JP2023142052A - 放射線検査装置 - Google Patents

放射線検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2023142052A
JP2023142052A JP2022048721A JP2022048721A JP2023142052A JP 2023142052 A JP2023142052 A JP 2023142052A JP 2022048721 A JP2022048721 A JP 2022048721A JP 2022048721 A JP2022048721 A JP 2022048721A JP 2023142052 A JP2023142052 A JP 2023142052A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
inspected
battery
conveyor
rotation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2022048721A
Other languages
English (en)
Inventor
民彦 神山
Tamihiko Kamiyama
雅美 富澤
Masami Tomizawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba IT and Control Systems Corp
Original Assignee
Toshiba IT and Control Systems Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba IT and Control Systems Corp filed Critical Toshiba IT and Control Systems Corp
Priority to JP2022048721A priority Critical patent/JP2023142052A/ja
Priority to KR1020220116591A priority patent/KR20230138859A/ko
Priority to CN202211310581.XA priority patent/CN116840270A/zh
Publication of JP2023142052A publication Critical patent/JP2023142052A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/083Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/18Investigating the presence of flaws defects or foreign matter
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/10Different kinds of radiation or particles
    • G01N2223/101Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
    • G01N2223/1016X-ray
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/33Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
    • G01N2223/3306Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts object rotates
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/33Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
    • G01N2223/3307Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts source and detector fixed; object moves
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60Specific applications or type of materials
    • G01N2223/643Specific applications or type of materials object on conveyor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60Specific applications or type of materials
    • G01N2223/646Specific applications or type of materials flaws, defects

Abstract

【課題】TDIセンサを使用して鮮明な透視画像を取得すると共に、簡単な構成で高速検査が可能な放射線検査装置を提供する。【解決手段】放射線検査装置は、電池100を搬送するコンベア1と、互いに異なる速度で運転可能な第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5と、その制御部11を有する。制御部11は、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5の速度を制御して、電池100を複数の検出素子列3a~3iの配列方向に沿って直進させながら所定角度で回転させ、各検出素子列3a~3iそれぞれの放射線検出位置において、電池100に設定された複数の放射線透過パス100a~100iの角度と、各放射線透過パス100a~100iを透視する照射領域2a~2iの角度を一致させる、【選択図】図1A

Description

本発明の実施形態は、放射線検査装置に関する。本実施形態の放射線検査装置は、例えば、外形が円筒形であって、電池やコンデンサ等のように内部に巻回構造体を持った被検査物を対象として、巻回の巻ズレや異物の有無を検査するのに適しているが、他の用途にも使用可能で、被検査物の形状は円筒形に限らず、種々の形状であっても良い。
電池などの被検査物の内部構造を検査する放射線検査装置として、例えば、特許文献1や特許文献2に示すものが知られている。この種の放射線検査装置は、一定の間隔でコンベアにより搬送された被検査物に対して、X線などの放射線を照射することで、その内部構造を検査する。
この種の放射線検査装置では、被検査物をコンベアに乗せたままの状態で、放射線発生器により被検査物に放射線を照射し、検査部位を透過した放射線を検出器によって検出する。例えば、図6の(a)(b)において、リチウムイオン電池100が被検査物であって、その上部101と下部102が検査部位である。電池100の内部には、板状の正極タブ103と負極タブ104が設けられ、正極タブ103は外部端子105に接続され、負極タブ104は電池100の内側底面に接続されている。このような電池100の良品・不良品の検査としては、正極タブ103や負極タブ104の変形、断線、接続不良、また、巻回されている正極、負極、セパレータの端部の位置ずれなどを、検出器で得られた透視データから生成した放射線透視画像によって判定する。
最近では、この種の放射線検査装置の1つとして、特許文献3に示すように、TDIセンサ(Time Delay Integration、時間遅延積分型のCCDセンサ)を使用したものが提案されている。例えば、TDIラインセンサは、複数の検出素子列(検出素子のライン)の各列ごとに、各検出素子から得た検出データを、X線検出器によって時間遅延積分して合成データを生成し、X線検出器により出力される合成データに基づいて被検査物中の異物の有無などを判定するものである。
特開2014-80284号公報 特開2017-53778号公報 特許第6266574号公報 特許第3513136号公報
TDIラインセンサを使用した放射線検査装置において、被検査物が巻回型の電池のような円筒形状である場合、透視画像を得るためのX線は被検査物に対して放射状に照射される。一方、TDIラインセンサを設けたX線検出器のX線入力面は、搬送コンベアの搬送方向と並行に設置され、被検査物はX線入力面と平行に移動しながら、TDIラインセンサに内蔵される複数の検出素子列の前を通過する。
本来、TDIラインセンサの各検出素子列には、被検査物の同じパスを透過したX線が、被検査物の搬送に伴って、各検出素子を横断するように入射すべきである。しかし、X線はその焦点からX線検出器の全幅に対して放射状に広がって照射されることから、被検査物がX線検出器の前を通過する場合、その通過位置ごとにX線は異なるパスを透過する。その結果、それぞれの検出素子列で得られた検出データが異なる透過パスの合成データとなってしまい、同一の透過パスについて複数の検出素子列の合成データを得ることができず、透過パスごとの鮮明な透視画像を得られなかった。
このような問題点を解消するため、特許文献3の発明では、被検査物をチャッキングしてX線焦点位置を中心に被検査物を振り子運動のように回転させ、TDIセンサなどによるX線透視像のボケを緩和している。しかし、このような従来技術は、機構が大掛かりで被検査物の回転位置の調整が難しい。また、被検査物をチャッキング装置に毎回取付けと取り外しをしなければならず、多数の被検査物を連続して高速で検査するには不適当である。
このような問題点は、TDIラインセンサに限らず、他のタイプのTDIセンサによって検査を実施する場合にも生じる。例えば、特許文献4に記載のように、移動する被検査物を透過したX線を、撮影領域を変えられる面センサによって、所定の時間間隔で複数回撮影し、各撮影データを時間遅延積分して合成データを得るX線イメージインテンシファイヤ型のTDIセンサが知られている。この種のTDIセンサにおいても、被検査物を移動させながら撮影することから、撮影位置の変化に応じて透過パスの経路が異なり、同一の透過パスについて複数の撮影画像の合成データを得ることができず、鮮明な透視画像を得られなかった。
本実施形態は、上記のような従来技術の問題点を解決するために提案されたものである。本実施形態の目的は、TDIセンサを使用して鮮明な透視画像を取得すると共に、簡単な構成で高速検査が可能な放射線検査装置を提供することにある。
本発明の実施形態の放射線検査装置は、次のような構成を有する。
(1)被検査物を搬送するコンベア。
(2)前記コンベア上の前記被検査物を挟んで配置され、前記被検査物の検査部位を撮影する放射線発生器と放射線検出器。
(3)前記放射線検出器に複数の検出素子。
(4)前記放射線発生器の焦点と、前記複数の検出素子のそれぞれを結ぶように、所定の角度間隔で放射状に設定された複数の放射線照射領域。
(5)前記被検査物に設定され、前記複数の放射線照射領域に照射された放射線が透過する複数の放射線透過パス。
(6)前記被検査物を、前記コンベアの走行方向及び前記放射線発生器の光軸と交差する軸を中心として回転させる回転装置。
(7)前記回転装置は、直進する前記被検査物を所定角度で回転させ、前記各検出素子それぞれの放射線検出位置において、前記被検査物に設定された前記複数の放射線透過パスの角度と、前記各放射線透過パスを透視する放射線照射領域の角度を一致させる。
実施形態において、次のような構成を有することができる。
(1)被検査物の直線搬送距離xに対して、被検査物を回転させる角度θ(rad)は、
θ=tan-1(x/FOD)
(FODは、放射線焦点Fと被検査物中心との距離)
である。
(2)被検査物の直線搬送距離xに対して、被検査物を回転させる角度θ(rad)は、
θ=x/FOD
(FODは、放射線焦点Fと被検査物中心との距離)
である。
(3)前記放射線検出器は、前記コンベアの進行方向に沿って設けられた複数の検出素子列を備え、
前記複数の放射線照射領域は、前記放射線発生器の焦点と、前記複数の検出素子列のそれぞれを結ぶように、所定の角度間隔で放射状に設定される。
(4)前記放射線検出器は、格子状、または格子状とみなせるように配列された複数の検出素子を備え、
前記複数の放射線照射領域は、前記放射線発生器の焦点と、前記格子状、または格子状とみなせるように配列された複数の検出素子のそれぞれを結ぶように、所定の角度間隔で放射状に設定される。
(5)前記回転装置は、前記コンベアの両側に配置され、前記コンベア上の前記被検査物を挟持した状態で、互いに異なる速度で運転可能な第1回転用ベルトと第2回転用ベルトである。
(6)前記第1回転用ベルトと前記第2回転用ベルトのそれぞれは、前記被検査物の上部に接触する上ロープと、前記被検査物の下部に接触する下ロープを備えている。
(7)前記第1回転用ベルトと前記第2回転用ベルトをコンベアの幅方向に移動させ、前記第1回転用ベルトと前記第2回転用ベルトの間隔を増減する間隔調整機構を備えている。
(8)前記被検査物は、外周面が円周面であって、前記第1回転用ベルトと前記第2回転用ベルトは、前記被検査物の円周面を挟んで前記被検査物を回転させる。
(9)前記被検査物は、前記被検査物を前記コンベア上に保持するホルダを備え、前記ホルダはその外周面が円周面であって、前記第1回転用ベルトと前記第2回転用ベルトは、前記ホルダを挟んで前記被検査物を回転させる。
(10)前記回転装置は、前記コンベア上に設けられた駆動機構と、前記駆動機構によって前記被検査物と共に回転される被検査物の支持部材である。
(11)前記回転装置による前記被検査物の回転角度を制御する制御部を備え、
前記制御部は、前記回転装置による前記被検査物の回転角度を制御して、前記被検査物を直進させながら所定角度で回転させ、前記各検出素子列それぞれの放射線検出位置において、前記被検査物に設定された前記複数の放射線透過パスの角度と、前記各放射線透過パスを透視する放射線照射領域の角度を一致させる。
第1実施形態の全体構成を示す平面図。 第1実施形態の全体構成を示す正面図。 第1実施形態の全体構成を示す横断面図。 第1実施形態における被検査物の検査流れを示す平面図。 第1実施形態における下部検査部を示す斜視図。 第1実施形態における上部検査部を示す斜視図。 第1実施形態における被検査物に対する放射線の照射状態を示す模式的な平面図。 被検査物の位置が異なる場合における放射線照射領域と放射線透過パスの関係を示す平面図。 被検査物を電池とした場合の構造を示す断面図で、(a)は負極タブの幅が広い面が正面を向いている図、(b)は負極タブの幅が狭い面が正面を向いている図である。 コンベアによって搬送される被検査物と放射線検出器との位置関係を模式的に示す平面図。 被検査物が左から右へ移動するときの第1回転用ベルト4及び第2回転用ベルト5の移動量を示す図。 被検査物が右から左へ移動するときの第1回転用ベルト4及び第2回転用ベルト5の移動量を示す図。 第2実施形態における被検査物に対する放射線の照射状態を示す模式的な平面図。
[1.第1実施形態]
[1-1.実施形態の構成]
本実施形態の放射線検査装置は、一般にTDIラインセンサとよばれるもので、放射線検出器として、コンベアの進行方向に沿って設けられた複数の検出素子列を備えたものを使用する。また、本実施形態では、被検査物として円筒状の電池100を使用し、電池100の上部101と下部102に位置する正極と負極の重なり状態を検査する。本実施形態はX線検査装置を例に挙げて説明するが、他の放射線検査装置にても応用可能である。本実施形態において、実施する検査内容としては、正極と負極間の距離計測、ビーディング(beading)計測などである。
図1Aから図1Cに示すように、放射線検査装置は、被検査物である電池100を搬送するコンベア1と、コンベア1の経路上に設けられた下部検査部Aと、下部検査部Aの後段に設けられた上部検査部Bを備える。下部検査部Aは被検査物の下部を撮影し、上部検査部Bは被検査物の上部を撮影する。下部検査部Aの前段には、被検査物の供給部Cが設けられ、上部検査部Bの後段には被検査物の搬出部Dが設けられている。
本実施形態において、コンベア1は、平坦な搬送面を有するベルトコンベアが使用される。コンベア1は、床面に設置された基台1a上に支持され、基台1aに設けられたコンベアモータ1bによって駆動される。他のタイプのコンベアとして、被検査物を保持するストッパ又は凹部を有するコンベア、又は搬送面に被検査物のホルダHを一体に設けたコンベア1も使用できる。電池100はコンベア1上に直接載置されてもよいが、本実施形態では個々の電池100はホルダHによって支持された状態でコンベア1に載置される。
下部検査部Aと上部検査部Bのそれぞれに、放射線発生器(以下、発生器という)2と放射線検出器(以下、検出器という)3が設けられる。下部検査部Aでは、発生器2と検出器3は、コンベア1上の電池100を挟んで配置され、電池100の下部102を撮影する。発生器2と検出器3の高さは、図3Aに示すように、電池100の下部102に放射線の光軸が位置するように設定される。
上部検査部Bでは、電池100の上部101を検査するため、図3Bに示すように、発生器2と検出器3の高さは、電池100の上部101の透視像部分に放射線の光軸が位置するように設定される。本実施形態では、下部検査部A及び上部検査部Bの検出器3として、TDIラインセンサを使用する。
TDIラインセンサを用いた検出器3は、図4及び図5に示すように、コンベア1の進行方向に沿って設けられた複数の検出素子列(以下、素子列という)3a~3iを有する。すなわち、点状の放射線検出素子を縦方向(電池100の軸方向)に所定個数並べて1つの素子列として、そのような素子列3a~3iをコンベア1の進行方向に配列することで、フラットパネル型の受光検出面を有する検出器3が構成される。
図示の実施形態では、便宜的に素子列数=9として記載しているが、実際の素子列数は放射線検出器のサイズなどによって異なり、図示の例に限定されるものではない。以下述べる放射線照射領域数及び放射線透過パス数についても、同様である。
発生器2は、図4に示すように、放射線源の焦点Fから検出器3の受光検出面に向かって広がるコーンビーム型の放射線を発生する。コーンビーム型の放射線は、発生器2の焦点Fと複数の素子列3a~3iのそれぞれを結ぶように、所定の角度間隔で放射状に分割された複数の放射線照射領域(以下、照射領域という)2a~2iを有する。この複数の照射領域2a~2iに対応して、電池100には複数の照射領域2a~2iに照射された放射線が、順次透過する複数の放射線透過パス(以下、透過パスという)100a~100iが設定される。
すなわち、電池100は、発生器2と検出器3の間を通過しながら、それぞれの透過パス100a~100iが、照射領域2a~2iを通過することで、1つの透過パスに対して照射領域2a~2iの数だけ放射線照射を受け、その透過量が検出器3の素子列3a~3iのそれぞれで検出される。検出器3は、すべての素子列3a~3iを積算、平均化などの手法で処理することで、1つの透過パスについての放射線透過データを得る。その後、電池100を移動させながら、すべての透過パス100a~100iについてこの作業を行い、それらのデータを素子列ごとにつなぎ合わせることで、電池100全体の放射線透過画像データを生成する。
図1~図3に示すように、下部検査部A、上部検査部B、供給部C、及び搬出部Dのそれぞれには、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5が設けられる。第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5は、コンベア1の両側に配置され、コンベア1上の電池100を挟持した状態で、コンベア1と同方向に運転される。第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5はその走行速度が独立して制御される。
本実施形態では、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5のそれぞれは、電池100の上部101に接触する上ロープ4a,5aと、電池100の下部に接触する下ロープ4b,5bを備えている。この上ロープ4a,5aと下ロープ4b,5bは、シリコン系の滑りにくい材質や、表面に凹凸のある歯付きのロープが使用できる。第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5に使用するロープの本数は、2本に限らず、増減可能である。第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5として、上ロープ4a,5aと下ロープ4b,5bの代わりに、幅の広い帯状のベルトを使用することができる。
電池100は上ロープ4a,5aと下ロープ4b,5bの2か所で挟まれるため、細長い形状の電池100であっても回転時に倒れることはない。第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5は、ループ状のベルトの両端部に設けられたモータ6によって駆動される。モータ6の出力軸に上下2つのプーリ7a,7bが固定され、これらのプーリ7a,7bに上ロープ4a,5aと下ロープ4b,5bが掛け渡される。
電池100を回転させるために、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5は、互いに異なる速度で運転可能である。第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5が異なる速度で運転されると、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5に挟まれた電池100は、コンベア1上で回転しながら搬送される。第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5が同じ速度で運転されると、電池100はコンベア1上で回転することなく、コンベア1の長さ方向に沿って直線的に搬送される。
第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5は、電池100の外径に合わせて、その間隔を調整することができる。そのため、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5は、基台1aに対してコンベア1の幅方向に移動可能に支持されており、第1回転用ベルト4及び第2回転用ベルト5と基台1aとの間には、各ベルトを移動させるためのシリンダやモータなどの間隔調整機構9が設けられる。
下部検査部Aの第1回転用ベルト4と上部検査部Bの第1回転用ベルト4の隣接部分には、第1回転用ベルト4の間の隙間を塞ぐ受けローラ8が設けられる。同様に、第2回転用ベルト5間の隙間にも受けローラ8が設けられる。発生器2と検出器3は2組あり、それぞれの組の発生器2と検出器3の間には、放射線の拡散を防止する遮蔽筒10が設けられる。また、これに伴い図示しない検査室の遮蔽用部品(例えば鉛板など)も設けられているが、本実施形態では、遮蔽筒周辺以外の遮蔽用部品を小さく、薄くできる。受けローラ8は、被検査物の供給部C及び搬出部Dなどの接続部分にも設けられる。
放射線検査装置は、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5の運転速度を制御するためのベルト制御部11(以下、制御部11という)を有する。制御部11は、電池100を複数の素子列の配列方向に沿って直進させながら所定角度で回転させ、各素子列3a~3iそれぞれの放射線検出位置において、電池100に設定された複数の透過パス100a~100iの角度と、各透過パス100a~100iを透視する照射領域2a~2iの角度を一致させるように、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5の運転速度を制御する。例えば、電池100の直線搬送距離xに対して、電池100を回転させる角度θ(rad)は、
θ=tan-1(x/FOD)
(FODは、放射線焦点Fと被検査物である電池100の中心との距離)
である。
ここで、前記の式には三角関数による計算が含まれるが、θの値が小さいとき、θを弧度法(単位rad)で表すと、
tan-1(x/FOD)≒x/FOD
と近似することができるので、θ=x/FODとして計算を簡略化することができる。この近似の誤差は、θの値がTDIラインセンサの全画素列を見込む放射線利用線錐の頂角の1/2(これを半頂角と呼ぶ)において最大となる。
電池100をその中心を回転中心として回転させながら直線移動させるときの3つの異なる位置を図7に示す。100Sは電池の輪郭の右側が照射領域2aに接するときであり、この位置から電池100を放射線が透過したデータを検出器3によって検出する。100Cは電池100の中心が照射領域2e上にあるとき、そして、100Eは電池100の輪郭の左側が照射領域2iに接するときをそれぞれ示す。電池100が100Eの位置まで電池100を放射線が透過したデータを検出器3によって検出する。電池100が、100Cの位置にあるとき、電池100の中心の位置はxの原点(x=0)にある。電池100が左から右へ直線移動する向きをxの正の向きとし、直線搬送距離xに対して、電池100をその中心を中心として図7に示すように時計回りをθの正の回転角としてθだけ次式にしたがって回転させる。もし、電池100を右から左へ直線移動させるときxは負の向きであり、その直線搬送距離xに対して、電池100をその中心を中心として反時計回りにθだけ次式にしたがって回転させる。
θ=tan-1(x/FOD)
TDIセンサとFDDについて三つの実用例において、この近似による誤差を半頂角において計算すると、表1のようになる。この表の最右欄に示す誤差は、いずれの場合も十分に小さな値であり、電池100の回転角は三角関数を用いずにθ=x/FODという簡単な式で近似できることを示している。
図3A及び図3Bに示すように、下部検査部A及び上部検査部Bのそれぞれに設けられた検出器3は、良品・不良品判定部12に接続されている。良品・不良品判定部12は、検出器3からの画像データを予め用意された判定用のデータと比較することにより、検査対象の電池100が良品又は不良品のいずれであるかを判定する。
[1-2.実施形態の作用]
本実施形態の放射線検査装置の作用は、以下のとおりである。
(1)第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5の間隔調整
間隔調整機構9を用いて、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5の間隔を電池100の外径に合わせて調整する。この調整作業は、供給部C、下部検査部A、上部検査部B及び搬出部Dのそれぞれのベルトについて実施する。
(2)電池100の供給
検査対象となる電池100は、図示しない製造装置や保管場所からコンベア1に搬送されて、供給部Cを経由して、下部検査部Aに送られる。供給部C及び下部検査部Aのうち電池100が放射線ビームと交差しない位置までは、電池100の側面を第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5で挟み込み、制御部11によって第1回転用ベルト4、第2回転用ベルト5及びコンベア1を同じ速度で運転させることにより、電池100をコンベア1上で回転させることなく、コンベア1の搬送方向に沿って直線的に搬送させる。
(3)下部検査部A(電池100の回転を伴う直線移動と放射線の照射)
電池100が、第1の照射領域2aに達した状態では、図4の符号(a)の電池位置及び図5(a)に示すように、電池100の下部102における第1の透過パス100aの部分を放射線が透過し、透過した放射線は検出器3の第1の素子列3aによって受光される。例えば、電池100の下部102における第1の透過パス100aに、放射線を遮る妨害物(例えば、電池100の負極タブ104)が存在した場合、負極タブ104を透過した放射線が第1の素子列3aによって検出される。
次に、電池100を素子列3a~3iの1列分だけ直線移動させて、第1の透過パス100aに対して第2の照射領域2bの放射線を照射して、第2の素子列3bによって透過データを検出する。同時にその位置で、第2の透過パス100bに対して、第1の照射領域2aの放射線を照射して、第1の素子列3aによって透過データを検出する。このようにすると、第1の透過パス100aについて、第1と第2の素子列3a,3bの2か所で透過データが得られる。
この場合、電池100を単に直線移動させると、第1の透過パス100aと第2の照射領域2bとが平行でないため、第2の素子列3bでは、第1の透過パス100a以外の部分を透過した放射線を受光することになる。そこで、本実施形態では、電池100を直線移動させると当時に、第1の透過パス100aと第2の照射領域2bの角度が一致するように、電池100を回転させる。すなわち、制御部11によって第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5を異なる速度(検出器3側の第2回転用ベルト5が速くなる速度)で運転することにより、電池100を図4に示すように時計回りに回転させ、第1の透過パス100aと第2の照射領域2bとを平行にする。
電池100の直線方向の直線搬送距離xに対して、電池100を回転させる角度θは、
(a) θ=tan-1(x/FOD)
(b) θ=x/FOD
のいずれかを採用するが、本実施形態では、制御部11における演算を容易とするため、(b) 式を用いる。
以下、同様にして、電池100を素子列3a~3iの1列分だけ直線移動させると同時に、電池100を回転させ、透過パス100a~100iと照射領域2a~2iの角度を一致させながら、各照射領域2a~2iの放射線によって透過パス100a~100iの撮影を行い、各素子列3a~3iに各透過パス100a~100iを透過した放射線のデータを順次積算する。
ここで、図8に示すように、Δxを直線移動距離、rを電池100の半径、Δθを電池100の回転角度(回転角度0を起点として時計回りを正とする)とするとき、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5において、電池100を左から右へ移動させる場合、ロ第2回転用ベルト5の移動量は|Δx+r・Δθ|であり、第1回転用ベルト4の移動量は|Δx-r・Δθ|である。また、図9に示すように、それとは反対に電池100を右から左へ移動させる場合、電池100は反時計回りに回転するが、その場合、θは、反時計回りであり、負の数となる。そのため、第2回転用ベルト5の移動量は|Δx+r・Δθ|であり、第1回転用ベルト4の移動量は|Δx-r・Δθ|である。
図4中の(b)の電池100の位置及び図5(b)は、前記のように電池100を直線搬送させながら回転させた結果、第1の透過パス100aが放射線の光軸Lを含む照射領域2eに達した状態を示す。この状態で、電池100は、第1の照射領域2aと同角度であった図5(a)の第1の透過パス100aが、第5の照射領域2eと一致する角度まで回転している。さらに、電池100を直線搬送させながら回転させると、図4中(c)の電池100の位置及び図5(c)に示すように、第1の透過パス100aが最終の照射領域2iと一致する位置に達し、第1の透過パス100aを通過した照射領域2iの放射線が、最終列の素子列3iによって検出される。
このように、電池100を直線搬送させながら回転させると、各照射領域2a~2iにおいて、電池100内に存在する負極タブ104に対して照射される放射線の角度が、負極タブ104の円周方向の角度と同一になり、各素子列3a~3iにおいて負極タブ104の輪郭が明瞭に撮影される。
最後の素子列3iにおいて、最後の透過パス100iを通過した照射領域2iの放射線透過データが受光された後、検出器3は、各素子列3a~3iで得られた各透過パス100a~100iに関する検出データを、透過パス100a~100iごとに集積し、時間遅延積分して合成データを生成する。その後、検出器3により出力される合成データに基づいて、電池の下部102の検査データとして取得し、図示しない電池の良品・不良品判定部12に送出する。
(4)上部検査部Bへの搬出
下部の検査が終了した電池100は、コンベア1と、第1回転用ベルト4及び第2回転用ベルト5とを同期して走行させることにより、上部検査部Bまで搬送される。この際、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5はコンベア1と共に同一速度で走行するため、電池100は、コンベア1上で回転することなく直線搬送される。
下部検査部Aにおいて電池100を時計回りに回転させた結果、そのままの回転状態では上部検査部Bに達した電池100のθ方向の角度は、下部検査部Aに供給された時のθ方向の角度とは異なっている。電池100の上部と下部とで放射線によるθ方向の撮影角度が異なっていても良品・不良品の検査に支障がない場合には、下部検査部Aで回転させた電池100をそのまま上部検査部Bに供給しても良い。一方、電池100の上部と下部とで同じ透過パス100a~100iを撮影する必要がある場合には、下部検査部Aで回転した電池100をその回転角度分だけ逆方向に回転させる。その場合には、制御部11により、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5を異なる速度(検出器3側の第2回転用ベルト5が遅くなる速度)で運転することにより、下部検査部Aまたは上部検査部Bで、電池100を図4中反時計回りに回転させる。
(3)上部検査部B(電池100の回転を伴う直線移動と放射線の照射)
上部検査部Bでは、図3Bに示すように、発生器2と検出器3によって、電池100の上部101を撮影し、正極と負極の重なりの状態を検査する。この場合も、下部検査部Aと同様に、電池100の検査部位が照射領域2a~2iを通過する場合には、電池100を素子列3a~3iの1列分だけ直線移動させると同時に、電池100を回転させ、透過パス100a~100iと照射領域2a~2iのθ方向の角度を一致させながら、各照射領域2a~2iの放射線によって透過パス100a~100iの撮影を行う。上部検査部Bで得られた画像データも良品・不良品判定部12に送られ、検査対象の電池100に関する判定結果が得られる。
[1-3.実施形態の効果]
本実施形態は、次のような効果を有する。
(1)本実施形態では、電池100を複数の素子列3a~3iの配列方向に沿って直線移動させながらθ方向に所定角度で回転させ、素子列3a~3iそれぞれの放射線検出位置において、電池100に設定された複数の透過パス100a~100iの角度と、各透過パス100a~100iを透視する照射領域2a~2iの角度を一致させている。そのため、各素子列3a~3iで検出される放射線は、電池100の透過パス100a~100i以外の部分を通過することがなく、鮮明な画像を得ることができる。
(2)本実施形態では、被検査物である電池100の移動に従い、複数の素子列3a~3iによって同一の透過パス100a~100iを通過した放射線を積算して素子1列分のデータとして出力されるので、複数の素子列3a~3iによって収集されたデータのうち、常に同じパターンを有する信号量はそのまま積算され、一方,ランダムに変化するノイズはそのランダム性を平滑化するように積算されるので、S/N比が向上する、いいかえると、ノイズが低減される利点がある。
(3)電池100を回転させるための機構として、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5を使用したため、コンベア1上に電池100の回転装置を設ける技術に比較して、簡単な構成で電池100を適切なθ方向の角度で回転させることができる。また、ロボットアームなどのチャッキング装置で電池100を把持して回転させる技術に比較しても、簡単な構成でしかも短時間で電池100のθ方向の角度を調整できる。
(4)制御部11において、電池100の直線搬送距離xと回転角度θをθ=tan-1(x/FOD)となるように制御した場合には、表1に記載のように、素子列の間隔が広い場合でも回転角度の誤差が少なく、より鮮明な画像を得られる。一方、表1に示すように、θが小さな角度で良い場合には、θ=x/FODとなるように制御しても、θ=tan-1(x/FOD)となるように制御する場合と比較して誤差が無視できる程度の回転角θを算出することができる。そのため、制御部11における演算処理が簡単で高速化する利点がある。
(5)供給部C、下部検査部A、上部検査部B及び搬出部Dの各部間には、それぞれ受けローラ8が設けられているので、電池100は、隣接する各部間の受け渡し時において倒れたり、位置ずれしたりすることがなく、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5に対して、確実に受け渡される利点がある。
(6)第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5は、上ロープ4a,5aと下ロープ4b,5bを備えているため、電池100の上部と下部を2本のロープが保持することができ、搬送時や回転時に電池100が倒れたり、角度が変わったりすることがない。
(7)コンベア1が、電池100をホルダHで保持した状態で搬送するため、単独では倒れやすい細長い電池100を安定して搬送できる。また、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5で電池100を挟み込んだ場合にベルトの圧力で電池100が倒れることが、ホルダHにより防止される。第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5の間に設けられた受けローラ8を通過する際も、ホルダHによって電池100は安定して保持される。
(8)間隔調整機構9により第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5の間隔を調整することができるので、様々な外径寸法の被検査物をコンベア1上で回転させることが可能である。その結果、各種の被検査物について妨害物に妨げられることなく、鮮明な透視画像を得ることができる。
[2.第2実施形態]
第1実施形態は、検出器3としてTDIラインセンサである場合を示したが、それ以外に、時間遅延積分して合成データを生成して出力する機能を有するものであれば、各種のTDIセンサを使用可能である。例えば、検出器3として、格子状、または格子状とみなせるように配列された複数の検出素子を備えたTDIセンサを使用できる。TDIセンサを使用した検査装置では、複数の照射領域は、発生器2の焦点と、格子状、または格子状とみなせるように配列された複数の検出素子のそれぞれを結ぶように、所定の角度間隔で放射状に設定される。
図10に示す第2実施形態は、TDIセンサを使用した放射線検査装置の一例である。第2実施形態では、発生器2と検出器3の間に、電池100を直線搬送するコンベア1が設けられている。検出器3としては、高速X線イメージインテンシファイアが使用される。
検出器3は、本体31における発生器2側に入力面32を備え、発生器2と反対側の面に出力面33を備える。この場合、発生器2から照射された放射状のX線ビームのどの個所を電池100が通過しても透過像を受光できるように、入力面32はX線ビームの照射幅に合わせた広い受光面を持っている。電池100が移動する際に、入力面32には、電池100の移動位置に応じた多数の検出データ(すなわち、X線透視画像の元になるX線検出データ)が入力される。
一方、出力面33は、入力面32で受光された多数の検出データを常に同じ位置(領域)に結像する。CCDカメラ34は、出力面33に結像された像を撮像する。そして、CCDカメラ34に接続される画像処理部(図示しない)は、電池100の1個分についてその複数の像を時間遅延積分して合成データを得る。
本体31の外周には、入力面32の異なる位置で受光された電池100を透過したX線ビームによる像を、出力面33の所定の領域に常に結像するように偏向させる偏向コイル35が設けられている。
このような構成を有する第2実施形態では、電池100がコンベア1によって直線移動し、例えば、図中、100A、100C及び100Bに示すような異なる位置に達する。100A、100C及び100Bの各位置において、電池100にX線ビームを照射すると、電池100の各位置100A、100C及び100Bにおける透過X線は、それぞれ入力面32の32A、32C及び32Bの各部分で受光される。入力面32の32A、32C及び32Bの各部分で受光されたX線ビームは、入力面32で受光され、電子像に変換され、偏向コイル35によって本体31内で偏向され、それぞれ出力面33の同一の箇所(領域)に結像される。CCDカメラ34は、出力面33に結像された像を撮像する。そして、CCDカメラ34に接続される画像処理部(図示しない)は、電池100の1個分についてその複数の像を時間遅延積分して合成データを得る。
この際、図10に示すように、電池100を通過するX線の透過パスが、各位置100A、100C及び100Bで異なり、各位置の透過データをCCDカメラ34に接続される画像処理部(図示しない)で重ね合わせた際に、同一の透過パスの重ね合わせができず、得られた合成データが不鮮明となる。
第2実施形態では、図示しない回転機構を用いて、電池100を直進させながら回転することにより、電池100がコンベア1のどの位置にあっても、言い換えれば、X線の放射領域のどの部分に電池があっても、X線の透過パスと照射領域の角度を平行にすることができる。なお、回転機構については、第1実施形態と同様な第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5を用いることができるので、図示および説明は省略する。また、後述する「他の実施形態」に記載した構成の回転機構を使用することも可能である。
このように第2実施形態によれば、この種のTDIセンサにおいても、時間遅延積分して鮮明な合成データを得ることができ、従来技術に比較して簡単な構成で高速検査が可能となる。
[3.他の実施形態]
本発明は、前記実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。具体的には、次のような他の実施形態も包含する。
(1)本実施形態では、被検査物に設定された複数の透過パスの角度と、各透過パスを透視する照射領域の角度を一致させるように被検査物を回転させることを目的とするが、検査目的によっては、必ずしも完全に一致させる必要はなく、不良品の判定基準、放射線源の強度、第1と第2のベルトの制御精度などに応じて、ある程度の範囲まで両者の角度が一致するものでよい。
(2)実施形態の放射線検査装置は、被検査物として、電池100以外のものを使用することができる。被検査物は、放射線により非破壊検査されるものであれば特に限定されないが、例えば、円筒型電池、角型電池、ラミネート型電池、アルミ電解コンデンサ、電気二重層キャパシタ等の電気化学キャパシタ等の巻回構造体である。被検査物の検査箇所が1か所である場合、検査部は1つで良い。
(3)被検査物が角形の場合、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5で被検査物を挟持して回転させることはできない。角形の被検査物は、円筒状のホルダHで支持した状態で、ホルダHを第1回転用ベルトと第2回転用ベルト5で挟んで回転させることにより、障害物の角度を放射線光軸の角度と一致させることができる。ホルダHとして外周が円形のものを使用することにより、被検査物本体はその外周が円形でなくとも、被検査物を回転させることが可能となる。
(4)電池100を挟持する第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5は、同一の搬送方向に等しい速度で運転される場合には、電池100を回転させることなく直線的に搬送することができる。そのため、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5を設けた下部検査部Aや上部検査部Bにおいて、電池100の搬送力を持たないシュート型或いはガイド溝型のコンベア1を使用することができる。
(5)外径、外形が大きく搬送時及び検査時に安定した姿勢を保つことのできる被検査物は、ホルダHを不要とすることができる。
(6)図示の実施形態は、いずれも被検査物の回転装置として、第1回転用ベルト4と第2回転用ベルト5を使用した。しかし、被検査物の回転装置としては、被検査物の走行方向及び前記放射線発生器の光軸と交差する軸を中心として回転させることができれば、他の構成を採用することも可能である。例えば、コンベア1上に、所定の間隔で複数のターンテーブル状の支持部材を設け、各支持部材に被検査物を支持或いは載置して回転させることもできる。その場合、各支持部材はモータなどの駆動機構によって被検査物と共に回転される。駆動機構の電源などの駆動源は、非接触型の充電機能を有する電池を使用したり、コンベア1に設けた電源ラインと外部電源とを摺動型の接触子で接続することで供給しても良い。
(7)回転装置として、ラックとピニオンなどのように、被検査物の直進量と回転角度が一定のものを使用した場合には、前記の実施形態に示した制御部を使用しないことも可能である。特に、被検査物の直進速度が一定で、被検査物或いはホルダの外径も一定の場合には、予め被検査物の直進量と回転角度を定めておくことで、制御部を不要とすることができる。
[4.変形例]
被検査物が電池100であって、図6(a)、図6(b)において、その上部101と下部102が検査部位である。電池100の内部には、板状の正極タブ103と負極タブ104が設けられ、正極タブ103は外部端子105に接続され、負極タブ104は電池100の内側底面に接続されている。このような電池100の良品・不良品の検査としては、正極タブ103や負極タブ104の変形、断線、接続不良、また、巻回されている正極、負極、セパレータの端部の位置ずれなどを、検出器3で得られた透視データから生成した放射線透視画像によって判定する。
電池100を使用し、上部101と下部102に位置する正極と負極の各電極の配置を検査する場合、図6(a)と図6(b)に示す正極タブ103はアルミニウム製のため線減弱係数が低く、その放射線透視画像において電極に重なって映っても問題にならない。一方、図6(a)と図6(b)に示す負極タブ104はニッケル製のため線減弱係数が高く、その放射線透視画像において電極に重なって映ると、それに重なった各電極を識別することに問題となる。そのため、放射線透視画像において負極タブ104が電極に大きく重なって映っている場合、図9に示すように電池100を右から左へ直線移動と共にθ方向に回転させながら図6(b)に示すθ方向の角度になるように供給部Cに戻し、再度検査を行う。本実施形態において、実施する検査内容としては、正極と負極の各電極間の距離、電池100の容器と正極または負極の電極との距離、及び、ビーディング(beading)計測などである。
電池100を量産するためにスムーズに搬送するには、下部検査部及び上部検査部の発生器と検出器とは別にもう1組の発生器と検出器を下部検査部の前に追加し、下部検査部に搬入される前に、下部の透視画像において負極タブ幅が小さく映るようなθ方向の角度になるように電池を回転させておく。その後、供給部Cから下部検査部、上部検査部に搬送する。
1…コンベア
1a…基台
1b…コンベアモータ
2…放射線発生器
2a~2i…放射線照射領域
3…放射線検出器
3a~3i…検出素子列
4…第1回転用ベルト
5…第2回転用ベルト
4a,5a…上ロープ
4b,5b…下ロープ
6…モータ
7a,7b…プーリ
8…受けローラ
9…間隔調整機構
10…遮蔽筒
11…ベルト制御部
12…良品・不良品判定部
31…本体
32…入力面
33…出力面
34…CCDカメラ
35…偏向コイル
A…下部検査部
B…上部検査部
C…供給部
D…搬出部
H…ホルダ
100…電池
100a~100i…放射線透過パス
101…上部
102…下部
103…正極タブ
104…負極タブ

Claims (12)

  1. 被検査物を搬送するコンベアと、
    前記コンベア上の前記被検査物を挟んで配置され、前記被検査物の検査部位を撮影する放射線発生器と放射線検出器と、
    前記放射線検出器に設けられた複数の検出素子と、
    前記放射線発生器の焦点と、前記複数の検出素子のそれぞれを結ぶように、所定の角度間隔で放射状に設定された複数の放射線照射領域と、
    前記被検査物に設定され、前記複数の放射線照射領域に照射された放射線が透過する複数の放射線透過パスと、
    前記被検査物を、前記コンベアの走行方向及び前記放射線発生器の光軸と交差する軸を中心として回転させる回転装置を備え、
    前記回転装置は、直進する前記被検査物を所定角度で回転させ、前記各検出素子列それぞれの放射線検出位置において、前記被検査物に設定された前記複数の放射線透過パスの角度と、前記各放射線透過パスを透視する放射線照射領域の角度を一致させる、
    ことを特徴とする放射線検査装置。
  2. 前記被検査物の直線搬送距離xに対して、前記被検査物を回転させる角度θ(rad)は、
    θ=tan-1(x/FOD)
    (FODは、前記放射線焦点Fと前記被検査物中心との距離)
    である請求項1に記載の放射線検査装置。
  3. 前記被検査物の直線搬送距離xに対して、前記被検査物を回転させる角度θ(rad)は、
    θ=x/FOD
    (FODは、前記放射線焦点Fと前記被検査物中心との距離)
    である請求項1に記載の放射線検査装置。
  4. 前記放射線検出器は、前記コンベアの進行方向に沿って設けられた複数の検出素子列を備え、
    前記複数の放射線照射領域は、前記放射線発生器の焦点と、前記複数の検出素子列のそれぞれを結ぶように、所定の角度間隔で放射状に設定される請求項1から請求項3のいずれかに記載の放射線検査装置。
  5. 前記放射線検出器は、格子状、または格子状とみなせるように配列された複数の検出素子を備え、
    前記複数の放射線照射領域は、前記放射線発生器の焦点と、前記に配列された複数の検出素子のそれぞれを結ぶように、所定の角度間隔で放射状に設定される請求項1から請求項3のいずれかに記載の放射線検査装置。
  6. 前記回転装置は、前記コンベアの両側に配置され、前記コンベア上の前記被検査物を挟持した状態で、互いに異なる速度で運転可能な第1回転用ベルトと第2回転用ベルトである請求項4又は請求項5に記載の放射線検査装置。
  7. 前記第1回転用ベルトと前記第2回転用ベルトのそれぞれは、前記被検査物の上部に接触する上ロープと、前記被検査物の下部に接触する下ロープを備えている請求項6に記載の放射線検査装置。
  8. 前記第1回転用ベルトと前記第2回転用ベルトを前記コンベアの幅方向に移動させ、前記第1回転用ベルトと前記第2回転用ベルトの間隔を増減する間隔調整機構を備えている請求項7に記載の放射線検査装置。
  9. 前記被検査物は、外周面が円周面であって、前記第1回転用ベルトと前記第2回転用ベルトは、前記被検査物の円周面を挟んで前記被検査物を回転させる請求項8に記載の放射線検査装置。
  10. 前記被検査物は、前記被検査物を前記コンベア上に保持するホルダを備え、前記ホルダはその外周面が円周面であって、前記第1回転用ベルトと前記第2回転用ベルトは、前記ホルダ部分を挟んで前記被検査物を回転させる請求項8に記載の放射線検査装置。
  11. 前記回転装置は、前記コンベア上に設けられた駆動機構と、前記駆動機構によって前記被検査物と共に回転される被検査物の支持部材である請求項4又は請求項5に記載の放射線検査装置。
  12. 前記回転装置による前記被検査物の回転角度を制御する制御部を備え、
    前記制御部は、前記回転装置による前記被検査物の回転角度を制御して、前記被検査物を直進させながら所定角度で回転させ、前記各検出素子列それぞれの放射線検出位置において、前記被検査物に設定された前記複数の放射線透過パスの角度と、前記各放射線透過パスを透視する放射線照射領域の角度を一致させる請求項1から請求項11のいずれかに記載の放射線検査装置。

JP2022048721A 2022-03-24 2022-03-24 放射線検査装置 Pending JP2023142052A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022048721A JP2023142052A (ja) 2022-03-24 2022-03-24 放射線検査装置
KR1020220116591A KR20230138859A (ko) 2022-03-24 2022-09-15 방사선 검사 장치
CN202211310581.XA CN116840270A (zh) 2022-03-24 2022-10-25 放射线检查装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022048721A JP2023142052A (ja) 2022-03-24 2022-03-24 放射線検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2023142052A true JP2023142052A (ja) 2023-10-05

Family

ID=88167666

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022048721A Pending JP2023142052A (ja) 2022-03-24 2022-03-24 放射線検査装置

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP2023142052A (ja)
KR (1) KR20230138859A (ja)
CN (1) CN116840270A (ja)

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS513136B2 (ja) 1972-03-18 1976-01-31
JPS6335664Y2 (ja) 1985-10-16 1988-09-21
JP6083667B2 (ja) 2012-10-16 2017-02-22 東芝Itコントロールシステム株式会社 物品検査装置
KR102411540B1 (ko) 2015-11-06 2022-06-22 삼성디스플레이 주식회사 마스크 프레임 조립체, 그 제조 방법 및 표시 장치의 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR20230138859A (ko) 2023-10-05
CN116840270A (zh) 2023-10-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108307656B (zh) X射线检查方法以及x射线检查装置
JP5502132B2 (ja) 検査装置
WO2017183493A1 (ja) 膜電極接合体の連続非破壊検査方法および連続非破壊検査装置
KR102096925B1 (ko) 전극 탭 정렬 기구 및 이를 구비한 원통형 이차 전지용 엑스레이 검사 장치
US11698350B2 (en) Image acquisition system and image acquisition method
CN108693199B (zh) 检查装置、检查方法及膜卷绕体的制造方法
JP5363559B2 (ja) X線検査装置及びx線検査方法
JP7401232B2 (ja) 非破壊検査装置
JP2009236633A (ja) X線異物検査装置
JP2023142052A (ja) 放射線検査装置
CN111693550A (zh) 放射线检查装置
KR101761793B1 (ko) 회전 및 평면 이동 구조의 엑스레이 장치
US20220357287A1 (en) Electrode tab alignment mechanism and x-ray inspection apparatus comprising same for inspecting cylindrical secondary battery
JP2023047534A (ja) 放射線検査装置
JP2002296204A (ja) X線検査装置及び方法
JP7466362B2 (ja) 非破壊検査装置
CN113740365A (zh) 非破坏检查装置
KR102559024B1 (ko) 복수 방향 검사 구조의 엑스레이 검사 장치
JP6920520B2 (ja) 画像取得システムおよび画像取得方法
KR102397278B1 (ko) 원통형 대상물을 위한 복수 개의 접촉 수단이 구비된 정렬 기구 및 이를 이용한 정렬 방법
KR102469666B1 (ko) X선 검사 장치
JP2024048926A (ja) インライン型x線ct装置