JP2024044801A - マイクロコントローラ及び電子回路 - Google Patents
マイクロコントローラ及び電子回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2024044801A JP2024044801A JP2022150550A JP2022150550A JP2024044801A JP 2024044801 A JP2024044801 A JP 2024044801A JP 2022150550 A JP2022150550 A JP 2022150550A JP 2022150550 A JP2022150550 A JP 2022150550A JP 2024044801 A JP2024044801 A JP 2024044801A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- signal
- reset
- mcu
- abnormality detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 74
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 61
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 26
- 230000002547 anomalous effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/14—Error detection or correction of the data by redundancy in operation
- G06F11/1402—Saving, restoring, recovering or retrying
- G06F11/1415—Saving, restoring, recovering or retrying at system level
- G06F11/1441—Resetting or repowering
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/0751—Error or fault detection not based on redundancy
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/3058—Monitoring arrangements for monitoring environmental properties or parameters of the computing system or of the computing system component, e.g. monitoring of power, currents, temperature, humidity, position, vibrations
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
- H03K17/082—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit
- H03K17/0828—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit in composite switches
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/51—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
- H03K17/56—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
- H03K17/567—Circuits characterised by the use of more than one type of semiconductor device, e.g. BIMOS, composite devices such as IGBT
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2201/00—Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
- G06F2201/805—Real-time
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
- H03K2017/0806—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage against excessive temperature
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Microcomputers (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
【課題】MCUの装置外の外部回路の動作をMCUの内部回路により制御する際に、CPUによるソフトウェアリセットを実行することができず、電圧検出回路では検出することができないような異常状態が発生した場合でもMCU全体をリセットすることができるようにする。【解決手段】PWM制御回路14は、外部回路20の動作を制御するとともに外部の異常検出回路30から異常検出信号103が入力されると動作を停止する。電圧検出回路11は、電源電圧の電圧値の変化を検出してハードウェアリセット信号101を生成して出力するように構成されている。リセット回路12は、電圧検出回路11からのハードウェアリセット信号101、CPU13からのソフトウェアリセット信号102、及び、異常検出信号103のいずれかがアクティブ、つまりロウレベルになると、デバイス全体をリセットするためのリセット信号104を出力する。【選択図】図2
Description
本発明は、マイクロコントローラ及び電子回路に関する。
一般に、マイクロコントローラ(又はマイクロコントローラユニット:以降、MCUと呼ぶ)は、CPUと周辺回路とが半導体集積回路として構成され、様々なシステムの動作を制御するために使用される。このMCUは、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)を有する外部回路を接続した状態で使用される場合がある。この場合には、MCUはIGBTを制御するためにPWM(Pulse Width Modulation)制御回路を内部に構成して、このPWM制御回路から出力されるPWM信号によりIGBTの動作を制御する。
このような構成のシステムにおいて、何等かの要因でIGBTに異常電流が流れてしまう可能性がある。そして、IGBTに異常電流が流れた状態で制御を続けるとIGBTが故障してしまう。このような事態の発生を防ぐために、PWM制御回路には緊急停止という機能が付加される場合がある。このような場合、MCUの外部に、IGBTの異常状態を検出するための異常検出回路を設け、この異常検出回路からの異常検出信号をPWM制御回路に入力するようにすれば、IGBTが異常状態になると緊急停止機能が働き、PWM制御回路の動作を停止して、PWM信号の出力を停止させることができる。
例えば、特許文献1には、温度センサから出された過熱検知信号及び電流センサから出力された過電流検知信号に基づきIGBTが破壊する閾値を超過したと判定した場合にはCPUにアラーム信号を伝送する保護機能付きゲートドライバICと、このアラーム信号を受け取ると、ゲートドライブ用PWM信号の生成を停止することによりIGBTに流れる電流を遮断するCPUとから構成された回路構成が開示されている。
なお、システムによっては、異常状態を検出したときにPWM信号の出力を停止するだけではなく、MCU全体をリセットすることが要求される場合がある。これは、異常状態によって、MCUの内部状態が正常であることが保証できない可能性があり、MCU全体をリセットすることで、安全な状態に移行させる必要があるからである。
そして、MCUでは、電源電圧の電圧値に基づくハードウェアリセットだけでなく、CPUによるソフトウェアリセット等の様々な経路によるリセットが行われる。
例えば、特許文献2には、内部に有する複数の機能ブロック毎にリセットレジスタを設け、CPUが各リセットレジスタにデータの書込みを行うことにより、各機能ブロックのリセットを個別に制御可能となるように構成されたマイクロコンピュータが開示されている。
上述したように、MCUの外部回路において何等かの異常状態が発生した場合に、発生した異常状態を検出してから、MCU全体をリセットするには、ソフトウェアにてMCU全体をリセットさせることが考えられる。また、異常状態により電源電圧が変化する場合は、MCU内部の電圧検出回路により電源電圧の変動を検出してMCU全体をリセットする方法も考えられる。
しかし、上述したような状態において、CPUのソフトウェアによりMCU全体のリセットをする場合、異常状態を検出してからリセットするまでの間においてソフトウェアが正常に動作していることが前提となっている。そのため、異常状態が発生することで、ソフトウェアの動作自体が異常となった場合には、MCU全体のリセットができないという問題点がある。
また、電圧検出回路などで電源電圧の異常を検出してMCU全体をリセットする場合、電圧検出回路の特性によっては、瞬間的な異常状態を検出できない場合があり、MCU全体のリセットができないという問題点がある。
本発明の目的は、マイクロコントローラの装置外の外部回路の動作をマイクロコントローラの内部回路により制御する際に、CPUによるソフトウェアリセットを実行することができず、電圧検出回路では検出することができないような異常状態が発生した場合でもマイクロコントローラ全体をリセットすることが可能なマイクロコントローラ及び電子回路を提供することである。
上記課題を解決するため、本発明のマイクロコントローラは、外部回路の動作を制御するとともに外部から異常検出信号が入力されると動作を停止してCPUにより制御される内部回路と、
電源電圧の電圧値の変化を検出してハードウェアリセット信号を生成して出力する電圧検出回路と、
前記電圧検出回路からのハードウェアリセット信号、前記CPUからのソフトウェアリセット信号、及び、前記異常検出信号のいずれかがアクティブになると、デバイス全体をリセットするためのリセット信号を出力するリセット回路とを備えている。
電源電圧の電圧値の変化を検出してハードウェアリセット信号を生成して出力する電圧検出回路と、
前記電圧検出回路からのハードウェアリセット信号、前記CPUからのソフトウェアリセット信号、及び、前記異常検出信号のいずれかがアクティブになると、デバイス全体をリセットするためのリセット信号を出力するリセット回路とを備えている。
また、上記課題を解決するため、本発明の電子回路は、CPUを含むマイクロコントローラと、
前記マイクロコントローラの外部に設けられた外部回路と、
前記外部回路における異常状態を検出して異常検出信号を生成する異常検出回路と、
を備え、
前記マイクロコントローラは、前記外部回路の動作を制御するとともに前記異常検出回路から異常検出信号が入力されると動作を停止して前記CPUにより制御される内部回路と、電源電圧の電圧値の変化を検出してハードウェアリセット信号を生成して出力する電圧検出回路と、前記電圧検出回路からのハードウェアリセット信号、前記CPUからのソフトウェアリセット信号、及び、前記異常検出信号のいずれかがアクティブになると、デバイス全体をリセットするためのリセット信号を出力するリセット回路とを有する。
前記マイクロコントローラの外部に設けられた外部回路と、
前記外部回路における異常状態を検出して異常検出信号を生成する異常検出回路と、
を備え、
前記マイクロコントローラは、前記外部回路の動作を制御するとともに前記異常検出回路から異常検出信号が入力されると動作を停止して前記CPUにより制御される内部回路と、電源電圧の電圧値の変化を検出してハードウェアリセット信号を生成して出力する電圧検出回路と、前記電圧検出回路からのハードウェアリセット信号、前記CPUからのソフトウェアリセット信号、及び、前記異常検出信号のいずれかがアクティブになると、デバイス全体をリセットするためのリセット信号を出力するリセット回路とを有する。
本発明によれば、マイクロコントローラの装置外の外部回路の動作をマイクロコントローラの内部回路により制御する際に、CPUによるソフトウェアリセットを実行することができず、電圧検出回路では検出することができないような異常状態が発生した場合でもマイクロコントローラ全体をリセットすることができる。
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
まず、本実施形態におけるMCUについて説明する前に、本発明による構成を採用しない場合のマイクロコントローラ(以下MCUと略す。)100を含む電子回路の回路構成を図1に示す。
この図1に示したMCU100は、電圧検出回路11と、リセット回路112と、CPU13と、PWM(パルス幅変調)制御回路14とを備えている。そして、MCU100の外部には、外部回路20と、異常検出回路30とが設けられている。
外部回路20は、MCU100の外部に設けられており、パワー半導体デバイスであるIGBT(絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ)を有している。
異常検出回路30は、外部回路20における異常状態を検出して異常検出信号103を生成するように構成されている。具体的には、異常検出回路30は、外部回路20における電流異常、電圧異常、及び、温度異常のうちのいずれかを検出した場合に、異常検出信号103を生成して出力する。
PWM制御回路14は、CPU13からの出力信号に基づいて、外部回路20の動作を制御するとともに外部の異常検出回路30から異常検出信号103が入力されると動作を停止してCPU13により制御されるように構成された内部回路である。なお、PWM制御回路14は、外部回路20の素子であるIGBTの動作を制御するためのPWM信号を生成するための回路である。
CPU13は、MCU10の動作を制御しており、外部回路20のIGBTのオンオフを制御するための出力信号を生成してPWM制御回路14に出力する。また、CPU13は、MCU100をソフトウェアによりリセットする場合には、ソフトウェアリセット信号102を出力する。
電圧検出回路11は、電源電圧の電圧値の変化を検出してハードウェアリセット信号101を生成して出力するように構成されている。
なお、本実施形態では、ハードウェアリセット信号101、ソフトウェアリセット信号102、異常検出信号103、及び、リセット信号104のいずれもがロウアクティブの信号である場合について説明する。ここで、ロウアクティブの信号とは、ロウレベルの場合にリセットが行われるような負論理の信号であることを意味する。
リセット回路112は、電圧検出回路11からのハードウェアリセット信号101、又はCPU13からのソフトウェアリセット信号102のどちらかがアクティブ、つまりロウレベルになると、デバイス全体をリセットするためのリセット信号104を出力する。
図1に示したMCU100は、上記で説明したような回路構成となっていることにより、異常検出回路30が外部回路20における異常状態を検出すると、異常検出信号103が出力され、PWM制御回路14は緊急停止機能が働いて動作停止状態となる。その結果、外部回路20におけるIGBTの破壊が防がれることになる。
また、MCU100の電源電圧が降下した場合には、電圧検出回路11が電源電圧の降下を検出して、ハードウェアリセット信号101が出力されるため、MCU100は動作停止状態となる。
さらに、CPU13がMCU100全体をリセットすべきと判定した場合には、ソフトウェアリセット信号102が出力されるため、MCU100はリセットされて初期化されることになる。
次に、本発明の一実施形態のMCU10を含む電子回路の回路構成を図2に示す。本実施形態におけるMCU10は、図1に示したMCU100と同様に、CPU13と周辺回路とが半導体集積回路として構成されている。
なお、図2においては、図1に示した構成と同じ動作を行う構成については同じ符号を付してその説明は省略する。
本実施形態のMCU10では、図1に示したMCU100に対して、リセット回路112がリセット回路12に置き換えらえた点が異なっている。
そして、本実施形態におけるリセット回路12には、ハードウェアリセット信号101、ソフトウェアリセット信号102だけでなく、異常検出回路30からの異常検出信号103も入力されている点が、リセット回路112とは異なっている。
図1に示したような回路構成のMCU100においても、外部回路20に異常状態が発生した場合、異常検出回路30から出力される異常検出信号103がアクティブとなることによりPWM制御回路14は緊急停止状態となる。しかし、MCU100が用いられるシステム構成によって、外部回路20において異常状態が発生した場合、単にPWM制御回路14の動作を停止しただけでは、正常動作に復帰できずMCU100全体をリセットする必要がある場合も発生し得る。
しかし、図1に示したMCU100では、外部回路20に異常が発生した際にCPU13のソフトウェアの動作自体が異常となった場合には、MCU100全体のリセットができない。また、電圧検出回路11の特性によっては、瞬間的な異常状態を検出できない場合があり、外部回路20に異常が発生した際に電圧検出回路11が異常状態の発生を検出できない場合には、MCU100全体のリセットができない。
そこで、図2に示した本実施形態のMCU10は、CPU13によるソフトウェアリセットを実行することができず、電圧検出回路11では検出することができないような異常状態が発生した場合でもMCU10全体をリセットすることを可能としている。
本実施形態におけるリセット回路12は、電圧検出回路11からのハードウェアリセット信号101、CPU13からのソフトウェアリセット信号102、及び、異常検出信号103のいずれかがアクティブ、つまりロウレベルになると、デバイス全体をリセットするためのリセット信号104を出力する。
次に、外部回路20に異常が発生した際の、図2に示したMCU10の動作状態について図3を参照して説明する。
図3に示すように外部回路20において異常状態が発生すると、MCU10の外部に設けられた異常検出回路30が異常の発生を検出する。例えば、異常検出回路30は、外部回路20における電流異常、電圧異常、又は温度異常、具体的には過電流、過電圧、又は、異常発熱等を検出する。すると、異常検出回路30は、異常検出信号103を出力する。具体的には、異常検出回路30は、異常検出信号103をロウレベルとする。
その結果、PWM制御回路14は、緊急動作停止状態となり、PWM信号の出力を停止する。また、本実施形態のMCU10は、異常検出信号103がリセット回路12にも入力されていることにより、リセット回路12は、リセット信号104をロウレベルとしてアクティブ状態とする。その結果、MCU10全体がリセットされて初期化されることになる。
このような動作が行われることにより、MCU10が用いられたシステムにおいて何等かの異常が発生して、CPU13のソフトウェアの動作が異常となり、電圧検出回路11では、その異常が検出されないような場合でも、MCU10全体がリセットされることになる。
[変形例]
上記実施形態では、外部回路20として、IGBTを含む回路の場合を用いて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、MCU10の内部回路により制御されるような外部回路の場合であっても本発明を同様に適用することができるものである。
上記実施形態では、外部回路20として、IGBTを含む回路の場合を用いて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、MCU10の内部回路により制御されるような外部回路の場合であっても本発明を同様に適用することができるものである。
10 MCU(マイクロコントローラ)
11 電圧検出回路
12 リセット回路
13 CPU
14 PWM制御回路
20 外部回路
30 異常検出回路
100 MCU(マイクロコントローラ)
101 ハードウェアリセット信号
102 ソフトウェアリセット信号
103 異常検出信号
104 リセット信号
112 リセット回路
11 電圧検出回路
12 リセット回路
13 CPU
14 PWM制御回路
20 外部回路
30 異常検出回路
100 MCU(マイクロコントローラ)
101 ハードウェアリセット信号
102 ソフトウェアリセット信号
103 異常検出信号
104 リセット信号
112 リセット回路
Claims (5)
- 外部回路の動作を制御するとともに外部から異常検出信号が入力されると動作を停止してCPUにより制御される内部回路と、
電源電圧の電圧値の変化を検出してハードウェアリセット信号を生成して出力する電圧検出回路と、
前記電圧検出回路からのハードウェアリセット信号、前記CPUからのソフトウェアリセット信号、及び、前記異常検出信号のいずれかがアクティブになると、デバイス全体をリセットするためのリセット信号を出力するリセット回路と、
を備えたマイクロコントローラ。 - 前記内部回路は、前記外部回路の素子の動作を制御するためのPWM信号を生成するためのPWM制御回路である請求項1記載のマイクロコントローラ。
- CPUを含むマイクロコントローラと、
前記マイクロコントローラの外部に設けられた外部回路と、
前記外部回路における異常状態を検出して異常検出信号を生成する異常検出回路と、
を備え、
前記マイクロコントローラは、前記外部回路の動作を制御するとともに前記異常検出回路から異常検出信号が入力されると動作を停止して前記CPUにより制御される内部回路と、電源電圧の電圧値の変化を検出してハードウェアリセット信号を生成して出力する電圧検出回路と、前記電圧検出回路からのハードウェアリセット信号、前記CPUからのソフトウェアリセット信号、及び、前記異常検出信号のいずれかがアクティブになると、デバイス全体をリセットするためのリセット信号を出力するリセット回路と、を有する、
電子回路。 - 前記内部回路は、前記外部回路の素子の動作を制御するためのPWM信号を生成するためのPWM制御回路である請求項3記載の電子回路。
- 前記異常検出回路は、前記外部回路における電流異常、電圧異常、及び、温度異常のうちのいずれかを検出した場合に、異常検出信号を生成する請求項3または4記載の電子回路。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022150550A JP2024044801A (ja) | 2022-09-21 | 2022-09-21 | マイクロコントローラ及び電子回路 |
US18/469,767 US20240095126A1 (en) | 2022-09-21 | 2023-09-19 | Microcontroller and electronic circuit |
CN202311221489.0A CN117742784A (zh) | 2022-09-21 | 2023-09-20 | 微控制器和电子电路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022150550A JP2024044801A (ja) | 2022-09-21 | 2022-09-21 | マイクロコントローラ及び電子回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2024044801A true JP2024044801A (ja) | 2024-04-02 |
Family
ID=90244886
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022150550A Pending JP2024044801A (ja) | 2022-09-21 | 2022-09-21 | マイクロコントローラ及び電子回路 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20240095126A1 (ja) |
JP (1) | JP2024044801A (ja) |
CN (1) | CN117742784A (ja) |
-
2022
- 2022-09-21 JP JP2022150550A patent/JP2024044801A/ja active Pending
-
2023
- 2023-09-19 US US18/469,767 patent/US20240095126A1/en active Pending
- 2023-09-20 CN CN202311221489.0A patent/CN117742784A/zh active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20240095126A1 (en) | 2024-03-21 |
CN117742784A (zh) | 2024-03-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3684866B2 (ja) | 導通,遮断制御装置 | |
EP2426803B1 (en) | Protection circuit for a power conversion apparatus | |
US10033389B2 (en) | Clock signal stop detection circuit | |
WO2007032489A1 (ja) | 温度保護回路、電源装置、電子機器 | |
JP2017050804A (ja) | 半導体スイッチの保護回路 | |
JP2001168286A (ja) | 過熱保護機能付き半導体装置の制御回路 | |
JP2007336665A (ja) | ゲート駆動装置およびそれを備えた電力変換装置 | |
JP5356056B2 (ja) | 自動化装置の負論理出力の制御保護システム | |
JP5904375B2 (ja) | 電力供給制御装置 | |
JP2024044801A (ja) | マイクロコントローラ及び電子回路 | |
JP2006074908A (ja) | 電力用半導体装置の制御用回路および制御用集積回路 | |
JP2013126361A (ja) | 車載用電子制御装置 | |
JP2015142452A (ja) | モータ駆動装置 | |
KR100902608B1 (ko) | 지능형 전력 모듈 | |
JP2014060581A (ja) | 負荷駆動回路 | |
KR100525375B1 (ko) | Ipm 보호회로 | |
JP6413825B2 (ja) | 駆動装置 | |
JP3846363B2 (ja) | 過電圧保護回路を備えた電子機器及び過電圧保護回路及び方法 | |
JP4140608B2 (ja) | 過電流制限回路 | |
JP4106853B2 (ja) | 負荷駆動回路 | |
WO2020194623A1 (ja) | モータ駆動制御装置 | |
JP2007329987A (ja) | 負荷異常検出回路 | |
JPH10267977A (ja) | パワーモジュール | |
JPH06141535A (ja) | Dc/dcコンバータ | |
KR20030049442A (ko) | 리셋 회로 |