CN116762001A - 光源及自动分析装置 - Google Patents

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安藤贵洋
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Abstract

提供一种使光源的发光元件的温度恒定，并具有高精度的分析性能的自动分析装置。构成一种自动分析装置用光源，其具备：具有光源的基板；对所述光源进行温度调整的温度调整部；向外部发出来自所述光源的光的第一光学元件；以及覆盖所述光源的部件，按照所述温度调整部、所述基板、所述部件、所述第一光学元件的顺序进行配置，以收纳在所述部件的方式组装所述光学元件，通过所述温度调整部，使所述光源、所述部件、所述光学元件处于相同的温度控制下。

Description

光源及自动分析装置
技术领域
本发明涉及自动分析装置用光源以及使用该光源的自动分析装置。
背景技术
在用于分析生物试样中所含的成分量的自动分析装置中，一般使试样与试剂混合，基于吸光、荧光、发光等光学特性来分析检查项目。近年来，作为吸光分析的光源，正在研究被期待长寿命的发光二极管(以下称为LED)。例如，专利文献1记载了通过滤光器将卤素灯光和LED的紫外光进行合波的结构。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2018-105739号公报
发明内容
发明所要解决的课题
在自动分析装置的吸光分析中，为了使光源的光量恒定，需要使发光元件的温度恒定。在专利文献1中，示出了对LED的封装下表面进行冷却以及使其恒温的结构，但未考虑LED的上表面侧的环境温度的影响。
因此，本发明的目的在于提供一种使发光元件的温度恒定且具有高精度的分析性能的光源以及使用该光源的自动分析装置。
用于解决课题的手段
为了实现上述目的，本发明提供一种光源，其具备：基板，其载放发光元件；温度调整部，其配置为与所述基板的与载放所述发光元件的第一侧面相反的第二侧面相接触，对所述发光元件进行温度调整；第一光学元件，其使所述发光元件发出的光向外部透射；以及组装在所述温度调整部，并且覆盖所述发光元件以及所述基板的部件，所述部件在来自所述发光元件的光经过的区域具备孔部，以收纳在所述孔部中的方式组装所述第一光学元件。
另外，为了实现上述目的，在本发明中，提供一种自动分析装置，其具备：光源；反应池，其被照射来自所述光源的光；分光器，其对来自所述反应池的光进行分光；以及光量测定部，其测定来自所述分光器的光，所述光源具备：基板，其载放发光元件；温度调整部，其配置为与所述基板的与载放所述发光元件的第一侧面相反的第二侧面相接触，对所述发光元件进行温度调整；第一光学元件，其使所述发光元件发出的光向外部透射；以及组装在所述温度调整部，并且覆盖所述发光元件以及所述基板的部件，所述部件在来自所述发光元件的光经过的区域具备孔部，以收纳在所述孔部中的方式组装所述第一光学元件。
发明效果
根据本发明，能够提供使发光元件的温度恒定且具有高精度的分析性能的光源以及使用了该光源的自动分析装置。
附图说明
图1是生物化学检查用的自动分析装置的一例的概略图。
图2是自动分析装置的吸光度测定部的一结构例的图。
图3是实施例1中的光源部的一个结构例的图。
图4是实施例1中的光源部的一结构例的立体图。
图5是实施例2中的光源部的一结构例的图。
图6是实施例2中的光源部的一结构例的图。
图7是实施例3中的光源部的结构例的图。
具体实施方式
以下，根据附图，对用于实施本发明的方式进行说明。在本说明书中，“光学元件”除了指透镜、扩散板之外，还指二向色滤光器等滤光器、反射板等。
[实施例1]
图1是表示实施例的生物化学检查用的自动分析装置100的整体结构的概略图。自动分析装置100是通过对试样照射光而进行各种测定的装置。自动分析装置10具备样品盘103、试剂盘106、反应盘(恒温箱)109、分注机构、控制电路201、光量测定电路202、数据处理部203、输入部204、输出部205。分注机构在盘之间使样品和试剂移动到反应盘。控制电路201控制各盘和分注机构，光量测定电路202测定反应溶液的吸光度。数据处理部203处理由光量测定电路202测定出的数据。输入部204和输出部205是与数据处理部203的接口。分注机构具备样品分注机构110和试剂分注机构111。
数据处理部203具备信息记录部2031和解析部2032。信息记录部2031由存储器等构成，用于存储控制数据、测定数据、用于数据解析的数据、解析结果数据等。数据处理部203也可以使用由中央处理部(CPU)等构成的计算机来实现。
在样品盘103的圆周上配置有多个样品101的收容容器即样品杯102。样品101例如是血液。在试剂盘106的圆周上配置有多个试剂104的收容容器即试剂瓶105。在反应盘109的圆周上配置有多个使样品101与试剂104混合后的反应溶液107的收容容器即反应池108(反应容器)。
样品分注机构110是在从样品杯102向反应池108移动一定量的样品101时使用的机构。样品分注机构110例如由以下构成：喷出或吸引溶液的喷嘴、将喷嘴定位以及输送至预定位置的机器人、将溶液从喷嘴喷出或吸引至喷嘴的泵、以及将喷嘴与泵相连的流路。
试剂分注机构111是在从试剂瓶105向反应池108移动一定量的试剂104时使用的机构。试剂分注机构111例如也由以下构成：喷出或吸引溶液的喷嘴、将喷嘴定位以及输送至预定位置的机器人、将溶液从喷嘴喷出或吸引至喷嘴的泵、以及连接喷嘴与泵的流路。
搅拌部112是在反应池108内搅拌样品101和试剂104使其混合的机构部。清洗部114是从分析处理结束后的反应池108排出反应溶液107，然后清洗反应池108的机构部。
在反应盘109，反应池108浸泡在进行了控温的恒温槽内的恒温流体115中。由此，反应池108以及其中的反应溶液107在通过反应盘109移动的过程中也通过控制电路201将其温度保持为恒定温度。恒温流体115例如使用水或空气。在反应盘109的圆周上的一部分配置用于执行对样品101的吸光分析的吸光度测定部(吸光光度计)113。
图2是表示吸光度测定部113的一结构例的图。从光源部301产生的照射光沿着光轴401射出，由聚光透镜403聚光并照射到反应池108。此时，为了使光的照射面内光量分布均匀，有时配置光源侧狭缝402，限制来自光源部301的出射光的宽度。
透射了反应池108中的反应溶液107的光被分光器302中的衍射光栅3021分光，并由具备多个受光器的检测器阵列3022接收。此时，未透射反应溶液107的光成为噪声，因此为了防止这样的杂散光进入分光器302，有时配置分光器侧狭缝404。作为一个例子，检测器阵列3022接收的测定波长有340nm、376nm、405nm、415nm、450nm、480nm、505nm、546nm、570nm、600nm、660nm、700nm、750nm、800nm等。这些受光器的受光信号通过光量测定电路202发送到数据处理部203的信息记录部2031。
样品101中含有的蛋白质、糖、脂质等成分量的计算通过以下的顺序来执行。首先，控制电路201通过样品分注机构110向反应池108分注样品杯102内的一定量的样品101。接着，控制电路201通过试剂分注机构111向反应池108分注试剂瓶105内的一定量的试剂104。
在分注各溶液时，控制电路201通过分别对应的驱动部旋转驱动样品盘103、试剂盘106、反应盘109。此时，样品杯102、试剂瓶105、反应池108根据分别对应的分注机构的驱动定时而被定位在预定的分注位置。
通过反应盘109的旋转，收容反应溶液107的反应池108经过配置有吸光度测定部113的测定位置。每次经过测定位置时，经由吸光度测定部113测定来自反应溶液107的透射光量。将测定数据依次输出到信息记录部2031，作为反应过程数据而被积蓄。
在积蓄该反应过程数据的期间，如果需要，则通过试剂分注机构111向反应池108追加分注其他试剂104，并进一步进行一定时间的测定。由此，将以一定的时间间隔取得的反应过程数据存储在信息记录部2031。
图3是表示本实施例的光源即光源部301的一结构例的图。在LED安装基板503上安装有第一LED501和第二LED502。吸光分析需要宽带波长。例如为340～800nm。因此，通过将多个不同波长的LED光进行合波而实现宽带波长。
在本实施例中，如图3所示，在第一LED501的光路上以入射角45°设置二向色滤光器507，在第二LED502的光路上以入射角45°设置反射板508。从第二LED502射出的光从反射板508向二向色滤光器507进行了两阶段反射后，与第一LED501射出的光进行合波，以光轴401的路径入射到分光器302。
LED安装基板503向第一LED501和第二LED502供给电力，LED安装基板503与温度调整部505相接触，具有使LED元件和温度调整部505的温度平衡化的作用。覆盖LED的部件504与温度调整部505接触，使LED元件的周围恒温，抑制LED的自发热等引起的LED发光元件的温度变化。如该图的上部、下部分别所示，部件504从与温度调整部505的组装面不具有突出部而平坦地构成。
另外，通过安装了LED的基板503、覆盖LED的部件504，起到隔断LED元件的环境温度变化的影响的作用。从热传导率的观点出发，LED安装基板503、覆盖LED的部件504优选由以铝或铜那样的热传导率高的金属为基材的材料构成。但是，在今后的技术改革中开发了具有相当于金属的热传导率的树脂等基材的情况下也包含该基材。
通过在第一LED501的光轴上配置作为第一光学元件的透镜，增大从LED向反应池108的光照射面入射的光量，通过扩大LED光的光源像，能够使照射面内的光量分布均匀。透镜包括球透镜和半球透镜等。在本实施例中，使用半球透镜509。
如图4的立体图所示，将作为第一光学元件的半球透镜509以收纳在覆盖LED的部件504中的方式，通过具有一对螺钉的固定用部件511安装在第一LED501的光轴上。通过将半球透镜509设置在覆盖LED的部件504中，能够将半球透镜509温度控制在恒定温度，减轻热变形的影响。
为了在本实施例的自动分析装置100的吸光分析中进行高精度的分析，需要在反应池108的光照射面内使第一LED501和第二LED502的光量分布均匀化。但是，为了使光量分布均匀化，要求高精度的设计公差。例如为第一LED501与第二LED502的安装位置和间隔、保持二向色滤光器507和反射板508的部件等的公差。
因此，在本实施例中，使第二LED的出射光扩散，由此在二向色滤光器507和反射板508进行了两阶段反射之后，使入射到反应池108的第二LED502的出射光的光量分布均匀化。因此，为了使光扩散，通过固定用部件511在第二LED502的光轴上将作为第二光学元件的扩散板510安装在覆盖第二LED502的部件504。
此外，在本实施例中，作为第一光学元件、第二光学元件，示出了在第一LED的光轴上配置透镜，在第二LED的光轴上配置扩散板的结构，但也可以是在第一LED的光轴上配置扩散板，在第二LED的光轴上配置透镜的结构，或在两个LED的光轴上配置透镜的结构，或在两个LED的光轴上配置扩散板的结构。
本实施例的在温度调整部505设定的温度例如设为37℃。按照在温度调整部505的内部、LED安装基板503的附近设置的温度传感器506取得的温度来控制温度调整部505，由此将各LED元件保持为恒定温度。温度传感器506例如能够由热敏电阻、热电偶、测温电阻体等构成。
作为温度调整部505，例如能够使用流过恒温流体的金属块或珀耳帖元件。在珀耳帖元件的情况下，通过温度传感器506的反馈控制，能够经由控制电路201将温度调整部505的LED侧即LED安装基板503的背面控制为例如37±0.01℃左右。
即，在最优选的实施例1中，构成光源以及利用了该光源的自动分析装置，该光源具备：基板，其具有发光元件；温度调节部，其对发光元件进行温度调节；第一光学元件，其向外部发出来自发光元件的光；以及金属部件，其覆盖发光元件，按照温度调节部、基板、金属部件、第一光学元件的顺序进行配置，第一光学元件以收纳在金属部件的方式进行组装，通过温度调节部，使发光元件、金属部件、第一光学元件处于相同的温度控制下。
根据以上说明的实施例1的光源以及自动分析装置的结构，第一LED501的元件温度与第二LED502的元件温度在一定范围内相等，在自动分析装置100实施2波长测定法时能够进行高精度的定量分析。
[实施例2]
在实施例1中，示出了在LED安装基板503上安装两个LED的方式的光源。所安装的LED的数量没有限定，透镜、扩散板的数量也没有限定。图5是实施例2的自动分析装置100所具备的光源部301的一个结构例。在本实施例中，表示了在LED安装基板503上安装三个LED501、502、503，且没有配置作为第一光学元件的透镜和作为第二光学元件的扩散板的方式。其他结构与实施例1相同。
如上所述，吸光分析需要宽带波长，但根据本实施例，通过利用波长不同的三个LED，容易得到宽带波长，能够实现光量的增大。
另外，合成后的光不需要与第一LED的光平行地射出。例如，可以如图6那样将合成后的光由反射板508反射而形成任意的光路。
[实施例3]
在实施例1中，示出了组装半球透镜509使其收纳在覆盖LED的部件504中，并温度控制为恒定温度的方式，但在覆盖LED的部件504中组装的光学元件不限于半球透镜，可以包含各种光学元件、光学部件。例如，作为其他光学部件，可以使用二向色滤光器或反射板。
图7表示实施例3的光源部的一结构例，除了第一LED501、第二LED502、LED安装基板503以外，还能够在覆盖LED的部件504组装二向色滤光器507、反射板508，并温度控制为恒定温度。
本公开不限于以上说明的实施例，还包括各种变形例。例如，上述实施例是为了容易理解地说明本发明而详细说明的实施例，并不限定于必须具备所说明的全部结构。另外，能够将某实施例的一部分结构置换为其他实施例的结构，另外，也能够对某实施例的结构追加其他实施例的结构。另外，对于各实施例的一部分结构，也能够追加、删除、置换其他实施例中包含的结构。
附图标记的说明
100:自动分析装置
101:样品
102:样品杯
103:样品盘
104:试剂
105:试剂瓶
106:试剂盘
107:反应溶液
108:反应池
109:反应盘
110:样品分注机构
111:试剂分注机构
112:搅拌部
113:吸光度测定部
114:清洗部
115:恒温流体
201:控制电路
202:光量测定电路
203:数据处理部
2031:信息记录部
2032:解析部
204:输入部
205:输出部
301:光源部
302:分光器
3021:衍射光栅
3022:检测器阵列
401:光轴
402:光源侧狭缝
403:聚光透镜
404:分光器侧狭缝
501:第一LED
502:第二LED
503:LED安装基板
504:覆盖LED的部件
505:温度调整部
506:温度传感器
507:二向色滤光器
508:反射板
509:半球透镜
510:扩散板
511:固定用部件
512:第三LED。

Claims (11)

1.一种光源，其特征在于，具备：
基板，其载放发光元件；
温度调整部，其以与所述基板的与载放所述发光元件的第一侧面相反的第二侧面相接触的方式对所述发光元件进行温度调整；
第一光学元件，其使所述发光元件发出的光向外部透射；以及
组装在所述温度调整部，并且覆盖所述发光元件以及所述基板的部件，
所述部件在来自所述发光元件的光经过的区域具备孔部，以收纳在所述孔部中的方式组装所述第一光学元件。
2.根据权利要求1所述的光源，其特征在于，
所述基板在所述第一侧面上载放第一发光元件和第二发光元件，并且具备使所述第一发光元件发出的光向外部透射的所述第一光学元件、以及使所述第二发光元件发出的光向外部透射的第二光学元件，
所述孔部由来自所述第一发光元件的光经过的区域的第一孔部和来自所述第二发光元件的光经过的区域的第二孔部构成，
以收纳在所述第一孔部中的方式组装所述第一光学元件，以收纳在所述第二孔部中的方式组装所述第二光学元件，
所述光源还具备合波部，该合波部对透射了所述第一光学元件的光和透射了所述第二光学元件的光进行合波。
3.根据权利要求1所述的光源，其特征在于，
所述基板的材质是导热性高的铝或铜。
4.根据权利要求1所述的光源，其特征在于，
所述部件从所述部件与所述温度调整部的组装面不具有突出部。
5.根据权利要求2所述的光源，其特征在于，
组装所述部件，使得收纳所述第一光学元件、所述第二光学元件以及所述合波部。
6.根据权利要求2或5所述的光源，其特征在于，
所述第一光学元件是透镜，所述第二光学元件是扩散板。
7.一种自动分析装置，其具备：
光源；
反应池，其被照射来自所述光源的光；
分光器，其对来自所述反应池的光进行分光；以及
光量测定部，其测定来自所述分光器的光，
其特征在于，
所述光源具备：
基板，其载放发光元件；
温度调整部，其被配置为与所述基板的与载放所述发光元件的第一侧面相反的第二侧面相接触，对所述发光元件进行温度调整；
第一光学元件，其使所述发光元件发出的光向外部透射；以及
组装在所述温度调整部，并且覆盖所述发光元件以及所述基板的部件，
所述部件在来自所述发光元件的光经过的区域具备孔部，
以收纳在所述孔部中的方式组装所述第一光学元件。
8.根据权利要求7所述的自动分析装置，其特征在于，
所述基板在所述第一侧面上载放第一发光元件和第二发光元件，并且具备使所述第一发光元件发出的光向外部透射的所述第一光学元件、以及使所述第二发光元件发出的光向外部透射的第二光学元件，
所述孔部由来自所述第一发光元件的光经过的区域的第一孔部和来自所述第二发光元件的光经过的区域的第二孔部构成，
以收纳在所述第一孔部中的方式组装所述第一光学元件，以收纳在所述第二孔部中的方式组装所述第二光学元件，
所述光源还具备合波部，该合波部对透射了所述第一光学元件的光和透射了所述第二光学元件的光进行合波。
9.根据权利要求7所述的自动分析装置，其特征在于，
所述基板的材质是导热性高的铝或铜。
10.根据权利要求7所述的自动分析装置，其特征在于，
所述部件从所述部件与所述温度调整部的组装面不具有突出部。
11.根据权利要求8所述的自动分析装置，其特征在于，
组装所述部件，使得收纳所述第一光学元件、所述第二光学元件以及所述合波部。
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JP2024046884A (ja) * 2022-09-26 2024-04-05 株式会社日立ハイテク 分析装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005340392A (ja) 2004-05-25 2005-12-08 Matsushita Electric Works Ltd 光照射装置
DE102007038943A1 (de) * 2007-08-17 2009-02-19 Siemens Ag Laserlichtquelle mit wenigstens zwei Einzel-Lasern
JP2009064986A (ja) 2007-09-06 2009-03-26 Panasonic Electric Works Co Ltd 光源装置
US8845134B2 (en) 2010-03-05 2014-09-30 Nec Corporation Cooling system for light emitting device and light emitting device using the same
JP5791988B2 (ja) * 2011-07-25 2015-10-07 株式会社レクザム 全反射蛍光観察装置
JP6637407B2 (ja) * 2016-12-27 2020-01-29 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP6850738B2 (ja) * 2018-01-10 2021-03-31 富士フイルム株式会社 レーザ光源ユニットおよび光音響装置
JP7217668B2 (ja) * 2019-05-27 2023-02-03 株式会社日立ハイテク 光源および生化学分析装置
JP7291063B2 (ja) * 2019-11-20 2023-06-14 株式会社日立ハイテク 自動分析装置

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