JP2023181444A5 - 分光器および分析装置および波長可変光源 - Google Patents

分光器および分析装置および波長可変光源 Download PDF

Info

Publication number
JP2023181444A5
JP2023181444A5 JP2023187766A JP2023187766A JP2023181444A5 JP 2023181444 A5 JP2023181444 A5 JP 2023181444A5 JP 2023187766 A JP2023187766 A JP 2023187766A JP 2023187766 A JP2023187766 A JP 2023187766A JP 2023181444 A5 JP2023181444 A5 JP 2023181444A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
light
spectrometer according
diffraction grating
concave diffraction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2023187766A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2023181444A (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP2017178919A external-priority patent/JP7147143B2/ja
Priority claimed from JP2022094844A external-priority patent/JP7381952B2/ja
Application filed filed Critical
Publication of JP2023181444A publication Critical patent/JP2023181444A/ja
Publication of JP2023181444A5 publication Critical patent/JP2023181444A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Description

本発明は、分光器および分析装置および波長可変光源に関する。
上述した課題を解決するために、本発明の分光器は、光を入射させる光入射手段と、前記光入射手段によって入射された前記光を波長分散させる凹面回折格子と、前記凹面回折格子によって波長分散された異なる波長の前記光を反射する反射面を有し、回転軸を中心に回転することにより当該反射面の傾きが可変である反射手段と、前記反射手段の前記反射面の傾きを変化させることによって反射された前記波長が異なり分光されたそれぞれの光を出射する単一の光出射手段と、を備え、前記反射手段は、第1の基板にMEMSプロセスにより形成され、前記凹面回折格子の中央部における垂線が、前記第1の基板と交わるように配置されることを特徴とする。

Claims (21)

  1. を入射させる光入射手段と、
    前記光入射手段によって入射された前記光を波長分散させる凹面回折格子と、
    前記凹面回折格子によって波長分散された異なる波長の前記光を反射する反射面を有し、回転軸を中心に回転することにより当該反射面の傾きが可変である反射手段と
    前記反射手段の前記反射面の傾きを変化させることによって反射された前記波長が異なり分光されたそれぞれの光を出射する単一の光出射手段と、を備え、
    前記反射手段は、第1の基板にMEMSプロセスにより形成され、前記凹面回折格子の中央部における垂線が、前記第1の基板と交わるように配置されることを特徴とする分光器。
  2. 前記反射手段を駆動することによって前記反射面の傾きを制御する駆動手段をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の分光器。
  3. 前記光出射手段と、前記凹面回折格子とが、同一の基板に形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の分光器。
  4. 前記光入射手段と、前記反射手段とが、同一の基板に形成されていることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の分光器。
  5. 前記光出射手段と、前記光入射手段とが、同一の基板に形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の分光器。
  6. 前記第1の基板および第2の基板と、
    前記第1の基板と前記第2の基板との間に配置された介在部材とをさらに備え、
    前記光入射手段と前記反射手段とが、前記第1の基板に形成されており、
    前記光出射手段と前記凹面回折格子とが、前記第2の基板に形成されており、
    前記第1の基板および前記第2の基板の各々が、前記介在部材に接合されている
    ことを特徴とする請求項1または2に記載の分光器。
  7. 前記第1の基板および第2の基板と、
    前記第1の基板と前記第2の基板との間において、前記第1の基板および前記第2の基板に対して非平行に配置された第3の基板とをさらに備え、
    前記反射手段が、前記第1の基板に形成されており、
    前記凹面回折格子が、前記第2の基板に形成されており、
    前記光入射手段と前記光出射手段とが、前記第3の基板に形成されており、
    前記第1の基板および前記第2の基板の各々が、前記第3の基板に接合されている
    ことを特徴とする請求項1または2に記載の分光器。
  8. 前記凹面回折格子の中心部の垂線と、前記凹面回折格子が形成されている基板面とが直交しないように、前記凹面回折格子が形成されている
    ことを特徴とする請求項3、4、6、7のいずれか一項に記載の分光器。
  9. 前記光出射手段から出射された前記光を検出する光検出手段をさらに備えることを特徴とする請求項1から8のいずれか一項に記載の分光器。
  10. 前記光出射手段に代えて、前記反射手段によって反射された前記光を検出する単一の光検出手段を備えることを特徴とする請求項1から8のいずれか一項に記載の分光器。
  11. 前記反射手段によって反射された光の特定の波長の光を検出する特定波長検出手段をさらに備えることを特徴とする請求項1から10のいずれか一項に記載の分光器。
  12. 前記特定波長検出手段と、前記凹面回折格子とが、同一の基板に形成されていることを特徴とする請求項11に記載の分光器。
  13. 前記特定波長検出手段は、光検出部と、バンドパスフィルタとを有して構成されている
    ことを特徴とする請求項11または12に記載の分光器。
  14. 前記反射手段によって反射された光を、外部に設けられた前記特定波長検出手段に向けて出射する第2の光出射手段をさらに備えることを特徴とする請求項13に記載の分光器。
  15. 前記第2の光出射手段と、前記凹面回折格子とが、同一の基板に形成されていることを特徴とする請求項14に記載の分光器。
  16. 前記特定波長検出手段によって検出された、前記特定の波長の光の検出信号の時間間隔を一定に制御することで、前記反射手段の傾き範囲を一定に制御することを特徴とする請求項11から15のいずれか一項に記載の分光器。
  17. 光検出手段によって検出される前記光の次数と、前記特定波長検出手段によって検出される前記特定の波長の光の次数とが異なることを特徴とする請求項11から16のいずれか一項に記載の分光器。
  18. 前記反射手段は、前記回転軸の一端と他端の双方を梁部によって支持されていることを特徴とする請求項1に記載の分光器。
  19. 前記駆動手段は圧電駆動方式であることを特徴とする請求項2に記載の分光器。
  20. 光源と、
    請求項1から請求項19のいずれか一項に記載の分光器と
    を備えることを特徴とする分析装置。
  21. 光源と、
    請求項1から請求項9、請求項12から請求項16、請求項18、請求項19のいずれか一項に記載の分光器と
    を備えることを特徴とする波長可変光源。
JP2023187766A 2017-01-20 2023-11-01 分光器および分析装置 Pending JP2023181444A (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017008806 2017-01-20
JP2017008806 2017-01-20
JP2017178919A JP7147143B2 (ja) 2017-01-20 2017-09-19 分光器および分析装置
JP2022094844A JP7381952B2 (ja) 2017-01-20 2022-06-13 分光器および分析装置

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022094844A Division JP7381952B2 (ja) 2017-01-20 2022-06-13 分光器および分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2023181444A JP2023181444A (ja) 2023-12-21
JP2023181444A5 true JP2023181444A5 (ja) 2024-01-11

Family

ID=61003297

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022094844A Active JP7381952B2 (ja) 2017-01-20 2022-06-13 分光器および分析装置
JP2023187766A Pending JP2023181444A (ja) 2017-01-20 2023-11-01 分光器および分析装置

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022094844A Active JP7381952B2 (ja) 2017-01-20 2022-06-13 分光器および分析装置

Country Status (2)

Country Link
JP (2) JP7381952B2 (ja)
WO (1) WO2018135223A1 (ja)

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5929804B2 (ja) * 1976-07-28 1984-07-23 株式会社東芝 分光器
DE3734588A1 (de) * 1987-10-13 1989-04-27 Schmidt Werner Dr Rer Nat Habi Registrierendes photometer hoher anpassungsfaehigkeit
US5889588A (en) * 1996-09-24 1999-03-30 Photon Technology International Random wavelength access monochromator incorporating coaxial off-axis parabolic OAP reflectors
JPH11132847A (ja) * 1997-10-28 1999-05-21 Yokogawa Electric Corp 光スペクトラムアナライザ
JP3141106B2 (ja) 1998-10-02 2001-03-05 東北大学長 球面回折格子による収束光入射型分光装置
FI109149B (fi) * 1999-09-29 2002-05-31 Valtion Teknillinen Spektrometri ja menetelmä optisen spektrin mittaamiseksi
DE19955759A1 (de) * 1999-11-20 2001-05-23 Colour Control Farbmestechnik Spektrometer mit mikromechanischem Spiegel
US7253897B2 (en) * 2001-06-01 2007-08-07 Cidra Corporation Optical spectrum analyzer
DE102004046983A1 (de) * 2004-09-28 2006-04-13 Applied Photonics Worldwide (APW), Inc., Reno Vorrichtung und Verfahren zum spektroskopischen Nachweis und zur Bestimmung von biologischen und chemischen Mitteln in nahen und mittleren Infrarotbereich
US20070160325A1 (en) * 2006-01-11 2007-07-12 Hyungbin Son Angle-tunable transmissive grating
DE102008019600B4 (de) * 2008-04-18 2021-03-04 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Optische Vorrichtung in gestapelter Bauweise und Verfahren zur Herstellung derselben
DE102009043745A1 (de) * 2009-09-30 2011-04-07 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Spektraldetektor mit variabler Filterung durch räumliche Farbtrennung und Laser-Scanning- Mikroskop
DE102010040768B4 (de) 2010-09-14 2022-02-17 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Spektralzerlegungsvorrichtung und Herstellung derselben
CN103017905B (zh) 2012-12-31 2016-04-20 深圳先进技术研究院 集成平面变栅距光栅和微狭缝的微型光谱仪及其制造方法
JP6079616B2 (ja) 2013-12-24 2017-02-15 株式会社デンソー 運行状況記録装置
JP6180954B2 (ja) 2014-02-05 2017-08-16 浜松ホトニクス株式会社 分光器、及び分光器の製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10732040B2 (en) Monolithically configured spectroscopic instrument
TWI546523B (zh) 多波段光譜分離裝置
JP2023181444A5 (ja) 分光器および分析装置および波長可変光源
US7149033B2 (en) UV visual light beam combiner
CN108955889B (zh) 用于低温透射测温的探测器
JP2001183233A (ja) 分光器および分光方法
JP7147143B2 (ja) 分光器および分析装置
JP2022111364A5 (ja)
US4979123A (en) Apparatus for determining concentrations of mineral elements
JP4232781B2 (ja) アッテネータ装置および光スイッチング装置
TWI685660B (zh) 光學檢測裝置
TW201638566A (zh) 分光器以及活體資訊測量裝置
JP7381952B2 (ja) 分光器および分析装置
US5442440A (en) Spectroscope
JP2023500015A (ja) ラマンスペクトルを測定するための装置及びその方法
KR100961138B1 (ko) 분광분석기
CN112789773A (zh) 具有多个组成激光器的激光模组
TWM567357U (zh) 拉曼光譜儀探頭
JPH06186086A (ja) 波長検出装置
WO2022137902A1 (ja) 光学部材及び光学装置
JP2006178207A (ja) アッテネータ装置および光スイッチング装置
JPH075039A (ja) 分光器
CN116435205A (zh) 一种光谱椭偏测量系统
JPH03210435A (ja) 2重単色光分光器
JPH01126519A (ja) 高速走査分光器