JP2023104757A - 位置合わせ用補助具 - Google Patents

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Reiko Maruyama
信泰 小林
Nobuyasu Kobayashi
光男 岡本
Mitsuo Okamoto
美智男 熊田
Michio Kumada
悠暉 松本
Yuki Matsumoto
尚人 佐藤
Naohito Sato
正明 齋藤
Masaaki Saito
敦 細岡
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Abstract

【課題】分注プローブと試料容器との位置合わせを容易に行うこと。【解決手段】位置合わせ用補助具は、自動分析装置の分注プローブと位置合わせされるべき試料容器に設置され又は当該試料容器に替えて設置され、分注プローブの位置を目視により確認するための位置合わせ用補助具である。位置合わせ用補助具は、光反射部を有する。光反射部は、分注プローブの鉛直上方とは異なる方向から分注プローブを目視可能に構成される。【選択図】図10

Description

本明細書及び図面に開示の実施形態は、位置合わせ用補助具に関する。
従来、血液や尿などの検体試料の定性・定量分析を行う自動分析装置が知られている。自動分析装置では、分注プローブを検体試料が収容された試料容器内に挿入して検体試料を吸引し、反応ディスクに保持された反応容器にこの検体試料を分注する。このとき、分注プローブを試料容器内に適切に挿入するためには、分注プローブと試料容器とが互いに位置合わせされている必要がある。このため、自動分析装置による分析を行う前には、分注プローブと試料容器とを互いに位置合わせする工程が行われる。
このような位置合わせは、従来、作業者が分注プローブの上方から分注プローブ及び試料容器を目視することにより行っていた。ここで、分注プローブの上方又は分注プローブと試料容器との間に他の構造物が存在する場合がある。また、測定を行う測定部に光が入射することを抑制するために、分注プローブの上方又は分注プローブと試料容器との間に遮光カバーが配置される場合もある。このような場合、作業者が分注プローブの上方から分注プローブ及び試料容器を目視することができず、分注プローブと試料容器との位置合わせが困難になっていた。
国際公開第2021/145108号
本明細書及び図面に開示の実施形態が解決しようとする課題の一つは、分注プローブと試料容器との位置合わせを容易に行うことである。ただし、本明細書及び図面に開示の実施形態により解決しようとする課題は上記課題に限られない。後述する実施形態に示す各構成による各効果に対応する課題を他の課題として位置づけることもできる。
実施形態に係る位置合わせ用補助具は、自動分析装置の分注プローブと位置合わせされるべき試料容器に設置され又は当該試料容器に替えて設置され、分注プローブの位置を目視により確認するための位置合わせ用補助具である。位置合わせ用補助具は、光反射部を有する。光反射部は、分注プローブの鉛直上方とは異なる方向から分注プローブを目視可能に構成される。
図1は、本実施形態に係る自動分析装置の一例の機能構成を示すブロック図である。 図2は、自動分析装置の分析機構の構成の一例を示す図である。 図3は、分析機構の測定部を上面から見た図である。 図4は、測定部を側面から見た図である。 図5は、測定部の別の例を上面から見た図である。 図6は、自動分析装置のサンプル分注機構を示す図である。 図7は、本実施形態に係る位置合わせ用補助具の一例を示す斜視図である。 図8は、位置合わせ用補助具を試料ラックに取り付けた状態で示す斜視図である。 図9は、位置合わせ用補助具の光反射部の一例を示す図である。 図10は、位置合わせ用補助具を用いて分注プローブと試料容器との位置合わせを行う方法の一例について説明するための図である。 図11は、位置合わせ用補助具を用いて分注プローブと試料容器との位置合わせを行う方法の一例について説明するための図である。 図12は、位置合わせ用補助具を用いて分注プローブと試料容器との位置合わせを行う方法の一例について説明するための図である。 図13は、位置合わせ用補助具の一変形例を示す側面図である。 図14は、図13の位置合わせ用補助具を用いて分注プローブと試料容器との位置合わせを行う方法の一例について説明するための図である。 図15は、位置合わせ用補助具の他の変形例を示す側面図である。 図16は、図15の位置合わせ用補助具を試料ラックに取り付けた状態で示す図である。 図17は、図15の位置合わせ用補助具を他の試料ラックに取り付けた状態で示す図である。 図18は、位置合わせ用補助具のさらに他の変形例を示す図であり、位置合わせ用補助具を試料容器に取り付けた状態で示す図である。
以下、図面を参照して実施形態について説明する。なお、本明細書に添付する図面においては、図示と理解のしやすさの便宜上、適宜縮尺及び縦横の寸法比等を、実物のそれらから変更し誇張してある。
図1は、本実施形態に係る自動分析システム1000の機能構成の例を示すブロック図である。自動分析システム1000は、自動分析装置1と、位置合わせ用補助具10とを含む。本実施形態においては、自動分析装置1は、例えば、血液凝固分析装置である。図1に示すように、本実施形態に係る自動分析装置1は、分析機構2と、解析回路3と、駆動機構4と、入力インターフェース5と、出力インターフェース6と、通信インターフェース7と、記憶回路8と、制御回路9とを備えて構成されている。
分析機構2は、被検者の検体である血液検体と、各検査項目で用いられる試薬である凝固試薬とを混合した混合液を生成する。また、分析機構2は、検査項目によっては、所定の倍率で希釈した標準液と、この検査項目で用いられる試薬とを混合する。分析機構2は、血液検体と試薬との混合液や標準液と試薬との混合液の光学的な物性値を連続的に測定する。この測定により、例えば、透過光強度、吸光度、散乱光強度等で表される標準データ、及び被検データが生成される。
解析回路3は、分析機構2により生成される標準データ、及び被検データを解析することで、血液検体の凝固に関する検量データ、及び分析データを生成するプロセッサである。解析回路3は、例えば、記憶回路8から解析プログラムを読み出し、読み出した解析プログラムに従って標準データ、及び被検データを解析する。なお、解析回路3は、記憶回路8で記憶されているデータの少なくとも一部を記憶する記憶領域を備えてもよい。
駆動機構4は、制御回路9の制御に従い、分析機構2を駆動させる。駆動機構4は、例えば、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。
入力インターフェース5は、例えば、操作者から、又は病院内ネットワークNWを介して測定を依頼された血液検体に係る各検査項目の分析パラメータ等の設定を受け付ける。入力インターフェース5は、例えば、マウス、キーボード、及び、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッド等により実現される。入力インターフェース5は、制御回路9に接続され、操作者から入力される操作指示を電気信号へ変換し、電気信号を制御回路9へ出力する。なお、本明細書において入力インターフェース5はマウス、及びキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、自動分析装置1とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路9へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェース5の例に含まれる。
出力インターフェース6は、制御回路9に接続され、制御回路9から供給される信号を出力する。出力インターフェース6は、例えば、表示回路、印刷回路、及び音声デバイス等により実現される。表示回路には、例えば、CRTディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ、LEDディスプレイ、及びプラズマディスプレイ等が含まれる。なお、表示対象を表すデータをビデオ信号に変換し、ビデオ信号を外部へ出力する処理回路も表示回路に含まれる。印刷回路は、例えば、プリンタ等を含む。なお、印刷対象を表すデータを外部へ出力する出力回路も印刷回路に含まれる。音声デバイスは、例えば、スピーカ等を含む。なお、音声信号を外部へ出力する出力回路も音声デバイスに含まれる。
通信インターフェース7は、例えば、病院内ネットワークNWと接続する。通信インターフェース7は、病院内ネットワークNWを介してHIS(Hospital Information System)とデータ通信を行う。なお、通信インターフェース7は、病院内ネットワークNWと接続する検査部門システム(Laboratory Information System:LIS)を介してHISとデータ通信を行ってもよい。
記憶回路8は、磁気的、若しくは光学的記録媒体、又は半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等を含む。なお、記憶回路8は、必ずしも単一の記憶装置により実現される必要は無い。例えば、記憶回路8は、複数の記憶装置により実現されてもよい。
記憶回路8は、解析回路3で実行される解析プログラム、及び制御回路9に備わる機能を実現するための制御プログラムを記憶している。記憶回路8は、解析回路3により生成される検量データを検査項目毎に記憶する。記憶回路8は、解析回路3により生成される分析データを血液検体毎に記憶する。記憶回路8は、操作者から入力された検査オーダ、又は通信インターフェース7が病院内ネットワークNWを介して受信した検査オーダを記憶する。
制御回路9は、自動分析装置1の中枢として機能するプロセッサである。制御回路9は、記憶回路8に記憶されているプログラムを実行することで、実行したプログラムに対応する機能を実現する。なお、制御回路9は、記憶回路8で記憶されているデータの少なくとも一部を記憶する記憶領域を備えてもよい。
図2は、図1に示される分析機構2の構成の一部における一例を示す模式図である。この図2に示すように、本実施形態に係る分析機構2は、反応ディスク201と、恒温部202と、ラックサンプラ203と、試薬庫204とを備えて構成されている。
反応ディスク201は、複数の反応容器110を、環状に配列させて保持する。反応容器110は、キュベットとも呼ばれる。反応ディスク201は、反応容器110を所定の経路に沿って搬送する。具体的には、検体の分析動作中、反応ディスク201は、駆動機構4により、既定の時間間隔で回動と停止とが交互に繰り返される。反応容器110は、例えば、ポリプロピレン(PP)又はアクリルにより形成されている。図2では図示を省略しているが、自動分析装置1は、反応ディスク201を覆う遮光カバーを有している。
恒温部202は、所定の温度に設定された熱媒体を貯留し、貯留する熱媒体に反応容器110を浸漬させることで、反応容器110に収容される混合液を昇温する。
ラックサンプラ203は、複数の試料容器を保持可能な試料ラック2031を、移動可能に支持しており、これら複数の試料容器には、測定を依頼された検体である血液検体が収容されている。図2に示す例では、5本の試料容器を並列して保持可能な試料ラック2031が示されている。
ラックサンプラ203には、試料ラック2031を搬送する搬送領域2032が設けられている。すなわち、この搬送領域2032を使用して、試料ラック2031が投入される投入位置から、測定が完了した試料ラック2031を回収する回収位置まで、試料ラック2031が搬送される。搬送領域2032では、長手方向に整列された複数の試料ラック2031が、駆動機構4により、方向D1へ移動される。
また、ラックサンプラ203には、試料ラック2031で保持される試料容器を所定のサンプル吸引位置へ移動させるため、試料ラック2031を搬送領域2032から引き込む引き込み領域2033が設けられている。サンプル吸引位置は、例えば、サンプル分注プローブ207の回動軌道と、ラックサンプラ203で支持されて試料ラック2031で保持される試料容器の開口部の移動軌道とが交差する位置に設けられる。引き込み領域2033では、搬送されてきた試料ラック2031が、駆動機構4により、方向D2へ移動される。
また、ラックサンプラ203には、試料が吸引された試料容器を保持する試料ラック2031を搬送領域へ戻すための戻し領域2034が設けられている。戻し領域2034では、試料ラック2031が、駆動機構4により、方向D3へ移動される。
試薬庫204は、標準液、及び血液検体に対して実施される各検査項目で用いられる試薬等を収容する複数の試薬容器200を保冷しながら保持する。試薬庫204内には、回転テーブルが回転自在に設けられている。回転テーブルは、複数の試薬容器200を円環状に載置して保持する。なお、本実施形態において、図2では図示していないが、試薬庫204は、着脱自在な試薬カバーにより覆われている。
さらに、図2に示される本実施形態に係る分析機構2は、サンプル分注アーム206と、サンプル分注プローブ207と、試薬分注アーム208と、試薬分注プローブ209とを備える。
サンプル分注アーム206は、反応ディスク201とラックサンプラ203との間に設けられている。サンプル分注アーム206は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。サンプル分注アーム206は、一端にサンプル分注プローブ207を保持する。
サンプル分注プローブ207は、サンプル分注アーム206の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、ラックサンプラ203上の試料ラック2031で保持される試料容器から試料を吸引するためのサンプル吸引位置が設けられている。また、サンプル分注プローブ207の回動軌道上には、サンプル分注プローブ207が吸引した試料を反応容器110へ分注するためのサンプル分注位置が設けられている。サンプル分注位置は、例えば、サンプル分注プローブ207の回動軌道と、反応ディスク201に保持されている反応容器110の移動軌道との交点に相当する。
サンプル分注プローブ207は、駆動機構4によって駆動され、サンプル吸引位置、又はサンプル分注位置において上下方向に移動する。また、サンプル分注プローブ207は、制御回路9の制御に従い、サンプル吸引位置の直下に位置する試料容器から試料を吸引する。また、サンプル分注プローブ207は、制御回路9の制御に従い、吸引した試料を、サンプル分注位置の直下に位置する反応容器110へ分注する。これらサンプル分注アーム206とサンプル分注プローブ207とにより、本実施形態における分注機構の一例が構成される。
試薬分注アーム208は、反応ディスク201と試薬庫204との間に設けられている。試薬分注アーム208は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。試薬分注アーム208は、一端に試薬分注プローブ209を保持する。
試薬分注プローブ209は、試薬分注アーム208の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、試薬吸引位置が設けられている。試薬吸引位置は、例えば、試薬分注プローブ209の回動軌道と、試薬庫204の回転テーブルに円環状に載置される試薬容器200の開口部の移動軌道とが交差する位置に設けられる。また、試薬分注プローブ209の回動軌道上には、試薬分注プローブ209が吸引した試薬を反応容器110へ分注するための試薬分注位置が設定されている。試薬分注位置は、例えば、試薬分注プローブ209の回動軌道と、反応ディスク201に保持されている反応容器110の移動軌道との交点に相当する。
試薬分注プローブ209は、駆動機構4によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、又は試薬分注位置において上下方向に移動する。また、試薬分注プローブ209は、制御回路9の制御に従い、試薬吸引位置で停止している試薬容器200から試薬を吸引する。また、試薬分注プローブ209は、制御回路9の制御に従い、吸引した試薬を、試薬分注位置の直下に位置する反応容器110へ分注する。これら試薬分注アーム208と試薬分注プローブ209とにより、本実施形態における分注機構の別の例が構成される。
さらに、本実施形態に係る分析機構2においては、その内部に、反応ディスク201に保持可能な反応容器110と同数の測光ユニット211が設けられている。この測光ユニット211が、本実施形態における測定部を構成する。図3及び図4は、この測光ユニット211の構成例を示す模式図である。図3は、測光ユニット211を、反応ディスク201の上方向から臨んだ際の各構成要素の位置関係の例を表す模式図である。図4は、測光ユニット211を、反応ディスク201の断面方向から臨んだ際の各構成要素の位置関係の例を表す模式図である。
測光ユニット211は、反応容器110内に分注された試料と試薬との混合液(測定対象物質)の光学的な物性値を連続的に測定する。本実施形態に係る分析機構2においては、複数の測光ユニット211が設けられている。例えば、分析機構2には、反応ディスク201で保持可能な反応容器と同数の測光ユニット211が設けられている。すなわち、反応ディスク201で保持される1つの反応容器に対して、1つの測光ユニット211が設けられている。それぞれの測光ユニット211の構成は同様であるため、図3及び図4においては、1つの測光ユニット211を代表して図示している。
図3及び図4に示す測光ユニット211は、例えば、光源2111と、光検出器2112、2113とを有する。例えば、測光ユニット211は、反応ディスク201で環状に保持される反応容器110の環状中心側に光源2111を有する。光源2111は、反応容器110が配列されている環の外側へ向けて光を照射するように設けられている。
光源2111は、2種類の波長の光を発生する、光照射部の一例である。光源2111は、例えば、波長が長い第1の光と、波長が短い第2の光とを発生する。例えば、第1の光の波長は、620~750nmの赤色の波長域に含まれ、第2の光の波長は、380~495nmの紫から青色の波長域に含まれる。なお、第1及び第2の光の波長は、620~750nmの赤色の波長域にそれぞれ含まれていてもよい。光源2111は、例えば、複数の波長の光を発生可能な多波長LED、所定の波長の光をそれぞれ発生する2つのLED、及び広い波長域の光からフィルタによって所望の波長の光を透過させる光源ユニット等により実現される。
光源2111は、制御回路9の制御に従い、第1及び第2の光を発生する。具体的には、例えば、光源2111は、所定の周期で第1及び第2の光を交互に発生する。このとき、光源2111は、例えば、第1及び第2の光を、凝固の最小測定単位である、例えば0.1秒の半分である0.05秒周期で交互に光を発生する。光源2111から照射された光は、反応容器110へ入射される。
なお、光源2111は、制御回路9により指定される一方の波長の光を発生するようにしてもよい。また、光源2111は、第1及び第2の光を同時に発生するようにしてもよい。ただし、このとき、不要な波長の光を除外するためのフィルタを光検出器2112、2113に設ける必要がある。
光検出器2112は、反応容器110を挟んで光源2111と対向する位置に配設される。光源2111から出射された光は、反応容器110の第1側壁から入射され、第1側壁と対向する第2側壁から出射される。光検出器2112は、反応容器110から出射された光を検出する。光検出器2112は、例えば、透過光受光部の一例である。
具体的には、例えば、光検出器2112は、反応容器110内の標準液と試薬との混合液を透過した光を検出する。光検出器2112は、検出した光を所定の時間間隔、例えば、0.1秒間隔でサンプリングし、透過光強度、又は吸光度等で表される標準データを生成する。所定の時間間隔は、例えば、第1の光の発生頻度と同期する。なお、光検出器2112は、例えば、第1の光の波長と対応した波長の光のみを検出するようにしてもよい。また、光検出器2112は、反応容器110内の血液検体と試薬との混合液を透過した光を検出する。光検出器2112は、検出した光を所定の時間間隔でサンプリングし、透過光強度、又は吸光度等により表される被検データを生成する。光検出器2112は、生成した標準データ、及び被検データを解析回路3へ出力する。
光検出器2113は、光源2111の光の照射軸と、光検出器2113の受光軸とが反応容器110内において略90度で交わるように配設される。光源2111から出射された光は、反応容器110の第1側壁から入射され、混合液内の粒子により散乱された後、第1側壁と90度隔てて隣接する第3側壁から出射される。光検出器2113は、反応容器110から出射された光を検出する。光検出器2113は、例えば、散乱光受光部の一例である。
具体的には、例えば、光検出器2113は、反応容器110内の標準液と試薬との混合液で散乱された光を検出する。光検出器2113は、検出した光を所定の時間間隔、例えば、0.1秒間隔でサンプリングし、散乱光強度等で表される標準データを生成する。所定の時間間隔は、例えば、第2の光の発生頻度と同期する。なお、光検出器2113は、例えば、第2の光の波長と対応した波長の光のみを検出するようにしてもよい。また、光検出器2113は、反応容器110内の血液検体と試薬との混合液で散乱された光を検出する。光検出器2113は、検出した光を所定の時間間隔でサンプリングし、散乱光強度等により表される被検データを生成する。光検出器2113は、生成した標準データ、及び被検データを解析回路3へ出力する。
なお、光検出器2112、2113は、検出した光の強度を検出信号として解析回路3へ出力してもよい。このとき、解析回路3が、所定の時間間隔、例えば、0.1秒間隔で検出信号をサンプリングし、標準データ、及び被検データを生成する。
図5は、本実施形態に係る測光ユニット211の別の構成例を表す模式図である。図5は、図3と同様に、測光ユニット211を、反応ディスク201の上方向から臨んだ際の各構成要素の位置関係の例を表している。図5に示される測光ユニット211は、光源2111として、2つのLED51、52を有している。図5に示される例では、LED52の光の照射軸が、LED51の光の照射軸に対して所定の角度だけ傾けられている。
光検出器2112は、図3及び図4の例と同様に、反応容器110を挟んでLED51と対向する位置に配設されている。一方、光検出器2113は、LED52の光の照射軸と、光検出器2113の受光軸とが反応容器110内において略90度で交わるように配設されている。
再び図1に示すように、解析回路3は、記憶回路8に記憶されている解析プログラムを実行することで、当該プログラムに対応する機能を実現する。例えば、解析回路3は、解析プログラムを実行することで、解析機能31、及び複合解析機能32を有する。すなわち、解析回路3は、本実施形態において、測光ユニット211で測定した結果に基づいて、検体に含まれる成分の分析結果を求める分析処理部を構成する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによって解析機能31、及び複合解析機能32が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて解析回路を構成し、各プロセッサが解析プログラムを実行することにより解析機能31、及び複合解析機能32を実現してもよい。
解析機能31は、分析機構2により生成される標準データ、及び被検データを解析する機能であり、解析部の一例である。具体的には、例えば、解析機能31において解析回路3は、標準データに基づいて凝固時間を算出し、算出した凝固時間から検量データを生成する。解析回路3は、生成した検量データを制御回路9へ出力する。
また、解析機能31において解析回路3は、例えば、被検データを解析することで、混合液中の凝固の過程を測定する。具体的には、解析回路3は、例えば、反応が強い試薬が添加された混合液の解析については、透過光を検出して得られる被検データを解析する。解析回路3は、被検データに基づいて血液凝固反応についての受光強度変化を取得する。なお、以下では、受光強度変化を反応曲線として説明を進める。解析回路3は、反応曲線における変曲点、及び飽和到達点等を凝固終了点として検出する。このときの変曲点、及び飽和到達点等の検出は、数学的なアルゴリズム、例えば、反応曲線の1次微分、2次微分、又は他の演算法を用いて実施される。解析回路3は、検出した凝固終了点に基づき、凝固点と、凝固点に到達する時間である凝固時間を算出する。なお、解析回路3は、反応が強い試薬を添加した後、凝固が進まない異常検体に対しては、散乱光を検出して得られる被検データを解析してもよい。
また、解析回路3は、例えば、反応が弱くて遅い試薬を添加した混合液の解析については、散乱光を検出して得られる被検データを解析する。なお、本実施形態において、反応が弱くて遅い試薬について、反応が弱い試薬と記載する箇所もあるが、これらは同意のものとして扱うものとする。解析回路3は、被検データに基づいて反応曲線を取得し、取得した反応曲線から、血液検体の凝固に関する情報、例えば、凝固終了点、凝固点、及び凝固時間を算出する。
また、解析回路3は、検査項目によっては、算出した凝固時間と、この被検データに対応する検査項目の検量データとに基づき、濃度値等を算出する。解析回路3は、凝固終了点、凝固点、凝固時間、及び濃度値等を含む分析データを制御回路9へ出力する。
複合解析機能32は、分析機構2により生成される2種類の被検データを複合して解析する機能であり、複合解析部の一例である。具体的には、複合解析機能32において解析回路3は、透過光を検出して得られる被検データと、散乱光を検出して得られる被検データとを取得する。解析回路3は、透過光についての被検データに基づく反応曲線、及び、散乱光についての被検データに基づく反応曲線から、血液検体の凝固に関する情報、例えば、凝固終了点、凝固点、及び凝固時間等を算出する。
複合解析機能32は、例えば、制御回路9からの制御、及び解析機能31での解析結果に従って実施される。例えば、解析回路3は、制御回路9からの指示に応じ、複合解析機能32を実施する。また、解析回路3は、例えば、解析機能31において、反応が弱い試薬を添加した後、想定よりも反応が遅い等の場合、複合解析機能32を実施する。
解析回路3は、凝固終了点、凝固点、及び凝固時間等を含む分析データを制御回路9へ出力する。
図1に示される制御回路9は、記憶回路8に記憶されている制御プログラムを実行することで、当該プログラムに対応する機能を実現する。例えば、制御回路9は、制御プログラムを実行することで、システム制御機能91と、測光制御機能92と、回収制御機能93と、変形制御機能94とを有する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能91と、測光制御機能92と、回収制御機能93と、変形制御機能94とが実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが制御プログラムを実行することにより、これらの各種機能を実現してもよい。
システム制御機能91は、入力インターフェース5から入力される入力情報に基づき、自動分析装置1における各部を統括して制御する機能である。例えば、システム制御機能91において、制御回路9は、検査項目に応じた解析を実施するように解析回路3を制御する。
測光制御機能92は、測定に用いられる光の波長を制御する機能であり、測光制御部の一例である。具体的には、測光制御機能92において制御回路9は、例えば、記憶回路8に記憶されている検査オーダを参照し、次に測定される検査項目で用いられる試薬情報を取得する。制御回路9は、例えば、取得した試薬情報に含まれる検査項目名、試薬名、反応に関する情報、及び再検に関する情報等に基づき、次に使用される試薬の反応が弱いか否かを判断する。
次に、図6を参照して、自動分析装置1のサンプル分注機構について説明する。サンプル分注機構は、サンプル分注アーム206とサンプル分注プローブ207とを含んでいる。サンプル分注アーム206は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。サンプル分注プローブ207は、サンプル分注アーム206の一端に保持されている。図6では、サンプル分注アーム206及びサンプル分注プローブ207が、サンプル吸引位置に位置する状態で示されている。
サンプル分注プローブ207は、制御回路9の制御に従い、サンプル吸引位置の直下に位置する試料容器100から試料を吸引する。具体的には、制御回路9の制御により、サンプル吸引位置において、サンプル分注アーム206が下降し、サンプル分注プローブ207が試料容器100内に挿入されて停止する。次に、試料容器100の試料がサンプル分注プローブ207を介して吸引される。その後、サンプル分注アーム206が上昇し、サンプル分注位置に移動した後、吸引した試料をサンプル分注位置に位置する反応容器110へ分注する。
サンプル吸引位置において、サンプル分注プローブ207を試料容器100内に挿入する際、サンプル分注プローブ207と試料容器100とが互いに位置合わせされている必要がある。このため、自動分析装置1による分析を行う前には、サンプル分注プローブ207と試料容器100とを互いに位置合わせする工程が行われる。図6に示された例では、サンプル分注プローブ207の上方に構造物21が存在している。また、図示された例では、サンプル分注プローブ207と試料容器100との間に、カバー部材23が配置されている。カバー部材23は、例えば、光が入射することを抑制するために設けられる遮光カバーである。
サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせは、従来、作業者がサンプル分注プローブ207の上方からサンプル分注プローブ207及び試料容器100を目視することにより行っていた。しかし、図6に示された例のように、自動分析装置1が構造物21やカバー部材23等を有している場合、作業者がサンプル分注プローブ207の上方からサンプル分注プローブ207及び試料容器100を目視することができず、サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせが困難である。
サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを行うために、専用のセンサや撮像装置を設けることも考えられる。この場合、センサや撮像装置からの出力結果を用いて、作業者が手動で又は制御回路による自動でサンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを行う。しかし、この場合には、専用のセンサや撮像装置を設ける必要があり、自動分析装置1を改造するための手間とコストがかかるという問題がある。
本実施形態では、作業者29がサンプル分注プローブ207の上方からサンプル分注プローブ207及び試料容器100を目視することができない場合であっても、位置合わせ用補助具10を用いることにより、サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせができる。とりわけ、本実施形態では、自動分析装置1を改造することなく、サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを行うことができる。以下、このような位置合わせ用補助具10の一例について、図7~図12を参照しながら説明する。
図7は、位置合わせ用補助具10の一例を示す斜視図であり、図8は、位置合わせ用補助具10を試料ラック2031に取り付けた状態で示す斜視図であり、図9は、位置合わせ用補助具10の光反射部11の一例を示す図であり、図10~図12は、位置合わせ用補助具10を用いてプローブと反応容器との位置合わせを行う方法の一例について説明するための図である。
図7~図12に示された例では、位置合わせ用補助具10は、サンプル分注プローブ207と試料ラック2031に保持される試料容器100との位置合わせを行うために用いられる。図示された例では、位置合わせ用補助具10は、サンプル分注プローブ207と位置合わせされるべき試料容器100に替えて試料ラック2031に設置される。なお、これに限られず、位置合わせ用補助具10は、サンプル分注プローブ207と位置合わせされるべき試料容器100に設置されてもよい。このような例については、図18を参照して後述する。
図7~図12に示された位置合わせ用補助具10は、光反射部11と、支持部15と、を有している。光反射部11は、サンプル分注プローブ207の鉛直上方とは異なる方向からサンプル分注プローブ207を目視可能に構成されている。光反射部11は、例えば鏡面である。光反射部11は、平面であってもよい。支持部15は、光反射部11を支持する部材である。支持部15は、位置合わせ用補助具10の使用時において、試料ラック2031の試料容器保持部2031a又は試料容器100に挿入される。本実施形態では、試料容器保持部2031a及び試料容器100の内面は円筒状の形状を有しており、これに対応して、支持部15は、中心軸線Aを有する円柱状の形状を有している。検体試料の吸引時において、試料容器保持部2031a及び試料容器100は、鉛直方向に延びるように配置される。したがって、中心軸線Aは、位置合わせ用補助具10の使用時において、鉛直方向に延びるように配置される。
光反射部11は、位置合わせ用補助具10の使用時において、鉛直方向に対して傾斜した方向に延びる。したがって、光反射部11は、中心軸線Aに対して傾斜した方向に延びる。中心軸線Aと光反射部11との間の角度θは、0度を超えて90度未満である。角度θは、30度以上60度以下であってもよく、40度以上50度以下であってもよい。角度θが45度であると、作業者29は、サンプル分注プローブ207を水平方向から目視することができる(図10参照)。角度θは、中心軸線Aと光反射部11に沿った直線Bとの間に形成される角度のうち、最も小さい角度として定義される。なお、角度θは、位置合わせ用補助具10の使用時における、鉛直方向と光反射部11との間の角度と一致する。
本実施形態では、位置合わせ用補助具10の使用時において、図8に示されるように、支持部15が、試料ラック2031の複数の試料容器保持部2031aのうちの1つに挿入される。
図9に示されているように、光反射部11は、位置合わせマーク13を有している。位置合わせマーク13は、サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを行う際に、作業者29がサンプル分注プローブ207の位置の目標とするためのマークである。位置合わせマーク13の具体的な形状は特に限られない。図9に示されてた例では、位置合わせマーク13は、互いに直交する2つの直線で構成された、いわゆる「+」(プラス)の形状を有している。
この位置合わせ用補助具10を使用して、サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを行う際には、まず、位置合わせ用補助具10を試料ラック2031に取り付ける。次に、位置合わせ用補助具10がサンプル吸引位置に位置するように、試料ラック2031を配置する。そして、作業者29がサンプル分注プローブ207の鉛直上方とは異なる方向からサンプル分注プローブ207を目視しながら、サンプル分注プローブ207の位置を調整する(図10参照)。図10には、支持部15の中心軸線Aと光反射部11との間の角度θが45度である例、すなわち鉛直方向と光反射部11との間の角度θが45度である例が示されている。この場合、作業者29は、サンプル分注プローブ207を水平方向から目視しながら、サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを行うことができる。
図11及び図12には、作業者29から見た光反射部11が示されている。図11に示されているように、作業者29から見て、光反射部11の位置合わせマーク13とサンプル分注プローブ207との位置がずれている場合、サンプル分注プローブ207の位置を調整する。具体的には、図12に示されているように、位置合わせマーク13とサンプル分注プローブ207とが一致するように、サンプル分注プローブ207を移動させる。なお、これに限られず、試料ラック2031を移動させることにより、サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを行ってもよい。
本実施形態の位置合わせ用補助具10は、自動分析装置1の分注プローブ207と位置合わせされるべき試料容器100に替えて設置され、分注プローブ207の位置を目視により確認するための位置合わせ用補助具10であって、分注プローブ207の鉛直上方とは異なる方向から分注プローブ207を目視可能に構成された光反射部11を有する。
本実施形態の自動分析システム1000は、試料容器100内に収容された試料を吸引する分注プローブ207を備えた自動分析装置1と、分注プローブ207と位置合わせされるべき試料容器100に替えて設置され、分注プローブ207の位置を目視により確認するための位置合わせ用補助具10であって、当該分注プローブ207の鉛直上方とは異なる方向から分注プローブ207を目視可能に構成された光反射部11を有する、位置合わせ用補助具10と、を備える。
このような位置合わせ用補助具10及び自動分析システム1000によれば、作業者29がサンプル分注プローブ207の上方からサンプル分注プローブ207及び試料容器100を目視することができない場合であっても、位置合わせ用補助具10を用いることにより、サンプル分注プローブ207の鉛直上方とは異なる方向からサンプル分注プローブ207を目視しながら、サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを行うことができる。したがって、サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを容易に行うことができる。
さらに、本実施形態の位置合わせ用補助具10によれば、自動分析装置1に、サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを行うための専用のセンサや撮像装置を設ける必要がない。したがって、自動分析装置1に、センサや撮像装置を設けるために追加の手間やコストが掛かることを抑制することができる。
本実施形態の位置合わせ用補助具10では、光反射部11は、位置合わせマーク13を有する。
このような位置合わせ用補助具10によれば、作業者29は、サンプル分注プローブ207と位置合わせマーク13との位置が一致するように、サンプル分注プローブ207又は試料ラック2031を移動させるだけで、サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを行うことができる。したがって、サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを簡単に行うことができる。
上述した実施形態に対して様々な変更を加えることが可能である。以下、図面を適宜参照しながら、変形例について説明する。以下の説明および以下の説明で用いる図面では、上述した実施形態と同様に構成され得る部分について、上述の実施形態における対応する部分に対して用いた符号と同一の符号を用いることとし、重複する説明を省略する。
図13は、位置合わせ用補助具10の一変形例を示す側面図であり、図14は、位置合わせ用補助具10を用いてサンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを行う方法の一例について説明するための図である。
図13に示された例では、位置合わせ用補助具10は、支持部15に対する光反射部11の角度が変更可能に構成されている。このために、位置合わせ用補助具10は、支持部15に対する光反射部11の角度を変更可能な角度変更部17を有している。角度変更部17は、例えばヒンジ部材で構成される。角度変更部17は、光反射部11の角度を変更する機能に加えて、光反射部11を所定の角度で保持する機能を有することが好ましい。角度変更部17は、光反射部11の角度を連続的に変更できるものであってもよいし、光反射部11の角度を段階的に変更できるものであってもよい。
このような位置合わせ用補助具10を使用しても、作業者29がサンプル分注プローブ207の鉛直上方とは異なる方向からサンプル分注プローブ207を目視しながら、サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを行うことができる。とりわけ、本変形例の位置合わせ用補助具10によれば、図14に示されているように、角度変更部17で光反射部11の角度を変更することにより、作業者29は、所望の角度からサンプル分注プローブ207を目視することができる。作業者29は、例えば、水平方向から目視したり、自動分析装置1を構成する部材と他の部材との間の隙間から目視したり、カバー部材23のプローブ挿入口25を介して目視したりすることができる。したがって、サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを行う際に、作業者が目視する角度の自由度が向上する。
本変形例の位置合わせ用補助具10は、光反射部11を支持する支持部15を有し、支持部15に対する光反射部11の角度は変更可能である。
このような位置合わせ用補助具10によれば、光反射部11の角度を変更することにより、作業者29が、所望の角度からサンプル分注プローブ207を目視することができる。したがって、サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを行う際に、作業者が目視する角度の自由度が向上する。
図15は、位置合わせ用補助具10の他の変形例を示す側面図であり、図16は、位置合わせ用補助具10を試料ラック2031に取り付けた状態で示す図であり、図17は、位置合わせ用補助具10を他の試料ラック2031に取り付けた状態で示す図である。
図15に示された例では、位置合わせ用補助具10の支持部15は、本体部18と、調整部材19と、を含んでいる。調整部材19は、支持部15の形状及び/又は寸法を変更するための部材である。調整部材19としては、例えば、バネ等の弾性部材を用いることができる。バネとしては、例えば板バネを用いることができる。図15に示された例では、調整部材19は板バネである。
図16は、位置合わせ用補助具10を、比較的小さな穴径を有する試料容器保持部2031aに取り付けられた例を示し、図17は、位置合わせ用補助具10を、比較的大きな穴径を有する試料容器保持部2031aに取り付けられた例を示す。
図16に示されているように、位置合わせ用補助具10が、比較的小さな穴径を有する試料容器保持部2031aに取り付けられた場合には、調整部材19が大きく変形する。これに対して、図17に示されているように、位置合わせ用補助具10が、比較的小さな穴径を有する試料容器保持部2031aに取り付けられた場合には、調整部材19の変形は小さい。これにより、支持部15の寸法を、試料容器保持部2031aの穴径に応じて変更することができる。したがって、試料容器保持部2031aの穴径が異なる、別の試料ラック2031を用いた場合にも、同じ位置合わせ用補助具10を利用することができる。すなわち、試料ラック2031の種類に応じて複数の位置合わせ用補助具10を用意する必要がない。
なお、調整部材19が弾性部材である場合には、支持部15を試料容器保持部2031a内に挿入したときに、弾性変形した調整部材19と試料容器保持部2031aの側面との間に調整部材19の弾性力による押し付け力が作用する。これにより、調整部材19と試料容器保持部2031aの側面との間に摩擦力が生じ、これにより位置合わせ用補助具10が試料容器保持部2031aから抜け出ることが抑制される。
本変形例の位置合わせ用補助具10は、光反射部11を支持する支持部15を有し、支持部15の形状及び/又は寸法は変更可能である。
このような位置合わせ用補助具10によれば、支持部15の寸法を、試料容器保持部2031aの穴径に応じて変更することができるので、試料容器保持部2031aの穴径が異なっても、同じ位置合わせ用補助具10を利用することができる。
図18は、位置合わせ用補助具10のさらに他の変形例を示す図であり、位置合わせ用補助具10を試料容器100に取り付けた状態で示す図である。
上述の実施形態及び変形例では、位置合わせ用補助具10は、サンプル分注プローブ207と位置合わせされるべき試料容器100に設置されている。位置合わせ用補助具10の支持部15は、試料容器100に挿入されて試料容器100に保持されている。試料容器100は、試料ラック2031の試料容器保持部2031aに保持されている。
本変形例の位置合わせ用補助具10は、自動分析装置1の分注プローブ207と位置合わせされるべき試料容器100に設置され、分注プローブ207の位置を目視により確認するための位置合わせ用補助具10であって、分注プローブ207の鉛直上方とは異なる方向から分注プローブ207を目視可能に構成された光反射部11を有する。
本実施形態の自動分析システム1000は、試料容器100内に収容された試料を吸引する分注プローブ207を備えた自動分析装置1と、分注プローブ207と位置合わせされるべき試料容器100に設置され、分注プローブ207の位置を目視により確認するための位置合わせ用補助具10であって、当該分注プローブ207の鉛直上方とは異なる方向から分注プローブ207を目視可能に構成された光反射部11を有する、位置合わせ用補助具10と、を備える。
このような位置合わせ用補助具10及び自動分析システム1000によっても、作業者29がサンプル分注プローブ207の上方からサンプル分注プローブ207及び試料容器100を目視することができない場合に、位置合わせ用補助具10を用いることにより、サンプル分注プローブ207の鉛直上方とは異なる方向からサンプル分注プローブ207を目視しながら、サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを行うことができる。
さらに、本変形例の位置合わせ用補助具10によれば、自動分析装置1に、サンプル分注プローブ207と試料容器100との位置合わせを行うための専用のセンサや撮像装置を設ける必要がない。したがって、自動分析装置1に、センサや撮像装置を設けるために追加の手間やコストが掛かることを抑制することができる。
なお、上記説明における「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU(central processing unit)、GPU (Graphics Processing Unit)、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC)、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。プロセッサが例えばCPUである場合、プロセッサは記憶回路に保存されたプログラムを読み出して実行することで各処理機能を実現する。一方、プロセッサが例えばASICである場合、プログラムが記憶回路に保存される代わりに、当該処理機能がプロセッサの回路内に論理回路として直接組み込まれる。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて1つのプロセッサとして構成し、その処理機能を実現するようにしてもよい。さらに、図1における複数の構成要素を1つのプロセッサへ統合してその処理機能を実現するようにしてもよい。
いくつかの実施形態及び変形例を説明したが、これらの実施形態及び変形例は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これらの実施形態及び変形例は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更、実施形態及び変形例同士の組み合わせを行うことができる。これらの実施形態及び変形例は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
1 自動分析装置
2 分析機構
3 解析回路
4 駆動機構
5 入力インターフェース
6 出力インターフェース
7 通信インターフェース
8 記憶回路
9 制御回路
10 位置合わせ用補助具
11 光反射部
13 位置合わせマーク
15 支持部
17 角度変更部
18 本体部
19 調整部材
91 システム制御機能
92 測光制御機能
100 試料容器
110 反応容器
200 試薬容器
201 反応ディスク
202 恒温部
203 ラックサンプラ
204 試薬庫
206 サンプル分注アーム
207 サンプル分注プローブ
208 試薬分注アーム
209 試薬分注プローブ
211 測定部(測光ユニット)
2031 試料ラック
2031a 試料容器保持部

Claims (5)

  1. 自動分析装置の分注プローブと位置合わせされるべき試料容器に設置され又は当該試料容器に替えて設置され、前記分注プローブの位置を目視により確認するための位置合わせ用補助具であって、
    当該分注プローブの鉛直上方とは異なる方向から前記分注プローブを目視可能に構成された光反射部を有する、位置合わせ用補助具。
  2. 前記光反射部を支持する支持部を有し、
    前記支持部に対する前記光反射部の角度は変更可能である、請求項1に記載の位置合わせ用補助具。
  3. 前記光反射部を支持する支持部を有し、
    前記支持部の形状及び/又は寸法は変更可能である、請求項1又は2に記載の位置合わせ用補助具。
  4. 前記光反射部は、位置合わせマークを有する、請求項1~3のいずれか一項に記載の位置合わせ用補助具。
  5. 試料容器内に収容された試料を吸引する分注プローブを備えた自動分析装置と、
    前記分注プローブと位置合わせされるべき前記試料容器に設置され又は当該試料容器に替えて設置され、前記分注プローブの位置を目視により確認するための位置合わせ用補助具であって、当該分注プローブの鉛直上方とは異なる方向から前記分注プローブを目視可能に構成された光反射部を有する、位置合わせ用補助具と、を備えた自動分析システム。
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