項１記載の分析装置。
4. 前記筐体は、第１比熱および第１熱伝導率を有し、
   前記筐体内温調機構は、前記第１比熱よりも小さい第２比熱を有するとともに、前記第１熱伝導率よりも大きい第２熱伝導率を有する
   ことを特徴とする請求項１記載の分析装置。
5. 前記ベース温調機構は、前記ベースに対して着脱可能に構成されているとともに前記筐体に対して着脱可能に構成されている
   ことを特徴とする請求項１記載の分析装置。
6. 前記ベース温調機構は、前記筐体に対して着脱可能に取り付けられることにより、前記ベースが外気に対して露出しないように前記ベースを覆う
   ことを特徴とする請求項１記載の分析装置。
7. 前記ベース温調機構は、前記ベース温調機構を前記筐体に対して取り付けるとき前記ベースを覆うように構成されており、
   前記ベース温調機構は、前記ベース温調機構を前記筐体から取り外すとき前記ベースからも取り外されるように構成されている
   ことを特徴とする請求項１記載の分析装置。
8. 前記ベース温調機構の内部には、温調のために用いる恒温液が流れる流路が形成されており、
   前記ベースは、第３比熱および第３熱伝導率を有し、
   前記ベース温調機構は、前記第３比熱よりも大きい第４比熱を有するとともに、前記第３熱伝導率よりも小さい第４熱伝導率を有する
   ことを特徴とする請求項１記載の分析装置。
9. 前記筐体内温調機構の内部には、温調のために用いる恒温液が流れる流路が形成されており、
   前記筐体は、第５比熱および第５熱伝導率を有し、
   前記筐体内温調機構は、前記第５比熱よりも大きい第６比熱を有するとともに、前記第５熱伝導率よりも小さい第６熱伝導率を有する
   ことを特徴とする請求項１記載の分析装置。
10. 前記ベース温調機構は、ペルチェ素子を用いて温調を実施するように構成されており、
    前記ベースは、第７比熱および第７熱伝導率を有し、
    前記ベース温調機構は、前記第７比熱以下の第８比熱を有するとともに、前記第７熱伝導率以上の第８熱伝導率を有する
    ことを特徴とする請求項１記載の分析装置。
11. 前記筐体内温調機構は、ペルチェ素子を用いて温調を実施するように構成されており、
    前記筐体は、第９比熱および第９熱伝導率を有し、
    前記筐体内温調機構は、前記第９比熱以下の第１０比熱を有するとともに、前記第９熱伝導率以上の第１０熱伝導率を有する
    ことを特徴とする請求項１記載の分析装置。
12. 前記分析装置はさらに、前記基板を温調する基板温調機構を備える
    ことを特徴とする請求項１記載の分析装置。
13. 前記基板温調機構は、
    温調のために用いる恒温液が流れる流路を有し、
    または、
    ペルチェ素子によって温調を実施する、
    のうち少なくともいずれかによって構成されている
    ことを特徴とする請求項１２記載の分析装置。
14. 前記筐体内温調機構と前記ベース温調機構のうち少なくともいずれかは、前記発光素子が発光していない期間において、前記発光素子を予熱する
    ことを特徴とする請求項１記載の分析装置。
15. 前記基板、前記ベース、および前記ベース温調機構は、前記発光素子が発光することによって生じる熱が、前記基板、前記ベース、および前記ベース温調機構を介して放熱されるように構成されている
    ことを特徴とする請求項１記載の分析装置。

Images