JP2023181770A - 自動分析装置及び判定方法 - Google Patents

Abstract

【課題】反応容器の汚れや傷を精度よく検出すること。【解決手段】実施形態に係る自動分析装置は、反応容器と、光照射部と、光検出部と、状態判定部とを具備する。反応容器は、空の状態にある。光照射部は、前記反応容器に光を照射する。光検出部は、前記反応容器を透過した光の光量を検出する。状態判定部は、前記検出された光量に基づいて、前記反応容器の状態を判定する。【選択図】図１

Description

本明細書及び図面に開示の実施形態は、自動分析装置及び判定方法に関する。

自動分析装置は、患者から採取された試料（例：血液、尿）を自動的に分析することで、試料中の各種成分の濃度等を光学的に測定する装置である。具体的には、自動分析装置は、試料が収容された反応容器に所定の試薬を添加して混合し、この混合液に光を照射して透過した光を検出することで、各種の測定を行う。

ところで、反応容器の表面には、試料と試薬との化学反応等による汚れが付着したり、温度変化や洗浄等による傷が生じたりし得る。従来、斯かる汚れや傷を検出するため、水（純水）が分注された反応容器に光を照射して透過した光を検出する方法が採られている。汚れや傷の程度が大きいほど、照射された光量に対して検出される光量は大きく低下するため、この光量の低下量から反応容器の汚れや傷の程度を検出できる。

しかしながら、上記の方法では、比較的大きな汚れや傷でなければ光量の低下を検出できないため、反応容器の汚れや傷を精度よく検出することは困難である。特に、当該方法では、反応容器の内面に生じた傷には水が浸入することにより十分に光量が低下せず、斯かる傷を精度よく検出することは困難である。

特開平１－１２７９６０号公報

本明細書及び図面に開示の実施形態が解決しようとする課題の一つは、反応容器の汚れや傷を精度よく検出することである。ただし、本明細書及び図面に開示の実施形態により解決しようとする課題は上記課題に限られない。後述する実施形態に示す各構成による各効果に対応する課題を他の課題として位置づけることもできる。

実施形態に係る自動分析装置は、反応容器と、光照射部と、光検出部と、状態判定部とを具備する。反応容器は、空の状態にある。光照射部は、前記反応容器に光を照射する。光検出部は、前記反応容器を透過した光の光量を検出する。状態判定部は、前記検出された光量に基づいて、前記反応容器の状態を判定する。

図１は、第１実施形態に係る自動分析装置の構成例を示す図。 図２は、第１実施形態に係る自動分析装置の分析機構の構成例を示す図。 図３は、第１実施形態に係る自動分析装置の動作例を示すフロー図。 図４は、第１実施形態に係る２種類のブランク値の測定方法を示す図。 図５は、第１実施形態に係る２種類のブランク値の測定結果の一例を示す図。 図６は、第２実施形態に係る自動分析装置の動作例を示すフロー図。

以下、図面を参照しながら実施形態に係る自動分析装置及び判定方法について説明する。以下の実施形態では、同一の参照符号を付した部分は同様の動作を行うものとして、重複する説明を適宜、省略する。

（第１実施形態）
図１は、第１実施形態に係る自動分析装置１の構成例を示す図である。自動分析装置１は、分析機構２、解析回路３、駆動機構４、入力インタフェース５、出力インタフェース６、通信インタフェース７、記憶回路８及び処理回路９を備える。

分析機構２は、駆動機構４及び処理回路９による制御に従って、血液や尿などの試料（サンプル）を光学的に分析する機構である。具体的には、分析機構２は、被検試料と試薬との混合液や、標準試料と試薬との混合液について光学的な物性値（例：透過光強度、吸光度、散乱光強度）を測定する。これにより、分析機構２は、被検試料を含む混合液の物性値を表す被検データと、標準試料を含む混合液の物性値を表す標準データとを生成する。分析機構２は、生成した被検データ及び標準データを解析回路３に出力する。本実施形態において、分析機構２は、分析部の一例である。

図２は、第１実施形態に係る自動分析装置１の分析機構２の構成例を示す図である。分析機構２は、反応ディスク２０１、試料ディスク２０２、第１試薬庫２０３及び第２試薬庫２０４を備える。

＜ディスク系＞反応ディスク２０１は、複数の反応容器２０１ａを環状に配列して保持するディスクである。具体的には、反応ディスク２０１は、駆動機構４による制御に従って、所定の時間間隔（例：４．５秒、９．０秒）で回動及び停止を交互に繰り返すことで、複数の反応容器２０１ａを環状の軌道に沿って搬送する。また、反応ディスク２０１は、反応容器２０１ａ内の混合液を所定の温度に保温する恒温槽と、反応容器２０１ａの外面に付着した気泡や汚れを拭き取るセルワイパとを備える。

反応容器２０１ａは、試料及び試薬の混合液を反応させて保持する容器である。反応容器２０１ａは、例えばガラス、ポリプロピレン又はアクリルにより形成される。反応容器２０１ａは、例えば直方体形状又は円筒形状を成す。なお、反応容器２０１ａは、反応管又はセルとも称される。

試料ディスク２０２は、複数の試料容器２０２ａを環状に配列して保持するディスクである。具体的には、試料ディスク２０２は、駆動機構４による制御に従って、回動及び停止を交互に繰り返すことで、複数の試料容器２０２ａを環状の軌道に沿って搬送する。なお、試料容器２０２ａは、血液や尿などの試料を保持する容器である。

第１試薬庫２０３は、複数の第１試薬容器２０３ａを保冷する貯蔵庫である。また、第１試薬庫２０３には、複数の第１試薬容器２０３ａを保持する第１試薬ラック２０３ｂが回動可能に設けられる。なお、第１試薬容器２０３ａは、血液や尿などの試料に含まれる所定の成分と反応する第１試薬を保持する容器である。

第２試薬庫２０４は、複数の第２試薬容器２０４ａを保冷する貯蔵庫である。また、第２試薬庫２０４には、複数の第２試薬容器２０４ａを保持する第２試薬ラック２０４ｂが回動可能に設けられる。なお、第２試薬容器２０４ａは、２試薬系において第１試薬と対を成す第２試薬を保持する容器である。

上記の各構成に加え、分析機構２は、試料分注アーム２０５、試料分注プローブ２０５ａ、試料プローブ洗浄槽２０５ｂ、第１試薬分注アーム２０６、第１試薬分注プローブ２０６ａ、第１プローブ洗浄槽２０６ｂ、第２試薬分注アーム２０７、第２試薬分注プローブ２０７ａ、第２プローブ洗浄槽２０７ｂ、第１攪拌アーム２０８、第１攪拌子２０８ａ、第１攪拌子洗浄槽２０８ｂ、第２攪拌アーム２０９、第２攪拌子２０９ａ及び第２攪拌子洗浄槽２０９ｂをさらに備える。

＜アーム系＞試料分注アーム２０５は、試料分注プローブ２０５ａを介して、試料ディスク２０２の試料容器２０２ａから試料を吸引し、この試料を反応ディスク２０１の反応容器２０１ａに分注するアームである。具体的には、試料分注アーム２０５は、駆動機構４による制御に従って、鉛直方向に上下動し、水平方向に回動する。試料分注アーム２０５の運動に伴い、試料分注アーム２０５の一端に固定された試料分注プローブ２０５ａも同様に運動する。

試料分注プローブ２０５ａの回動軌道上には、試料分注プローブ２０５ａが試料容器２０２ａから試料を吸引する位置（試料吸引位置）、試料分注プローブ２０５ａが反応容器２０１ａに試料を分注する位置（試料分注位置）、及び試料分注プローブ２０５ａが試料プローブ洗浄槽２０５ｂにより洗浄される位置（洗浄位置）がそれぞれ設定される。具体的には、試料吸引位置は、試料容器２０２ａの回動軌道上に設定され、試料分注位置は、反応容器２０１ａの回動軌道上に設定される。試料分注プローブ２０５ａは、試料吸引位置、試料分注位置及び洗浄位置のそれぞれにおいて上下動することで、試料の吸引及び分注と、試料分注プローブ２０５ａの洗浄とを行う。

第１試薬分注アーム２０６は、第１試薬分注プローブ２０６ａを介して、第１試薬庫２０３の第１試薬容器２０３ａから第１試薬を吸引し、この第１試薬を反応ディスク２０１の反応容器２０１ａに分注するアームである。具体的には、第１試薬分注アーム２０６は、駆動機構４による制御に従って、鉛直方向に上下動し、水平方向に回動する。第１試薬分注アーム２０６の運動に伴い、第１試薬分注アーム２０６の一端に固定された第１試薬分注プローブ２０６ａも同様に運動する。

第１試薬分注プローブ２０６ａの回動軌道上には、第１試薬分注プローブ２０６ａが第１試薬容器２０３ａから第１試薬を吸引する位置（第１試薬吸引位置）、第１試薬分注プローブ２０６ａが反応容器２０１ａに第１試薬を分注する位置（第１試薬分注位置）、及び第１試薬分注プローブ２０６ａが第１プローブ洗浄槽２０６ｂにより洗浄される位置（洗浄位置）がそれぞれ設定される。具体的には、第１試薬吸引位置は、第１試薬容器２０３ａの回動軌道上に設定され、第１試薬分注位置は、反応容器２０１ａの回動軌道上に設定される。第１試薬分注プローブ２０６ａは、第１試薬吸引位置、第１試薬分注位置及び洗浄位置のそれぞれにおいて上下動することで、第１試薬の吸引及び分注と、第１試薬分注プローブ２０６ａの洗浄とを行う。

第２試薬分注アーム２０７は、第２試薬分注プローブ２０７ａを介して、第２試薬庫２０４の第２試薬容器２０４ａから第２試薬を吸引し、この第２試薬を反応ディスク２０１の反応容器２０１ａに分注するアームである。具体的には、第２試薬分注アーム２０７は、駆動機構４による制御に従って、鉛直方向に上下動し、水平方向に回動する。第２試薬分注アーム２０７の運動に伴い、第２試薬分注アーム２０７の一端に固定された第２試薬分注プローブ２０７ａも同様に運動する。

第２試薬分注プローブ２０７ａの回動軌道上には、第２試薬分注プローブ２０７ａが第２試薬容器２０４ａから第２試薬を吸引する位置（第２試薬吸引位置）、第２試薬分注プローブ２０７ａが反応容器２０１ａに第２試薬を分注する位置（第２試薬分注位置）、及び第２試薬分注プローブ２０７ａが第２プローブ洗浄槽２０７ｂにより洗浄される位置（洗浄位置）がそれぞれ設定される。具体的には、第２試薬吸引位置は、第２試薬容器２０４ａの回動軌道上に設定され、第２試薬分注位置は、反応容器２０１ａの回動軌道上に設定される。第２試薬分注プローブ２０７ａは、第２試薬吸引位置、第２試薬分注位置及び洗浄位置のそれぞれにおいて上下動することで、第２試薬の吸引及び分注と、第２試薬分注プローブ２０７ａの洗浄とを行う。

第１攪拌アーム２０８は、第１攪拌子２０８ａを介して、反応容器２０１ａ内の試料と第１試薬との混合液を攪拌するアームである。具体的には、第１攪拌アーム２０８は、駆動機構４による制御に従って、鉛直方向に上下動し、水平方向に回動する。第１攪拌アーム２０８の運動に伴い、第１攪拌アーム２０８の一端に固定された第１攪拌子２０８ａも同様に運動する。

第１攪拌子２０８ａの回動軌道上には、第１攪拌子２０８ａが反応容器２０１ａの混合液を攪拌する位置（第１攪拌位置）、及び第１攪拌子２０８ａが第１攪拌子洗浄槽２０８ｂにより洗浄される位置（洗浄位置）がそれぞれ設定される。具体的には、第１攪拌位置は、反応容器２０１ａの回動軌道上に設定される。第１攪拌子２０８ａは、第１攪拌位置及び洗浄位置のそれぞれにおいて上下動することで、混合液の攪拌と、第１攪拌子２０８ａの洗浄とを行う。

第２攪拌アーム２０９は、第２攪拌子２０９ａを介して、反応容器２０１ａ内の試料と第１試薬と第２試薬との混合液を攪拌するアームである。具体的には、第２攪拌アーム２０９は、駆動機構４による制御に従って、鉛直方向に上下動し、水平方向に回動する。第２攪拌アーム２０９の運動に伴い、第２攪拌アーム２０９の一端に固定された第２攪拌子２０９ａも同様に運動する。

第２攪拌子２０９ａの回動軌道上には、第２攪拌子２０９ａが反応容器２０１ａの混合液を攪拌する位置（第２攪拌位置）、及び第２攪拌子２０９ａが第２攪拌子洗浄槽２０９ｂにより洗浄される位置（洗浄位置）がそれぞれ設定される。具体的には、第２攪拌位置は、反応容器２０１ａの回動軌道上に設定される。第２攪拌子２０９ａは、第２攪拌位置及び洗浄位置のそれぞれにおいて上下動することで、混合液の攪拌と、第２攪拌子２０９ａの洗浄とを行う。

上記の各構成に加え、分析機構２は、測光ユニット２２０及び洗浄乾燥ユニット２３０をさらに備える。本実施形態において、測光ユニット２２０は測光部の一例であり、洗浄乾燥ユニット２３０は洗浄乾燥部の一例である。

＜測光系＞測光ユニット２２０は、反応容器２０１ａ内の混合液に光を照射し、この混合液を透過した光を光学的に測定するユニットである。具体的には、測光ユニット２２０は、反応容器２０１ａの回動軌道上にある所定の位置（測光位置）に設置される。測光ユニット２２０は、反応容器２０１ａに光を照射する光源２２０ａと、反応容器２０１ａを透過した光の光量（透過光強度）を検出する光検出器２２０ｂとを備える。本実施形態において、光源２２０ａは光照射部の一例であり、光検出器２２０ｂは光検出部の一例である。

光源２２０ａは、光源２２０ａと光検出器２２０ｂとの間を通過する反応容器２０１ａに光を照射する。試料の測定において、光源２２０ａは反応容器２０１ａ内に収容された試料と試薬との混合液に光を照射する。光源２２０ａは、ランプとも称される。

光検出器２２０ｂは、反応容器２０１ａ内の混合液を透過した光を検出する。具体的には、光検出器２２０ｂは、被検試料と試薬との混合液や、標準試料と試薬との混合液を透過した光を検出する。次に、光検出器２２０ｂは、検出した光をフォトダイオードアレイ等により電気信号に変換し、この電気信号をアンプ等により増幅する。続いて、光検出器２２０ｂは、増幅した電気信号をアナログデジタル変換回路（ＡＤＣ：Analog-Digital Converter）等によりデジタル信号に変換する。このデジタル信号の信号値は、透過光強度とも称される。

その後、光検出器２２０ｂは、上記のデジタルの信号値の時間変化を示す信号波形（測光波形）に基づいて、前述の被検データ及び標準データを生成する。光検出器２２０ｂは、生成した被検データ及び標準データを解析回路３に出力する。光検出器２２０ｂは、上記のデジタルの信号値や被検データ、標準データを記憶回路８に出力してもよい。なお、光検出器２２０ｂは、測光波形を処理回路９に出力してもよい。

＜洗浄系＞洗浄乾燥ユニット２３０は、反応容器２０１ａを洗浄及び乾燥するユニットである。具体的には、洗浄乾燥ユニット２３０は、反応容器２０１ａの回動軌道上にある所定の位置（洗浄位置）に設置される。洗浄乾燥ユニット２３０は、試料の測定前における反応容器２０１ａや、測光ユニット２２０による試料の測定後における反応容器２０１ａを洗浄及び乾燥する。

例えば、洗浄乾燥ユニット２３０は、試料の測定後における反応容器２０１ａを洗浄する場合、まず反応容器２０１ａ内の混合液を排出する。次に、洗浄乾燥ユニット２３０は、排出された混合液の種類に適する洗浄液（例：酸性洗剤、アルカリ性洗剤、純水）を、反応容器２０１ａに分注し洗浄する。続いて、洗浄乾燥ユニット２３０は、洗浄液を排出した後、反応容器２０１ａを乾燥する。特に、乾燥工程において、洗浄乾燥ユニット２３０は、ワイパを反応容器２０１ａの内面に接した状態で上下動させることで、反応容器２０１ａの内面に付着した水分を拭き取ってもよい。

図１の説明に戻る。解析回路３は、分析機構２から出力された被検データ及び標準データを解析する回路である。例えば、解析回路３は、プロセッサを介して解析プログラムを記憶回路８から読み出し、当該プログラムに従って被検データ及び標準データを解析する。これにより、解析回路３は、被検データ及び標準データから分析データ及び検量データをそれぞれ生成する。解析回路３は、生成した分析データ及び検量データを記憶回路８に出力する。なお、解析回路３は、処理回路９に一体化されてもよい。本実施形態において、解析回路３は、解析部の一例である。

駆動機構４は、処理回路９による制御に従って、分析機構２を駆動する機構である。具体的には、駆動機構４は、各種の機械部品（例：ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、リードスクリュー）により構成される。本実施形態において、駆動機構４は、駆動部の一例である。

入力インタフェース５は、自動分析装置１の操作者からの各種入力を受け付けて電気信号に変換し、この電気信号を処理回路９に出力する装置である。例えば、入力インタフェース５は、分析機構２により分析される試料の種類や成分に関する指定を受け付ける。具体的には、入力インタフェース５は、各種の操作部品（例：マウス、キーボード、タッチパッド、タッチパネル）により構成される。なお、入力インタフェース５は、自動分析装置１とは別体に構成された外部の入力装置から、所定の入力に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を処理回路９に出力するプロセッサでもよい。本実施形態において、入力インタフェース５は、入力部の一例である。

出力インタフェース６は、処理回路９から出力された信号を所定の形式に変換し、この信号を出力する装置である。例えば、出力インタフェース６は、表示回路（例：ＣＲＴディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、ＬＥＤディスプレイ、プラズマディスプレイ）、印刷回路（例：プリンタ）又は音声変換回路（例：スピーカ）により構成される。なお、出力インタフェース６は、入力インタフェース５と一体化され得る。本実施形態において、出力インタフェース６は、出力部の一例である。

通信インタフェース７は、自動分析装置１と外部のシステムとの間でデータ通信を行う装置である。具体的には、通信インタフェース７は、病院ネットワークＮＷに接続され、当該ネットワークを介して病院情報システム（ＨＩＳ：Hospital Information System）や検査部門システム（ＬＩＳ：Laboratory Information System）とデータ通信を行う。本実施形態において、通信インタフェース７は、通信部の一例である。

記憶回路８は、各種の情報（例：データ、プログラム）を記憶する装置である。具体的には、記憶回路８は、解析回路３が実行する解析プログラムや、処理回路９が実行する制御プログラムを記憶する。また、記憶回路８は、解析回路３により生成された分析データ及び検量データを記憶する。記憶回路８は、前述のデジタルの信号値や被検データ、標準データを記憶してもよい。さらに、記憶回路８は、操作者が入力インタフェース５を介して入力した検査オーダや、通信インタフェース７が病院ネットワークＮＷを介して受信した検査オーダを記憶する。記憶回路８は、各種の記憶装置（例：ＨＤＤ、ＳＳＤ、ＲＡＭ、集積回路）でもよいし、各種の可搬性記憶媒体（例：ＣＤ、ＤＶＤ、フラッシュメモリ）でもよい。あるいは、記憶回路８は、これら可搬性記憶媒体との間で情報を読み書きする駆動装置でもよい。本実施形態において、記憶回路８は、記憶部の一例である。

処理回路９は、自動分析装置１の全体の動作を制御する。処理回路９は、少なくとも一つのプロセッサを含む。「プロセッサ」という文言は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ(Graphics Processing Unit)、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ：Application Specific Integrated Circuit）、プログラマブル論理デバイス（例：単純プログラマブル論理デバイス（ＳＰＬＤ：Simple Programmable Logic Device）、複合プログラマブル論理デバイス（ＣＰＬＤ：Complex Programmable Logic Device）、フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ：Field Programmable Gate Array））等の回路を意味する。プロセッサがＣＰＵである場合、プロセッサは記憶回路８に記憶されたプログラムを読み出して実行することで各機能を実現する。一方、プロセッサがＡＳＩＣである場合、各機能がプロセッサの回路内に論理回路として直接組み込まれる。プロセッサは、単一の回路として構成されてもよいし、複数の独立した回路を組み合わせて構成されてもよい。本実施形態において、処理回路９は各機能（例：システム制御機能９１、状態判定機能９２、警告出力機能９３、通知出力機能９４）を実現する。処理回路９は、処理部の一例である。

処理回路９は、システム制御機能９１により、自動分析装置１に含まれる各構成の動作を制御する。例えば、処理回路９は、試料の測定を実施するように分析機構２及び駆動機構４を制御する。このとき、処理回路９は、反応容器２０１ａについて異常が有ると判定された場合、この反応容器２０１ａによる試料の測定を実施しないように、分析機構２の光源２２０ａ及び光検出器２２０ｂを制御してもよい。また、処理回路９は、分析機構２により生成された被検データ及び標準データを解析するように解析回路３を制御する。本実施形態において、システム制御機能９１を実現する処理回路９は、システム制御部の一例である。

処理回路９は、状態判定機能９２により、反応容器２０１ａを透過し、かつ光検出器２２０ｂにより検出された光の光量に基づいて、反応容器２０１ａの状態を判定する。例えば、処理回路９は、反応容器２０１ａの汚れ及び傷のうち少なくとも一方に関する状態を判定する。処理回路９は、判定結果として、反応容器２０１ａの汚れや傷の程度に関する測定データ（図５に後述）を出力してもよい。本実施形態において、状態判定機能９２を実現する処理回路９は、状態判定部の一例である。

また、処理回路９は、状態判定機能９２により、試料による反応容器２０１ａの汚染度を判定する。例えば、処理回路９は、試料の測定前において洗浄及び乾燥された反応容器２０１ａを透過した光の光量（第１光量）と、試料の測定後において洗浄及び乾燥された反応容器２０１ａを透過した光の光量（第２光量）との間の差分に基づいて、上記の判定を行う。ここで、第１光量及び第２光量の間の差分の算出は、処理回路９により実行されてもよい。なお、反応容器２０１ａの汚染度は、複数の段階（レベル）別に判定されてもよい。

また、処理回路９は、状態判定機能９２により、反応容器２０１ａを透過し、かつ光検出器２２０ｂにより検出された光の光量に基づいて、反応容器２０１ａについて異常の有無を判定する。例えば、処理回路９は、検出された光量が所定の平均値以下である場合、反応容器２０１ａについて異常が有ると判定する。ここで、光検出器２２０ｂは、複数の反応容器２０１ａを透過した光の光量をそれぞれ検出した後、処理回路９は、複数の反応容器２０１ａを透過した光の光量について上記の平均値を算出してもよい。もちろん、処理回路９は、検出された光量が所定の平均値に比して一定程度低い場合、反応容器２０１ａについて異常が有ると判定してもよい。

処理回路９は、警告出力機能９３により、反応容器２０１ａについて異常が有ると判定された場合、反応容器２０１ａによる試料の測定結果について警告を出力する。本実施形態において、警告出力機能９３を実現する処理回路９は、警告出力部の一例である。

処理回路９は、通知出力機能９４により、光源２２０ａの初回使用時における所定の平均値よりも、光源２２０ａの２回目以降の使用時における当該平均値が低い場合、光源２２０ａ及び複数の反応容器２０１ａのうち少なくとも一方の交換を促す通知を出力する。ここで、光検出器２２０ｂは、複数の反応容器２０１ａを透過した光の光量をそれぞれ検出した後、処理回路９は、複数の反応容器２０１ａを透過した光の光量について上記の平均値を算出してもよい。本実施形態において、通知出力機能９４を実現する処理回路９は、通知出力部の一例である。

図３は、第１実施形態に係る自動分析装置１の動作例を示すフロー図である。本動作例は、自動分析装置１の操作者からの開始指示に応じて開始されてもよい。なお、本動作例は、自動分析装置１が試料を測定する際のフローである。

（ステップＳ１０１）まず、自動分析装置１は、試料の測定前における反応容器２０１ａを洗浄及び乾燥する。具体的には、自動分析装置１の洗浄乾燥ユニット２３０は、予備洗浄動作として、試料の測定に使用される予定の反応容器２０１ａを洗浄及び乾燥する。これにより、反応容器２０１ａは乾燥状態（空の状態）に置かれる。

（ステップＳ１０２）次に、自動分析装置１は、空の状態に置かれた反応容器２０１ａに光を照射し、反応容器２０１ａを透過した光の光量（透過光強度；エアブランク値）を測定する。具体的には、自動分析装置１の測光ユニット２２０は、光源２２０ａにより反応容器２０１ａに光を照射し、反応容器２０１ａを透過した光の光量を光検出器２２０ｂにより検出する。検出された光の光量は、記憶回路８に記憶される。このとき、反応容器２０１ａごとにエアブランク値が対応付けられて記憶されてもよい。

図４は、第１実施形態に係る２種類のブランク値の測定方法を示す図である。ここでは、反応容器２０１ａが空の状態におけるブランク値（エアブランク値）の測定方法を示す図４Ａと、反応容器２０１ａに水が分注された状態におけるブランク値（水ブランク値）の測定方法を示す図４Ｂが図示される。また、反応容器２０１ａの内面の一部には傷が生じていると想定する。特に、図４Ａの測定方法では、この傷に水が浸入していない一方、図４Ｂの測定方法では、この傷に水が浸入している。

両者の測定方法において、光源２２０ａから照射された光（ビーム）は、反応容器２０１ａの内面にある傷を透過して、光検出器２２０ｂにより検出される。このとき、図４Ａに示す測定方法では、光は反応容器２０１ａ内の空気を透過するのに対し、図４Ｂに示す測定方法では、光は反応容器２０１ａ内の水を透過する。これにより、エアブランク値及び水ブランク値がそれぞれ測定される。

図５は、第１実施形態に係る２種類のブランク値の測定結果の一例を示す図である。ここでは、両者の測定方法による複数の反応容器２０１ａのそれぞれのブランク値を示すグラフ３００が図示される。

グラフ３００には、図４Ａの方法で測定されたエアブランク値を示す第１測定データ３１０Ａと、図４Ｂの方法で測定された水ブランク値を示す第２測定データ３１０Ｂとが示される。グラフ３００の縦軸はブランク値を表し、横軸は反応容器の番号（反応容器Ｎｏ．）を表す。本例では、１１個の反応容器２０１ａに関するデータが示される。これらのうち、３つの反応容器（反応容器Ｎｏ．４－６）は、比較的大きな汚れや傷が存在する容器（異常あり容器）であり、残る８つの反応容器（反応容器Ｎｏ．１－３，７－１１）は、比較的大きな汚れや傷が存在しない容器（異常なし容器）である。特に、３つの異常あり容器のうち、２つの反応容器（反応容器Ｎｏ．４，５）は、残る１つの反応容器（反応容器Ｎｏ．６）よりも汚れや傷の程度が大きい。なお、グラフ３００及び第１測定データ３１０Ａは、出力インタフェース６に出力されてもよい。

第１測定データ３１０Ａによれば、異常あり容器のエアブランク値は「約２００００乃至２３０００」であり、異常なし容器のエアブランク値は、いずれも「約２４５００」であると理解される。したがって、異常あり容器のエアブランク値と、異常なし容器のエアブランク値との間の差分は、「約１５００乃至４５００」である。また、３つの異常あり容器のうち、反応容器Ｎｏ．４，５のエアブランク値は「約２００００」であり、反応容器Ｎｏ．６のエアブランク値は「約２３０００」である。

一方、第２測定データ３１０Ｂによれば、異常あり容器の水ブランク値は「約２７５００乃至２８０００」であり、異常なし容器の水ブランク値は、いずれも「約２８５００」であると理解される。したがって、異常あり容器の水ブランク値と、異常なし容器の水ブランク値との間の差分は、「約５００乃至１０００」である。また、３つの異常あり容器のうち、反応容器Ｎｏ．４，５の水ブランク値は「約２７５００」であり、反応容器Ｎｏ．６の水ブランク値は「約２８０００」である。

両者の測定データにおける２つの差分を比較すると、エアブランク値に基づく差分のほうが、水ブランク値に基づく差分よりも大きいことが理解される。したがって、自動分析装置１はエアブランク値を利用することで、異常あり容器及び異常なし容器をより精度良く識別できる。また、反応容器Ｎｏ．４，５と、反応容器Ｎｏ．６との間のブランク値の差分に着目すると、エアブランク値に基づく差分のほうが、水ブランク値に基づく差分よりも大きいことが理解される。したがって、自動分析装置１はエアブランク値を利用することで、反応容器２０１ａの汚れや傷の程度をより精度よく検出できる。

（ステップＳ１０３）図３の説明に戻る。ここで、自動分析装置１は、反応容器２０１ａのエアブランク値が、操作者が設定した値（設定値）以下であるか否かを判定する。具体的には、自動分析装置１の処理回路９は、状態判定機能９２により、試料の測定に使用される予定の反応容器２０１ａのエアブランク値が設定値以下であるか否かを判定する。この設定値は、自動分析装置１に予め設定されている値でもよい。なお、この設定値は、反応容器２０１ａが異常あり容器であるか、それとも異常なし容器であるかの識別に使用される。図５の例によれば、この設定値は、異常あり容器である反応容器Ｎｏ．６のエアブランク値（約２３０００）と、異常なし容器である反応容器Ｎｏ．７のエアブランク値（約２４５００）との間の値に設定されてもよい。本判定条件が満たされる場合（ステップＳ１０３のＹｅｓ）、処理はステップＳ１０４Ｂに進む。一方、本判定条件が満たされない場合（ステップＳ１０３のＮｏ）、処理はステップＳ１０４Ａに進む。

（ステップＳ１０４Ｂ）この場合、自動分析装置１は、反応容器２０１ａに汚れや傷などの異常が有ると判定し、この反応容器２０１ａを試料の測定に使用しない。そこで、自動分析装置１は、異常が有ると判定された反応容器２０１ａとは異なる次の反応容器２０１ａを選択する。例えば、自動分析装置１は、反応ディスク２０１を回動させることで、次の反応容器２０１ａを洗浄乾燥ユニット２３０の位置に搬送してもよい。これにより、次の反応容器２０１ａが洗浄及び乾燥された後、そのエアブランク値が測定されることになる。本ステップの後、処理はステップＳ１０１に戻る。

（ステップＳ１０４Ａ）この場合、自動分析装置１は、反応容器２０１ａに汚れや傷などの異常が無いと判定し、この反応容器２０１ａを試料の測定に使用する。具体的には、自動分析装置１は、反応容器２０１ａに試料、第１試薬及び第２試薬を分注して攪拌した後、この混合液に対し測光ユニット２２０を用いて試料の測定を行う。混合液を透過して検出された光の光量は、試料の測定結果として記憶回路８に記憶される。

（ステップＳ１０５）続いて、自動分析装置１は、試料の測定後における反応容器２０１ａを洗浄及び乾燥する。試料の測定後であるため、自動分析装置１は、反応容器２０１ａ内の混合液を排出してから、洗浄及び乾燥を行う。本ステップは、ステップＳ１０１と同様である。

（ステップＳ１０６）続いて、自動分析装置１は、空の状態に置かれた反応容器２０１ａに光を照射し、反応容器２０１ａを透過した光の光量（透過光強度；エアブランク値）を測定する。検出された光の光量は、記憶回路８に記憶される。試料の測定後であるため、反応容器２０１ａには、試料と試薬との化学反応等による汚れが付着していたり、温度変化や洗浄等による傷が生じていたりし得る。すなわち、これらの汚れや傷により、試料の測定後におけるエアブランク値は、試料の測定前におけるエアブランク値よりも低下することがある。本ステップは、ステップＳ１０２と同様である。

（ステップＳ１０７）続いて、自動分析装置１は、複数の反応容器２０１ａのエアブランク値について平均値を算出する。具体的には、自動分析装置１は、記憶回路８に記憶された、試料の測定後における複数の反応容器２０１ａのエアブランク値を用いて、当該平均値を算出する。例えば、自動分析装置１は、試料の測定後における全ての反応容器２０１ａのエアブランク値を用いて、当該平均値を算出してもよい。このとき、自動分析装置１は、ステップＳ１０６で測定された処理対象となる所定の反応容器２０１ａのエアブランク値を含めて平均値を算出してもよい。本実施形態において、自動分析装置１は、当該所定の反応容器２０１ａのエアブランク値を含めずに平均値を算出すると想定する。算出された平均値は、記憶回路８に記憶される。

なお、ステップＳ１０６で測定された所定の反応容器２０１ａのエアブランク値とは異なる、他の反応容器２０１ａのエアブランク値が記憶回路８に記憶されていない場合、本ステップは実行されなくともよい。さらに、この場合、本ステップ以降の各ステップを実行せずに、処理を終了しても構わない。

（ステップＳ１０８）ここで、自動分析装置１は、処理対象となる所定の反応容器２０１ａのエアブランク値が、上記の平均値以下であるか否かを判定する。具体的には、自動分析装置１の処理回路９は、状態判定機能９２により、ステップＳ１０６で測定された所定の反応容器２０１ａのエアブランク値が、ステップＳ１０７で算出された複数の反応容器２０１ａのエアブランク値の平均値以下であるか否かを判定する。このとき、自動分析装置１は、当該平均値に一定程度の許容範囲を持たせて、本判定を行ってもよい。本判定条件が満たされる場合（ステップＳ１０８のＹｅｓ）、処理はステップＳ１０９Ｂに進む。一方、本判定条件が満たされない場合（ステップＳ１０８のＮｏ）、処理はステップＳ１０９Ａに進む。

（ステップＳ１０９Ｂ）この場合、自動分析装置１は、処理対象となる所定の反応容器２０１ａに汚れや傷などの異常が有ると判定し、この反応容器２０１ａによる試料の測定結果に警告を出力する。例えば、自動分析装置１の処理回路９は、警告出力機能９３により、記憶回路８に記憶された、この反応容器２０１ａによる試料の測定結果に警告を付与する。また、自動分析装置１は、警告とともに試料の測定結果を出力インタフェース６に出力してもよい。出力インタフェース６が表示回路である場合、表示回路は、試料の測定結果を警告メッセージとともに表示する画面を表示してもよい。これにより、自動分析装置１の操作者は、試料の測定結果に異常が有ることを認識できる。本ステップの後、自動分析装置１は、一連の処理を終了する。

（ステップＳ１０９Ａ）この場合、自動分析装置１は、ステップＳ１０８の判定で使用した平均値が所定の閾値（第１閾値）以下であるか否かを判定する。第１閾値は、例えば、測光ユニット２２０の光源２２０ａの初回使用時における、反応容器２０１ａのエアブランク値である。当該エアブランク値は、光源２２０ａが劣化していない状態におけるエアブランク値とも換言される。このとき、自動分析装置１は、第１閾値に一定程度の許容範囲を持たせて、本判定を行ってもよい。もちろん、第１閾値は、操作者により所定の値に設定されてもよい。本判定条件が満たされない場合（ステップＳ１０９ＡのＮｏ）、処理はステップＳ１１０Ｂに進む。一方、本判定条件が満たされる場合（ステップＳ１０９ＡのＹｅｓ）、処理はステップＳ１１０Ａに進む。

（ステップＳ１１０Ｂ）この場合、自動分析装置１は、処理対象となる所定の反応容器２０１ａに汚れや傷などの異常が無いと判定し、この反応容器２０１ａによる試料の測定結果を出力する。例えば、自動分析装置１の処理回路９は、反応容器２０１ａによる試料の測定結果を出力インタフェース６に出力する。出力インタフェース６が表示回路である場合、表示回路は、試料の測定結果を表示する画面を表示してもよい。これにより、自動分析装置１の操作者は、この試料の測定結果を認識できる。本ステップの後、自動分析装置１は、一連の処理を終了する。

（ステップＳ１１０Ａ）この場合、自動分析装置１は、光源２２０ａの使用時間が所定の閾値（第２閾値）以上であるか否かを判定する。第２閾値は、例えば、光源２２０ａが交換された日付からの所定の経過日数である。もちろん、第２閾値は、操作者により所定の値に設定されてもよい。本判定条件が満たされない場合（ステップＳ１１０ＡのＮｏ）、処理はステップＳ１１１Ｂに進む。一方、本判定条件が満たされる場合（ステップＳ１１０ＡのＹｅｓ）、処理はステップＳ１１１Ａに進む。

（ステップＳ１１１Ｂ）この場合、自動分析装置１は、複数の反応容器２０１ａの多くに汚れや傷が生じていたために、これら複数の反応容器２０１ａのエアブランク値の平均値が第１閾値以下にまで低下していたと判定する。すなわち、自動分析装置１は、ステップＳ１０８における判定に用いた平均値が、不適切であったと判定する。そこで、自動分析装置１は、処理対象となる所定の反応容器２０１ａによる試料の測定結果に警告を出力する。警告の出力は、ステップＳ１０９Ｂと同様である。また、自動分析装置１は、平均値の算出に用いた複数の反応容器２０１ａによる試料の測定結果に警告を出力してもよい。さらに、自動分析装置１は、これら複数の反応容器２０１ａの交換を促す通知を出力してもよい。本ステップの後、自動分析装置１は、一連の処理を終了する。

（ステップＳ１１１Ａ）この場合、自動分析装置１は、光源２２０ａを長時間に亘って使用して光源２２０ａが劣化していたために、複数の反応容器２０１ａのエアブランク値の平均値が第１閾値以下にまで低下していたと判定する。すなわち、自動分析装置１は、ステップＳ１０８における判定に用いた平均値が、不適切であったと判定する。そこで、自動分析装置１は、光源２２０ａの交換を促す通知を出力する。具体的には、自動分析装置１の処理回路９は、通知出力機能９４により、当該通知を出力インタフェース６に出力する。出力インタフェース６が表示回路である場合、表示回路は、当該通知を表示する画面を表示してもよい。これにより、自動分析装置１の操作者は、光源２２０ａの交換が必要であることを認識できる。また、自動分析装置１は、処理対象となる所定の反応容器２０１ａによる試料の測定結果に警告を出力してもよい。警告の出力は、ステップＳ１０９Ｂと同様である。本ステップの後、自動分析装置１は、一連の処理を終了する。

なお、上記の動作例において、自動分析装置１の処理回路９は、状態判定機能９２より、試料の測定前における反応容器２０１ａのエアブランク値と、試料の測定後における反応容器２０１ａのエアブランク値との間の差分を算出してもよい。さらに、自動分析装置１は、算出された差分に基づいて、当該試料により反応容器２０１ａがどの程度汚染されたか（汚染度）を判定してもよい。もちろん、自動分析装置１は、汚染度を出力インタフェース６に出力してもよい。これにより、自動分析装置１の操作者は、反応容器２０１ａを汚染しやすい試料と、反応容器２０１ａを汚染しにくい試料とを識別できる。

以上、第１実施形態に係る自動分析装置１について説明した。自動分析装置１は、光源２２０ａを介して、空の状態にある反応容器２０１ａに光を照射し、光検出器２２０ｂを介して、反応容器２０１ａを透過した光の光量（エアブランク値）を検出する。そして、自動分析装置１は、検出された光量に基づいて、反応容器２０１ａの状態を判定する。

これにより、自動分析装置１は、水ブランク値を利用する方法と比較して、反応容器２０１ａの汚れや傷をより精度よく検出することができる。特に、エアブランク値を利用する方法では、反応容器２０１ａの内面に生じた傷に水が浸入しないため、自動分析装置１は、反応容器２０１ａの内面に生じた傷をより精度よく検出することができる。また、エアブランク値を利用する方法は、新たな機構を必要としないため、既に市場に流通している自動分析装置にも適用可能である。

（第２実施形態）
第１実施形態に係る自動分析装置１は、普段のルーティン検査時などの試薬を測定するタイミングにおいて、反応容器のエアブランク値を測定する。一方、第２実施形態に係る自動分析装置１は、メンテナンス時などの試薬を測定しないタイミングにおいて、反応容器のエアブランク値を測定する。なお、第２実施形態に係る自動分析装置１の構成は、第１実施形態と同様である。

図６は、第２実施形態に係る自動分析装置１の動作例を示すフロー図である。本動作例は、自動分析装置１の操作者からの開始指示に応じて開始されてもよい。なお、本動作例は、自動分析装置１がメンテナンス動作（例：スタートアップ動作、シャットダウン動作）を行う際のフローである。

（ステップＳ２０１）まず、自動分析装置１は、光源２２０ａの使用時間が所定の閾値（第２閾値）以上であるか否かを判定する。本ステップは、ステップＳ１１０Ａと同様である。本判定条件が満たされる場合（ステップＳ２０１のＹｅｓ）、処理はステップＳ２０２Ｂに進む。一方、本判定条件が満たされない場合（ステップＳ２０１のＮｏ）、処理はステップＳ２０２Ａに進む。

（ステップＳ２０２Ｂ）この場合、自動分析装置１は、光源２２０ａを長時間に亘って使用したために、光源２２０ａが劣化していると判定する。すなわち、自動分析装置１は、この光源２２０ａを用いてエアブランク値を測定すべきではないと判定する。そこで、自動分析装置１は、光源２２０ａの交換を促す通知を出力する。本ステップの後、自動分析装置１は、一連の処理を終了する。

（ステップＳ２０２Ａ）この場合、自動分析装置１は、全ての反応容器２０１ａを洗浄及び乾燥する。これにより、全ての反応容器２０１ａは乾燥状態（空の状態）に置かれる。なお、全ての反応容器２０１ａが交換されたばかりである場合（すなわち、未使用の場合）、本ステップは実行されなくともよい。これにより、自動分析装置１は、続くステップＳ２０３を直ちに実行するため、迅速にエアブランク値を測定することができる。

（ステップＳ２０３）次に、自動分析装置１は、空の状態に置かれた全ての反応容器２０１ａのエアブランク値を測定する。全ての反応容器２０１ａのそれぞれのエアブランク値は、記憶回路８に記憶される。

（ステップＳ２０４）続いて、自動分析装置１は、全ての反応容器２０１ａのエアブランク値について平均値を算出する。具体的には、自動分析装置１は、記憶回路８に記憶された、全ての反応容器２０１ａのエアブランク値を用いて当該平均値を算出する。算出された平均値は、記憶回路８に記憶される。

（ステップＳ２０５）ここで、自動分析装置１は、ステップＳ２０４で算出した平均値が所定の閾値（第１閾値）以下であるか否かを判定する。本ステップは、ステップＳ１０９Ａと同様である。本判定条件が満たされる場合（ステップＳ２０５のＹｅｓ）、処理はステップＳ２０６Ｂに進む。一方、本判定条件が満たされない場合（ステップＳ２０５のＮｏ）、処理はステップＳ２０６Ａに進む。

（ステップＳ２０６Ｂ）この場合、自動分析装置１は、全ての反応容器２０１ａの多くに汚れや傷が生じているために、全ての反応容器２０１ａの平均値が第１閾値以下であると判定する。そこで、自動分析装置１は、全ての反応容器２０１ａの交換を促す通知を出力する。本ステップの後、自動分析装置１は、一連の処理を終了する。

（ステップＳ２０６Ａ）この場合、自動分析装置１は、全ての反応容器２０１ａに含まれる個々の反応容器２０１ａについて、エアブランク値が上記の平均値以下であるか否かを判定する。具体的には、自動分析装置１は、処理対象となる所定の反応容器２０１ａのエアブランク値が平均値以下であるか否かを判定する。本ステップは、ステップＳ１０８と同様である。本判定条件が満たされる場合（ステップＳ２０６ＡのＹｅｓ）、処理はステップＳ２０７に進む。一方、本判定条件が満たされない場合（ステップＳ２０６ＡのＮｏ）、処理はステップＳ２０８に進む。

（ステップＳ２０７）この場合、自動分析装置１は、処理対象となる所定の反応容器２０１ａを異常あり容器と判定し記憶する。異常が有ると判定された反応容器２０１ａの番号（反応容器Ｎｏ．）は、記憶回路８に記憶される。

（ステップＳ２０８）続いて、自動分析装置１は、全ての反応容器２０１ａについて処理したか否かを判定する。具体的には、自動分析装置１は、全ての反応容器２０１ａについて異常の有無を判定したか否かを判定する。本判定条件が満たされる場合（ステップＳ２０８のＹｅｓ）、処理はステップＳ２０９に進む。一方、本判定条件が満たされない場合（ステップＳ２０８のＮｏ）、処理はステップＳ２０６Ａに戻る。

（ステップＳ２０９）続いて、自動分析装置１は、ステップＳ２０７において異常ありと判定された各反応容器２０１ａの交換を促す通知を出力する。本ステップの後、自動分析装置１は、一連の処理を終了する。

なお、ステップＳ２０９が終了した後、自動分析装置１の操作者は、異常が有ると判定された各反応容器２０１ａを交換する際に、各反応容器２０１ａ内の残水の有無を目視により確認してもよい。残水により反応容器２０１ａのエアブランク値は大幅に低下するため、自動分析装置１は、ステップＳ２０６Ａにおいて、この残水により反応容器２０１ａに異常が有ると判定した可能性がある。操作者は、反応容器２０１ａ内の残水を視認することで、自動分析装置１の洗浄乾燥ユニット２３０に異常が生じ、反応容器２０１ａ内の乾燥が不十分であったことを認識できる。

なお、上記の通り、メンテナンス動作時において、自動分析装置１は、複数の反応容器２０１ａを透過した光の光量をそれぞれ検出し、かつ複数の反応容器２０１ａを透過した光の光量について平均値を算出してもよい。さらに、自動分析装置１は、光源２２０ａの初回使用時における当該平均値よりも、光源２２０ａの２回目以降の使用時における当該平均値が低い場合、光源２２０ａ及び複数の反応容器２０１ａのうち少なくとも一方の交換を促す通知を出力してもよい。もちろん、自動分析装置１は、当該通知を出力インタフェース６に出力してもよい。操作者は、当該通知を確認することで、光源２２０ａが劣化していることや、複数の反応容器２０１ａに汚れや傷などの異常が有ることを認識できる。また、操作者は、当該通知に従って、光源２２０ａや複数の反応容器２０１ａを交換することができる。これにより、自動分析装置１は保守性の高いシステムとなり得る。

以上、第２実施形態に係る自動分析装置１について説明した。第１実施形態と同様に、第２実施形態において、自動分析装置１は、光源２２０ａを介して、空の状態にある反応容器２０１ａに光を照射し、光検出器２２０ｂを介して、反応容器２０１ａを透過した光の光量（エアブランク値）を検出する。そして、自動分析装置１は、検出された光量に基づいて、反応容器２０１ａの状態を判定する。

これにより、第２実施形態に係る自動分析装置１は、第１実施形態と同様な効果を得ることができる。特に、第２実施形態に係る自動分析装置１は、エアブランク値の測定を、反応容器２０１ａの使用前に実施することで、反応容器２０１ａの使用前に異常のある反応容器２０１ａを精度よく検出することができる。

以上説明した少なくとも１つの実施形態によれば、反応容器の汚れや傷を精度よく検出することができる。

いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更、実施形態同士の組み合わせを行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１ 自動分析装置
２ 分析機構
３ 解析回路
４ 駆動機構
５ 入力インタフェース
６ 出力インタフェース
７ 通信インタフェース
８ 記憶回路
９ 処理回路
９１ システム制御機能
９２ 状態判定機能
９３ 警告出力機能
９４ 通知出力機能
２０１ 反応ディスク
２０１ａ 反応容器
２０２ 試料ディスク
２０２ａ 試料容器
２０３ 第１試薬庫
２０３ａ 第１試薬容器
２０３ｂ 第１試薬ラック
２０４ 第２試薬庫
２０４ａ 第２試薬容器
２０４ｂ 第２試薬ラック
２０５ 試料分注アーム
２０５ａ 試料分注プローブ
２０５ｂ 試料プローブ洗浄槽
２０６ 第１試薬分注アーム
２０６ａ 第１試薬分注プローブ
２０６ｂ 第１プローブ洗浄槽
２０７ 第２試薬分注アーム
２０７ａ 第２試薬分注プローブ
２０７ｂ 第２プローブ洗浄槽
２０８ 第１攪拌アーム
２０８ａ 第１攪拌子
２０８ｂ 第１攪拌子洗浄槽
２０９ 第２攪拌アーム
２０９ａ 第２攪拌子
２０９ｂ 第２攪拌子洗浄槽
２２０ 測光ユニット
２２０ａ 光源
２２０ｂ 光検出器
２３０ 洗浄乾燥ユニット
３００ グラフ
３１０Ａ 第１測定データ
３１０Ｂ 第２測定データ

Claims (10)

1. 空の状態にある反応容器と、
   前記反応容器に光を照射する光照射部と、
   前記反応容器を透過した光の光量を検出する光検出部と、
   前記検出された光量に基づいて、前記反応容器の状態を判定する状態判定部と、
   を具備する自動分析装置。
2. 前記反応容器を洗浄及び乾燥する洗浄乾燥部をさらに具備し、
   前記光照射部は、前記洗浄及び乾燥された反応容器に光を照射し、
   前記光検出部は、前記洗浄及び乾燥された反応容器を透過した光の光量を検出する、
   請求項１に記載の自動分析装置。
3. 前記洗浄乾燥部は、試料の測定前における前記反応容器と、前記試料の測定後における前記反応容器とを洗浄及び乾燥し、
   前記光検出部は、前記試料の測定前における前記洗浄及び乾燥された反応容器を透過した光の第１光量と、前記試料の測定後における前記洗浄及び乾燥された反応容器を透過した光の第２光量とを検出する、
   請求項２に記載の自動分析装置。
4. 前記状態判定部は、前記検出された第１光量と第２光量との間の差分に基づいて、前記試料による前記反応容器の汚染度を判定する、
   請求項３に記載の自動分析装置。
5. システム制御部をさらに具備し、
   前記状態判定部は、前記検出された光量に基づいて、前記反応容器について異常の有無を判定し、
   前記システム制御部は、前記反応容器について異常が有ると判定された場合、前記反応容器による試料の測定を実施しないように前記光照射部及び前記光検出部を制御する、
   請求項１に記載の自動分析装置。
6. 警告出力部をさらに具備し、
   前記状態判定部は、前記検出された光量に基づいて、前記反応容器について異常の有無を判定し、
   前記警告出力部は、前記反応容器について異常が有ると判定された場合、前記反応容器による試料の測定結果について警告を出力する、
   請求項１に記載の自動分析装置。
7. 前記光検出部は、複数の反応容器を透過した光の光量をそれぞれ検出し、
   前記状態判定部は、前記検出された反応容器を透過した光の光量が、前記検出された複数の反応容器を透過した光の光量に関する平均値以下である場合、前記反応容器について異常が有ると判定する、
   請求項５又は６に記載の自動分析装置。
8. 通知出力部をさらに具備し、
   前記光検出部は、複数の反応容器を透過した光の光量をそれぞれ検出し、
   前記通知出力部は、前記光照射部の初回使用時における、前記検出された複数の反応容器を透過した光の光量に関する平均値よりも、前記光照射部の２回目以降の使用時における前記平均値が低い場合、前記光照射部及び前記複数の反応容器のうち少なくとも一方の交換を促す通知を出力する、
   請求項１に記載の自動分析装置。
9. 前記状態判定部は、前記反応容器の汚れ及び傷のうち少なくとも一方に関する状態を判定する、
   請求項１に記載の自動分析装置。
10. 反応容器と、前記反応容器に光を照射する光照射部と、前記反応容器を透過した光の光量を検出する光検出部とを具備する自動分析装置における前記反応容器の状態の判定方法であって、
    前記光照射部により空の状態にある前記反応容器に光を照射し、
    前記光検出部により前記空の状態にある前記反応容器を透過した光の光量を検出し、
    前記検出された光量に基づいて、前記反応容器の状態を判定する、判定方法。