JP2024016742A - 電子デバイス - Google Patents

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Abstract

【課題】優れた動作信頼性を有する電子デバイスを提供する。【解決手段】この電子デバイスは、第1のデバイス基板と、第2のデバイス基板と、空洞部とを備える。第2のデバイス基板は、第1のデバイス基板に積層されると共に第1のデバイス基板と電気的に接続され、第1のデバイス基板の面積よりも大きな面積を有する。空洞部は、第1のデバイス基板と第2のデバイス基板との積層方向と直交する平面に沿って、第1のデバイス基板の周囲の少なくとも一部を取り囲んでいる。【選択図】図1A

Description

本開示は、2以上の基板が積層された積層構造を有する電子デバイスに関する。
これまでに、撮像装置の小型化を実現するため、画素信号を生成する撮像素子を含むウェハと、その撮像素子の生成する画素信号の信号処理を行う信号処理回路やメモリ回路などを含むウェハとを接合するWoW(Wafer on Wafer)積層技術が提案されている(例えば特許文献1)。
特開2014-099582号公報
ところで、このような積層構造を有する電子デバイスは、動作信頼性の向上が望まれる。
したがって、より優れた動作信頼性を有する電子デバイスを提供することが望まれる。
本開示の一実施形態としての電子デバイスは、第1のデバイス基板と、第2のデバイス基板と、空洞部とを備える。第2のデバイス基板は、第1のデバイス基板に積層されると共に第1のデバイス基板と電気的に接続され、第1のデバイス基板の面積よりも大きな面積を有する。空洞部は、第1のデバイス基板と第2のデバイス基板との積層方向と直交する平面に沿って、第1のデバイス基板の周囲の少なくとも一部を取り囲んでいる。
本開示の一実施形態としての電子デバイスでは、第1のデバイス基板の周囲の少なくとも一部を取り囲む空洞部を備えるので、第1のデバイス基板の熱が効率的に放出される。
本開示の第1の実施の形態に係る固体撮像装置の構成例を表す断面図である。 図1Aに示した固体撮像装置の構成例を表す平面図である。 図1Aに示した固体撮像装置の製造方法における一工程を表す断面図である。 図2Aに続く一工程を表す断面図である。 図2Bに続く一工程を表す断面図である。 図2Cに続く一工程を表す断面図である。 図2Dに続く一工程を表す断面図である。 図2Eに続く一工程を表す断面図である。 図2Fに続く一工程を表す平面模式図である。 本開示の第1の実施の形態の第1の変形例としての固体撮像装置の構成例を表す断面図である。 図3Aに示した固体撮像装置の構成例を表す平面図である。 本開示の第1の実施の形態の第2の変形例としての固体撮像装置の構成例を表す断面図である。 図4Aに示した固体撮像装置の構成例を表す平面図である。 図4Aに示した固体撮像装置の製造方法における一工程を表す断面図である。 図5Aに続く一工程を表す断面図である。 図5Bに続く一工程を表す断面図である。 図5Cに続く一工程を表す断面図である。 本開示の第1の実施の形態の第3の変形例としての固体撮像装置の構成例を表す断面図である。 図6Aに示した固体撮像装置の構成例を表す平面図である。 図6Aに示した固体撮像装置の製造方法における一工程を表す断面図である。 図7Aに続く一工程を表す断面図である。 図7Bに続く一工程を表す断面図である。 図7Cに続く一工程を表す断面図である。 本開示の第1の実施の形態の第4の変形例としての固体撮像装置の構成例を表す平面図である。 本開示の第2の実施の形態に係る電子機器の全体構成例を表す概略図である。 車両制御システムの概略的な構成の一例を示すブロック図である。 車外情報検出部及び撮像部の設置位置の一例を示す説明図である。
以下、本開示の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
1.第1の実施の形態(固体撮像装置の例)
2.第1の実施の形態の変形例(固体撮像装置の変形例)
3.第2の実施の形態(電子機器への適用例)
4.移動体への応用例
5.その他の変形例
<1.第1の実施の形態>
[固体撮像装置1の構成]
図1Aおよび図1Bは、いずれも本開示の第1の実施の形態としての固体撮像装置1の構成例を模式的に表したものである。図1Aは、固体撮像装置1の断面構成例を表し、図1Bは、固体撮像装置1の平面構成例を表している。図1Aは、図1Bに示したIA-IA切断線に沿った矢視方向の積層断面図に相当する。また、図1Bは、図1Aに破線IBで示した高さ位置での水平断面図に相当する。
図1Aに示したように、固体撮像装置1は、支持層10に、ロジック層40と、中間層30と、センサ基板20とが順に積層された積層構造を有する。
(支持層10)
支持層10は、例えば支持基板11と、金属膜52とを有する。支持基板11は、例えばSi(シリコン)基板であり、表面11FSおよび裏面11BSを有する。金属膜52は、裏面11BSを覆うように設けられている。
(ロジック層40)
ロジック層40は、1以上のロジック基板41を有している。図1Aおよび図1Bでは、1つのセンサ基板20に対し2つのロジック基板41が設けられている態様を例示している。但し、固体撮像装置1は、1つのロジック基板41のみを有していてもよいし、3以上のロジック基板41を有していてもよい。すなわち、1つのセンサ基板20に対するロジック基板41の数は任意に設定可能である。ロジック基板41は、中間層30を介してセンサ基板20と電気的に接続されている。ロジック基板41は、本開示の「第1のデバイス基板」に対応する一具体例である。センサ基板20は、本開示の「第2のデバイス基板」に対応する一具体例である。
図1Aおよび図1Bに示したように、2つのロジック基板41は、ロジック基板41、中間層30、およびセンサ基板20の積層方向であるZ軸方向と直交するXY平面に沿って互いに離間して配置されている。各々のロジック基板41の周囲には空洞部Vが設けられている。空洞部Vは、XY平面に沿ってロジック基板41の周囲を取り囲むように設けられている。空洞部Vは、例えばロジック基板41で発生する熱をロジック基板41の周囲へ放出するヒートシンクである。固体撮像装置1では、空洞部Vは、ロジック基板41と同じ階層に設けられている。なお、固体撮像装置1では、XY面内に沿ってロジック基板41の外縁41Kを全周に亘って取り囲むように空洞部Vが存在している。但し、本開示では、ロジック基板41の少なくとも一部を取り囲むようにしてもよい。空洞部Vは、隣り合う一対のロジック基板41同士の隙間にも存在する。なお、空洞部Vは、複数のロジック基板41同士の隙間の少なくとも一部に設けられていればよい。すなわち、本開示は、複数のロジック基板41同士の隙間の全てに空洞部Vが存在している場合に限定されるものではない。
空洞部Vは、固体撮像装置1の外部と連通していてもよい。すなわち、外気が空洞部Vへ導入され、かつ排出されるようになっていてもよい。その場合、空洞部Vは、通気路として利用可能である。
空洞部Vの少なくとも一部は、ロジック基板41を覆う金属膜51により画定されている。すなわち、金属膜51により、空洞部Vはその周囲から区切られている。固体撮像装置1では、空洞部Vは、金属膜51および金属膜52によって画定されており、ロジック基板41や支持基板11から分離されている。金属膜51は、例えばロジック基板41の外縁41Kに沿ったロジック基板41の端面41Tと、ロジック基板41のうちセンサ基板20と反対側の表面41FSとを連続的に覆っている。なお、隣り合う複数のロジック基板41を覆う金属膜51同士がつながっていてもよい。さらに、金属膜51と、ロジック基板41の端面41Tおよび表面41FSとの間に、例えばSiN(窒化珪素)などの絶縁層44を設けるようにしてもよい。図1Aでは、ロジック基板41の周囲の中間層30の表面30FSをも覆うように絶縁層44と金属膜51とが形成されている場合を例示している。ここで金属膜51と金属膜52とは一体化して1つの金属フレーム50を構成している。したがって、空洞部Vは、金属フレーム50に内在しているともいえる。金属膜51および金属膜52は、いずれもAl(アルミニウム),W(タングステン),およびCu(銅)のうちの少なくとも1種を含むものであってもよい。金属膜51の構成材料と金属膜52の構成材料とは互いに同じであってもよいし、互いに異なっていてもよい。また、金属膜51および金属膜52は、いずれも、例えば原子層堆積(ALD)法により形成することができるが、その製造方法はこれに限定されるものではない。
ロジック基板41には、ロジック回路が設けられている。ロジック回路は、例えば配線層42と、トランジスタなどの半導体素子43とを有する。配線層42の一部の面は、ロジック基板41の裏面41BSに露出している。ロジック基板41の裏面41BSは、中間層30の表面30FSと接合されている。配線層42は、例えばCu(銅)により構成される。
(中間層30)
中間層30は、絶縁層31と、絶縁層31に埋設された配線層32~38とを有している。絶縁層31は、例えば酸化シリコン(SiOx)や窒化シリコン(SiNx)などの無機酸化物によって形成することができる。配線層32~38は、中間層30の表面30FSから裏面30BSに至るまで、Z軸方向に順に積層されている。配線層32は表面30FSに露出しており、ロジック基板41の配線層42と接合されている。配線層32~38は、例えばCu(銅)により構成される。なお、図1Aの配線層32~38は例示であって、中間層30に存在する配線層の数や大きさ、位置などは図1Aに示したものに限定されない。中間層30の裏面30BSは、センサ基板20の表面FSと接合されている。
(センサ基板20)
センサ基板20は、基体21に、固体撮像素子22と、配線層23~26とがそれぞれ設けられたものである。センサ基板20のXY平面における占有面積は、ロジック基板41のXY平面における占有面積よりも大きい。固体撮像素子22は、フォトダイオード22Aなどにより構成される画素を複数含み、画素単位で外光を受光して画素信号を生成可能なものである。固体撮像素子22は、例えば保護膜22Bと、カラーフィルタ22Cと、マイクロレンズ22Dとをさらに有する。配線層23~26は、表面20FSからフォトダイオード22Aに至るまで、Z軸方向に順に積層されている。配線層23は表面23FSに露出しており、中間層30の配線層38と接合されている。配線層23~26は、例えばCu(銅)により構成される。なお、図1Aの配線層23~26は例示であって、センサ基板20に存在する配線層の数や大きさ、位置などは図1Aに示したものに限定されない。配線層32~38と配線層23~26とを介してロジック基板41のロジック回路とセンサ基板20の固体撮像素子22とが電気的に接続されている。
[固体撮像装置1の製造方法]
続いて、図2A~図2Gを参照して、固体撮像装置1の製造方法について説明する。図2A~図2Gは、固体撮像装置1の製造方法における一工程をそれぞれ表す断面図であり、図1Aに対応するものである。なお、図2A~図2Fでは、1つの固体撮像装置1の製造過程を例示的に示しているが、実際には図2Gに示したように1つのウェハ(支持基板11)に複数の固体撮像装置1を一括形成したのち、固体撮像装置1ごとに切り分けることになる。
まず、図2Aに示したように、支持基板61に、センサ基板20Zの裏面20BSを固定する。センサ基板20Zの構成は、固体撮像素子22のうちフォトダイオード22Aは有するものの、保護膜22B、カラーフィルタ22C、およびマイクロレンズ22Dは有していないことを除き、センサ基板20の構成と実質的に同じである。そののち、センサ基板20Zの表面20FSに、WoW(Wafer on Wafer)積層技術により、中間層30の裏面30BSを接合する。その際、配線層23と配線層38とが直接接合される。
次に、図2Bに示したように、別途用意したロジック基板41を、CoW(Chip on Wafer)積層技術により中間層30の表面30FSに接合する。これにより積層体SSを得る。そののち、必要に応じてロジック基板41の研磨を行い、ロジック基板41の厚さを調整する。ロジック基板41を複数配置する場合には、それら複数のロジック基板41の表面41FSの高さ位置を互いに揃えるように調整する。
次に、図2Cに示したように、中間層30の表面30FSならびにロジック基板41の端面41Tおよび表面41FSを少なくとも覆うように、絶縁層44を形成する。
そののち、図2Dに示したように、センサ基板20Z、中間層30およびロジック層40の積層体の輪郭に沿ってトリミングを行い、支持基板61のうち、積層体SSの輪郭に沿った周辺部分について厚さ方向に掘り下げ、厚さを薄くする。個々の固体撮像装置1に切り分ける際に支持基板61が意図しない形状に欠けてしまうなどの不具合を防止するためである。
次に、図2Eに示したように、絶縁層44のうち、中間層30の表面30FSならびにロジック基板41の端面41Tおよび表面41FSを覆う部分の上に、金属膜51をさらに成膜する。その際、ALD法により金属膜51を形成することにより、より均質な厚みの金属膜51が得られる。
次に、図2Fに示したように、支持基板11の平坦な裏面11BSに金属膜52を成膜したのち、金属膜51と金属膜52とを突き合わせ、常温下において圧着により金属膜51と金属膜52とを接合する。あるいは、金属膜51と金属膜52とを加熱して熱圧着により両者を接合するようにしてもよい。続いて支持基板61を研磨してその厚さを薄くしたのち、フォトダイオード22Aの上に保護膜22B、カラーフィルタ22C、およびマイクロレンズ22Dなどを順に形成し、固体撮像素子22を形成する。
以上により、図2Gに示したように、複数の固体撮像装置1が1つの支持基板11の上に形成される。そののち、必要に応じて支持基板11の表面11FSを研磨することにより支持基板11の厚さを所定の厚さに加工する。最後に、ダイシングブレードなどを用い、例えば図2Gに破線で示した位置で切断することにより、複数の固体撮像装置1を切り分ける。以上により、固体撮像装置1の製造が完了する。
[固体撮像装置1の作用効果]
以上説明したように、本実施の形態の固体撮像装置1では、ロジック基板41とセンサ基板20との積層方向と直交するXY平面に沿って、ロジック基板41の周囲の少なくとも一部を取り囲むように空洞部Vを設けるようにしている。このため、空洞部Vがヒートシンクとなり、ロジック基板41の熱が効率的に放出される。したがって、ロジック基板41の温度上昇に伴う暗電流に起因する固体撮像装置1の動作性能への影響を緩和することができる。よって、固体撮像装置1における高い動作信頼性を確保することができる。また、本実施の形態の固体撮像装置1では、高い放熱性を有するので、さらなる高集積化にも有利である。
また、固体撮像装置1では、隣り合う2つのロジック基板41の隙間にも空洞部Vを設けるようにしたので、各ロジック基板41の熱を、空洞部Vを介してより効率的に外部へ放出することができる。
また、固体撮像装置1では、空洞部Vが外部と連通するようにしたので、外気を空洞部Vへ導入し、排出することができ、より放熱性を高めることができる。
また、固体撮像装置1では、ロジック基板41の端面41Tおよび表面41FSを金属膜51によって連続的に覆うようにしたので、金属膜51を介して効率的にロジック基板41の熱を放出することもできる。さらに、支持基板11の裏面11BSにも金属膜52を設け、金属膜51と金属膜52とを接合するようにしたので、より高い放熱性を得ることができる。そのうえ、固体撮像装置1では、空洞部Vが存在するものの、互いに接合された金属膜51および金属膜52からなる金属フレーム50を設けるようにしたので、支持層10によってロジック基板41、中間層30、およびセンサ基板20を強固に支持することができる。
<2.第1の実施の形態の変形例>
[固体撮像装置1Aの構成]
図3Aは、本開示における第1の変形例(以下、変形例1という。)としての固体撮像装置1Aの断面構成例を表す断面図であり、上記第1の実施の形態の固体撮像装置1を示した図1Aに対応する。また、図3Bは、固体撮像装置1Aの平面構成例を表す平面図であり、上記第1の実施の形態の固体撮像装置1を示した図1Bに対応する。図3Aは、図3Bに示したIIIA-IIIA切断線に沿った矢視方向の積層断面図に相当する。また、図3Bは、図3Aに破線IIIBで示した高さ位置での水平断面図に相当する。なお、図3Bにおいて、2点鎖線は、個々の固体撮像装置1Aに分割される前の状態において、互いに隣り合う複数の固体撮像装置1A同士の境界を示している。
[固体撮像装置1Aの作用効果]
図3Aに示したように、変形例1としての固体撮像装置1Aでは、ロジック層40にロジック基板41と隣り合うようにダミー基板Dを配置するようにしたものである。ダミー基板Dは、隣り合う他の固体撮像装置1Aとの境界を跨ぐように配置される。このため、固体撮像装置1Aでは、固体撮像装置1と比較して、支持層10によってロジック基板41、中間層30、およびセンサ基板20をよりいっそう強固に支持することができる。したがって、1つの支持基板11に形成された複数の固体撮像装置1Aをダイシングブレードなどによって個々の固体撮像装置1Aに切り分ける際、ダミー基板Dを設けない場合と比べて精度よく円滑に切断することができる。
また、固体撮像装置1Aにおいてもロジック基板41の周囲の少なくとも一部を取り囲むように空洞部Vを設けるようにしているので、ロジック基板41の熱が効率的に放出される。したがって、固体撮像装置1と同様の効果が得られる。
[固体撮像装置1Bの構成]
図4Aは、本開示における第2の変形例(以下、変形例2という。)としての固体撮像装置1Bの断面構成例を表す断面図であり、上記第1の実施の形態の固体撮像装置1を示した図1Aに対応する。また、図4Bは、固体撮像装置1Bの平面構成例を表す平面図であり、上記第1の実施の形態の固体撮像装置1を示した図1Bに対応する。図4Aは、図4Bに示したIVA-IVA切断線に沿った矢視方向の積層断面図に相当する。また、図4Bは、図4Aに破線IVBで示した高さ位置での水平断面図に相当する。
上記第1の実施の形態の固体撮像装置1では、平板状の支持基板11の上に平坦な金属膜52を設けた支持層10にロジック層40を積層するようにした。これに対し、変形例2の固体撮像装置1Bでは、支持層10の代わりに支持層10Bを採用している。具体的には、支持基板11に凹部11U1,11U2を設け、凹部11U1,11U2にロジック基板41をそれぞれ収容するようにしている。固体撮像装置1Bでは、凹部11U1,11U2には、ロジック基板41の厚さ方向の少なくとも一部が収容されていればよい。すなわち、固体撮像装置1BをXY面に沿って眺めた状態において、支持層10Bとロジック層40の少なくとも一部とが互いに重なり合っている。凹部11U1,11U2の内面は、金属膜52により覆われている。ここで、金属膜52のうち、凹部11U1,11U2の底面11USおよび側面11WSを覆う部分は、金属膜51のうちロジック基板41の表面41FSおよび端面41Tを覆う部分と離間しており、空洞部V1,V2を形成している。すなわち、空洞部V1,V2は、ロジック基板41と支持基板11との間にも存在する。なお、空洞部V1および空洞部V2は、それぞれ異なるロジック基板41の周囲に存在しており、互いに分離されている。
[固体撮像装置1Bの製造方法]
続いて、図5A~図5Dを参照して、固体撮像装置1Bの製造方法について説明する。ここでは、固体撮像装置1Bのうちの支持層10Bの製造方法を詳しく説明する。図5A~図5Dは、支持層10Bの製造方法における一工程をそれぞれ表す断面図である。なお、図5A~図5Dでは、2つの凹部11U1,11U2を含む支持層10Bの製造過程を例示しているが、凹部の数はこれに限定されるものではない。
まず、図5Aに示したように、例えばシリコン基板11Zを用意したのち、裏面11BSを全面的に覆うようにSiO2などからなる無機膜IFを形成する。そののち、無機膜IFを全面的に覆うようにレジスト膜を形成したのち、フォトリソグラフィ法などによってそのレジスト膜を選択的に除去することでレジストパターンRPを得る。
次いで、図5Bに示したように、レジストパターンRPをマスクとして用いた選択的エッチング処理により無機膜IFをパターニングし、無機膜パターンIFPを得る。これにより、裏面11BSの一部が露出する。
続いて、図5Cに示したように、無機膜パターンIFPをマスクとして用いた選択的エッチング処理によりシリコン基板11Zの露出部分を掘り下げることで、凹部11U1,11U2を含む支持基板11を得る。
最後に、図5Dに示したように、無機膜パターンIFPを除去したのち、凹部11U1,11U2の底面11USおよび側面11WSを含む支持基板11の全体を覆うように金属膜52を形成する。
以上により、支持層10Bの製造が完了する。そののち、上記第1の実施の形態で説明した固体撮像装置1と同様にして固体撮像装置1Bを製造することができる。
[固体撮像装置1Bの作用効果]
変形例2としての固体撮像装置1Bでは、支持基板11に凹部11U1,11U2を設け、凹部11U1,11U2にロジック基板41をそれぞれ収容するようにしている。このため、固体撮像装置1と比較して、機械的強度を向上させつつ高い放熱性を実現することができる。さらに、固体撮像装置1Bでは、空洞部V1,V2がロジック基板41と支持基板11との間にも存在する。このため、空洞部V1,V2に露出するロジック基板41の表面積が増加し、放熱性をより高めることができる。
[固体撮像装置1Cの構成]
図6Aは、本開示における第3の変形例(以下、変形例3という。)としての固体撮像装置1Cの断面構成例を表す断面図であり、上記第1の実施の形態の固体撮像装置1を示した図1Aに対応する。また、図6Bは、固体撮像装置1Cの平面構成例を表す平面図であり、上記第1の実施の形態の固体撮像装置1を示した図1Bに対応する。図6Aは、図6Bに示したVIA-VIA切断線に沿った矢視方向の積層断面図に相当する。また、図6Bは、図6Aに破線VIBで示した高さ位置での水平断面図に相当する。
変形例3の固体撮像装置1Cでは、支持層10の代わりに支持層10Cを採用している。具体的には、支持基板11に凹部11U1,11U2を設け、凹部11U1,11U2にロジック基板41をそれぞれ収容するようにしている。但し、固体撮像装置1Cでは、金属膜52のうち、凹部11U1,11U2の底面11USを覆う部分が、金属膜51のうちロジック基板41の表面41FSを覆う部分と当接している。一方、金属膜52のうち凹部11U1,11U2の側面11WSを覆う部分は、金属膜51のうちロジック基板41の端面41Tを覆う部分と離間しており、空洞部V1,V2を形成している。その点を除き、固体撮像装置1Cの構成は固体撮像装置1Bの構成と実質的に同じである。
[固体撮像装置1Cの製造方法]
続いて、図7A~図7Dを参照して、固体撮像装置1Cの製造方法について説明する。ここでは、固体撮像装置1Cのうちの支持層10Cの製造方法を詳しく説明する。図7A~図7Dは、支持層10Cの製造方法における一工程をそれぞれ表す断面図である。なお、図7A~図7Dでは、2つの凹部11U1,11U2を含む支持層10Cの製造過程を例示しているが、凹部の数はこれに限定されるものではない。
まず、図7Aに示したように、例えばシリコン基板11Zを用意したのち、裏面11BSを全面的に覆うようにSiO2などからなる無機膜IFを形成する。但し、シリコン基板11Zには、厚さ方向の一部においてボロン(B)などの高濃度不純物層BBが設けられている。そののち、無機膜IFを全面的に覆うようにレジスト膜を形成したのち、フォトリソグラフィ法などによってそのレジスト膜を選択的に除去することでレジストパターンRPを得る。
次いで、図7Bに示したように、レジストパターンRPをマスクとして用いた選択的エッチング処理により無機膜IFをパターニングし、無機膜パターンIFPを得る。これにより、裏面11BSの一部が露出する。
続いて、図7Cに示したように、無機膜パターンIFPをマスクとして用いた選択的エッチング処理によりシリコン基板11Zの露出部分を掘り下げることで、凹部11U1,11U2を含む支持基板11を得る。このとき、高濃度不純物層BBがエッチングストッパとなり、凹部11U1,11U2の深さが高精度に制御される。
最後に、図7Dに示したように、無機膜パターンIFPを除去したのち、凹部11U1,11U2の底面11USおよび側面11WSを含む支持基板11の全体を覆うように金属膜52を形成する。
以上により、支持層10Cの製造が完了する。そののち、上記第1の実施の形態で説明した固体撮像装置1と同様にして固体撮像装置1Cを製造することができる。
[固体撮像装置1Cの作用効果]
変形例3としての固体撮像装置1Cでは、支持基板11に凹部11U1,11U2を設け、凹部11U1,11U2にロジック基板41をそれぞれ収容するようにしている。このため、固体撮像装置1と比較して、機械的強度を向上させつつ高い放熱性を実現することができる。さらに、固体撮像装置1Bでは、金属膜52のうち、凹部11U1,11U2の底面11USを覆う部分が、金属膜51のうちロジック基板41の表面41FSを覆う部分と当接している。このため、支持層10や支持層10Bと比較して、支持層10Cの薄型化を図ることができる。さらに、ロジック基板41の熱が金属膜51および金属膜52を介して効率的に放出される。
[固体撮像装置1Dの構成]
図8は、本開示における第4の変形例(以下、変形例4という。)としての固体撮像装置1Dの平面構成例を表す平面図であり、上記第1の実施の形態の固体撮像装置1を示した図1Bに対応する。変形例4の固体撮像装置1Dは、空洞部V1,V2が互いに連通し、外部にもつながっている。このため、より放熱性を高めることができる。
<3.第2の実施の形態:電子機器への適用例>
図9は、本技術を適用した電子機器としてのカメラ2000の構成例を示すブロック図である。
カメラ2000は、レンズ群などからなる光学部2001、上述の固体撮像装置1,1Aなど(以下、固体撮像装置1等という。)が適用される撮像装置(撮像デバイス)2002、およびカメラ信号処理回路であるDSP(Digital Signal Processor)回路2003を備える。また、カメラ2000は、フレームメモリ2004、表示部2005、記録部2006、操作部2007、および電源部2008も備える。DSP回路2003、フレームメモリ2004、表示部2005、記録部2006、操作部2007および電源部2008は、バスライン2009を介して相互に接続されている。
光学部2001は、被写体からの入射光(像光)を取り込んで撮像装置2002の撮像面上に結像する。撮像装置2002は、光学部2001によって撮像面上に結像された入射光の光量を画素単位で電気信号に変換して画素信号として出力する。
表示部2005は、例えば、液晶パネルや有機ELパネル等のパネル型表示装置からなり、撮像装置2002で撮像された動画または静止画を表示する。記録部2006は、撮像装置2002で撮像された動画または静止画を、ハードディスクや半導体メモリ等の記録媒体に記録する。
操作部2007は、ユーザによる操作の下に、カメラ2000が持つ様々な機能について操作指令を発する。電源部2008は、DSP回路2003、フレームメモリ2004、表示部2005、記録部2006および操作部2007の動作電源となる各種の電源を、これら供給対象に対して適宜供給する。
上述したように、撮像装置2002として、上述した固体撮像装置1等を用いることで、良好な画像の取得が期待できる。
<4.移動体への応用例>
本開示に係る技術(本技術)は、様々な製品へ応用することができる。例えば、本開示に係る技術は、自動車、電気自動車、ハイブリッド電気自動車、自動二輪車、自転車、パーソナルモビリティ、飛行機、ドローン、船舶、ロボット等のいずれかの種類の移動体に搭載される装置として実現されてもよい。
図10は、本開示に係る技術が適用され得る移動体制御システムの一例である車両制御システムの概略的な構成例を示すブロック図である。
車両制御システム12000は、通信ネットワーク12001を介して接続された複数の電子制御ユニットを備える。図10に示した例では、車両制御システム12000は、駆動系制御ユニット12010、ボディ系制御ユニット12020、車外情報検出ユニット12030、車内情報検出ユニット12040、及び統合制御ユニット12050を備える。また、統合制御ユニット12050の機能構成として、マイクロコンピュータ12051、音声画像出力部12052、及び車載ネットワークI/F(Interface)12053が図示されている。
駆動系制御ユニット12010は、各種プログラムにしたがって車両の駆動系に関連する装置の動作を制御する。例えば、駆動系制御ユニット12010は、内燃機関又は駆動用モータ等の車両の駆動力を発生させるための駆動力発生装置、駆動力を車輪に伝達するための駆動力伝達機構、車両の舵角を調節するステアリング機構、及び、車両の制動力を発生させる制動装置等の制御装置として機能する。
ボディ系制御ユニット12020は、各種プログラムにしたがって車体に装備された各種装置の動作を制御する。例えば、ボディ系制御ユニット12020は、キーレスエントリシステム、スマートキーシステム、パワーウィンドウ装置、あるいは、ヘッドランプ、バックランプ、ブレーキランプ、ウィンカー又はフォグランプ等の各種ランプの制御装置として機能する。この場合、ボディ系制御ユニット12020には、鍵を代替する携帯機から発信される電波又は各種スイッチの信号が入力され得る。ボディ系制御ユニット12020は、これらの電波又は信号の入力を受け付け、車両のドアロック装置、パワーウィンドウ装置、ランプ等を制御する。
車外情報検出ユニット12030は、車両制御システム12000を搭載した車両の外部の情報を検出する。例えば、車外情報検出ユニット12030には、撮像部12031が接続される。車外情報検出ユニット12030は、撮像部12031に車外の画像を撮像させるとともに、撮像された画像を受信する。車外情報検出ユニット12030は、受信した画像に基づいて、人、車、障害物、標識又は路面上の文字等の物体検出処理又は距離検出処理を行ってもよい。
撮像部12031は、光を受光し、その光の受光量に応じた電気信号を出力する光センサである。撮像部12031は、電気信号を画像として出力することもできるし、測距の情報として出力することもできる。また、撮像部12031が受光する光は、可視光であっても良いし、赤外線等の非可視光であっても良い。
車内情報検出ユニット12040は、車内の情報を検出する。車内情報検出ユニット12040には、例えば、運転者の状態を検出する運転者状態検出部12041が接続される。運転者状態検出部12041は、例えば運転者を撮像するカメラを含み、車内情報検出ユニット12040は、運転者状態検出部12041から入力される検出情報に基づいて、運転者の疲労度合い又は集中度合いを算出してもよいし、運転者が居眠りをしていないかを判別してもよい。
マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030又は車内情報検出ユニット12040で取得される車内外の情報に基づいて、駆動力発生装置、ステアリング機構又は制動装置の制御目標値を演算し、駆動系制御ユニット12010に対して制御指令を出力することができる。例えば、マイクロコンピュータ12051は、車両の衝突回避あるいは衝撃緩和、車間距離に基づく追従走行、車速維持走行、車両の衝突警告、又は車両のレーン逸脱警告等を含むADAS(Advanced Driver Assistance System)の機能実現を目的とした協調制御を行うことができる。
また、マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030又は車内情報検出ユニット12040で取得される車両の周囲の情報に基づいて駆動力発生装置、ステアリング機構又は制動装置等を制御することにより、運転者の操作に拠らずに自律的に走行する自動運転等を目的とした協調制御を行うことができる。
また、マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030で取得される車外の情報に基づいて、ボディ系制御ユニット12020に対して制御指令を出力することができる。例えば、マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030で検知した先行車又は対向車の位置に応じてヘッドランプを制御し、ハイビームをロービームに切り替える等の防眩を図ることを目的とした協調制御を行うことができる。
音声画像出力部12052は、車両の搭乗者又は車外に対して、視覚的又は聴覚的に情報を通知することが可能な出力装置へ音声及び画像のうちの少なくとも一方の出力信号を送信する。図5の例では、出力装置として、オーディオスピーカ12061、表示部12062及びインストルメントパネル12063が例示されている。表示部12062は、例えば、オンボードディスプレイ及びヘッドアップディスプレイの少なくとも一つを含んでいてもよい。
図11は、撮像部12031の設置位置の例を示す図である。
図11では、撮像部12031として、撮像部12101、12102、12103、12104、12105を有する。
撮像部12101、12102、12103、12104、12105は、例えば、車両12100のフロントノーズ、サイドミラー、リアバンパ、バックドア及び車室内のフロントガラスの上部等の位置に設けられる。フロントノーズに備えられる撮像部12101及び車室内のフロントガラスの上部に備えられる撮像部12105は、主として車両12100の前方の画像を取得する。サイドミラーに備えられる撮像部12102、12103は、主として車両12100の側方の画像を取得する。リアバンパ又はバックドアに備えられる撮像部12104は、主として車両12100の後方の画像を取得する。車室内のフロントガラスの上部に備えられる撮像部12105は、主として先行車両又は、歩行者、障害物、信号機、交通標識又は車線等の検出に用いられる。
なお、図11には、撮像部12101ないし12104の撮影範囲の一例が示されている。撮像範囲12111は、フロントノーズに設けられた撮像部12101の撮像範囲を示し、撮像範囲12112,12113は、それぞれサイドミラーに設けられた撮像部12102,12103の撮像範囲を示し、撮像範囲12114は、リアバンパ又はバックドアに設けられた撮像部12104の撮像範囲を示す。例えば、撮像部12101ないし12104で撮像された画像データが重ね合わせられることにより、車両12100を上方から見た俯瞰画像が得られる。
撮像部12101ないし12104の少なくとも1つは、距離情報を取得する機能を有していてもよい。例えば、撮像部12101ないし12104の少なくとも1つは、複数の撮像素子からなるステレオカメラであってもよいし、位相差検出用の画素を有する撮像素子であってもよい。
例えば、マイクロコンピュータ12051は、撮像部12101ないし12104から得られた距離情報を基に、撮像範囲12111ないし12114内における各立体物までの距離と、この距離の時間的変化(車両12100に対する相対速度)を求めることにより、特に車両12100の進行路上にある最も近い立体物で、車両12100と略同じ方向に所定の速度(例えば、0km/h以上)で走行する立体物を先行車として抽出することができる。さらに、マイクロコンピュータ12051は、先行車の手前に予め確保すべき車間距離を設定し、自動ブレーキ制御(追従停止制御も含む)や自動加速制御(追従発進制御も含む)等を行うことができる。このように運転者の操作に拠らずに自律的に走行する自動運転等を目的とした協調制御を行うことができる。
例えば、マイクロコンピュータ12051は、撮像部12101ないし12104から得られた距離情報を元に、立体物に関する立体物データを、2輪車、普通車両、大型車両、歩行者、電柱等その他の立体物に分類して抽出し、障害物の自動回避に用いることができる。例えば、マイクロコンピュータ12051は、車両12100の周辺の障害物を、車両12100のドライバが視認可能な障害物と視認困難な障害物とに識別する。そして、マイクロコンピュータ12051は、各障害物との衝突の危険度を示す衝突リスクを判断し、衝突リスクが設定値以上で衝突可能性がある状況であるときには、オーディオスピーカ12061や表示部12062を介してドライバに警報を出力することや、駆動系制御ユニット12010を介して強制減速や回避操舵を行うことで、衝突回避のための運転支援を行うことができる。
撮像部12101ないし12104の少なくとも1つは、赤外線を検出する赤外線カメラであってもよい。例えば、マイクロコンピュータ12051は、撮像部12101ないし12104の撮像画像中に歩行者が存在するか否かを判定することで歩行者を認識することができる。かかる歩行者の認識は、例えば赤外線カメラとしての撮像部12101ないし12104の撮像画像における特徴点を抽出する手順と、物体の輪郭を示す一連の特徴点にパターンマッチング処理を行って歩行者か否かを判別する手順によって行われる。マイクロコンピュータ12051が、撮像部12101ないし12104の撮像画像中に歩行者が存在すると判定し、歩行者を認識すると、音声画像出力部12052は、当該認識された歩行者に強調のための方形輪郭線を重畳表示するように、表示部12062を制御する。また、音声画像出力部12052は、歩行者を示すアイコン等を所望の位置に表示するように表示部12062を制御してもよい。
以上、本開示に係る技術が適用され得る車両制御システムの一例について説明した。本開示に係る技術は、以上説明した構成のうち、撮像部12031に適用され得る。具体的には、図1Aなどに示した固体撮像装置1等を撮像部12031に適用することができる。撮像部12031に本開示に係る技術を適用することにより、車両制御システムの優れた動作が期待できる。
<5.その他の変形例>
以上、いくつかの実施の形態および変形例を挙げて本開示を説明したが、本開示は上記実施の形態等に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。上記実施の形態等において説明した各構成要素の配置位置や寸法、形状は、任意に設定し得る。
また、上記実施の形態等では、信号処理回路として、ロジック回路およびメモリ回路を例示したが、本開示はこれに限定されるものではない。本開示の信号処理回路は、例えば、ロジック回路、メモリ回路、電源回路、画像信号圧縮回路、クロック回路および光通信変換回路のうちの少なくとも1つを含むものである。
なお、本明細書中に記載された効果はあくまで例示であってその記載に限定されるものではなく、他の効果があってもよい。また、本技術は以下のような構成を取り得るものである。
(1)
第1のデバイス基板と、
前記第1のデバイス基板に積層されると共に前記第1のデバイス基板と電気的に接続され、前記第1のデバイス基板の面積よりも大きな面積を有する第2のデバイス基板と、
前記第1のデバイス基板と前記第2のデバイス基板との積層方向と直交する平面に沿って、前記第1のデバイス基板の周囲の少なくとも一部を取り囲む空洞部と
を備えた
電子デバイス。
(2)
前記平面に沿って互いに離間して配置された複数の前記第1のデバイス基板を備え、
前記空洞部は、複数の前記第1のデバイス基板同士の隙間の少なくとも一部に設けられている
上記(1)記載の電子デバイス。
(3)
前記空洞部は、外部と連通している
上記(1)および(2)記載の電子デバイス。
(4)
前記空洞部の少なくとも一部は、前記第1のデバイス基板を覆う第1金属膜により画定されている
上記(1)から(3)のいずれか1つに記載の電子デバイス。
(5)
前記第1金属膜は、前記第1のデバイス基板の端面と、前記第1のデバイス基板のうち前記第2のデバイス基板と反対側の表面とを連続的に覆っている
上記(4)記載の電子デバイス。
(6)
前記第1金属膜は、Al(アルミニウム),W(タングステン),およびCu(銅)のうちの少なくとも1種を含む
上記(4)記載の電子デバイス。
(7)
前記第1のデバイス基板から見て前記第2のデバイス基板と反対側に設けられ、第2金属膜を介して前記第1のデバイス基板を支持する支持基板をさらに備え、
前記空洞部の少なくとも一部は、前記第1のデバイス基板を覆う第1金属膜と、前記第2金属膜とにより画定されている
上記(1)から(6)のいずれか1つに記載の電子デバイス。
(8)
前記第1金属膜と前記第2金属膜とは一体化して金属フレームを構成している
上記(7)記載の電子デバイス。
(9)
前記支持基板は、前記第1のデバイス基板の厚さ方向の少なくとも一部を収容する凹部を有する
上記(7)または(8)に記載の電子デバイス。
(10)
前記凹部の内面は、前記第2金属膜により覆われている
上記(7)から(9)のいずれか1つに記載の電子デバイス。
(11)
前記空洞部は、前記第1のデバイス基板と前記支持基板との間にも存在する
上記(9)または(10)に記載の電子デバイス。
(12)
前記第1金属膜のうち前記第1のデバイス基板の表面を覆う表面被覆部分と、前記第2金属膜のうち前記支持基板の前記凹部の底面を覆う底面被覆部分とが接している
上記(9)から(11)のいずれか1つに記載の電子デバイス。
(13)
前記平面に沿って前記第1のデバイス基板と前記空洞部を挟んで隣り合うように配置された追加基板をさらに備えた
上記(1)から(12)のいずれか1つに記載の電子デバイス。
(14)
前記第2のデバイス基板は、複数の画素を含み、前記画素ごとに外光を受光して画素信号を生成可能な撮像素子が設けられたセンサ基板であり、
前記第1のデバイス基板は、前記画素信号の信号処理を行う信号処理回路を含む回路基板である
上記(1)から(13)のいずれか1つに記載の電子デバイス。
(15)
前記信号処理回路は、ロジック回路、メモリ回路、電源回路、画像信号圧縮回路、クロック回路および光通信変換回路のうちの少なくとも1つを含む
上記(13)または(14)記載の電子デバイス。
1,1A~1D…固体撮像装置、10…支持層、40…ロジック層、20…センサ基板、30…中間層。

Claims (15)

  1. 第1のデバイス基板と、
    前記第1のデバイス基板に積層されると共に前記第1のデバイス基板と電気的に接続され、前記第1のデバイス基板の面積よりも大きな面積を有する第2のデバイス基板と、
    前記第1のデバイス基板と前記第2のデバイス基板との積層方向と直交する平面に沿って、前記第1のデバイス基板の周囲の少なくとも一部を取り囲む空洞部と
    を備えた
    電子デバイス。
  2. 前記平面に沿って互いに離間して配置された複数の前記第1のデバイス基板を備え、
    前記空洞部は、複数の前記第1のデバイス基板同士の隙間の少なくとも一部に設けられている
    請求項1記載の電子デバイス。
  3. 前記空洞部は、外部と連通している
    請求項1記載の電子デバイス。
  4. 前記空洞部の少なくとも一部は、前記第1のデバイス基板を覆う第1金属膜により画定されている
    請求項1記載の電子デバイス。
  5. 前記第1金属膜は、前記第1のデバイス基板の端面と、前記第1のデバイス基板のうち前記第2のデバイス基板と反対側の表面とを連続的に覆っている
    請求項4記載の電子デバイス。
  6. 前記第1金属膜は、Al(アルミニウム),W(タングステン),およびCu(銅)のうちの少なくとも1種を含む
    請求項4記載の電子デバイス。
  7. 前記第1のデバイス基板から見て前記第2のデバイス基板と反対側に設けられ、第2金属膜を介して前記第1のデバイス基板を支持する支持基板をさらに備え、
    前記空洞部の少なくとも一部は、前記第1のデバイス基板を覆う第1金属膜と、前記第2金属膜とにより画定されている
    請求項1記載の電子デバイス。
  8. 前記第1金属膜と前記第2金属膜とは一体化して金属フレームを構成している
    請求項7記載の電子デバイス。
  9. 前記支持基板は、前記第1のデバイス基板の厚さ方向の少なくとも一部を収容する凹部を有する
    請求項7記載の電子デバイス。
  10. 前記凹部の内面は、前記第2金属膜により覆われている
    請求項9記載の電子デバイス。
  11. 前記空洞部は、前記第1のデバイス基板と前記支持基板との間にも存在する
    請求項9記載の電子デバイス。
  12. 前記第1金属膜のうち前記第1のデバイス基板の表面を覆う表面被覆部分と、前記第2金属膜のうち前記支持基板の前記凹部の底面を覆う底面被覆部分とが接している
    請求項9記載の電子デバイス。
  13. 前記平面に沿って前記第1のデバイス基板と前記空洞部を挟んで隣り合うように配置された追加基板をさらに備えた
    請求項1記載の電子デバイス。
  14. 前記第2のデバイス基板は、複数の画素を含み、前記画素ごとに外光を受光して画素信号を生成可能な撮像素子が設けられたセンサ基板であり、
    前記第1のデバイス基板は、前記画素信号の信号処理を行う信号処理回路を含む回路基板である
    請求項1記載の電子デバイス。
  15. 前記信号処理回路は、ロジック回路、メモリ回路、電源回路、画像信号圧縮回路、クロック回路および光通信変換回路のうちの少なくとも1つを含む
    請求項14記載の電子デバイス。
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