JP2024002207A - 半導体発光装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】紫外線を発する半導体発光装置の透明部材と基板とを樹脂で接合した構成でありながら、接合信頼性を損なわない構造を提供する。【解決手段】発光素子11が搭載された基板10をキャップ13により気密に覆う。キャップ13は、枠体132の外側の側面の上部は、天板131の法線に対して所定の角度で傾斜した傾斜面133が設けられている。傾斜面には、天板131内を導波してきた紫外線の一部が到達し、傾斜面133から外部に出射される。【選択図】図1

Description

本発明は、紫外線を発する半導体発光装置に関する。
発光素子を基板上にダイボンディングし、周囲を封止(パッケージング)した半導体発光装置が知られている。可視光を発する発光素子を用いる場合、発光素子の周囲を埋設して樹脂封止するのが一般的である。
一方、紫外線を発する発光素子を用いる場合、紫外線で樹脂が分解されるため、樹脂を用いず、発光素子の周囲の空間を低酸素のガスで満たし、その周りを石英ガラスやサファイア等の透明部材により封止する。紫外線を発する発光素子をダイボンディングする基板には、紫外線で劣化しにくいセラミックス基板が用いられる。透明部材と基板とを接合する接合材としては、紫外線劣化を防ぐために、金属が用いられる。
具体的には、特許文献1および特許文献2にはそれぞれ、凹部を備えるセラミックスの基板に、ガラス製の窓部材が封止部により接合された半導体発光装置が開示されている。特許文献1の封止部は、低融点の金属材料であり、フィレット形状に形成される。特許文献2では、窓部材の上から荷重を加えながらAuSn接合材により窓部材と基板とが接合される。この接合工程を、低酸素濃度の雰囲気下で行うことにより、AuSn接合材の酸化を防止している。
特許文献3および特許文献4には、ガラス製の窓部材の周囲にSi単結晶製のスペーサを固定し、スペーサの下面をセラミックス基板に接合した半導体発光装置が開示されている。スペーサの下面とセラミックス基板との接合には、AuSn接合材が用いられている。
特開2015-18873号公報 特開2018-93137号公報 特開2016-127255号公報 特開2016-127249号公報
従来の紫外線を発光する半導体発光装置は、透明部材と基板との接合に、金属接合材が用いられるが、金属接合材で接合するためには、透明部材側にも基板側にも金属層(メタライズ)を予め設けておく必要がある。そのため、半導体発光装置の構造が複雑になるとともに、製造コストが高くなる。また、金属接合材は、接合時の酸化を防止するために、非酸化雰囲気下で高温に加熱して接合する必要があり、大掛かりな設備が必要になる。
一方、接合材として樹脂を用いた場合、透明部材や基板に予めメタライズを形成しておく必要はなく、構造は簡素化される。また、接合時の酸化の恐れがないため、大気中で接合工程を行うことができる。しかしながら、樹脂製の接合材は、発光素子が発する紫外線により劣化(黄変、分解)するという問題がある。
本発明の目的は、紫外線を発する半導体発光装置の透明部材と基板とを樹脂で接合した構成でありながら、接合信頼性を損なわない構造を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明の半導体発光装置は、紫外線を出射する発光素子と、発光素子が搭載された基板と、基板上の発光素子の周囲の空間を気密に覆うキャップと、キャップを基板の上面に気密に接合する接合材とを有する。キャップは、天板と、天板の下面を基板に対して支持する枠体とを有する。天板と枠体は、紫外線を透過し、かつ、当該紫外線と大気との臨界角が45°以下となる材料により一体に構成されている。枠体の底面は、接合材として樹脂を用いて基板の上面に接合される。枠体の外側の側面の上部は、天板の法線に対して所定の角度で傾斜した傾斜面であり、傾斜面には、天板内を導波してきた紫外線の一部が到達し、傾斜面から外部に出射される。
本発明によれば、透明部材の天板を導波した紫外光を、枠体の傾斜面で外部に出射させ、枠体の下端に到達しないように構成としたため、枠体と基板とを樹脂で接合しながら、紫外線による接合材の劣化を抑制でき、接合信頼性を損なわない効果を達成できる。
実施形態の半導体発光装置の断面図である。 (a)、(b)および(c)はそれぞれ、実施形態の半導体発光装置の上面図、側面図、および、下面図であり、(d)は、半導体発光装置の基板上の配線パターンを示す上面図であり、(e)は、配線パターンに発光素子を搭載した状態の上面図である。 実施形態の半導体発光装置のキャップ13の拡大図と光線の軌跡を示す図である。 (a)は、半導体発光装置のキャップ13の天板131の上面と空気との界面に、臨海角θc≦入射角θi≦ 臨界角θc+2δを満たす入射角で入射して反射され、側面131aに達した光の光路を示す説明図であり、(b)は、天板131の上面と空気との界面に臨界角θc+2δ<入射角θiを満たす入射角され、側面に達した光の光路を示す説明図である。 発光素子11の一例の側面図である。 実施形態の半導体発光装置のキャップの製造工程を示すフロー図である。 実施形態の半導体発光装置のキャップの製造工程を示す断面図である。 実施形態の半導体発光装置の組み立て工程を示すフロー図である。 実施形態の半導体発光装置の組み立て工程を示す断面図である。 実施形態の変形例1の半導体発光装置のキャップ13の拡大図と光線の軌跡を示す図である。 (a)および(b)は、実施形態の変形例2の半導体発光装置のキャップ13の拡大図である。 実施形態の変形例3の半導体発光装置のキャップ13の拡大図と光線の軌跡を示す図である。 (a)および(b)は、実施形態の変形例4の半導体発光装置の上面図である。 (a)は、実施形態の変形例5の半導体発光装置の天板131と空気の界面の入射角と反射率の関係を示すグラフであり、(b)は、変形例1の半導体発光装置のキャップ13の拡大図と光線の軌跡を示す図である。
本発明の一実施形態の半導体発光装置について以下に説明する。
(実施形態)
実施形態の半導体発光装置1の構成について図1~図3を用いて説明する。図1は、実施形態の半導体発光装置1の断面図であり、図2(a)、(b)および(c)はそれぞれ、半導体発光装置1の上面図、側面図、および、下面図である。図2(d)は、半導体発光装置1の基板上の配線パターンを示す上面図であり、図2(e)は、配線パターンに発光素子を搭載した状態の上面図である。なお、図2(b)~(e)は断面図ではないが、構造の理解を容易にするために、配線にハッチングを付している。図3は、キャップ13の拡大図と光線の軌跡を示す図である。
実施形態の半導体発光装置1は、図1および図2(a)~(c)のように、紫外線を出射する発光素子11が、基板10に設けられた一対の配線15a,15bのうちの一方(第1配線15a)上に、素子接合層12によりダイボンディングされている。発光素子11の周囲の空間20は、キャップ13により気密に覆われている。キャップ13の下端は、基板10の上面に、接合材14により気密に接合されている。接合材14は、樹脂である。
キャップ13は、基板10に平行な天板131と、天板131の下面を支持する枠体132とを含む。天板131と枠体132は、発光素子11が出射する波長の紫外線を透過する材料により一体に構成されている。枠体132の底面が、樹脂製の接合材14により基板10の上面に接合されている。
枠体132の外側の側面の上部には、天板131の法線に対して所定の角度で傾斜した傾斜面133が形成されている。傾斜面133には、図3に示すように、天板131内を導波してきた紫外線の一部が到達し、傾斜面133から外部に出射される。
各部の構成についてさらに詳しく説明する。
(キャップ13)
キャップ13の枠体132は、天板131の底面の縁の全周に沿って連続して設けられている。天板131がここでは、正方形であるため、枠体132の外側面の上端を上面から見た形状は、正方形である。枠体132の内側面の上面視した形状も正方形である。ただし、枠体132の外側面の上端から下端に至る途中までは枠体132の内側面方向に傾斜した傾斜面133が形成されている。
具体的には、図3に示すように、枠体132の外側の側面の上端の位置Bは、天板131の発光素子11側(裏面側)の主平面の仮想延長面が、天板131の側面131aの下端に一致している。また、枠体132の外側の側面132aの所定の高さの位置C(枠体132の上端から高さHだけ下方の位置)は、天板131の側面131aより所定の距離e2だけ発光素子11寄りに位置する。枠体132の外側の側面132aの上端Bから所定の高さの位置Cまでの高さHの範囲は、天板131の法線に対して所定の角度φで傾斜した傾斜面133に形成されている。
ここで、発光素子11から出射された紫外線の一部が、天板131を導波し、天板131の側面においてどのような光路をたどるかについて説明する。
発光素子11から上方に向かって出射された光は、そのほとんどが、天板131を厚み方向に通過して、天板131の上面から出射されるが、一部の光は、天板131の上面で反射され、その後、天板131の上面と下面で繰り返し反射されることにより、天板131内を主平面方向に導波する。導波する条件は、天板131内から、天板131の上面および下面にそれぞれ入射する際の入射角が、臨界角θc以上であること、すなわち全反射されることである。
例えば、臨界角θcは、キャップ13(天板131および枠体132)が石英ガラス製である場合、波長265nmの紫外線の場合、石英ガラスの屈折率は、1.50であり、石英ガラスと空気の界面の臨界角θcは41.8°である。波長380nmの紫外線の場合、石英ガラスの屈折率1.47であり、石英ガラスと空気の界面の臨界角θcは42.9°である。また、波長500nmの青色光の場合、石英ガラスの屈折率1.46であり、石英ガラスと空気の界面の臨界角θcは43.2°である。
すなわち、石英ガラスやホウ珪酸ガラスと空気の界面における紫外線の臨界角θcは、波長265nmの紫外線から波長500の青色光の範囲で41.8~43.2°の範囲であり、45°未満である。この臨界角θc以上の入射角で、天板131の上面及び下面に入射する紫外線が、天板131内を導波する。
図4(a)のように、天板131を導波する紫外線が天板131の上面に入射する入射角をθiとする。ここで、入射角θiが臨界角θcである場合、入射角θi(=臨界角θc)で天板131の上面に入射した紫外線は全反射され、天板131の側面131aに到達する。側面131aへの入射角θsは、(θs=90°-θi=90°-θc)となる。上述のように紫外線の臨界角θcは、45°未満であるので、側面への入射角θsは、45°以上になる。すなわち、天板131の側面131aへの入射角θsは、臨界角θc以上の角度であるため、この光は、側面131aにおいて全反射され、枠体132内に入射し、枠体132内を導波する。
同様に、入射角θiが臨界角θcよりも大きい角度で天板131の上面へ入射する紫外線は、上面において全反射され、側面131aに到達し、図4(a)のように側面131aにおいて全反射され、枠体132内を導波する。しかしながら、臨界角θcと45°との差の絶対値の角度を差異角δ(=|45-θc|)とした場合、入射角θiが、臨界角θcよりも2δを超えて大きくなると(θi>θc+2δ=45°+δ)、図4(b)のように、紫外線は、天板131の側面131aへの入射角θsが臨界角θcよりも小さくなるため(θs<90°-θi=90°-(45°+δ)=45°-δ=θc)、側面131aに到達した紫外線は、側面131aを通過して外部に向かって出射される。
したがって、臨界角θcが45°未満で、天板131を導波している紫外線のうち、天板131の上面への入射角θiが、臨界角θc以上(θc+2δ)以下の範囲(臨海角θc≦入射角θi≦臨界角θc+2δ)の紫外線が、側面131aにおいて全反射され、枠体132内を導波して、枠体132の下端の接合材14に到達し、接合材14を劣化させる。
そこで、本実施形態では、図3に示したように、天板131内を導波した紫外線のうち、天板131の上面への入射角θiが、臨界角θc以上(θc+2δ)以下の範囲(臨海角θc≦入射角θi≦臨界角θc+2δ)の紫外線が、傾斜面133に到達するように、キャップ13の端面を構成した。また、傾斜面133は、天板131内を導波した紫外線が、臨界角θc未満のできるだけ垂直に近い角度で入射する傾斜角とした。これにより、天板131の上面への入射角θiが、臨界角θc以上(θc+2δ)以下の紫外線を傾斜面133から外部に出射させることができる。
このように、天板131を導波して、天板131の側面131aに近傍まで到達した紫外線を、側面131aまたは傾斜面133から外部に出射させることにより、枠体132内を紫外線が導波するのを抑制する。これにより、接合材14に紫外線が到達するのを防ぐ。よって、接合材14として樹脂を用いた場合であっても、紫外線による劣化を抑制でき、接合信頼性を損なわない。
以下、キャップ13の端面構造について図3を用いて具体的に説明する。なお、図3においては、紫外線から青色光の範囲の臨界角θcが41.8~43.2°であることを加味し、仮想的に臨界角θcを40°と見積もっている。また、傾斜面133から外部に出射させる紫外線(臨海角θc≦入射角θi≦臨界角θc+2δ)のうち、下限の入射角θi(=θc)を、下限入射角θa(=40°)と呼ぶ。また、臨界角θc=40°の場合、差異角δ(=|45-θc|)=5°であるので、傾斜面133から外部に出射させる紫外線の上限の入射角θi(=(θc+2δ)=(40°+2×5°))=50°である。この上限の入射角θiを上限入射角θb(=50°)と呼ぶ。キャップ131は、天板131の上面への入射角θiが下限入射角θaから上限入射角θbの範囲である紫外線が、傾斜面133に入射する構造である。図3では下限入射角θaと、上限入射角θbの光線の軌跡を図示している。図中において、下限入射角で入射する光をL40°、上限入射角で入射する光をL50°と記載している。
傾斜面133の角度φは、天板131を導波した紫外線の下限入射角θa=40°と上限入射角θb=50°の光が傾斜面133に到達した際に、臨界角θcより小さい角度で傾斜面133に入射するように予め設計されている。なお、天板131の側面131aは傾斜面133を延在した傾斜面とすることもできる。
キャップ13の屈折率は材質によって異なり、また、屈折率には波長依存性があるため、臨界角θcは、キャップ13の材質および紫外線の波長によって異なる。よって、発光素子11の発する紫外線の波長に応じて、臨界角θcを予め算出し、傾斜面133の角度を予め決定しておく。ここで、臨界角θcを実臨界角より1°~3°小さく設定することもできる。
また、傾斜面133から導波光(L40°~L50°の光)が出射できる傾斜面133の角度φの範囲は、45°-(θc-δ)~45°+(θc-δ)とできるが、傾斜面133の法線に近い角度で入射(垂直入射)することが好ましいので天板131の法線に対する角度φの範囲は40°以上50°以下程度が好ましい。好適には45°である。
また、枠体132と天板131の下面との境界には、枠体132の内側から外側に向かって所定の距離Waだけ天板の下面を延長する平面状のスリット16が、枠体132の全周にわたって設けられている。
このスリット16により、天板131の下面を天板131の側面方向へ延長することができるため、枠体132の基部の内側の側面から外側の側面までの幅Wbに係わらず、天板131の下面で光が反射される範囲を天板131の側面方向へ延長することができる。よって、スリット16の先端の位置Aを適切な位置とすることができ、天板131の導波光を天板131の端部近傍まで導波させ、傾斜面133に到達させることができる。
さらに具体的に説明する。枠体132の内側から外側に向かう方向のスリット16の先端の位置Aは、天板131を導波してきた光が枠体132の下方側面132aへ向かうか、または、天板131の上面へ向かうか分岐する分岐端である。
ここで、位置A(近接点)を通り枠体132の下方外側面132aの最も基板10に近い位置に向かう光は、下限入射角θaの光である(ここではLd40°)。この光が枠体132の外側面に至る位置が位置Cであり、傾斜面133の下端となるようにしている。同様に、位置Aで反射して天板131の上面へ向かい、再反射してキャップ13の外側面に到達する光の内、天板131の法線と平行な面で反射される最小入射角の光が上限反射角θbの光である(ここではLr50°)。この光が枠体132の外側面の上端Bになるように、位置Aから傾斜面133の上端Bまでの距離Eとなるようにしている。
上述した説明から、スリット16の先端の位置Aから天板131の側面131aまでの距離Eは、天板131の厚みtと上限入射角θb(=50°)に基づき、下式1の関係になる。
E=2×t×tanθb ・・・式1
スリット16の先端の位置Aから枠体132の外側の側面までの距離e1は、傾斜面133が形成される範囲の高さHと下限入射角θa(=40°)に基づき下式2の関係になる。
e1=H×tanθa ・・・式2
また、傾斜面133の下端C(枠体132の基部の外側の側面)から天板131の側面131aまでの距離e2は、高さHと、傾斜面133の角度φに基づき下式3の関係になる。
e2=H×tanφ ・・・式3
ここで、各距離E、e1、e2は下式3の関係である。
E=e1+e2 ・・・式4
よって、式4に式2と式3を代入して整理した式5から、枠体132の上端から、傾斜面133が形成される範囲の高さHが定められる。
H=( 2×t×tanθb)/ (tanθa +tanφ) ・・・式5
すなわち、傾斜面133を形成する範囲の高さHは、天板131の厚みtと、紫外線の波長と天板131の屈折率の波長依存性を考慮して定めた下限入射角θa=40°と上限入射角θb=50°および、設定した傾斜面133の角度φに応じて式5により算出した範囲である。
なお、上記の数式で設計される距離E、e1、e2、Hは、スリットの先端の位置Aに応じて、臨界角θa(=下限入射角)からθb(=上限入射角)の紫外線を傾斜面133から臨界角以下の角度であって、できるだけ傾斜面133の法線に近い角度で出射させるための計算値である。そのため、実際には余裕をみて、スリット16の先端の位置Aからの距離EをAB方向へ延伸してもよく、同様に傾斜面133を設ける範囲の高さHの下端の位置Cを下方に延伸してもよい。すなわち、図3の破線141のように、天板131の側面131aおよび傾斜面133を外側に張り出した形状にしてもよい。また、天板131の端部の厚み(t’)を薄くしてもよい。これらの部分を延伸又は薄くすることで、外側斜面の領域を拡大することができる。具体的には、距離Eおよび高さHを、上記数式で定められる距離Eおよび高さHよりも5%~20%大きく設定することで、導波光を確実に傾斜面133から出射可能となる。
なお、傾斜面133の角度φは、傾斜面133へ入射する光が、傾斜面133に垂直に近い角度で入射するように定めることが望ましいが、外部に出射できる角度を逸脱しなければよい。
また、枠体の基部幅Wbは、内側に広げることができる。幅Wbを広くすることにより、接合強度が向上する。また、加工性を考慮した幅としてもよい。
また、スリット16を設けたことにより、枠体132の幅Wbを大きく確保することができるため、キャップ13を安定した構造に設計することができる。これにより、樹脂製の接合材14で、枠体132の下端面と基板10とを接合する面積を大きく確保することができるため、気密性の信頼性も高めることができる。
なお、スリット16は、必ずしも設けなくてもよい。スリット16を設けない場合、枠体132の内側の側面の上端と天板131の下面との接続部が上記位置Aとなる。
(基板10)
基板10は、封入ガスの気密を保持できるセラミックを用いる。例えば、窒化アルミ(AlN)製で熱伝導率150~170W/mKの基板10を用いることができる。また、アルミナや窒化珪素製の基板10を用いることもできる。
また、図1に示したように、基板10には、上面に第1配線15a、第2配線15bが設けられ、第1配線15a、第2配線15bにそれぞれに接続された第1ビア17aおよび第2ビア17bを設けられている。基板10の裏面には、第1ビア17aおよび第2ビア17bにそれぞれ接続された第1実装電極18aおよび第2実装電極18が設けられている。第1実装電極18aおよび第2実装電極18bは、銅・タングステン(CuW)、ニッケル(Ni)、金(Au)を順に積層したもの(以後CuW/Ni/Auと記載する)、またはニッケル・クロム(NiCr)/Au/Ni/Auを順に積層したもので構成することができる。
発光素子11が素子接合層12によりダイボンディングされる第1配線15aには、図2(d)に示すように、溶融した素子接合層12の濡れ広がりを第1配線15aの所定の範囲内にとどめるためのアライメントスリット17cが設けられている。これにより、素子接合層12を溶融して発光素子11を第1配線15aに接合する際に、発光素子11の位置ずれを防止し、位置決めすることができる。
基板10のサイズは、基板10の側面が、天板131の側面よりも外側に張り出すように設計されていることが望ましい。これにより、本実施形態の半導体発光装置1を回路基板上に実装する際に、キャップ13の天板131の端部が、周囲の部品と接触して欠けないように保護できる。
また、キャップ13の傾斜面133から斜め下方向に出射される紫外線が、張り出した基板10に照射され、紫外線が回路基板へ照射されることを防ぐことができる。
(発光素子11)
発光素子11は、紫外線から樹脂を変性させる可視光域の紫光(例えば200nm~380nmの紫外線、380nm~415nmの紫光)を発するものを用いる。なお、本説明における紫外線は可視光域の紫光も含むものとする。ここでは、図5のように、下面電極11aと上面にボンディング用の電極パッド11bを備えたものを用いる。発光素子11は、どのような構造のものであってもよく、フリップチップタイプのものや、上面にボンディング用の電極パッドを備えてものでもよい。フリップチップタイプやボンディング用の電極パッドを備えた発光素子11を用いる場合、配線15の形状を、発光素子11の電極構造に対応させて変更する。
また、発光素子11とともに、保護素子21として、ツェナーダイオードを第1配線15a、第2配線15bの間に接続することが好ましい(図2(e)参照)。
(素子接合層12)
素子接合層12は、例えば、金錫合金(Au-20wt%Sn)を用いることができる。素子接合層12は、発光素子11の下面電極と第1配線15aとを接合する。
(ワイヤ19)
発光素子11の上面の電極パッド11bは、ボンディングワイヤ19により、第2配線15bと接続される。ボンディングワイヤ19は、例えば、Au製であり、直径30μmのものを用いる。
(接合材14)
接合材14としては、気密に封止することができる樹脂であればよく、例えばシリコーン樹脂やアクリル樹脂を用いる。
(空間20の封入ガス)
キャップ13により気密に覆われた発光素子11の周囲の空間20には、ドライエアまたはドライ窒素ガス等の不活性ガスが充填されている。または、空間20は、所定の圧力まで減圧された減圧空間とすることもできる。
樹脂製の接合材14は、硬化時の酸化の恐れがないため、空間20に封入するガスとして酸素を成分ガスとして含むドライエアを用いることが可能である。また、接合材14の硬化工程を、大気中で行うことができる。
<発光時の各部の動作と効果>
本実施形態の半導体発光装置1は、回路基板に実装される。回路基板から、基板10の裏面の第1実装電極18aと第2実装電極18bの間に電流を供給すると、発光素子11は紫外線を上面から出射する。
出射された紫外線の大部分は、キャップ13の天板131を通り抜けて上方に出射されるが、一部の紫外線は、天板131内を導波し、天板131の端部付近まで到達する。
このとき、天板131を導波する紫外線のうち天板131の上面および下面への入射角が45°よりも大きな光は、天板131の端面から外部に出射される。一方、天板131を導波する紫外線のうち天板131の上面および下面への入射角が臨界角θc以上臨界角θc+2δ以下の光は、傾斜面133の到達し、傾斜面133から外部に出射される。
よって、紫外線は、枠体132内を下方の端部へ導波せず、接合材14に到達しない。これにより、接合材14の劣化を防ぐことができる。
また、接合材14として樹脂を用いることができるため、空間20に封入するガス、および、接合材14の接合時の周囲の雰囲気を、低酸素にする必要がない。したがって、信頼性が高い半導体発光装置1を低コストに提供することができる。
(製造方法)
実施形態の半導体発光装置1の製造方法について図6および図8のフロー、図7および図9の断面図を用いて説明する。
(キャップの製造方法)
まず、キャップ13の製造方法を説明する。なお、ここでは、石英ガラスまたはホウ珪酸ガラスを用いて製造する例について説明する。以下、石英ガラスまたはホウ珪酸ガラスを単にガラスと呼ぶ。
(ステップS1)
まず、図7(a)のように、天板131用のガラス板(厚さ160μm)、スリット16用のガラス板(厚さ70μm)、枠体132用のガラス板(900μm)を準備する。
図7(b)のように、スリット16用のガラス板を所定のスリット16が形成されるようにカッティングする。カッティングには、レーザーカッティング、ウォータージェットカッティング、ガラスフライス盤、エッチング等を用いる。
(ステップS2)
図7(c)のように、枠体132用のガラス板に空間20が形成されるようにカッティングする。カッティング方法は、ステップS1と同様である。
(ステップS3)
図7(d)のように、下から、枠体132用のガラス板、スリット16用のガラス板、天板131用のガラス板の順に重ね合わせる。圧着装置にセットして、押圧、加熱して各ガラスが接している部分を圧着溶接(熱圧着)し、一体化する。
(ステップS4)
図7(e)のように、枠体132用のガラス板の下面から、枠体132の外側の側面および傾斜面133となる溝部をダイシングにより形成する。
(ステップS5)
図7(f)のように、天板131の側面131aとなる部分をダイシングし切り離し、個片化する。
以上により、キャップ13を製造することができる。
次に組み立て工程について説明する。
(組み立て方法)
(ステップS51)
予め第1配線15a、第2配線15b等が形成されている基板10、発光素子11、および、キャップ13を準備する。
図9(a)のように、AnSn揮発性ソルダーペーストはんだを用いて、基板10の第1配線15aに発光素子11の下面を接合(ダイボンディング)する。
(ステップS52)
図9(b)のように、基板10の第2配線15bと発光素子11の上面の電極パッド11bをボンディングワイヤ19により接続する。
(ステップS53)
図9(c)のように、接合材14として、例えばシリコーン樹脂を基板10のキャップ13の枠体132の下端面が接着される部分に塗布し、その上へキャップ13を載せ、その後、大気雰囲気下で接合材を加熱硬化させて接合(封止)する。
なお、キャップ13の枠体132の下端面シリコーン樹脂を塗布してもよい。
また、キャップ13の封止の際、内部の空間20にドライエアまたは不活性ガスを封入してもよい。また、空間20を減圧してもよい。
以上の工程により、半導体発光装置1を完成させることができる。このように、本実施形態の半導体発光装置1は、樹脂製の接合材14によってキャップ13を基板10へ簡便に接着できる。
(変形例1)
実施形態の変形例1の半導体発光装置について図10を用いて説明する。
変形例1の半導体発光装置は、図10に断面図を示したように、基板10の側面に光吸収性の遮光板101を設けた構成である。遮光板101は、ここでは、主平面が基板10の主平面に対して垂直になるように固定されている。遮光板101の上端の高さは、キャップ13の天板131の上面の高さと一致している。
遮光板101としては、例えば、黒色セラミックまたは黒色アルマイト処理アルミ板を用いることができる。また、遮光板101として、カーボンブラック、蛍光顔料、および、蓄光顔料を配合したテフロン(登録商標)樹脂等から形成された板状部材を用いることができる。
このように遮光板101を基板10の側面から天板131の上面の高さまで配置したことにより、天板131の側面131aおよび傾斜面133から出射された導波光の紫外線は、遮光板101により遮られる。よって、本実施形態の半導体発光装置の側方に配置される他のデバイスや、および、半導体発光装置が実装される回路基板に、側面131aや傾斜面133から出射した紫外線が到達するのを防止することができる。
他の構成は、実施形態と同様であるので説明を省略する。
(変形例2)
実施形態の変形例2の半導体発光装置について図11を用いて説明する。
変形例2では、キャップ13の傾斜面133を、湾曲させた構造である。湾曲させる曲率は、傾斜面133に入射する導波光の入射角が、臨界角(θc)以下になる範囲に設計する。
湾曲の方向は、図11(a)のように外向きに凸形状であってもよいし、図11(b)のように凹形状であってよい。
特に、凹状の湾曲面の傾斜面133は、ガラス加工が容易になり、製造コストの低減が期待でき、好ましい。
他の構成は、実施形態と同様であるので説明を省略する。
(変形例3)
実施形態の変形例3の半導体発光装置について図12を用いて説明する。
紫外線を出射する発光素子11の出射光の指向特性が90°以上である場合、一部の光HL1が、図12のように、キャップ13の枠体132の内側の側面から枠体132入射する。光HL1が。接合材14に到達すると、接合材14を劣化させる恐れがあるがある。
そこで、変形例3では、指向特性が90°以上の発光素子11を用いる場合、枠体132の底面に遮光反射面121を設ける。
遮光反射面121は、枠体132の底面のうち、内周側(空間20に近い側)の一部(幅Wbの約半分)の領域を切り欠いて傾斜面を形成したものである。遮光反射面121は、枠体132の内周の全周に沿って設けられている。遮光反射面121の基板10の上面からの高さは、内周から離れるにつれ高くなり、枠体132の幅Wbの中央部で最も高い。
接合材14は、枠体132の底面のうち、遮光反射面121が形成されていない枠体132の幅Wbの中央部よりも外側の領域を基板10の上面と接合している。
発光素子11から枠体132の内側の側面に入射し、直接、枠体132の底面に向かう光HL1は、遮光反射面121により反射され、接合材14に到達するのを遮られるとともに、上方に向かう。
また、発光素子11から枠体132の内側の側面に入射し、傾斜面133に直接向かう光HL2も、傾斜面133で反射されて上方に向かう。
よって、指向特性が90°以上の発光素子11を用いた場合、図12の構造を採用することにより、接合材14の劣化防止の効果に加え、紫外線の上方からの光出力を向上させることができる。
(変形例4)
実施形態の変形例4の半導体発光装置について図13を用いて説明する。
発光素子11の出射する紫外光の指向特性が、上面視において円形である場合、図3(a)のように、キャップ13の天板131および枠体132を上面視した形状を四隅がR形状(湾曲した形状)の矩形にするか、または、図3(b)のように、キャップ13の天板131および枠体132の上面視した形状を円形にすることが望ましい。
四隅をR形状にしたキャップ13(図13(a))、または、全体を円形としたキャップ13(図13(b))を用いることにより、発光素子11から放射された光とキャップ13の側面が成す角を直交させることができる。これにより、予期しない迷光の発生を抑制でき、迷光が接合材14に到達して接合材14を劣化させるのを防止することができる。
(変形例5)
実施形態の変形例5の半導体発光装置について図14(a),(b)を用いて説明する。
ガラスから空気(真空)へ向かう界面における光の反射率は、入射角を徐々に大きくしていった場合、図13(a)に示すように臨界角θcの直前において高くなる。特に、P偏光は、ブリュースター角において一端ゼロになった後、急激に高くなる。
そこで、接合材14をより劣化させないために、変形例5では、ブリュースター角に基づいて、キャップ13の端面構造を設計し、傾斜面133には、天板131を導波する紫外線が、ブリュースター角θwより小さい角度で入射するようにする。
具体的には、実施形態の臨界角θcをブリュースター角θwとする。よって、下限入射角θaは34°(下限入射角θa=臨界角θc=ブリュースター角θw)、差異角δは11°(ブリュースター角θw-45°の絶対値)、上限入射角θbは56°(ブリュースター角θw+2δ)となる。端面構造は前述の値を用いて実施形態と同様にする。
ブリュースター角に基づき設計されたキャップ13の端面構造は、図13(b)のように、図3の端面構造よりも外側に位置する。
変形例5の半導体発光装置は、接合材14に到達する光をより低減でき、信頼性が高い。
上述してきた実施形態および変形例1~5の半導体発光装置は、樹脂硬化装置の光源や、殺菌、滅菌または除菌装置の光源や、歯科ホワイトニング装置の光源や、偽札判定装置の光源や、植物栽培用の補助光源や、オゾン濃度検出センサー用光源等として用いることができる。
1 半導体発光装置
10 基板
11 発光素子
11a 下面電極
11b 電極パッド
12 素子接合層
13 キャップ
14 接合材
15 配線
15a 第1配線
15b 第2配線
16 スリット
17a 第1ビア
17b 第2ビア
17c アライメントスリット
18a 第1実装電極
18b 第2実装電極
19 ワイヤ
20 空間
21 保護素子
101 遮光板
121 遮光反射面
131 天板
131a 側面
132 枠体
132a 側面
133 傾斜面
141 破線

Claims (13)

  1. 紫外線を出射する発光素子と、
    前記発光素子が搭載された基板と、
    前記基板上の前記発光素子の周囲の空間を気密に覆うキャップと、
    前記キャップを前記基板の上面に気密に接合する接合材とを有し、
    前記キャップは、天板と、前記天板の下面を前記基板に対して支持する枠体とを有し、前記天板と枠体は、紫外線を透過し、かつ、当該紫外線と大気との臨界角が45°以下となる材料により一体に構成され、
    前記枠体の底面は、前記接合材として樹脂を用いて前記基板の上面に接合され、
    前記枠体の外側の側面の上部には、前記天板の法線に対して所定の角度で傾斜した傾斜面が形成され、前記傾斜面には、前記天板内を導波してきた前記紫外線の一部が到達し、前記傾斜面から外部に出射されることを特徴とする半導体発光装置。
  2. 請求項1に記載の半導体発光装置であって、前記枠体の上端は、前記天板の主平面方向の位置が、前記天板の側面に一致し、
    前記傾斜面は、前記枠体の上端から、前記上端より下方の所定の高さまでの範囲に形成され、
    前記傾斜面の下端の位置における前記枠体の側面は、前記天板の側面より所定の距離だけ前記発光素子寄りに位置することを特徴とする半導体発光装置。
  3. 請求項1に記載の半導体発光装置であって、前記傾斜面の角度は、前記天板を導波した紫外線が到達した際に、臨界角より小さい角度で前記傾斜面に入射する予め定められた角度であることを特徴とする半導体発光装置。
  4. 請求項3に記載の半導体発光装置であって、前記傾斜面の角度は、前記天板の法線に対して、40°以上50°以下であることを特徴とする半導体発光装置。
  5. 請求項4に記載の半導体発光装置であって、前記傾斜面の角度は、前記天板の法線に対して、45°であることを特徴とする半導体発光装置。
  6. 請求項1に記載の半導体発光装置であって、前記枠体と前記天板の下面との境界には、前記枠体の内側から外側に向かって所定の距離だけ前記天板の下面を延長する平面状のスリットが、前記枠体の全周にわたって設けられていることを特徴とする半導体発光装置。
  7. 請求項4に記載の半導体発光装置であって、前記枠体の内側から外側に向かう方向の前記スリットの先端の位置と、前記枠体の前記傾斜面の下端の位置とを結ぶ線が、前記天板の法線と成す角度は、前記紫外線の前記天板と空気との界面の臨界角以下であることを特徴とする半導体発光装置。
  8. 請求項1に記載の半導体発光装置であって、前記基板の側面は、前記キャップの前記天板の側面よりも外側に張り出していることを特徴とする半導体発光装置。
  9. 請求項8に記載の半導体発光装置であって、前記基板の端部には、遮光板101が前記基板の主平面に対して垂直に固定され、
    前記遮光板の高さは、前記天板の高さと一致していることを特徴とする半導体発光装置。
  10. 請求項1に記載の半導体発光装置であって、前記枠体の前記傾斜面は、外部に向かって凸または凹に湾曲していることを特徴とする半導体発光装置。
  11. 請求項1に記載の半導体発光装置であって、前記枠体の底面の内周側の所定の領域の一部が切り欠いて傾斜面が形成され、前記傾斜面の高さは、内周から離れるにつれ高くなっていることを特徴とする半導体発光装置。
  12. 請求項1に記載の半導体発光装置であって、前記キャップを上面視した形状は、四隅を湾曲させた矩形、または、円形であることを特徴とする半導体発光装置。
  13. 請求項1に記載の半導体発光装置であって、前記傾斜面は、前記天板を導波する紫外線がブリュースター角より小さい角度で入射する傾斜面であることを特徴とする半導体発光装置。
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