JP2023173519A - プローブ - Google Patents
プローブ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2023173519A JP2023173519A JP2022085829A JP2022085829A JP2023173519A JP 2023173519 A JP2023173519 A JP 2023173519A JP 2022085829 A JP2022085829 A JP 2022085829A JP 2022085829 A JP2022085829 A JP 2022085829A JP 2023173519 A JP2023173519 A JP 2023173519A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plunger
- spring
- barrel
- wound portion
- loosely wound
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 32
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 9
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000003801 milling Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
【課題】プランジャの内部側圧を確実に発生させて抵抗値の安定化を図る。【解決手段】中空のバレル部を有する第1プランジャと、前記バレル部内を摺動自在で、その開口した端部から突出する第2プランジャと、前記バレル部の内側に設けられ、前記第1プランジャと前記第2プランジャとを互いに離れる方向に付勢するスプリングとを備え、前記第2プランジャは前記スプリングの一部が入る中空部を有し、前記スプリングは、疎巻部と、前記疎巻部の一端側に位置して前記第1プランジャに当接する第1座巻部と、前記疎巻部の他端側に位置して前記第2プランジャに当接する第2座巻部と、を有し、前記第1座巻部及び前記第2座巻部は前記疎巻部とは異なる径であり、前記第1座巻部及び第2座巻部の中心軸は、前記疎巻部の中心軸に対して同一方向にオフセットしている。【選択図】図1
Description
本発明は、プローブに関する。
従来、プローブとして、中空のバレル部を有する導電性の第1プランジャと、前記バレル部内を摺動自在で、前記バレル部の開口した端部から突出する導電性の第2プランジャと、前記第1のプランジャと前記第2プランジャとを互いに離れる方向に付勢するスプリングと、を備える構造が知られている。
しかしながら、従来一般的なスプリングは偏心構造を持たないため、プローブの場合にはスプリングが圧縮されても撓みにくい。このため、前記第2プランジャを前記バレル部内壁に押し付ける方向の側圧を発生させにくく、プローブの抵抗値、つまり前記第1のプランジャと前記第2プランジャ間の抵抗値が安定しない。
また、下記特許文献1には、ピンのスプリングに接触する部分(以下、ピン底面という)を円錐に加工するともに、ピンとチューブの穴で構成された空間内に、スプリングを設置したプローブピンが開示されている。この場合、スプリングは、径がほぼ等しい中央部分と、これに隣接しかつ徐々に径が小さくなりかつその中心軸が中央部分の中心軸から斜め方向にオフセットされたテーパ部分をもち、全体として湾曲した形状が特徴となっている。使用時にピン底面の円錐部とチューブ穴底面により、スプリングの両端が押し縮められと、ピンはスプリングのテーパ部分によってチューブの軸方向から傾斜した方向に荷重を受けるため、ピンは傾いた状態にあり、ピンがチューブ内壁に押し付けられることでスプリングの軸方向の圧縮量に応じた側圧を発生させている。但し、スプリングの構造は複雑で製造に手間がかかる可能性がある。
上記のように、一般的な偏心構造を持たないスプリング構造のプローブであると側圧を安定的に発生させることができず、プローブの抵抗値が安定しない。また、特許文献1のプローブピンの場合にはスプリング構造が複雑な場合の適用が難しい。
本発明はこうした状況を認識してなされたものであり、その目的の一例は、簡素なスプリング構造でプランジャの内部側圧を確実に発生させて抵抗値の安定化を図ったプローブを提供することにある。本発明の他の目的は、本明細書の記載から明らかになるであろう。
本発明の一態様は、プローブであって、中空のバレル部を有する導電性の第1プランジャと、
前記バレル部内を摺動自在で、前記バレル部の開口した端部から突出する導電性の第2プランジャと、
前記バレル部の内側に設けられ、前記第1プランジャと前記第2プランジャとを互いに離れる方向に付勢するスプリングと、を備え、
前記スプリングは、疎巻部と、前記疎巻部の一端側に位置して前記第1プランジャに当接する第1座巻部と、前記疎巻部の他端側に位置して前記第2プランジャに当接する第2座巻部と、を有し、前記第1座巻部及び前記第2座巻部は前記疎巻部とは異なる径であり、
前記第1座巻部及び第2座巻部の中心軸は、前記疎巻部の中心軸に対して同一方向にオフセットしている。
前記バレル部内を摺動自在で、前記バレル部の開口した端部から突出する導電性の第2プランジャと、
前記バレル部の内側に設けられ、前記第1プランジャと前記第2プランジャとを互いに離れる方向に付勢するスプリングと、を備え、
前記スプリングは、疎巻部と、前記疎巻部の一端側に位置して前記第1プランジャに当接する第1座巻部と、前記疎巻部の他端側に位置して前記第2プランジャに当接する第2座巻部と、を有し、前記第1座巻部及び前記第2座巻部は前記疎巻部とは異なる径であり、
前記第1座巻部及び第2座巻部の中心軸は、前記疎巻部の中心軸に対して同一方向にオフセットしている。
本発明の上記態様によれば、簡素なスプリング構造でプランジャの内部側圧を確実に発生させて抵抗値の安定化を図ったプローブを実現できる。
以下、図面を参照しながら本発明の好適な実施の形態を詳述する。なお、各図面に示される同一または同等の構成要素、部材、処理等には同一の符号を付し、適宜重複した説明は省略する。また、実施の形態は発明を限定するものではなく例示であり、実施の形態に記述されるすべての特徴やその組み合わせは必ずしも発明の本質的なものであるとは限らない。
図1から図4を用いて本発明に係るプローブの実施の形態を説明する。これらの図において、プローブ1は、バレル部11を一体に有する導電性の第1プランジャ10と、バレル部11内を摺動自在で、バレル部11の開口した端部から突出する導電性の第2プランジャ20と、バレル部11の内側に設けられ、第1のプランジャ10と第2プランジャ20とを互いに離れる方向に付勢するスプリング30と、を備える。
第1プランジャ10のバレル部11は、内側に円柱状中空部12を有する有底円筒状であって、一方端部が開口している。第1プランジャ10の開口の反対側は、半導体等の検査対象物のバンプ若しくは電極と接触する先端部13となっており、先端部13は例えば尖った突起部14を複数有している。
第2プランジャ20はスプリング30の一部が入る円柱状中空部21を有する有底円筒形状である。第2プランジャ20は、バレル部11の内側を摺動自在な入管部22と、入管部22よりも小径で、バレル部11の端部から突出する先端部23とを有する。先端部23には検査用基板の電極と接触する突起部24が設けられている。入管部22は、バレル部10の開口端部のかしめ部15により、バレル部10から外れないように保持される。
図2は外力が無いときのスプリング30の正面図、図3は左側面図、図4は右側面図である。これらの図に示すように、スプリング30は弾性金属線を巻回した導電性のコイルスプリングであり、一定の外径となるように巻かれた疎巻部31と、疎巻部31の一端側に位置して第1プランジャ10の内側底面に当接する第1座巻部32と、疎巻部31の他端側に位置して第2プランジャ20の内側底面に当接する第2座巻部33とを有する。疎巻部31は圧縮バネとして機能する有効巻部であり、例えば密巻きである。第1座巻部32及び第2座巻部33は疎巻部31とは異なる径である。図示の場合は、第1座巻部32及び第2座巻部33は疎巻部31よりも大径であり、図3及び図4からわかるように、第1座巻部32の中心軸a及び第2座巻部33の中心軸bは、疎巻部31の中心軸cに対して同じ方向にオフセット(偏心)し、かつ疎巻部31の外周端と、第1座巻部32及び第2座巻部33の外周端とは、疎巻部31の中心軸cに対するオフセット方向の反対側の外側で揃っている。
図1に示すように、バレル部11の内側底面にはスプリング30の第1座巻部32が嵌まる凹部16が形成されている。第1座巻部32の座りを良くするために、第1座巻部32が当接する凹部16の底面16aは、例えばエンドミル加工等によってバレル部11の中心軸11aに垂直な平坦面に形成されている。なお、普通のドリル加工では平坦面にはならない。
以上の実施の形態の構成において、図1の無荷重の状態からプローブ1に荷重を加えて第2プランジャ20の先端部23を押し込んで行くと、スプリング30は圧縮されるが、このとき第1座巻部32及び第2座巻部33が疎巻部41に対して偏心位置に形成されていることに起因して、スプリング30がアーチ状、換言すれば弓なり状に撓む。これにより、第2プランジャ20の内壁がスプリング30に押されて、第2プランジャ20の入管部22をバレル部11の内壁に押し付ける向きの側圧を発生する。この側圧により第2プランジャ20の入管部22がバレル部11の内壁に安定して接触し、第1プランジャ10と第2プランジャ20間の接触抵抗値を低い値に安定的に維持できる。
図5は実施の形態に示したプローブ1の使用例を示す説明図である。この場合、プローブ1は絶縁支持体100を有するソケット90に組み込まれている。絶縁支持体100は貫通孔101aを有する第1絶縁支持体101と、貫通孔102aを有する第2絶縁支持体102とを重ねた構造であり、貫通孔101a及び貫通孔102a内にプローブ1が脱落しないように保持されている。
ソケット90を使用して半導体等の検査対象物110の検査を行う場合、検査対象物110を押し下げて、第1プランジャ10の突起部14を検査対象物110のバンプ111に接触させ、検査用基板120の電極121に第2プランジャ20の先端部23に設けられた突起部24を当接させる。これにより、プローブ1を介して検査対象物110のバンプ111と検査用基板120間を電気接続する。
本実施の形態によれば、下記の効果を奏することができる。
(1) 第1プランジャ10と第2プランジャ20とを相互に離間方向に付勢するスプリング30の第1及び第2座巻部32,33は、疎巻部41とは異なる径であり、かつ第1及び第2座巻部32,33の中心軸が、疎巻部31の中心軸に対して同一方向にオフセット(偏心)している。このため、スプリング30がアーチ状に撓みやすくなる。この結果、第2プランジャ20の内壁がスプリング30に押されて、第2プランジャ20の入管部22がバレル部11の内壁に安定して接触し、第1プランジャ10と第2プランジャ20間の接触抵抗値を低い値に安定的に維持できる。
(2) スプリング30の第1座巻部32及び第2座巻部33を疎巻部31よりも大径とした場合、スプリング30を小径としたときでも第1及び第2座巻部32,33の形成が容易である。また、第1プランジャ10の内側底面にスプリング30が大きな径で当接することになってスプリング30の端部の保持が安定する。
(3) 第1座巻部32が嵌まる凹部16がバレル部11の内側底面に形成され、かつ第1座巻部32が当接する凹部16の底面16aがバレル部11の中心軸11aに垂直な平坦面であるので、第1プランジャ10の内側底面に対する第1座巻部32の座りが安定する。
(4) 疎巻部31及びその両側にある第1及び第2座巻部32,33を有するスプリング30は、左右対称形状であり、天地逆さでも同じ性能が出るため組立性がよい。組立時にスプリング30のバレル部11への挿入方向に配慮する必要が無い。
(5) 第1座巻部32の中心軸a及び第2座巻部33の中心軸bは、疎巻部31の中心軸cに対して同じ方向にオフセット(偏心)している。さらに疎巻部31の外周端と、第1座巻部32の外周端とは、疎巻部31の中心軸cに対するオフセット方向の反対側で揃っている。すなわち、図1等では、疎巻部31の下方が第1座巻部32の下方と揃っている。また、疎巻部31の外周端と、第2座巻部33の外周端とは、疎巻部31の中心軸cに対するオフセット方向の反対側で揃っている。すなわち、図1等では、疎巻部31の下方が第2座巻部33の下方と揃っている。以上のことから、プローブ1の製造容易である。
以上、実施の形態を例に本発明を説明したが、実施の形態の各構成要素や各処理プロセスには請求項に記載の範囲で種々の変形が可能であることは当業者に理解されるところである。以下、変形例について触れる。
実施の形態において、第1プランジャはバレル部を一体に有する一部品であるが、中空のバレル部と先端部とを別部品で構成し、相互に接合一体化した構造であってもよい。
実施の形態において、疎巻部よりもその両側にある第1座巻部及び第2座巻部が大径である場合を例示したが、疎巻部よりも第1座巻部及び第2座巻部が小径であってもよい。
実施の形態では、第1プランジャは先端部に尖った突起部を複数有している場合を図示したが、突起部は1個でもよく、突起部の形状及び配置は検査対象物のバンプ若しくは電極等に対応させて適宜変更可能である。
実施の形態では、スプリング40を第1プランジャ10から見たときに、スプリング40が右巻きになっている場合を図示したが、左巻きであってもよい。
本明細書によれば、以下の態様のプローブが提供される。
(態様1)
態様1は、中空のバレル部を有する導電性の第1プランジャと、
前記バレル部内を摺動自在で、前記バレル部の開口した端部から突出する導電性の第2プランジャと、
前記バレル部の内側に設けられ、前記第1プランジャと前記第2プランジャとを互いに離れる方向に付勢するスプリングと、を備え、
前記スプリングは、疎巻部と、前記疎巻部の一端側に位置して前記第1プランジャに当接する第1座巻部と、前記疎巻部の他端側に位置して前記第2プランジャに当接する第2座巻部と、を有し、前記第1座巻部及び前記第2座巻部は前記疎巻部とは異なる径であり、
前記第1座巻部及び第2座巻部の中心軸は、前記疎巻部の中心軸に対して同一方向にオフセットしている、プローブである。
(態様1)
態様1は、中空のバレル部を有する導電性の第1プランジャと、
前記バレル部内を摺動自在で、前記バレル部の開口した端部から突出する導電性の第2プランジャと、
前記バレル部の内側に設けられ、前記第1プランジャと前記第2プランジャとを互いに離れる方向に付勢するスプリングと、を備え、
前記スプリングは、疎巻部と、前記疎巻部の一端側に位置して前記第1プランジャに当接する第1座巻部と、前記疎巻部の他端側に位置して前記第2プランジャに当接する第2座巻部と、を有し、前記第1座巻部及び前記第2座巻部は前記疎巻部とは異なる径であり、
前記第1座巻部及び第2座巻部の中心軸は、前記疎巻部の中心軸に対して同一方向にオフセットしている、プローブである。
上述の態様1によれば、前記第2プランジャが前記スプリングに押されて、前記バレル部の内壁に安定して接触し、前記第1プランジャと前記第2プランジャ間の接触抵抗値を低い値に安定的に維持できる。
(態様2)
態様2は、前記第1座巻部及び前記第2座巻部が前記疎巻部よりも大径である。
態様2は、前記第1座巻部及び前記第2座巻部が前記疎巻部よりも大径である。
上述の態様2によれば、前記スプリングを小径としたときでも前記第1及び第2座巻部の形成が容易である。また、前記第1プランジャの内側底面に前記スプリングが大きな径で当接することになってスプリングの端部の保持が安定する。
(態様3)
態様3は、前記第1座巻部及び前記第2座巻部が前記疎巻部よりも小径である。
態様3は、前記第1座巻部及び前記第2座巻部が前記疎巻部よりも小径である。
上述の態様3によれば、前記スプリングの外径を細くすることが可能となり、プローブの小径化を図る場合に有利である。
(態様4)
態様4は、前記疎巻部の外周端と、前記第1座巻部及び前記第2座巻部の外周端とが、前記疎巻部の中心軸に対する前記オフセット方向の反対側の外側で揃っている。
態様4は、前記疎巻部の外周端と、前記第1座巻部及び前記第2座巻部の外周端とが、前記疎巻部の中心軸に対する前記オフセット方向の反対側の外側で揃っている。
上述の態様4によれば、前記疎巻部に対する前記第1及び第2座巻部のオフセット量を大きくでき、製造も容易である。
(態様5)
態様5は、前記第1座巻部が嵌まる凹部が前記バレル部の内側底面に形成されている。
態様5は、前記第1座巻部が嵌まる凹部が前記バレル部の内側底面に形成されている。
上述の態様5によれば、前記バレル部の内側底面に対する前記第1座巻部の座りが安定する。
1 プローブ
10 第1プランジャ
11 バレル部
12 円柱状中空部
13 先端部
16 凹部
16a 底面
20 第2プランジャ
21 円柱状中空部
22 入管部
23 先端部
30 スプリング
31 疎巻部
32 第1座巻部
33 第2座巻部
a 第1座巻部の中心軸
b 第2座巻部の中心軸
c 疎巻部の中心軸
10 第1プランジャ
11 バレル部
12 円柱状中空部
13 先端部
16 凹部
16a 底面
20 第2プランジャ
21 円柱状中空部
22 入管部
23 先端部
30 スプリング
31 疎巻部
32 第1座巻部
33 第2座巻部
a 第1座巻部の中心軸
b 第2座巻部の中心軸
c 疎巻部の中心軸
Claims (5)
- 中空のバレル部を有する導電性の第1プランジャと、
前記バレル部内を摺動自在で、前記バレル部の開口した端部から突出する導電性の第2プランジャと、
前記バレル部の内側に設けられ、前記第1プランジャと前記第2プランジャとを互いに離れる方向に付勢するスプリングと、を備え、
前記スプリングは、疎巻部と、前記疎巻部の一端側に位置して前記第1プランジャに当接する第1座巻部と、前記疎巻部の他端側に位置して前記第2プランジャに当接する第2座巻部と、を有し、前記第1座巻部及び前記第2座巻部は前記疎巻部とは異なる径であり、
前記第1座巻部及び第2座巻部の中心軸は、前記疎巻部の中心軸に対して同一方向にオフセットしている、プローブ。 - 前記第1座巻部及び前記第2座巻部は前記疎巻部よりも大径である、請求項1に記載のプローブ。
- 前記第1座巻部及び前記第2座巻部は前記疎巻部よりも小径である、請求項1に記載のプローブ。
- 前記疎巻部の外周端と、前記第1座巻部及び前記第2座巻部の外周端とは、前記疎巻部の中心軸に対する前記オフセット方向の反対側の外側で揃っている、請求項1から3のいずれか一項に記載のプローブ。
- 前記第1座巻部が嵌まる凹部が前記バレル部の内側底面に形成されている、請求項1から3のいずれか一項に記載のプローブ。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022085829A JP2023173519A (ja) | 2022-05-26 | 2022-05-26 | プローブ |
PCT/JP2023/018527 WO2023228846A1 (ja) | 2022-05-26 | 2023-05-18 | プローブ |
TW112118558A TW202405450A (zh) | 2022-05-26 | 2023-05-18 | 探針 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022085829A JP2023173519A (ja) | 2022-05-26 | 2022-05-26 | プローブ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2023173519A true JP2023173519A (ja) | 2023-12-07 |
Family
ID=88919256
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022085829A Pending JP2023173519A (ja) | 2022-05-26 | 2022-05-26 | プローブ |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2023173519A (ja) |
TW (1) | TW202405450A (ja) |
WO (1) | WO2023228846A1 (ja) |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6039973U (ja) * | 1983-08-25 | 1985-03-20 | 三興線材工業株式会社 | 回路検査針 |
JP3195295B2 (ja) * | 1993-02-10 | 2001-08-06 | 株式会社ヨコオ | 電気接続用コネクタ |
JP2002008761A (ja) * | 2000-06-23 | 2002-01-11 | Tyco Electronics Amp Kk | スプリングコンタクト |
US7545159B2 (en) * | 2006-06-01 | 2009-06-09 | Rika Denshi America, Inc. | Electrical test probes with a contact element, methods of making and using the same |
JP2010060527A (ja) * | 2008-09-05 | 2010-03-18 | Yokowo Co Ltd | グランド用コンタクトプローブを有する検査ユニット |
JP2017037021A (ja) * | 2015-08-11 | 2017-02-16 | 山一電機株式会社 | 検査用コンタクト端子、および、それを備える電気接続装置 |
JP2018200821A (ja) * | 2017-05-29 | 2018-12-20 | 株式会社エンプラス | 電気接触子及び電気部品用ソケット |
JP2021177446A (ja) * | 2020-05-07 | 2021-11-11 | 株式会社ヨコオ | スプリングコネクタ |
-
2022
- 2022-05-26 JP JP2022085829A patent/JP2023173519A/ja active Pending
-
2023
- 2023-05-18 TW TW112118558A patent/TW202405450A/zh unknown
- 2023-05-18 WO PCT/JP2023/018527 patent/WO2023228846A1/ja unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2023228846A1 (ja) | 2023-11-30 |
TW202405450A (zh) | 2024-02-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6462567B1 (en) | Self-retained spring probe | |
TWI482974B (zh) | 接觸式探針及探針座 | |
KR101894965B1 (ko) | 프로브 핀 및 ic 소켓 | |
US8083552B2 (en) | Probe pin | |
JP5083430B2 (ja) | コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット | |
TWM344664U (en) | Electrical contact | |
TW201730566A (zh) | 探針以及使用該探針的檢查裝置 | |
JP4614434B2 (ja) | プローブ | |
JP2015507198A (ja) | 絶縁部材を有する電気コネクタ | |
JP4999079B2 (ja) | プローブ | |
US20210199689A1 (en) | Socket | |
WO2023228846A1 (ja) | プローブ | |
WO2018105316A1 (ja) | プローブピンおよびicソケット | |
JP2014211378A (ja) | スプリングプローブ | |
WO2023228844A1 (ja) | プローブ | |
WO2023032625A1 (ja) | プローブ及び検査用ソケット | |
US20220416462A1 (en) | Spring connector | |
WO2021085229A1 (ja) | スプリングコネクタおよびスプリングコネクタの製造方法 | |
WO2023181906A1 (ja) | スプリングコネクタ | |
JP2011258547A (ja) | 接続ピン | |
TW202416596A (zh) | 彈簧連接器 | |
JP2010096735A (ja) | コンタクトプローブ端子 | |
JP2000251995A (ja) | 電気接続用コネクタ | |
JP2018021816A (ja) | スプリングプローブ | |
WO2015163160A1 (ja) | プローブピンおよびicソケット |