JP2023146839A - 自動分析装置及び自動分析装置において試料容器を押さえる方法 - Google Patents

Abstract

【課題】ピアサ針をキャップから引き抜く際の押さえ部品とキャップとの貼りつきを抑制すること。【解決手段】自動分析装置は、上面がキャップにより封止された試料容器のキャップにピアサ針で穿孔した状態で、試料容器内のサンプリングを行う自動分析装置である。自動分析装置は、押さえ機構を有する。押さえ機構は、キャップを弾性的に押さえる。また、押さえ機構は、ピアサ針をキャップから引き抜くときに試料容器が浮き上がることを抑制する抑制機能を有する。【選択図】図８

Description

本明細書及び図面に開示の実施形態は、自動分析装置及び自動分析装置において試料容器を押さえる方法に関する。

血液検体の分析を行う自動分析装置の中には、血液の凝固特性に基づいて対象成分の分析を行う血液凝固分析装置がある。血液検体は、キャップで上面を封止する試料容器にて保管される。このような自動分析装置では、血液検体を吸引するプローブを試料容器に挿入するのに先立ち、ピアサ針を用いてキャップを穿孔して、キャップの屑によるプローブの目詰まりを回避している。

試料容器からの血液検体の吸引後には、ピアサ針がキャップから引き抜かれる。例えば、押さえ部品でキャップを上方から押さえた状態で、ピアサ針をキャップから引き抜く。このとき、押さえ部品が強い力でキャップを押さえていると、押さえ部品にキャップが貼りつき、押さえ部品をキャップから取り外すために上昇させたときに、キャップ及び試料容器が浮き上がってしまうことがある。

試料容器が浮き上がると、試料容器を保持する試料ラックも浮き上がり、その後落下する。このとき、試料ラックの位置がずれる場合がある。試料ラックの位置がずれることにより、当該試料ラックに保持された他の試料容器の位置もずれ、これにより他の試料容器からの血液検体の吸引が適切に行えなくなる。また、試料容器が試料ラックから浮いた状態になると、試料容器上端の高さが高くなり、自動分析装置内を搬送されるときに、当該自動分析装置内の他の部材に接触することもある。これらの問題は、血液凝固型の自動分析装置に限らず、試料容器のキャップにピアサ針で穿孔した状態で、試料容器内の試料のサンプリングを行う他の自動分析装置においても起こり得る。

特開２０１６－３９７０号公報

本明細書及び図面に開示の実施形態が解決しようとする課題の一つは、ピアサ針をキャップから引き抜く際の押さえ部品とキャップとの貼りつきを抑制することである。ただし、本明細書及び図面に開示の実施形態により解決しようとする課題は上記課題に限られない。後述する実施形態に示す各構成による各効果に対応する課題を他の課題として位置づけることもできる。

実施形態に係る自動分析装置は、上面がキャップにより封止された試料容器のキャップにピアサ針で穿孔した状態で、試料容器内のサンプリングを行う自動分析装置である。自動分析装置は、押さえ機構を有する。押さえ機構は、キャップを弾性的に押さえる。また、押さえ機構は、ピアサ針をキャップから引き抜くときに試料容器が浮き上がることを抑制する抑制機能を有する。

図１は、本実施形態に係る自動分析装置の一例の機能構成を示すブロック図である。 図２は、自動分析装置の分析機構の構成の一例を示す図である。 図３は、分析機構の測定部を上面から見た図である。 図４は、測定部を側面から見た図である。 図５は、測定部の別の例を上面から見た図である。 図６は、試料容器内の試料のサンプリングを行う方法の一例を示す図である。 図７は、自動分析装置の押さえ機構を示す図であって、押さえ機構を、試料容器のキャップを押さえた状態で示す斜視図である。 図８は、押さえ機構の全体を示す斜視図である。 図９は、押さえ機構の一部を拡大して示す斜視図である。 図１０は、押さえ機構の駆動側部品、ヘッド側部品及び弾性部材を示す側面図である。 図１１は、押さえ機構の駆動側部品、ヘッド側部品及び弾性部材を示す側面図である。 図１２は、駆動側部品の位置を検出する方法を説明するための図である。 図１３は、駆動側部品の位置を検出する方法を説明するための図である。 図１４は、駆動側部品の位置を検出する方法を説明するための図である。 図１５は、駆動側部品の位置を検出する方法を説明するための図である。

以下、図面を参照して実施形態について説明する。なお、本明細書に添付する図面においては、図示と理解のしやすさの便宜上、適宜縮尺及び縦横の寸法比等を、実物のそれらから変更し誇張してある。

図１は、本実施形態に係る自動分析装置１の機能構成の例を示すブロック図である。本実施形態においては、自動分析装置１は、例えば、血液凝固分析装置である。なお、以下においては、血液凝固型の自動分析装置１を例として、本実施形態を説明するが、他の分析方法の自動分析装置でも本実施形態を実現することができる。図１に示すように、本実施形態に係る自動分析装置１は、分析機構２と、解析回路３と、駆動機構４と、入力インターフェース５と、出力インターフェース６と、通信インターフェース７と、記憶回路８と、制御回路９と、押さえ機構１０とを備えて構成されている。

分析機構２は、被検者の検体である血液検体と、各検査項目で用いられる試薬である凝固試薬とを混合した混合液を生成する。また、分析機構２は、検査項目によっては、所定の倍率で希釈した標準液と、この検査項目で用いられる試薬とを混合する。分析機構２は、血液検体と試薬との混合液や標準液と試薬との混合液の光学的な物性値を連続的に測定する。この測定により、例えば、透過光強度、吸光度、散乱光強度等で表される標準データ、及び被検データが生成される。

解析回路３は、分析機構２により生成される標準データ、及び被検データを解析することで、血液検体の凝固に関する検量データ、及び分析データを生成するプロセッサである。解析回路３は、例えば、記憶回路８から解析プログラムを読み出し、読み出した解析プログラムに従って標準データ、及び被検データを解析する。なお、解析回路３は、記憶回路８で記憶されているデータの少なくとも一部を記憶する記憶領域を備えてもよい。

駆動機構４は、制御回路９の制御に従い、分析機構２を駆動させる。駆動機構４は、例えば、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。

入力インターフェース５は、例えば、操作者から、又は病院内ネットワークＮＷを介して測定を依頼された血液検体に係る各検査項目の分析パラメータ等の設定を受け付ける。入力インターフェース５は、例えば、マウス、キーボード、及び、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッド等により実現される。入力インターフェース５は、制御回路９に接続され、操作者から入力される操作指示を電気信号へ変換し、電気信号を制御回路９へ出力する。なお、本明細書において入力インターフェース５はマウス、及びキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、自動分析装置１とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路９へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェース５の例に含まれる。

出力インターフェース６は、制御回路９に接続され、制御回路９から供給される信号を出力する。出力インターフェース６は、例えば、表示回路、印刷回路、及び音声デバイス等により実現される。表示回路には、例えば、ＣＲＴディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、ＬＥＤディスプレイ、及びプラズマディスプレイ等が含まれる。なお、表示対象を表すデータをビデオ信号に変換し、ビデオ信号を外部へ出力する処理回路も表示回路に含まれる。印刷回路は、例えば、プリンタ等を含む。なお、印刷対象を表すデータを外部へ出力する出力回路も印刷回路に含まれる。音声デバイスは、例えば、スピーカ等を含む。なお、音声信号を外部へ出力する出力回路も音声デバイスに含まれる。

通信インターフェース７は、例えば、病院内ネットワークＮＷと接続する。通信インターフェース７は、病院内ネットワークＮＷを介してＨＩＳ（Hospital Information System）とデータ通信を行う。なお、通信インターフェース７は、病院内ネットワークＮＷと接続する検査部門システム（Laboratory Information System:ＬＩＳ）を介してＨＩＳとデータ通信を行ってもよい。

記憶回路８は、磁気的、若しくは光学的記録媒体、又は半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等を含む。なお、記憶回路８は、必ずしも単一の記憶装置により実現される必要は無い。例えば、記憶回路８は、複数の記憶装置により実現されてもよい。

記憶回路８は、解析回路３で実行される解析プログラム、及び制御回路９に備わる機能を実現するための制御プログラムを記憶している。記憶回路８は、解析回路３により生成される検量データを検査項目毎に記憶する。記憶回路８は、解析回路３により生成される分析データを血液検体毎に記憶する。記憶回路８は、操作者から入力された検査オーダ、又は通信インターフェース７が病院内ネットワークＮＷを介して受信した検査オーダを記憶する。

制御回路９は、自動分析装置１の中枢として機能するプロセッサである。制御回路９は、記憶回路８に記憶されているプログラムを実行することで、実行したプログラムに対応する機能を実現する。なお、制御回路９は、記憶回路８で記憶されているデータの少なくとも一部を記憶する記憶領域を備えてもよい。

図２は、図１に示される分析機構２の構成の一部における一例を示す模式図である。この図２に示すように、本実施形態に係る分析機構２は、反応ディスク２０１と、恒温部２０２と、ラックサンプラ２０３と、試薬庫２０４とを備えて構成されている。

反応ディスク２０１は、複数の反応容器２０１１を、環状に配列させて保持する。反応容器２０１１は、キュベットとも呼ばれる。反応ディスク２０１は、反応容器２０１１を所定の経路に沿って搬送する。具体的には、検体の分析動作中、反応ディスク２０１は、駆動機構４により、既定の時間間隔で回動と停止とが交互に繰り返される。反応容器２０１１は、例えば、ポリプロピレン（ＰＰ）又はアクリルにより形成されている。図２では図示を省略しているが、自動分析装置１は、反応ディスク２０１を覆う遮光カバーを有している。

恒温部２０２は、所定の温度に設定された熱媒体を貯留し、貯留する熱媒体に反応容器２０１１を浸漬させることで、反応容器２０１１に収容される混合液を昇温する。

ラックサンプラ２０３は、複数の試料容器を保持可能な試料ラック２０３１を、移動可能に支持しており、これら複数の試料容器には、測定を依頼された検体である血液検体が収容されている。図２に示す例では、５本の試料容器を並列して保持可能な試料ラック２０３１が示されている。

ラックサンプラ２０３には、試料ラック２０３１を搬送する搬送領域２０３２が設けられている。すなわち、この搬送領域２０３２を使用して、試料ラック２０３１が投入される投入位置から、測定が完了した試料ラック２０３１を回収する回収位置まで、試料ラック２０３１が搬送される。搬送領域２０３２では、長手方向に整列された複数の試料ラック２０３１が、駆動機構４により、方向Ｄ１へ移動される。

また、ラックサンプラ２０３には、試料ラック２０３１で保持される試料容器を所定の試料吸引位置へ移動させるため、試料ラック２０３１を搬送領域２０３２から引き込む引き込み領域２０３３が設けられている。試料吸引位置は、例えば、サンプル分注プローブ２０７の回動軌道と、ラックサンプラ２０３で支持されて試料ラック２０３１で保持される試料容器の開口部の移動軌道とが交差する位置に設けられる。引き込み領域２０３３では、搬送されてきた試料ラック２０３１が、駆動機構４により、方向Ｄ２へ移動される。

また、ラックサンプラ２０３には、試料が吸引された試料容器を保持する試料ラック２０３１を搬送領域へ戻すための戻し領域２０３４が設けられている。戻し領域２０３４では、試料ラック２０３１が、駆動機構４により、方向Ｄ３へ移動される。

試薬庫２０４は、標準液、及び血液検体に対して実施される各検査項目で用いられる試薬等を収容する複数の試薬容器２００を保冷しながら保持する。試薬庫２０４内には、回転テーブルが回転自在に設けられている。回転テーブルは、複数の試薬容器２００を円環状に載置して保持する。

さらに、図２に示される本実施形態に係る分析機構２は、サンプル分注アーム２０６と、サンプル分注プローブ２０７と、試薬分注アーム２０８と、試薬分注プローブ２０９とを備える。

サンプル分注アーム２０６は、反応ディスク２０１とラックサンプラ２０３との間に設けられている。サンプル分注アーム２０６は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。サンプル分注アーム２０６は、一端にサンプル分注プローブ２０７を保持する。

サンプル分注プローブ２０７は、サンプル分注アーム２０６の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、ラックサンプラ２０３上の試料ラック２０３１で保持される試料容器から試料を吸引するための試料吸引位置が設けられている。また、サンプル分注プローブ２０７の回動軌道上には、サンプル分注プローブ２０７が吸引した試料を反応容器２０１１へ分注するためのサンプル分注位置が設けられている。サンプル分注位置は、例えば、サンプル分注プローブ２０７の回動軌道と、反応ディスク２０１に保持されている反応容器２０１１の移動軌道との交点に相当する。

サンプル分注プローブ２０７は、駆動機構４によって駆動され、試料吸引位置、又はサンプル分注位置において上下方向に移動する。また、サンプル分注プローブ２０７は、制御回路９の制御に従い、試料吸引位置の直下に位置する試料容器から試料を吸引する。また、サンプル分注プローブ２０７は、制御回路９の制御に従い、吸引した試料を、サンプル分注位置の直下に位置する反応容器２０１１へ分注する。これらサンプル分注アーム２０６とサンプル分注プローブ２０７とにより、本実施形態における試料分注機構の一例が構成される。

試薬分注アーム２０８は、反応ディスク２０１と試薬庫２０４との間に設けられている。試薬分注アーム２０８は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。試薬分注アーム２０８は、一端に試薬分注プローブ２０９を保持する。

試薬分注プローブ２０９は、試薬分注アーム２０８の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、試薬吸引位置が設けられている。試薬吸引位置は、例えば、試薬分注プローブ２０９の回動軌道と、試薬庫２０４の回転テーブルに円環状に載置される試薬容器２００の開口部の移動軌道とが交差する位置に設けられる。また、試薬分注プローブ２０９の回動軌道上には、試薬分注プローブ２０９が吸引した試薬を反応容器２０１１へ分注するための試薬分注位置が設定されている。試薬分注位置は、例えば、試薬分注プローブ２０９の回動軌道と、反応ディスク２０１に保持されている反応容器２０１１の移動軌道との交点に相当する。

試薬分注プローブ２０９は、駆動機構４によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、又は試薬分注位置において上下方向に移動する。また、試薬分注プローブ２０９は、制御回路９の制御に従い、試薬吸引位置で停止している試薬容器２００から試薬を吸引する。また、試薬分注プローブ２０９は、制御回路９の制御に従い、吸引した試薬を、試薬分注位置の直下に位置する反応容器２０１１へ分注する。これら試薬分注アーム２０８と試薬分注プローブ２０９とにより、本実施形態における試薬分注機構の一例が構成される。

本実施形態の自動分析装置１は、ピアサ針１０５０を有している（図６参照）。ピアサ針１０５０は、サンプル分注プローブ２０７の試料の吸引のため、試料容器１０００の上面を封止するキャップ１０１０を穿孔する。穿孔可能なように、本実施形態においては、このキャップ１０１０は、例えばゴム栓により構成されている。ピアサ針１０５０は、図示しないピアサ針アームの一端に保持されてもよい。ピアサ針アームは、サンプル分注アーム２０６と同様に、反応ディスク２０１とラックサンプラ２０３との間に設けられる。ピアサ針アームは、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられる。

ピアサ針１０５０は、ピアサ針アームの回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。ピアサ針アームの回動軌道上には、サンプル分注アーム２０６と共通の試料吸引位置が位置する。ピアサ針１０５０は、駆動機構４によって駆動され、試料吸引位置において上下方向に移動することによりキャップを穿孔する。したがって、これらピアサ針アームとピアサ針１０５０とにより、本実施形態における試料分注補助機構の一例が構成される。

さらに、本実施形態に係る分析機構２においては、その内部に、反応ディスク２０１に保持可能な反応容器２０１１と同数の測光ユニット２１１が設けられている。この測光ユニット２１１が、本実施形態における測定部を構成する。図３及び図４は、この測光ユニット２１１の構成例を示す模式図である。図３は、測光ユニット２１１を、反応ディスク２０１の上方向から臨んだ際の各構成要素の位置関係の例を表す模式図である。図４は、測光ユニット２１１を、反応ディスク２０１の断面方向から臨んだ際の各構成要素の位置関係の例を表す模式図である。

測光ユニット２１１は、反応容器２０１１内に分注された試料と試薬との混合液（測定対象物質）の光学的な物性値を連続的に測定する。本実施形態に係る分析機構２においては、複数の測光ユニット２１１が設けられている。例えば、分析機構２には、反応ディスク２０１で保持可能な反応容器と同数の測光ユニット２１１が設けられている。すなわち、反応ディスク２０１で保持される１つの反応容器に対して、１つの測光ユニット２１１が設けられている。それぞれの測光ユニット２１１の構成は同様であるため、図３及び図４においては、１つの測光ユニット２１１を代表して図示している。

図３及び図４に示す測光ユニット２１１は、例えば、光源２１１１と、光検出器２１１２、２１１３とを有する。例えば、測光ユニット２１１は、反応ディスク２０１で環状に保持される反応容器２０１１の環状中心側に光源２１１１を有する。光源２１１１は、反応容器２０１１が配列されている環の外側へ向けて光を照射するように設けられている。なお、光検出器２１０２、２１０３は、これらのうちいずれか一方だけとしてもよい。

光源２１１１は、２種類の波長の光を発生する、光照射部の一例である。光源２１１１は、例えば、波長が長い第１の光と、波長が短い第２の光とを発生する。例えば、第１の光の波長は、６２０～７５０ｎｍの赤色の波長域に含まれ、第２の光の波長は、３８０～４９５ｎｍの紫から青色の波長域に含まれる。なお、第１及び第２の光の波長は、６２０～７５０ｎｍの赤色の波長域にそれぞれ含まれていてもよい。光源２１１１は、例えば、複数の波長の光を発生可能な多波長ＬＥＤ、所定の波長の光をそれぞれ発生する２つのＬＥＤ、及び広い波長域の光からフィルタによって所望の波長の光を透過させる光源ユニット等により実現される。

光源２１１１は、制御回路９の制御に従い、第１及び第２の光を発生する。具体的には、例えば、光源２１１１は、所定の周期で第１及び第２の光を交互に発生する。このとき、光源２１１１は、例えば、第１及び第２の光を、凝固の最小測定単位である、例えば０．１秒の半分である０．０５秒周期で交互に光を発生する。光源２１１１から照射された光は、反応容器２０１１へ入射される。

なお、光源２１１１は、制御回路９により指定される一方の波長の光を発生するようにしてもよい。また、光源２１１１は、第１及び第２の光を同時に発生するようにしてもよい。ただし、このとき、不要な波長の光を除外するためのフィルタを光検出器２１１２、２１１３に設ける必要がある。

光検出器２１１２は、反応容器２０１１を挟んで光源２１１１と対向する位置に配設される。光源２１１１から出射された光は、反応容器２０１１の第１側壁から入射され、第１側壁と対向する第２側壁から出射される。光検出器２１１２は、反応容器２０１１から出射された光を検出する。光検出器２１１２は、例えば、透過光受光部の一例である。

具体的には、例えば、光検出器２１１２は、反応容器２０１１内の標準液と試薬との混合液を透過した光を検出する。光検出器２１１２は、検出した光を所定の時間間隔、例えば、０．１秒間隔でサンプリングし、透過光強度、又は吸光度等で表される標準データを生成する。所定の時間間隔は、例えば、第１の光の発生頻度と同期する。なお、光検出器２１１２は、例えば、第１の光の波長と対応した波長の光のみを検出するようにしてもよい。また、光検出器２１１２は、反応容器２０１１内の血液検体と試薬との混合液を透過した光を検出する。光検出器２１１２は、検出した光を所定の時間間隔でサンプリングし、透過光強度、又は吸光度等により表される被検データを生成する。光検出器２１１２は、生成した標準データ、及び被検データを解析回路３へ出力する。

光検出器２１１３は、光源２１１１の光の照射軸と、光検出器２１１３の受光軸とが反応容器２０１１内において略９０度で交わるように配設される。光源２１１１から出射された光は、反応容器２０１１の第１側壁から入射され、混合液内の粒子により散乱された後、第１側壁と９０度隔てて隣接する第３側壁から出射される。光検出器２１１３は、反応容器２０１１から出射された光を検出する。光検出器２１１３は、例えば、散乱光受光部の一例である。

具体的には、例えば、光検出器２１１３は、反応容器２０１１内の標準液と試薬との混合液で散乱された光を検出する。光検出器２１１３は、検出した光を所定の時間間隔、例えば、０．１秒間隔でサンプリングし、散乱光強度等で表される標準データを生成する。所定の時間間隔は、例えば、第２の光の発生頻度と同期する。なお、光検出器２１１３は、例えば、第２の光の波長と対応した波長の光のみを検出するようにしてもよい。また、光検出器２１１３は、反応容器２０１１内の血液検体と試薬との混合液で散乱された光を検出する。光検出器２１１３は、検出した光を所定の時間間隔でサンプリングし、散乱光強度等により表される被検データを生成する。光検出器２１１３は、生成した標準データ、及び被検データを解析回路３へ出力する。

なお、光検出器２１１２、２１１３は、検出した光の強度を検出信号として解析回路３へ出力してもよい。このとき、解析回路３が、所定の時間間隔、例えば、０．１秒間隔で検出信号をサンプリングし、標準データ、及び被検データを生成する。

図５は、本実施形態に係る測光ユニット２１１の別の構成例を表す模式図である。図５は、図３と同様に、測光ユニット２１１を、反応ディスク２０１の上方向から臨んだ際の各構成要素の位置関係の例を表している。図５に示される測光ユニット２１１は、光源２１１１として、２つのＬＥＤ５１、５２を有している。図５に示される例では、ＬＥＤ５２の光の照射軸が、ＬＥＤ５１の光の照射軸に対して所定の角度だけ傾けられている。

光検出器２１１２は、図３及び図４の例と同様に、反応容器２０１１を挟んでＬＥＤ５１と対向する位置に配設されている。一方、光検出器２１１３は、ＬＥＤ５２の光の照射軸と、光検出器２１１３の受光軸とが反応容器２０１１内において略９０度で交わるように配設されている。

再び図１に示すように、解析回路３は、記憶回路８に記憶されている解析プログラムを実行することで、当該プログラムに対応する機能を実現する。例えば、解析回路３は、解析プログラムを実行することで、解析機能３１、及び複合解析機能３２を有する。すなわち、解析回路３は、本実施形態において、測光ユニット２１１で測定した結果に基づいて、検体に含まれる成分の分析結果を求める分析処理部を構成する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによって解析機能３１、及び複合解析機能３２が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて解析回路を構成し、各プロセッサが解析プログラムを実行することにより解析機能３１、及び複合解析機能３２を実現してもよい。

解析機能３１は、分析機構２により生成される標準データ、及び被検データを解析する機能であり、解析部の一例である。具体的には、例えば、解析機能３１において解析回路３は、標準データに基づいて凝固時間を算出し、算出した凝固時間から検量データを生成する。解析回路３は、生成した検量データを制御回路９へ出力する。

また、解析機能３１において解析回路３は、例えば、被検データを解析することで、混合液中の凝固の過程を測定する。具体的には、解析回路３は、例えば、反応が強い試薬が添加された混合液の解析については、透過光を検出して得られる被検データを解析する。解析回路３は、被検データに基づいて血液凝固反応についての受光強度変化を取得する。なお、以下では、受光強度変化を反応曲線として説明を進める。解析回路３は、反応曲線における変曲点、及び飽和到達点等を凝固終了点として検出する。このときの変曲点、及び飽和到達点等の検出は、数学的なアルゴリズム、例えば、反応曲線の１次微分、２次微分、又は他の演算法を用いて実施される。解析回路３は、検出した凝固終了点に基づき、凝固点と、凝固点に到達する時間である凝固時間を算出する。なお、解析回路３は、反応が強い試薬を添加した後、凝固が進まない異常検体に対しては、散乱光を検出して得られる被検データを解析してもよい。

また、解析回路３は、例えば、反応が弱くて遅い試薬を添加した混合液の解析については、散乱光を検出して得られる被検データを解析する。なお、本実施形態において、反応が弱くて遅い試薬について、反応が弱い試薬と記載する箇所もあるが、これらは同意のものとして扱うものとする。解析回路３は、被検データに基づいて反応曲線を取得し、取得した反応曲線から、血液検体の凝固に関する情報、例えば、凝固終了点、凝固点、及び凝固時間を算出する。

また、解析回路３は、検査項目によっては、算出した凝固時間と、この被検データに対応する検査項目の検量データとに基づき、濃度値等を算出する。解析回路３は、凝固終了点、凝固点、凝固時間、及び濃度値等を含む分析データを制御回路９へ出力する。

複合解析機能３２は、分析機構２により生成される２種類の被検データを複合して解析する機能であり、複合解析部の一例である。具体的には、複合解析機能３２において解析回路３は、透過光を検出して得られる被検データと、散乱光を検出して得られる被検データとを取得する。解析回路３は、透過光についての被検データに基づく反応曲線、及び、散乱光についての被検データに基づく反応曲線から、血液検体の凝固に関する情報、例えば、凝固終了点、凝固点、及び凝固時間等を算出する。

複合解析機能３２は、例えば、制御回路９からの制御、及び解析機能３１での解析結果に従って実施される。例えば、解析回路３は、制御回路９からの指示に応じ、複合解析機能３２を実施する。また、解析回路３は、例えば、解析機能３１において、反応が弱い試薬を添加した後、想定よりも反応が遅い等の場合、複合解析機能３２を実施する。

解析回路３は、凝固終了点、凝固点、及び凝固時間等を含む分析データを制御回路９へ出力する。

図１に示される制御回路９は、記憶回路８に記憶されている制御プログラムを実行することで、当該プログラムに対応する機能を実現する。例えば、制御回路９は、制御プログラムを実行することで、システム制御機能９１と、測光制御機能９２と、試料吸引制御機能９３と、押さえ機構制御機能９４とを有する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能９１と、測光制御機能９２と、試料吸引制御機能９３と、押さえ機構制御機能９４とが実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが制御プログラムを実行することにより、これらの各種機能を実現してもよい。

システム制御機能９１は、入力インターフェース５から入力される入力情報に基づき、自動分析装置１における各部を統括して制御する機能である。例えば、システム制御機能９１において、制御回路９は、検査項目に応じた解析を実施するように解析回路３を制御する。

測光制御機能９２は、測定に用いられる光の波長を制御する機能であり、測光制御部の一例である。具体的には、測光制御機能９２において制御回路９は、例えば、記憶回路８に記憶されている検査オーダを参照し、次に測定される検査項目で用いられる試薬情報を取得する。制御回路９は、例えば、取得した試薬情報に含まれる検査項目名、試薬名、反応に関する情報、及び再検に関する情報等に基づき、次に使用される試薬の反応が弱いか否かを判断する。

試料吸引制御機能９３は、上述の試料分注機構および試料分注補助機構を制御し、試料容器から所定量の試料を吸引するための機能である。図６は、試料容器１０００内の試料のサンプリングを行う方法の一例を示す図である。試料吸引制御機能９３は、試料吸引位置にて、ピアサ針１０５０を下方に移動させて試料容器１０００のキャップ１０１０を穿孔するとともに、ピアサ針１０５０の内部を通してサンプル分注プローブ２０７を試料１０２０に達するまで降下させて試料１０２０を吸引する。試料１０２０の吸引後は、サンプル分注プローブ２０７を上昇させて試料容器１０００からサンプル分注プローブ２０７を引き抜いたのち、ピアサ針１０５０を上昇させて試料容器１０００からピアサ針１０５０を引き抜く。より詳細には、ピアサ針１０５０をキャップ１０１０から引き抜く。

押さえ機構制御機能９４は、押さえ機構１０を制御し、試料容器１０００を押さえるための機能である。具体的には、押さえ機構制御機能９４は、押さえ機構１０により、押さえ機構１０の押さえ部材１３２が試料容器１０００の上面を封止したキャップ１０１０に接触しながら試料容器１０００を押さえる。

次に、図７～図１５を参照して、自動分析装置１の押さえ機構１０について説明する。図７は、押さえ機構１０を示す図であって、押さえ機構１０を、試料容器１０００のキャップ１０１０を押さえた状態で示す斜視図である。図８は、押さえ機構１０の全体を示す斜視図であり、図９は、押さえ機構１０の一部を拡大して示す斜視図である。図１０及び図１１は、押さえ機構１０の駆動側部品１２０、ヘッド側部品１３０及び弾性部材１４０を示す側面図である。図１２～図１５は、駆動側部品１２０の位置を検出する方法を説明するための図である。

押さえ機構１０は、サンプル分注プローブ２０７を用いて、試料容器１０００内に収容されている試料１０２０を吸引するサンプリングを行う際に、試料容器１０００を押さえる機構である。試料１０２０は、例えば血液検体である。図７に示されているように、試料容器１０００は、試料ラック２０３１に保持された状態で試料吸引位置に配置される。押さえ機構１０は、押さえ部材１３２を有しており、この押さえ部材１３２が試料容器１０００に接触して試料容器１０００を押さえる。とりわけ、本実施形態では、試料容器１０００の上面はキャップ１０１０により封止されている。したがって、押さえ部材１３２は、キャップ１０１０を押さえることにより、試料容器１０００を押さえる。

押さえ機構１０は、駆動側部品１２０、ヘッド側部品１３０及び弾性部材１４０を有している。また、本実施形態の押さえ機構１０は、駆動側部品１２０を駆動するための駆動源１１０と、駆動源１１０及び駆動側部品１２０を接続するシャフト１１５も有している。

駆動源１１０は、例えばモータである。駆動源１１０は、例えば押さえ機構１０の筐体に対して固定されている。これに限られず、駆動源１１０は、自動分析装置１の筐体等に対して固定されてもよい。シャフト１１５の中心軸線は、第１方向ｄ１に沿って延びている。第１方向ｄ１は、例えば鉛直方向と平行である。駆動源１１０は、シャフト１１５をその中心軸線周りに回転させることができるように構成されている。シャフト１１５の外面には雄ネジ部が形成されている。

駆動側部品１２０は、シャフト１１５の雄ネジ部と螺合する雌ネジ部を有している。これにより、シャフト１１５がその中心軸線周りに回転すると、その回転方向に応じて、駆動側部品１２０は、第１方向ｄ１に沿って、駆動源１１０及びシャフト１１５に対して移動することができる。とりわけ、本実施形態では、駆動源１１０がシャフト１１５を回転させることにより、駆動側部品１２０は、第１方向ｄ１に沿って上下動する。

ヘッド側部品１３０は、第１方向ｄ１に沿って、駆動側部品に対して移動可能に構成されている。とりわけ、本実施形態では、ヘッド側部品１３０は、駆動側部品１２０に対して、第１方向ｄ１に沿って上下動することができる。ヘッド側部品１３０は、シャフト１１５の雄ネジ部とは接続（螺合）していない。ヘッド側部品１３０は、押さえ部材１３２を有している。押さえ部材１３２は、ヘッド側部品１３０が下降した際に、試料容器１０００のキャップ１０１０に接触し、ヘッド側部品１３０が上昇した際には、キャップ１０１０から離れる。なお、駆動側部品１２０は、単一の部品で構成されてもよいし、複数の部品を組み合わせて構成されてもよい。同様に、ヘッド側部品１３０は、単一の部品で構成されてもよいし、複数の部品を組み合わせて構成されてもよい。

駆動側部品１２０とヘッド側部品１３０との間には、弾性部材１４０が掛け渡されている。本実施形態では、弾性部材１４０は、両端にフックを有する引張コイルバネである。なお、弾性部材１４０は、引張コイルバネに限られない。駆動側部品１２０は、駆動側掛止部１２２を有している。また、ヘッド側部品１３０は、ヘッド側掛止部１３４を有している。弾性部材１４０は、一方のフックが駆動側掛止部１２２に掛け止められ、他方のフックがヘッド側掛止部１３４に掛け止められることにより、駆動側部品１２０とヘッド側部品１３０との間に掛け渡されている。

図１０には、駆動側部品１２０とヘッド側部品１３０とが、第１方向ｄ１に沿って互いに接触した状態で示されており、図１１には、駆動側部品１２０とヘッド側部品１３０とが、第１方向ｄ１に沿って互いに離れた状態で示されている。図１０に示された状態において、弾性部材１４０は、わずかに引っ張られた状態にあることが好ましい。これにより、図１０に示された状態において、ヘッド側部品１３０が駆動側部品１２０部品に対して意図せずに動くこと、いわゆるがたつきが生じること、を抑制することができる。

本実施形態の押さえ機構１０は、ピアサ針１０５０をキャップ１０１０から引き抜くときに試料容器１０００が浮き上がることを抑制する抑制機能を発揮するストッパー機構１２４を有している。ストッパー機構１２４は、駆動側部品１２０とヘッド側部品１３０とが、互いに所定の間隔以上に離れることを抑制することにより、試料容器１０００が浮き上がることを抑制する。ストッパー機構１２４は、ヘッド側掛止部１３４と、駆動側部品１２０に設けられた長孔１２５とで構成されている。本実施形態では、長孔１２５は、駆動側部品１２０に含まれる板状部材１２６をその厚さ方向に貫通する孔である。長孔１２５の長手方向は、第１方向ｄ１と平行である。

ヘッド側掛止部１３４は、長孔１２５内に配置されている。とりわけ、ヘッド側掛止部１３４は、板状部材１２６の厚さ方向に沿って長孔１２５を貫通して配置されている。これにより、板状部材１２６に対するヘッド側掛止部１３４の第１方向ｄ１に沿った移動範囲が規制されている。これにより、駆動側部品１２０に対するヘッド側部品１３０の第１方向ｄ１に沿った移動範囲が規制されている。

図１０に示された状態から、駆動側部品１２０とヘッド側部品１３０とが、第１方向ｄ１に沿って互いに離れると、ヘッド側掛止部１３４が長孔１２５の長手方向に沿って長孔１２５内を移動する。ヘッド側掛止部１３４が長孔１２５の上端１２７に接触すると、板状部材１２６に対するヘッド側掛止部１３４のそれ以上の移動が規制される。これにより、駆動側部品１２０とヘッド側部品１３０とが、それ以上離れることが抑制される。

押さえ機構１０は、駆動側部品１２０及びヘッド側部品１３０の高さ位置を検出するセンサを有している。とりわけ、本実施の形態の押さえ機構１０は、初期位置センサ１５０と、駆動側センサ１２８と、下限センサ１６０と、を有している。初期位置センサ１５０及び下限センサ１６０は、例えば押さえ機構１０の筐体に対して固定されている。これに限られず、初期位置センサ１５０及び下限センサ１６０は、自動分析装置１の筐体等に対して固定されてもよい。駆動側センサ１２８は、駆動側部品１２０に対して固定されている。したがって、駆動側センサ１２８は、駆動側部品１２０と一体に上下動する。

初期位置センサ１５０、駆動側センサ１２８及び下限センサ１６０としては、例えば、フォトセンサを用いることができる。フォトセンサは、互いに対面して配置された発光部及び受光部を有し、発光部から出射した光を受光部で検知しているか否かを出力するセンサである。このようなセンサによれば、発光部から出射した光を受光部で検知している間は、発光部と受光部との間に光を遮る物体がないと判断することができ、発光部から出射した光を受光部で検知しなくなった場合には、発光部と受光部との間に光を遮る物体があると判断することができる。

押さえ機構１０は、ヘッド側部品１３０に取り付けられ、ヘッド側部品１３０と一体に上下動する検出片１３５を有している。検出片１３５は、その一部が初期位置センサ１５０、駆動側センサ１２８及び下限センサ１６０のいずれかにより検出されることが意図されている。図１３～図１５によく示されているように、検出片１３５は、第１方向ｄ１に沿って延びる本体部１３６と、本体部１３６から横方向（第１方向ｄ１と直交する方向）に突出する突出部１３７と、を有している。本体部１３６の下端は、下限センサ１６０で検出されることが意図されている。突出部１３７は、初期位置センサ１５０及び駆動側センサ１２８で検出されることが意図されている。なお、これに限られず、検出片１３５は、初期位置センサ１５０で検出されることが意図された第１の突出部と、駆動側センサ１２８で検出されることが意図された、第１の突出部とは異なる第２の突出部とを有してもよい。

下限センサ１６０は、安全のために設けられている。下限センサ１６０は、検出片１３５の本体部１３６を検出可能に構成されている。本実施形態の押さえ機構１０では、下限センサ１６０が検出片１３５の本体部１３６を検出すると、駆動側部品１２０が後述の下端位置よりもさらに下方に移動したことがわかる。この場合は、押さえ機構１０に何らかの不具合が生じていると考えられるため、押さえ機構１０の動作を停止したり、ユーザへの報知を行ったりする。

次に、図１０～図１５を参照して、押さえ機構１０の動作について説明する。図１３は、押さえ機構１０が初期位置にあるときの、検出片１３５とセンサ１２８，１５０との位置関係を示す。図１４は、駆動側部品１２０及びヘッド側部品１３０が初期位置から下降し、押さえ部材１３２が試料容器１０００のキャップ１０１０に接触したときの、検出片１３５とセンサ１２８，１５０との位置関係を示す。図１５は、駆動側部品１２０がさらに加工して下端位置に到達したときの、検出片１３５とセンサ１２８，１５０との位置関係を示す。なお、以下に説明する押さえ機構１０の動作は、制御回路９の押さえ機構制御機能９４により制御される。

図１０に示された状態において、押さえ機構１０は初期位置にある。このとき、押さえ部材１３２は、試料容器１０００のキャップ１０１０には接触していない。また、図１３に示されているように、検出片１３５の突出部１３７は、初期位置センサ１５０及び駆動側センサ１２８により検出されている。ここで、検出片１３５のいずれかの部分がセンサ１２８，１５０，１６０に検出されているとは、当該部分がセンサ１２８，１５０，１６０の発光部と受光部との間で発光部から出射した光を遮っている状態、すなわち、当該センサ１２８，１５０，１６０の受光部が発光部から出射した光を受けていない状態を指す。

押さえ機構１０が初期位置にある状態において、試料ラック２０３１に保持された試料容器１０００が、試料吸引位置に配置される。具体的には、図２において、試料ラック２０３１が、駆動機構４により引き込み領域２０３３から方向Ｄ２へ移動される。吸引されるべき試料１０２０が収容された試料容器１０００が試料吸引位置に配置された後、駆動源１１０は、シャフト１１５を中心軸線周りに回転させる。これにより、駆動側部品１２０が下方へ移動する。駆動側部品１２０とヘッド側部品１３０との間には、弾性部材１４０が掛け渡されているので、押さえ部材１３２が試料容器１０００（キャップ１０１０）に接触していない間は、駆動側部品１２０とヘッド側部品１３０とは一体に下降する。押さえ機構１０が初期位置から下方へずれると、初期位置センサ１５０は、検出片１３５の突出部１３７を検出しなくなる。なお、初期位置センサ１５０及び下限センサ１６０は、押さえ機構１０の筐体等に対して固定されているので下降しない。その一方、駆動側センサ１２８は、駆動側部品１２０と一体に下降する（図１４参照）。

押さえ部材１３２が試料容器１０００のキャップ１０１０に接触すると、ヘッド側部品１３０の下方への移動は停止する。これにともなって、検出片１３５の下方への移動も停止する。駆動源１１０がシャフト１１５をさらに回転させると、駆動側部品１２０は、さらに下降する。このとき、駆動側センサ１２８は、検出片１３５に対して相対的に下降する。駆動側掛止部１２２とヘッド側掛止部１３４との間に掛け渡された弾性部材１４０は、駆動側部品１２０の下降にともなって引き伸ばされる。これにより、弾性部材は、駆動側部品１２０及びヘッド側部品１３０に対して、互いに近づく方向に作用する弾性力を生じる。したがって、押さえ機構１０は、押さえ部材１３２により、キャップ１０１０を弾性的に押さえることになる。

駆動側部品１２０と一体に下降した駆動側センサ１２８が検出片１３５の突出部１３７を検出しなくなると、押さえ機構制御機能９４は、駆動源１１０の駆動を停止させる。これにより、駆動側部品１２０の下降が停止する（図１１及び図１５参照）。このときの駆動側部品１２０の位置を、下端位置とする。このとき、弾性部材１４０は最も大きく引き伸ばされ、押さえ部材１３２に最も大きな弾性力を与える。このときの、押さえ部材１３２がキャップ１０１０を押さえる力を第１の力とする。

ここで、駆動側部品１２０が下端位置に位置しているときに、ヘッド側掛止部１３４と駆動側部品１２０の長孔１２５の上端とが接触していると、ヘッド側掛止部１３４と駆動側部品１２０の長孔１２５との接触部を介して、駆動源１１０の駆動力が押さえ部材１３２に伝わる。この場合、押さえ部材１３２が試料容器１０００に対して、意図しない大きな力で押し付けられることがある。これにより、試料容器１０００が破損する可能性がある。したがって、駆動側部品１２０が下端位置に位置しているときには、ヘッド側掛止部１３４と駆動側部品１２０の長孔１２５の上端とは、接触していないことが好ましい。すなわち、ヘッド側掛止部１３４と駆動側部品１２０の長孔１２５の上端との間には、わずかに隙間が形成されていることが好ましい。

この状態で、ピアサ針１０５０で試料容器１０００のキャップ１０１０を穿孔し、続いて、ピアサ針１０５０の内部を通してサンプル分注プローブ２０７を試料１０２０に達するまで降下させて試料１０２０を吸引する。試料１０２０の吸引後は、サンプル分注プローブ２０７を上昇させて試料容器１０００からサンプル分注プローブ２０７を引き抜く。

その後、ピアサ針１０５０を上昇させてピアサ針１０５０をキャップ１０１０から引き抜く。このとき、ピアサ針１０５０とキャップ１０１０との間に生じる摩擦力により、ピアサ針１０５０とともに試料容器１０００が浮き上がる。本実施形態では、ストッパー機構１２４により、ピアサ針１０５０をキャップ１０１０から引き抜くときに試料容器１０００が浮き上がることが抑制される。ピアサ針１０５０をキャップ１０１０から引き抜く際、試料容器１０００とともにヘッド側部品１３０も上方へ移動する。ヘッド側掛止部１３４と駆動側部品１２０の長孔１２５の上端との間に形成された隙間の分だけヘッド側部品１３０が上方へ移動すると、ヘッド側掛止部１３４が長孔１２５の上端に接触し、ヘッド側部品１３０のそれ以上の上方への移動が抑制される。

駆動側部品１２０が下端位置に位置している状態において、駆動側部品１２０は、第１の力より大きい第２の力でその位置が固定されている。駆動源１１０がモータである場合、駆動側部品１２０が下端位置に位置している状態において、駆動側部品１２０は、駆動源１１０の励磁トルク（第２の力）により、その位置が固定されている。したがって、ヘッド側掛止部１３４が長孔１２５の上端に接触している場合には、ピアサ針１０５０を上昇させてピアサ針１０５０をキャップ１０１０から引き抜く際に、ピアサ針１０５０とキャップ１０１０との間に生じる摩擦力よりも大きな第２の力でキャップ１０１０を押さえることにより、ピアサ針１０５０をキャップ１０１０から引き抜くことができる。ピアサ針１０５０がキャップ１０１０から引き抜かれると、試料容器１０００（キャップ１０１０）は、押さえ部材１３２から離れて試料ラック２０３１内へ落下する。

ピアサ針１０５０でキャップ１０１０を穿孔する際、及び、サンプル分注プローブ２０７を用いて試料容器１０００内の試料１０２０を吸引する際には、押さえ機構１０は、比較的小さい第１の力で試料容器１０００（キャップ１０１０）を押さえる。これにより、押さえ部材１３２にキャップ１０１０が貼り付くことが抑制される。したがって、ピアサ針１０５０がキャップ１０１０から引き抜かれた際に、キャップ１０１０は押さえ部材１３２からスムーズに離れる。

試料容器１０００が押さえ部材１３２から離れると、重力及び弾性部材１４０の弾性力により、ヘッド側部品１３０は下降し、駆動側部品１２０と接触する。このとき、駆動側センサ１２８が検出片１３５の突出部１３７を検出するようになる。その後、駆動源１１０を駆動させてシャフト１１５を反対方向に回転させ、駆動側部品１２０及びヘッド側部品１３０を上昇させる。初期位置センサ１５０が検出片１３５の突出部１３７を検出すると、押さえ機構制御機能９４は、駆動源１１０の駆動を停止させる。これにより、駆動側部品１２０及びヘッド側部品１３０の上昇が停止する（図１０及び図１３参照）。

本実施形態の押さえ機構１０は、ヘッド側部品１３０が、ヘッド側掛止部１３４が長孔１２５の上端に接触する位置（高さ）にあるとき、すなわち試料容器１０００が押さえ機構１０に対して所定の位置（高さ）にあるときに、試料容器１０００が浮き上がることを抑制する抑制機能が働くようになる。すなわち、抑制機能が有効になる。その一方、ピアサ針１０５０がキャップ１０１０から引き抜かれると、ヘッド側部品１３０が下降してヘッド側掛止部１３４が長孔１２５の上端から離れるので、抑制機能が働かなくなる。すなわち、抑制機能が無効になる。

ピアサ針１０５０をキャップ１０１０から引き抜く際に、ピアサ針１０５０とキャップ１０１０との間に生じる摩擦力の方が駆動源１１０の励磁トルク（第２の力）よりも大きい場合、駆動源１１０の励磁トルクに抗して駆動側部品１２０が上方へ移動してしまうことがある。この場合、押さえ機構１０で次の試料容器１０００を押さえるときの駆動側部品１２０の下端位置が変化してしまい、試料容器１０００を適切に押さえることができなくなるおそれがある。

本実施形態では、ピアサ針１０５０がキャップ１０１０から引き抜かれた後に、駆動側部品１２０が下端位置から初期位置へ戻る際の駆動源１１０における駆動パルス数を計測する。ピアサ針１０５０をキャップ１０１０から引き抜く際に、駆動源１１０の励磁トルクに抗して駆動側部品１２０が上方へ移動してしまった場合には、下端位置から初期位置へ戻る際の駆動側部品１２０の第１方向ｄ１に沿った移動距離が小さくなる。これにより、駆動側部品１２０が下端位置から初期位置へ戻る際の駆動源１１０における駆動パルス数が所定の範囲から外れる。より詳細には、駆動側部品１２０が下端位置から初期位置へ戻る際の駆動源１１０における駆動パルス数が所定の範囲よりも小さくなる。したがって、駆動側部品１２０が下端位置から初期位置へ戻る際の駆動源１１０における駆動パルス数を計測することにより、ピアサ針１０５０をキャップ１０１０から引き抜く際に、駆動源１１０の励磁トルクに抗して駆動側部品１２０が上方へ移動してしまったかどうかを判断することができる。

自動分析装置１は、計測された駆動源１１０の駆動パルス数が所定の範囲から外れている場合にユーザに報知する報知手段を有してもよい。これにより、ユーザは、押さえ機構１０のメンテナンスを行うことが可能になる。報知手段を用いたユーザへの報知は、例えば、表示画面上の表示、ランプの点灯や点滅、警報音や音声等を用いることができる。

また、自動分析装置１は、計測された駆動源１１０の駆動パルス数が所定の範囲から外れている場合に、試料容器１０００内の試料１０２０のサンプリングを停止してもよい。これにより、試料容器１０００を適切に押さえることができなくなることによる、サンプリングの不具合を未然に防ぐことができる。

なお、上述の実施形態では、初期位置センサ１５０、駆動側センサ１２８及び下限センサ１６０として、フォトセンサを用いた例を説明したが、センサ１５０，１２８，１６０は、フォトセンサに限られない。例えば、センサ１５０，１２８，１６０として、弾性部材１４０の伸び量を計測するセンサや、弾性部材１４０にかかる力を計測するセンサ等の他のセンサを用いてもよい。

本実施形態の自動分析装置１は、上面がキャップ１０１０により封止された試料容器１０００のキャップ１０１０にピアサ針１０５０で穿孔した状態で、試料容器１０００内の試料１０２０のサンプリングを行う自動分析装置１であって、キャップ１０１０を弾性的に押さえる押さえ機構１０であって、ピアサ針１０５０をキャップ１０１０から引き抜くときに試料容器１０００が浮き上がることを抑制する抑制機能を有する押さえ機構１０を有する。

本実施形態の自動分析装置１は、上面がキャップ１０１０により封止された試料容器１０００のキャップ１０１０にピアサ針１０５０で穿孔した状態で、試料容器１０００内の試料１０２０のサンプリングを行う自動分析装置１であって、ピアサ針１０５０でキャップ１０１０を穿孔するときに第１の力でキャップ１０１０を押さえ、ピアサ針１０５０をキャップ１０１０から引き抜くときに第１の力より大きい第２の力でキャップ１０１０を押さえる押さえ機構１０を有する。

本実施形態の試料容器１０００を押さえる方法は、上面がキャップ１０１０により封止された試料容器１０００のキャップ１０１０にピアサ針１０５０で穿孔した状態で、試料容器１０００内の試料１０２０のサンプリングを行う自動分析装置１において試料容器１０００を押さえる方法であって、キャップ１０１０を弾性的に押さえる工程と、ピアサ針１０５０をキャップ１０１０から引き抜くときに試料容器１０００が浮き上がることを抑制する工程と、を有する。

本実施形態の試料容器１０００を押さえる方法は、上面がキャップ１０１０により封止された試料容器１０００のキャップ１０１０にピアサ針１０５０で穿孔した状態で、試料容器１０００内の試料１０２０のサンプリングを行う自動分析装置１において試料容器１０００を押さえる方法であって、ピアサ針１０５０でキャップ１０１０を穿孔するときに第１の力でキャップ１０１０を押さえる工程と、ピアサ針１０５０をキャップ１０１０から引き抜くときに第１の力より大きい第２の力でキャップ１０１０を押さえる工程と、を有する。

このような自動分析装置１及び試料容器１０００を押さえる方法によれば、ピアサ針１０５０でキャップ１０１０を穿孔する際、及び、サンプル分注プローブ２０７を用いて試料容器１０００内の試料１０２０を吸引する際に、比較的小さい力（第１の力）で試料容器１０００（キャップ１０１０）を押さえることができる。これにより、押さえ部材１３２にキャップ１０１０が貼り付くことが抑制される。したがって、ピアサ針１０５０がキャップ１０１０から引き抜かれた際に、キャップ１０１０は押さえ部材１３２からスムーズに離れる。その一方、ピアサ針１０５０をキャップ１０１０から引き抜くときに試料容器１０００が浮き上がることを抑制すること、又は、ピアサ針１０５０をキャップ１０１０から引き抜くときに第１の力より大きい第２の力でキャップ１０１０を押さえることにより、ピアサ針１０５０をキャップ１０１０から適切に引き抜くことが可能になる。

本実施形態の自動分析装置１では、押さえ機構１０は、試料容器１０００が押さえ機構１０に対して所定の位置にあるときに、抑制機能が有効になる。

本実施形態の自動分析装置１では、ピアサ針１０５０がキャップ１０１０から引き抜かれた後に、抑制機能が無効になる。

このような自動分析装置１によれば、試料容器１０００が浮き上がっているときにのみ比較的大きな力でキャップ１０１０を押さえるので、押さえ部材１３２にキャップ１０１０が貼り付くことがさらに抑制される。

本実施形態の自動分析装置１では、押さえ機構１０は、駆動源１１０により駆動される駆動側部品１２０と、キャップ１０１０に接触可能なヘッド側部品１３０と、駆動側部品１２０とヘッド側部品１３０との間に掛け渡された弾性部材１４０とを有し、押さえ機構１０は、駆動側部品１２０とヘッド側部品１３０との間に作用する弾性部材１４０の弾性力によりキャップ１０１０を押さえる。

このような自動分析装置１によれば、弾性部材１４０の弾性力を利用して、試料容器１０００を適切に押さえることができる。

本実施形態の自動分析装置１では、駆動側部品１２０は、初期位置と、初期位置より下方の下端位置との間を移動可能であり、押さえ機構１０は、ピアサ針１０５０がキャップ１０１０から引き抜かれた後に、下端位置から初期位置へ戻る際の駆動源１１０における駆動パルス数を計測する。

このような自動分析装置１によれば、ピアサ針１０５０をキャップ１０１０から引き抜く際に、ピアサ針１０５０とキャップ１０１０との間に生じる摩擦力の方が駆動源１１０の駆動力よりも大きく、駆動源１１０の励磁トルクに抗して駆動側部品１２０が上方へ移動してしまった場合に、駆動側部品１２０の位置が変化したことを検知することができる。したがって、押さえ機構１０で次の試料容器１０００を押さえるときの駆動側部品１２０の下端位置が変化することにより、試料容器１０００を適切に押さえることができなくなることを抑制することができる。

本実施形態の自動分析装置１は、計測された駆動パルス数が所定の範囲から外れている場合にユーザに報知する報知手段を有する。

このような自動分析装置１によれば、ユーザは、報知を受けて押さえ機構１０のメンテナンスを行うことが可能になる。

本実施形態の自動分析装置１は、計測された駆動パルス数が所定の範囲から外れている場合に、サンプリングを停止する。

このような自動分析装置１によれば、試料容器１０００を適切に押さえることができなくなることによる、サンプリングの不具合を未然に防ぐことができる。

なお、上記説明における「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU（central processing unit）、GPU (Graphics Processing Unit)、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device：ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。プロセッサが例えばCPUである場合、プロセッサは記憶回路に保存されたプログラムを読み出して実行することで各処理機能を実現する。一方、プロセッサが例えばASICである場合、プログラムが記憶回路に保存される代わりに、当該処理機能がプロセッサの回路内に論理回路として直接組み込まれる。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その処理機能を実現するようにしてもよい。さらに、図１における複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合してその処理機能を実現するようにしてもよい。

いくつかの実施形態及び変形例を説明したが、これらの実施形態及び変形例は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これらの実施形態及び変形例は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更、実施形態及び変形例同士の組み合わせを行うことができる。これらの実施形態及び変形例は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１ 自動分析装置
２ 分析機構
３ 解析回路
４ 駆動機構
５ 入力インターフェース
６ 出力インターフェース
７ 通信インターフェース
８ 記憶回路
９ 制御回路
１０ 押さえ機構
１１０ 駆動源
１１５ シャフト
１２０ 駆動側部品
１２２ 駆動側掛止部
１２４ ストッパー機構
１２８ 駆動側センサ
１３０ ヘッド側部品
１３２ 押さえ部材
１３４ ヘッド側掛止部
１３５ 検出片
１４０ 弾性部材
１５０ 初期位置センサ
２００ 試薬容器
２０１ 反応ディスク
２０２ 恒温部
２０３ ラックサンプラ
２０４ 試薬庫
２０６ サンプル分注アーム
２０７ サンプル分注プローブ
２０８ 試薬分注アーム
２０９ 試薬分注プローブ
２１１ 測定部（測光ユニット）
１０００ 試料容器
１０１０ キャップ
１０２０ 試料
１０５０ ピアサ針
２０１１ 反応容器
２０３１ 試料ラック
２０３１ａ 試料容器保持部

Claims (10)

1. 上面がキャップにより封止された試料容器の前記キャップにピアサ針で穿孔した状態で、前記試料容器内の試料のサンプリングを行う自動分析装置であって、
   前記キャップを弾性的に押さえる押さえ機構であって、前記ピアサ針を前記キャップから引き抜くときに前記試料容器が浮き上がることを抑制する抑制機能を有する押さえ機構を有する、自動分析装置。
2. 前記試料容器が前記押さえ機構に対して所定の位置にあるときに、前記抑制機能が有効になる、請求項１に記載の自動分析装置。
3. 前記ピアサ針が前記キャップから引き抜かれた後に、前記抑制機能が無効になる、請求項１又は２に記載の自動分析装置。
4. 前記押さえ機構は、駆動源により駆動される駆動側部品と、前記キャップに接触可能なヘッド側部品と、前記駆動側部品と前記ヘッド側部品との間に掛け渡された弾性部材とを有し、
   前記押さえ機構は、前記駆動側部品と前記ヘッド側部品との間に作用する前記弾性部材の弾性力により前記キャップを押さえる、請求項１～３のいずれか一項に記載の自動分析装置。
5. 前記駆動側部品は、初期位置と、前記初期位置より下方の下端位置との間を移動可能であり、
   前記押さえ機構は、前記ピアサ針が前記キャップから引き抜かれた後に、前記下端位置から前記初期位置へ戻る際の前記駆動源における駆動パルス数を計測する、請求項４に記載の自動分析装置。
6. 計測された前記駆動パルス数が所定の範囲から外れている場合にユーザに報知する報知手段を有する、請求項５に記載の自動分析装置。
7. 計測された前記駆動パルス数が所定の範囲から外れている場合に、前記サンプリングを停止する、請求項５又は６に記載の自動分析装置。
8. 上面がキャップにより封止された試料容器の前記キャップにピアサ針で穿孔した状態で、前記試料容器内の試料のサンプリングを行う自動分析装置であって、
   前記ピアサ針で前記キャップを穿孔するときに第１の力で前記キャップを押さえ、前記ピアサ針を前記キャップから引き抜くときに前記第１の力より大きい第２の力で前記キャップを押さえる押さえ機構を有する、自動分析装置。
9. 上面がキャップにより封止された試料容器の前記キャップにピアサ針で穿孔した状態で、前記試料容器内の試料のサンプリングを行う自動分析装置において前記試料容器を押さえる方法であって、
   前記キャップを弾性的に押さえる工程と、
   前記ピアサ針を前記キャップから引き抜くときに前記試料容器が浮き上がることを抑制する工程と、を有する方法。
10. 上面がキャップにより封止された試料容器の前記キャップにピアサ針で穿孔した状態で、前記試料容器内の試料のサンプリングを行う自動分析装置において前記試料容器を押さえる方法であって、
    前記ピアサ針で前記キャップを穿孔するときに第１の力で前記キャップを押さえる工程と、
    前記ピアサ針を前記キャップから引き抜くときに前記第１の力より大きい第２の力で前記キャップを押さえる工程と、を有する方法。