JP2023082047A - 光検出装置、光検出システム、およびフィルタアレイ - Google Patents

光検出装置、光検出システム、およびフィルタアレイ Download PDF

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Abstract

【課題】ハイパースペクトルカメラの波長分解能を向上させることができる新規なカメラシステムを提供する。【解決手段】カメラシステムは、複数のフィルタを含むフィルタアレイと、前記複数のフィルタを介した光に基づいて画像信号を取得するイメージセンサと、処理回路と、を備え、前記複数のフィルタのそれぞれは、第1反射層、第2反射層、および前記第1反射層と前記第2反射層との間の中間層を含み、前記処理回路は、前記複数のフィルタの透過スペクトルの空間分布に対応するデータ、および前記画像信号に基づいて、少なくとも2つ以上の波長それぞれに対応する複数の画像を生成する。【選択図】図5

Description

本開示は、光検出装置、光検出システム、およびフィルタアレイに関する。
各々が狭帯域である多数のバンド、例えば数十バンドのスペクトル情報を活用することにより、従来のRGB画像では不可能であった対象物の詳細な物性を把握することができる。このような多波長の情報を取得するカメラは、「ハイパースペクトルカメラ」と呼ばれる。例えば、特許文献1から5に開示されているように、ハイパースペクトルカメラは、食品検査、生体検査、医薬品開発、および鉱物の成分分析などの様々な分野で利用されている。
米国特許出願公開第2016/138975号明細書 米国特許第7907340号明細書 米国特許第9929206号明細書 特表2013-512445号公報 特表2015-501432号公報
本開示は、ハイパースペクトルカメラの波長分解能を向上させることができる新規な光検出装置を提供する。
本開示の一態様に係る光検出装置は、2次元に配列された複数のフィルタを含むフィルタアレイであって、前記複数のフィルタは、第1フィルタおよび第2フィルタを含み、前記第1フィルタおよび前記第2フィルタの各々が、第1反射層、第2反射層、および前記第1反射層と前記第2反射層との間の中間層を含み、かつ互いに次数の異なる複数の共振モードを有する共振構造を有し、前記第1フィルタの前記中間層の屈折率および厚さからなる群から選択される少なくとも1つは、前記第2フィルタの前記中間層の屈折率および厚さからなる群から選択される前記少なくとも1つと異なり、前記第1フィルタおよび前記第2フィルタの各々の透過スペクトルが、ある波長域に含まれる複数の波長の各々において透過率の極大値を有し、前記複数の波長は前記複数の共振モードにそれぞれ対応する、フィルタアレイと、複数の光検出素子を含むイメージセンサであって、前記複数の光検出素子の各々が、前記複数のフィルタの1つを透過した光を受ける位置に配置され、且つ前記波長域の光に感度を有する、イメージセンサと、を備える。
本開示によれば、ハイパースペクトルカメラの波長分解能を向上させることができる。
図1は、例示的な実施形態における光検出システムを模式的に示す図である。 図2Aは、フィルタアレイの例を模式的に示す図である。 図2Bは、対象波長域に含まれる複数の波長域のそれぞれの光の透過率の空間分布の一例を示す図である。 図2Cは、図2Aに示すフィルタアレイの複数の領域に含まれる2つの領域の一方の透過スペクトルの例を示す図である。 図2Dは、図2Aに示すフィルタアレイの複数の領域に含まれる2つの領域の他方の透過スペクトルの例を示す図である。 図3Aは、対象波長域と、それに含まれる複数の波長域との関係を説明するための図である。 図3Bは、対象波長域と、それに含まれる複数の波長域との関係を説明するための図である。 図4Aは、フィルタアレイのある領域における透過スペクトルの特性を説明するための図である。 図4Bは、図4Aに示す透過スペクトルを、波長域ごとに平均化した結果を示す図である。 図5は、例示的な実施形態における光検出装置を模式的に示す断面図である。 図6は、各画素での透過スペクトルの例を模式的に示す図である。 図7は、ファブリ・ペローフィルタの透過スペクトルの計算結果の一例を示す図である。 図8Aは、9種類の多モードフィルタの各々の透過スペクトルを示す図である。 図8Bは9種類の単一モードフィルタの各々の透過スペクトルを示す図である。 図8Cは、元画像と、再構成された各分離画像の2つの例とを示す図である。 図8Dは、元画像と、再構成された各分離画像との平均2乗誤差の計算結果を示す図である。 図8Eは、図8Aに示す9種類の多モードフィルタの透過スペクトルのうちの2つを重ねて示した図である。 図8Fは、図8Eの透過スペクトルのうち、550nmから650nmの波長域を抽出した図である。 図9は、フィルタアレイにおける中間層の厚さが最も近い2つのファブリ・ペローフィルタの例を模式的に示す図である。 図10は、ファブリ・ペローフィルタに光が垂直または斜めに入射した場合において、画素Aおよび画素Bによって検出される光の波長を説明する図である。 図11Aは、屈折率n=1.5の中間層を備えるファブリ・ペローフィルタの透過スペクトルの入射角度依存性を示す図である。 図11Bは、屈折率n=2.35の中間層を備えるファブリ・ペローフィルタの透過スペクトルの入射角度依存性を示す図である。 図12Aは、図5に示す光検出装置の第1の変形例を模式的に示す図である。 図12Bは、図5に示す光検出装置の第2の変形例を模式的に示す図である。 図12Cは、図5に示す光検出装置の第3の変形例を模式的に示す図である。 図12Dは、図5に示す光検出装置の第4の変形例を模式的に示す図である。 図12Eは、図5に示す光検出装置の第5の変形例を模式的に示す図である。 図12Fは、図5に示す光検出装置の第6の変形例を模式的に示す図である。
本開示の実施形態を説明する前に、本開示の基礎となった知見を説明する。
特許文献1は、高い解像度の多波長画像を取得することが可能な撮像装置を開示している。当該撮像装置では、対象物からの光の像が、「符号化素子」と称される光学素子によって符号化されて撮像される。符号化素子は、2次元に配列された複数の領域を有する。当該複数の領域のうちの少なくとも2つの領域の各々の透過スペクトルは、複数の波長域において、それぞれ透過率の極大値を有する。複数の領域は、例えばイメージセンサの複数の画素にそれぞれ対応して配置される。当該符号化素子を用いた撮像では、各画素のデータは、複数の波長域の情報を含む。すなわち、生成される画像データは、波長情報が圧縮されたデータである。したがって、2次元データを保有するだけで済み、データ量を抑えることができる。例えば、記録媒体の容量に制約がある場合であっても、長時間の動画像のデータを取得することが可能になる。
符号化素子は、様々な方法を用いて製造され得る。例えば、顔料または染料などの有機材料を用いた方法が考えられる。この場合、符号化素子の複数の領域は、異なる光透過特性を有する光吸収材料によって形成される。そのような構造では、配置する光吸収材料の種類の数に応じて製造工程数が増える。このため、有機材料を用いた符号化素子の作製は容易ではない。
一方、特許文献2から特許文献5は、互いに異なる透過スペクトルを有する複数のファブリ・ペローフィルタを備える装置を開示している。ファブリ・ペローフィルタは、有機材料から形成されたフィルタよりも容易に作製することができる。しかし、特許文献2から特許文献5に開示された例のいずれにおいても、各画素のデータは、単一の波長域の情報しか含まない。このため、空間分解能が犠牲になる。
本発明者らは、以上の検討に基づき、以下の項目に記載の光検出装置、およびフィルタアレイに想到した。
(第1の項目)
第1の項目に係る光検出装置は、2次元に配列された複数のフィルタを含むフィルタアレイと、複数の光検出素子を含むイメージセンサとを備える。前記複数のフィルタは、第1フィルタおよび第2フィルタを含む。前記第1フィルタおよび前記第2フィルタの各々は、第1反射層、第2反射層、および前記第1反射層と前記第2反射層との間の中間層を含み、かつ互いに次数の異なる複数の共振モードを有する共振構造を有する。前記第1フィルタの前記中間層の屈折率および厚さからなる群から選択される少なくとも1つは、前記第2フィルタの前記中間層の屈折率および厚さからなる群から選択される前記少なくとも1つと異なる。前記第1フィルタおよび前記第2フィルタの各々の透過スペクトルが、ある波長域に含まれる複数の波長の各々において透過率の極大値を有し、前記複数の波長は前記複数の共振モードにそれぞれ対応する。前記複数の光検出素子の各々は、前記複数のフィルタの1つを透過した光を受ける位置に配置され、且つ前記波長域の光に感度を有する。
この光検出装置では、高い解像度の多波長画像を取得することができる。
(第2の項目)
第1の項目に係る光検出装置において、前記波長域が400nm以上700nm以下であってもよい。
この光検出装置では、可視光域において高い解像度の多波長画像を取得することができ
る。
(第3の項目)
第2の項目に係る光検出装置において、前記透過スペクトルが、前記波長域に含まれる4つ以上の波長の各々において透過率の極大値を有していてもよい。
この光検出装置では、可視光域においてRGBの3つの波長を上回る数の分光情報を得ることができる。
(第4の項目)
第2の項目に係る光検出装置において、前記透過スペクトルが、前記波長域に含まれる6つ以上の波長の各々において透過率の極大値を有していてもよい。
この光検出装置では、可視光域においてより多くの波長数の分光情報を得ることができる。
(第5の項目)
第1の項目に係る光検出装置において、前記第1フィルタまたは前記第2フィルタにおける前記中間層の厚さをLとし、前記中間層の波長700nmの光に対する屈折率をnとし、前記中間層の波長400nmの光に対する屈折率をnとし、mを1以上の整数とするとき、
Figure 2023082047000002
および、
Figure 2023082047000003
の両方を満たすmが少なくとも1つ存在してもよい。
この光検出装置では、可視光域において2つ以上の波長ピークが存在する。
(第6の項目)
第1の項目に係る光検出装置において、前記第1フィルタまたは前記第2フィルタにおける前記中間層の厚さをLとし、前記中間層の波長700nmの光に対する屈折率をnとし、前記中間層の波長400nmの光に対する屈折率をnとし、mを1以上の整数とするとき、
Figure 2023082047000004
および、
Figure 2023082047000005
の両方を満たすmが少なくとも1つ存在してもよい。
この光検出装置では、可視光域において4つ以上の波長ピークが存在する。
(第7の項目)
第1の項目に係る光検出装置において、前記第1フィルタまたは前記第2フィルタにおける前記中間層の厚さをLとし、前記中間層の波長700nmの光に対する屈折率をnとし、前記中間層の波長400nmの光に対する屈折率をnとし、mを1以上の整数とするとき、
Figure 2023082047000006
および、
Figure 2023082047000007
の両方を満たすmが少なくとも1つ存在してもよい。
この光検出装置では、可視光域において6つ以上の波長ピークが存在する。
(第8の項目)
第1から第7の項目のいずれかに係る光検出装置において、前記第1フィルタの前記中間層の厚さをLとし、前記第2フィルタの前記中間層の厚さをL+ΔLとし、前記第1フィルタの前記中間層の屈折率および前記第2フィルタの前記中間層の屈折率をnとし、前記フィルタアレイに入射する光の最大入射角をθとするとき、
Figure 2023082047000008
を満たしてもよい。
この光検出装置では、ある光検出素子によって検出されるはずの光が、他の光検出素子によって検出されるという誤検出を抑制することができる。
(第9の項目)
第8の項目に係る光検出装置において、
Figure 2023082047000009
をさらに満たしてもよい。
この光検出装置では、ある光検出素子によって検出されるはずの光が、他の光検出素子
によって検出されるという誤検出をさらに抑制することができる。
(第10の項目)
第1から第9の項目のいずれかに係る光検出装置において、前記第1反射層および前記第2反射層からなる群から選択される少なくとも1つが、誘電体多層膜および金属膜からなる群から選択される少なくとも1つを含んでいてもよい。
(第11の項目)
第1から第10の項目のいずれかに係る光検出装置において、前記中間層は、シリコン、シリコン窒化物、チタン酸化物、ニオブ酸化物、およびタンタル酸化物からなる群から選択される少なくとも1つを含んでいてもよい。
この光検出装置では、高屈折率の中間層を得ることができる。
(第12の項目)
第1から第11の項目のいずれかに係る光検出装置において、前記中間層は、前記第1フィルタおよび前記第2フィルタに跨り連続的に設けられていてもよい。
この光検出装置では、製造工程を簡略化することができる。
(第13の項目)
第1から第12の項目のいずれかに係る光検出装置において、前記第1反射層および前記第2反射層からなる群から選択される少なくとも1つが、前記第1フィルタおよび前記第2フィルタに跨り連続的に設けられていてもよい。
この光検出装置では、製造工程を簡略化することができる。
(第14の項目)
第1から第13の項目のいずれかに係る光検出装置において、前記複数のフィルタの少なくとも1つが透明であってもよい。
この光検出装置では、マルチ―モードフィルタを通さないモノクロ画像も同時に得ることができる。
(第15の項目)
第1から第14の項目のいずれかに係る光検出装置において、前記フィルタアレイは前記イメージセンサと接触していてもよい。
この光検出装置では、光検出装置をモノリシックに構成することができる。
(第16の項目)
第1から第14の項目のいずれかに係る光検出装置において、前記フィルタアレイは前記イメージセンサと分離していてもよい。
この光検出装置では、設計の自由度を高めることができる。
(第17の項目)
第1から第16の項目のいずれかに係る光検出装置において、前記フィルタアレイが、前記第1フィルタの表面と前記第2フィルタの表面との間の段差を平坦化するための透明層をさらに含んでいてもよい。
この光検出装置では、透明層によって第1フィルタの表面と第2フィルタの表面との間の段差を平坦化することにより、当該透明層上に他の部材を配置しやすくなる。
(第18の項目)
第1から第17の項目のいずれかに係る光検出装置において、前記複数のフィルタの各々が、前記共振構造を有していてもよい。
(第19の項目)
第1から第18の項目のいずれかに係る光検出装置は、前記第1フィルタ上に配置される第1マイクロレンズ、および前記第2フィルタ上に配置される第2マイクロレンズをさらに備えていてもよい。
この光検出装置では、第1マイクロレンズおよび第2マイクロレンズによって入射光を集光することにより、効率よく光を検出することができる。
(第20の項目)
第1から第19の項目のいずれかに係る光検出装置において、前記第1フィルタおよび前記第2フィルタの各々の前記透過スペクトルは、前記透過率の前記極大値と、前記極大値から波長が短くなる方向および波長が長くなる方向にそれぞれ延びる部分とを含むピークを有し、前記第1フィルタの前記透過スペクトルにおける前記ピークと、前記第2フィルタの前記透過スペクトルにおける前記ピークとは、少なくとも部分的に重なっていてもよい。
この光検出装置では、第1フィルタを透過した光を受ける光検出素子と第2フィルタを透過した光を受ける光検出素子との波長情報に加え、波長情報を共有するこれら2つの光検出素子間の相関情報も多波長画像に利用できるので、精度の高い多波長画像を取得できる。
(第21の項目)
第21の項目に係る光検出システムは、第1から第20の項目のいずれかに係るの光検出装置と、信号処理回路と、を備える。前記信号処理回路は、前記複数の光検出素子からの信号に基づいて、前記複数の波長の情報を含む画像データを生成する。
この光検出システムでは、複数の波長の情報を含む画像データを生成することができる。
(第22の項目)
第21の項目に係る光検出システムにおいて、前記画像データが、前記複数の波長ごとに分光された複数の画像を表すデータを含んでいてもよい。
この光検出システムでは、複数の波長ごとに分光された複数の画像を表すデータを含む画像データが得られる。
(第23の項目)
第22の項目に係る光検出システムにおいて、前記複数の画像の数をNとし、前記複数の光検出素子の数をMとしたとき、前記複数の画像の各々に含まれる画素の数が、M/Nよりも大きくてもよい。
この光検出システムでは、複数の画像の各々の解像度の低下を抑制することができる。
(第24の項目)
第23の項目に係る光検出システムにおいて、前記画素の数が、前記複数の光検出素子の数と等しくてもよい。
この光検出システムでは、高い解像度の多波長画像を取得することができる。
(第25の項目)
第25の項目に係るフィルタアレイは、2次元に配列された複数のフィルタを備える。前記複数のフィルタは、第1フィルタおよび第2フィルタを含む。前記第1フィルタおよび前記第2フィルタの各々が、第1反射層、第2反射層、および前記第1反射層と前記第2反射層との間の中間層を含み、かつ互いに次数の異なる複数の共振モードを有する共振構造を有する。前記第1フィルタの前記中間層の屈折率および厚さからなる群から選択される少なくとも1つは、前記第2フィルタの前記中間層の屈折率および厚さからなる群から選択される前記少なくとも1つと異なる。前記第1フィルタおよび前記第2フィルタの各々の透過スペクトルが、ある波長域に含まれる複数の波長の各々において透過率の極大値を有し、前記複数の波長は前記複数の共振モードにそれぞれ対応する。
このフィルタアレイでは、高い解像度の多波長画像を取得することができる。
本開示において、回路、ユニット、装置、部材または部の全部または一部、またはブロック図における機能ブロックの全部または一部は、例えば、半導体装置、半導体集積回路(IC)、またはLSI(large scale integration)を含む1つまたは複数の電子回路によって実行され得る。LSIまたはICは、1つのチップに集積されてもよいし、複数のチップを組み合わせて構成されてもよい。例えば、記憶素子以外の機能ブロックは、1つのチップに集積されてもよい。ここでは、LSIまたはICと呼んでいるが、集積の度合いによって呼び方が変わり、システムLSI、VLSI(very large scale integration)、もしくはULSI(ultra large scale integration)と呼ばれるものであってもよい。LSIの製造後にプログラムされる、Field Programmable Gate Array(FPGA)、またはLSI内部の接合関係の再構成またはLSI内部の回路区画のセットアップができるreconfigurable logic deviceも同じ目的で使うことができる。
さらに、回路、ユニット、装置、部材または部の全部または一部の機能または操作は、ソフトウェア処理によって実行することが可能である。この場合、ソフトウェアは1つまたは複数のROM、光学ディスク、ハードディスクドライブなどの非一時的記録媒体に記録され、ソフトウェアが処理装置(processor)によって実行されたときに、そのソフトウェアで特定された機能が処理装置(processor)および周辺装置によって実行される。システムまたは装置は、ソフトウェアが記録されている1つまたは複数の非一時的記録媒体、処理装置(processor)、および必要とされるハードウェアデバイス、例えばインターフェースを備えていてもよい。
以下、図面を参照しながら、本開示のより具体的な実施形態を説明する。ただし、必要以上に詳細な説明は省略する場合がある。例えば、既によく知られた事項の詳細説明および実質的に同一の構成に対する重複する説明を省略することがある。これは、以下の説明が不必要に冗長になることを避け、当業者の理解を容易にするためである。なお、発明者らは、当業者が本開示を十分に理解するために添付図面および以下の説明を提供するのであって、これらによって特許請求の範囲に記載の主題を限定することを意図するものではない。以下の説明において、同一または類似する構成要素については、同じ参照符号を付
している。
(実施形態)
<光検出システム>
最初に、本実施形態における光検出システムを説明する。
図1は、例示的な実施形態における光検出システム400を模式的に示す図である。光検出システム400は、光学系40と、フィルタアレイ100Cと、イメージセンサ60と、信号処理回路200とを備える。フィルタアレイ100Cは、特許文献1に開示されている「符号化素子」と同様の機能を有する。このため、フィルタアレイ100Cを、「符号化素子」と称することもできる。光学系40、およびフィルタアレイ100Cは、対象物70から入射する光の光路に配置されている。
フィルタアレイ100Cは、行および列状に配列された透光性の複数の領域を備える。フィルタアレイ100Cは、光の透過スペクトル、すなわち光透過率の波長依存性が領域によって異なる光学素子である。フィルタアレイ100Cは、入射した光の強度を変調させて通過させる。フィルタアレイ100Cは、イメージセンサ60の近傍または直上に配置され得る。ここで「近傍」とは、光学系40からの光の像がある程度鮮明な状態でフィルタアレイ100Cの面上に形成される程度に近接していることを意味する。「直上」とは、ほとんど隙間が生じない程両者が近接していることを意味する。フィルタアレイ100Cおよびイメージセンサ60は一体化されていてもよい。フィルタアレイ100Cおよびイメージセンサ60を備える装置を、「光検出装置300」と称する。
光学系40は、少なくとも1つのレンズを含む。図1では、1つのレンズとして示されているが、光学系40は複数のレンズの組み合わせによって構成されていてもよい。光学系40は、フィルタアレイ100Cを介して、イメージセンサ60の撮像面上に像を形成する。
信号処理回路200は、イメージセンサ60によって取得された画像120に基づいて、多波長の情報を含む複数の分離画像220を再構成する。複数の分離画像220、および信号処理回路200の画像信号の処理方法の詳細については、後述する。なお、信号処理回路200は、光検出装置300に組み込まれていてもよいし、光検出装置300に有線または無線によって電気的に接続された信号処理装置の構成要素であってもよい。
<フィルタアレイ>
以下に、本実施形態におけるフィルタアレイ100Cを説明する。フィルタアレイ100Cは、撮像対象の波長域に含まれる複数の波長域ごとの画像を生成する分光システムにおいて用いられる。本明細書において、撮像対象の波長域を、「対象波長域」と称することがある。フィルタアレイ100Cは、対象物から入射する光の光路に配置され、入射光の強度を波長ごとに変調して出力する。フィルタアレイすなわち符号化素子によるこの過程を、本明細書では「符号化」と称する。
図2Aは、フィルタアレイ100Cの例を模式的に示す図である。フィルタアレイ100Cは、2次元に配列された複数の領域を有する。本明細書では、当該領域を、「セル」と称することがある。各領域には、個別に設定された透過スペクトルを有するフィルタが配置されている。透過スペクトルは、入射光の波長をλとして、関数T(λ)で表される。透過スペクトルT(λ)は、0以上1以下の値を取り得る。フィルタの構成の詳細については、後述する。
図2Aに示す例では、フィルタアレイ100Cは、6行8列に配列された48個の矩形
領域を有している。これはあくまで例示であり、実際の用途では、これよりも多くの領域が設けられ得る。その数は、例えばイメージセンサなどの一般的な光検出器の画素数と同程度であり得る。当該画素数は、例えば数十万から数千万である。ある例では、フィルタアレイ100Cは、光検出器の直上に配置され、各領域が光検出器の1つの画素に対応するように配置され得る。各領域は、例えば、光検出器の1つの画素に対向する。
図2Bは、対象波長域に含まれる複数の波長域W1、W2、・・・、Wiのそれぞれの光の透過率の空間分布の一例を示す図である。図2Bに示す例では、各領域の濃淡の違いは、透過率の違いを表している。淡い領域ほど透過率が高く、濃い領域ほど透過率が低い。図2Bに示すように、波長域によって光透過率の空間分布が異なっている。
図2Cおよび図2Dは、それぞれ、図2Aに示すフィルタアレイ100Cの複数の領域に含まれる領域A1および領域A2の透過スペクトルの例を示す図である。領域A1の透過スペクトルと領域A2の透過スペクトルとは、互いに異なっている。このように、フィルタアレイ100Cの透過スペクトルは、領域によって異なる。ただし、必ずしもすべての領域の透過スペクトルが異なっている必要はない。フィルタアレイ100Cでは、複数の領域の少なくとも一部の領域の透過スペクトルが互いに異なっている。当該少なくとも一部の領域は、2以上の領域である。すなわち、フィルタアレイ100Cは、透過スペクトルが互いに異なる2つ以上のフィルタを含む。ある例では、フィルタアレイ100Cに含まれる複数の領域の透過スペクトルのパターンの数は、対象波長域に含まれる波長域の数iと同じか、それ以上であり得る。フィルタアレイ100Cは、半数以上の領域の透過スペクトルが異なるように設計されていてもよい。
図3Aおよび図3Bは、対象波長域Wと、それに含まれる複数の波長域W1、W2、・・・、Wiとの関係を説明するための図である。対象波長域Wは、用途によって様々な範囲に設定され得る。対象波長域Wは、例えば、約400nmから約700nmの可視光の波長域、約700nmから約2500nmの近赤外線の波長域、約10nmから約400nmの近紫外線の波長域、その他、中赤外、遠赤外、テラヘルツ波、またはミリ波などの電波域であり得る。このように、使用される波長域は可視光域とは限らない。本明細書では、可視光に限らず、近紫外線、近赤外線、および電波などの非可視光も便宜上「光」と称する。
図3Aに示す例では、iを4以上の任意の整数として、対象波長域Wをi等分したそれぞれを波長域W1、波長域W2、・・・、波長域Wiとしている。ただしこのような例に限定されない。対象波長域Wに含まれる複数の波長域は任意に設定してもよい。例えば、波長域によって帯域幅を不均一にしてもよい。隣接する波長域の間にギャップがあってもよい。図3Bに示す例では、波長域によって帯域幅が異なり、かつ、隣接する2つの波長域の間にギャップがある。このように、複数の波長域は、互いに異なっていればよく、その決め方は任意である。波長の分割数iは3以下でもよい。
図4Aは、フィルタアレイ100Cのある領域における透過スペクトルの特性を説明するための図である。図4Aに示す例では、透過スペクトルは、対象波長域W内の波長に関して、複数の極大値P1から極大値P5、および複数の極小値を有する。図4Aに示す例では、対象波長域W内での光透過率の最大値が1、最小値が0となるように正規化されている。図4Aに示す例では、波長域W2、および波長域Wi-1などの波長域において、透過スペクトルが極大値を有している。このように、本実施形態では、各領域の透過スペクトルは、複数の波長域W1から波長域Wiのうち、少なくとも2つの複数の波長域において極大値を有する。図4Aからわかるように、極大値P1、極大値P3、極大値P4、および極大値P5は0.5以上である。
以上のように、各領域の光透過率は、波長によって異なる。したがって、フィルタアレイ100Cは、入射する光のうち、ある波長域の成分を多く透過させ、他の波長域の成分をそれほど透過させない。例えば、i個の波長域のうちのk個の波長域の光については、透過率が0.5よりも大きく、残りのi-k個の波長域の光については、透過率が0.5未満であり得る。kは、2≦k<iを満たす整数である。仮に入射光が、すべての可視光の波長成分を均等に含む白色光であった場合には、フィルタアレイ100Cは、入射光を領域ごとに、波長に関して離散的な複数の強度のピークを有する光に変調し、これらの多波長の光を重畳して出力する。
図4Bは、一例として、図4Aに示す透過スペクトルを、波長域W1、波長域W2、・・・、波長域Wiごとに平均化した結果を示す図である。平均化された透過率は、透過スペクトルT(λ)を波長域ごとに積分してその波長域の帯域幅で除算することによって得られる。本明細書では、このように波長域ごとに平均化した透過率の値を、その波長域における透過率と称する。この例では、極大値P1、極大値P3、および極大値P5をとる3つの波長域において、透過率が突出して高くなっている。特に、極大値P3、および極大値P5をとる2つの波長域において、透過率が0.8を超えている。
各領域の透過スペクトルの波長方向の分解能は、所望の波長域の帯域幅程度に設定され得る。言い換えれば、透過スペクトル曲線における1つの極大値を含む波長範囲のうち、当該極大値に最も近接する極小値と当該極大値との平均値以上の値をとる範囲の幅は、所望の波長域の帯域幅程度に設定され得る。この場合、透過スペクトルを、例えばフーリエ変換によって周波数成分に分解すれば、その波長域に相当する周波数成分の値が相対的に大きくなる。
フィルタアレイ100Cは、典型的には、図2Aに示すように、格子状に区分けされた複数のセルに分割される。これらのセルが、互いに異なる透過スペクトルを有する。フィルタアレイ100Cでの各領域の光透過率の波長分布および空間分布は、例えばランダム分布または準ランダム分布であり得る。
ランダム分布および準ランダム分布の考え方は次の通りである。まず、フィルタアレイ100Cにおける各領域は、光透過率に応じて、例えば0から1の値を有するベクトル要素と考えることができる。ここで、透過率が0の場合、ベクトル要素の値は0であり、透過率が1の場合、ベクトル要素の値は1である。言い換えると、行方向または列方向に一列に並んだ領域の集合を0から1の値を有する多次元のベクトルと考えることができる。したがって、フィルタアレイ100Cは、多次元ベクトルを列方向または行方向に複数備えていると言える。このとき、ランダム分布とは、任意の2つの多次元ベクトルが独立である、すなわち平行でないことを意味する。また、準ランダム分布とは、一部の多次元ベクトル間で独立でない構成が含まれることを意味する。したがって、ランダム分布および準ランダム分布においては、複数の領域に含まれる1つの行または列に並んだ領域の集合に属する各領域での第1の波長域の光の透過率の値を要素とするベクトルと、他の行または列に並んだ領域の集合に属する各領域における第1の波長域の光の透過率の値を要素とするベクトルとは、互いに独立である。第1の波長域とは異なる第2の波長域についても同様に、複数の領域に含まれる1つの行または列に並んだ領域の集合に属する各領域における第2の波長域の光の透過率の値を要素とするベクトルと、他の行または列に並んだ領域の集合に属する各領域における第2の波長域の光の透過率の値を要素とするベクトルとは、互いに独立である。
フィルタアレイ100Cをイメージセンサ60の近傍あるいは直上に配置する場合、フィルタアレイ100Cでの複数の領域の相互の間隔であるセルピッチは、イメージセンサ60の画素ピッチと略一致させてもよい。このようにすれば、フィルタアレイ100Cか
ら出射した符号化された光の像の解像度が画素の解像度と略一致する。各セルを透過した光が対応する1つの画素にのみ入射するようにすることにより、後述する演算を容易にすることができる。フィルタアレイ100Cをイメージセンサ60から離して配置する場合には、その距離に応じてセルピッチを細かくしてもよい。
図2Aから図2Dに示す例では、各領域の透過率が0以上1以下の任意の値をとり得るグレースケールの透過率分布を想定した。しかし、必ずしもグレースケールの透過率分布にする必要はない。例えば、各領域の透過率が略0または略1のいずれかの値を取り得るバイナリ-スケールの透過率分布を採用してもよい。バイナリ-スケールの透過率分布では、各領域は、対象波長域に含まれる複数の波長域のうちの少なくとも2つの波長域の光の大部分を透過させ、残りの波長域の光の大部分を透過させない。ここで「大部分」とは、概ね80%以上を指す。
全セルのうちの一部、例えば半分のセルを、透明領域に置き換えてもよい。そのような透明領域は、対象波長域に含まれるすべての波長域W1から波長域Wiの光を同程度の高い透過率で透過させる。当該高い透過率は、例えば0.8以上である。そのような構成では、複数の透明領域は、例えば市松状に配置され得る。すなわち、フィルタアレイ100Cにおける複数の領域の2つの配列方向において、光透過率が波長によって異なる領域と、透明領域とが交互に配列され得る。図2Aに示す例では、2つの配列方向は、横方向および縦方向である。
<信号処理回路>
次に、図1に示す信号処理回路200により、画像120、およびフィルタアレイ100Cの波長ごとの透過率の空間分布特性に基づいて多波長の分離画像220を再構成する方法を説明する。ここで多波長とは、例えば通常のカラーカメラで取得されるRGBの3色の波長域よりも多くの波長域を意味する。この波長域の数は、例えば4から100程度の数であり得る。この波長域の数を、「分光帯域数」と称することがある。用途によっては、分光帯域数は100を超えていてもよい。
求めたいデータは分離画像220であり、そのデータは、fとして表される。分光帯域数がwとして表されると、fは、各帯域の画像データf、f、・・・、fを統合したデータである。求めるべき画像データのx方向の画素数がnとして表され、y方向の画素数がmとして表されると、画像データf、f、・・・、fの各々は、n×m画素の2次元データの集まりである。したがって、データfは要素数n×m×wの3次元データである。一方、フィルタアレイ100Cによって符号化および多重化されて取得される画像120のデータgの要素数はn×mである。本実施の形態におけるデータgは、以下の式(1)によって表すことができる。
Figure 2023082047000010
ここで、f、f、・・・、fは、n×m個の要素を有するデータである。したがって、右辺のベクトルは、厳密にはn×m×w行1列の1次元ベクトルである。ベクトルgは、n×m行1列の1次元ベクトルに変換して表され、計算される。行列Hは、ベクトルfの各成分f、f、・・・、fを波長域ごとに異なる符号化情報で符号化・強度
変調し、それらを加算する変換を表す。したがって、Hは、n×m行n×m×w列の行列である。
さて、ベクトルgと行列Hが与えられれば、式(1)の逆問題を解くことにより、fを算出することができそうである。しかし、求めるデータfの要素数n×m×wが取得データgの要素数n×mよりも多いため、この問題は不良設定問題となり、このままでは解くことができない。そこで、本実施の形態の信号処理回路200は、データfに含まれる画像の冗長性を利用し、圧縮センシングの手法を用いて解を求める。具体的には、以下の式(2)を解くことにより、求めるデータfが推定される。
Figure 2023082047000011
ここで、f’は、推定されたfのデータを表す。上式の括弧内の第1項は、推定結果Hfと取得データgとのずれ量、いわゆる残差項を表す。ここでは2乗和を残差項としているが、絶対値あるいは二乗和平方根等を残差項としてもよい。括弧内の第2項は、後述する正則化項または安定化項である。式(2)は、第1項と第2項との和を最小化するfを求めることを意味する。信号処理回路200は、再帰的な反復演算によって解を収束させ、最終的な解f’を算出することができる。
式(2)の括弧内の第1項は、取得データgと、推定過程のfを行列Hによってシステム変換したHfとの差分の二乗和を求める演算を意味する。第2項のΦ(f)は、fの正則化における制約条件であり、推定データのスパース情報を反映した関数である。働きとしては、推定データを滑らかまたは安定にする効果がある。正則化項は、例えば、fの離散的コサイン変換(DCT)、ウェーブレット変換、フーリエ変換、またはトータルバリエーション(TV)などによって表され得る。例えば、トータルバリエーションを使用した場合、観測データgのノイズの影響を抑えた安定した推測データを取得できる。それぞれの正則化項の空間における対象物70のスパース性は、対象物70のテキスチャによって異なる。対象物70のテキスチャが正則化項の空間においてよりスパースになる正則化項を選んでもよい。あるいは、複数の正則化項を演算に含んでもよい。τは、重み係数である。重み係数τが大きいほど冗長的なデータの削減量が多くなり、圧縮する割合が高まる。重み係数τが小さいほど解への収束性が弱くなる。重み係数τは、fがある程度収束し、かつ、過圧縮にならない適度な値に設定される。
なお、ここでは式(2)に示す圧縮センシングを用いた演算例を示したが、その他の方法を用いて解いてもよい。例えば、最尤推定法またはベイズ推定法などの他の統計的方法を用いることができる。また、分離画像220の数は任意であり、各波長域も任意に設定してよい。再構成の方法の詳細は、特許文献1に開示されている。特許文献1の開示内容全体を本明細書に援用する。
<ファブリ・ペローフィルタを備えるフィルタアレイ>
次に、フィルタアレイ100Cのより具体的な構造の例を説明する。
図5は、例示的な実施形態における光検出装置300を模式的に示す断面図である。光検出装置300は、フィルタアレイ100Cと、イメージセンサ60とを備える。
フィルタアレイ100Cは、2次元に配列された複数のフィルタ100を備える。複数のフィルタ100は、例えば図2Aに示すように、行および列状に配列されている。図5
は、図2Aに示す1つの行の断面構造を模式的に示している。複数のフィルタ100の各々は、共振構造を備える。共振構造とは、ある波長の光が、内部で定在波を形成して安定に存在する構造を意味する。当該光の状態を、「共振モード」と称することがある。図5に示す共振構造は、第1反射層28a、第2反射層28b、および第1反射層28aと第2反射層28bとの間の中間層26を含む。第1反射層28aおよび/または第2反射層28bは、誘電体多層膜または金属薄膜から形成され得る。中間層26は、特定の波長域において透明な誘電体または半導体から形成され得る。中間層26は、例えば、Si、Si、TiO、Nb、Taからなる群から選択される少なくとも1つから形成され得る。複数のフィルタ100の中間層26の屈折率および/または厚さは、フィルタによって異なる。複数のフィルタ100の各々の透過スペクトルは、複数の波長で透過率の極大値を有する。当該複数の波長は、上記の共振構造における次数の異なる複数の共振モードにそれぞれ対応する。本実施形態では、フィルタアレイ100Cにおける全てのフィルタ100が上記の共振構造を備える。フィルタアレイ100Cは、上記の共振構造を有しないフィルタを含んでいてもよい。例えば、透明フィルタまたはNDフィルタ(Neutral Density Filter)などの、光透過率の波長依存性を有しないフィルタがフィルタアレイ100Cに含まれていてもよい。本開示において、複数のフィルタ100のうちの2つ以上のフィルタ100の各々が上記の共振構造を備える。
イメージセンサ60は、複数の光検出素子60aを備える。複数の光検出素子60aの各々は、複数のフィルタの1つに対向して配置されている。複数の光検出素子60aの各々は、特定の波長域の光に感度を有する。この特定の波長域は、前述の対象波長域Wに相当する。なお、本開示において「ある波長域の光に感度を有する」とは、当該波長域の光を検出するのに必要な実質的な感度を有することを指す。例えば、当該波長域における外部量子効率が1%以上であることを指す。光検出素子60aの外部量子効率は10%以上であってもよい。光検出素子60aの外部量子効率は20%以上であってもよい。各フィルタ100の光透過率が極大値をとる複数の波長は、いずれも対象波長域Wに含まれる。以下の説明において、光検出素子60aを「画素」と称することがある。
図5に示す例に限らず、フィルタアレイ100Cとイメージセンサ60とが分離していてもよい。その場合であっても、複数の光検出素子60aの各々は、複数のフィルタの1つを透過した光を受ける位置に配置される。複数のフィルタを透過した光が、ミラーを介して複数の光検出素子60aにそれぞれ入射するように、各構成要素が配置されていてもよい。その場合、複数の光検出素子60aの各々は、複数のフィルタの1つの直下には配置されない。
本明細書では、上記の共振構造を備えるフィルタ100を、「ファブリ・ペローフィルタ」と称することがある。本明細書では、極大値を有する透過スペクトルの部分を、「ピーク」と称し、透過スペクトルが極大値を有する波長を、「ピーク波長」と称することがある。
次に、ファブリ・ペローフィルタであるフィルタ100の透過スペクトルを説明する。
フィルタ100において、中間層26の厚さをL、屈折率をn、フィルタ100に入射する光の入射角度をθ、共振モードのモード次数をmとする。mは1以上の整数である。このとき、フィルタ100の透過スペクトルのピーク波長λは、以下の式(3)によって表される。
Figure 2023082047000012
対象波長域Wのうちの最短波長をλ、最長波長をλとする。本明細書では、λ≦λ≦λを満たすmが1つ存在するフィルタ100を、「単一モードフィルタ」と称する。λ≦λ≦λを満たすmが2つ以上存在するフィルタ100を、「多モードフィルタ」と称する。以下、対象波長域Wの最短波長がλ=400nmであり、最長波長がλ=700nmである場合の例を説明する。
例えば、厚さL=300nm、屈折率n=1.0、垂直入射θ=0°のフィルタ100では、m=1のときのピーク波長は、λ=600nmであり、m≧2のときのピーク波長は、λm≧2≦300nmである。したがって、このフィルタ100は、対象波長域Wに1つのピーク波長が含まれる単一モードフィルタである。
一方、厚さLを300nmよりも大きくすると、対象波長域Wに、複数のピーク波長が含まれる。例えば、厚さL=3000nm、n=1.0、垂直入射θ=0°のフィルタ100では、1≦m≦8のときのピーク波長は、λ1≦m≦8≦750nmであり、9≦m≦15のときのピーク波長は、400nm≦λ9≦m≦15≦700nmであり、m≧16のときのピーク波長は、λm≧16≦375nmである。したがって、このフィルタ100は、対象波長域Wに7つのピーク波長が含まれる多モードフィルタである。
前述のフィルタ100では、対象波長域Wに7つのピーク波長が含まれていたが、ピーク波長の数が対象波長域Wにおいて2つ以上であれば、複数の波長の分光情報を得ることができる。特に、対象波長域Wが400nm以上700nm以下のとき、当該対象波長域Wにおけるピーク波長の数が4つ以上であれば、可視光域においてRGBの3つの波長を上回る数の分光情報を得ることができる。
対象波長域Wに含まれるピーク波長の数は、中間層26の厚さによって制御することができる。垂直入射θ=0°の場合、フィルタ100の透過スペクトルのピーク波長λは、以下の式(4)によって表される。
Figure 2023082047000013
ここでは、より厳密に中間層26の厚さを計算するために屈折率の波長分散を考慮し、波長700nmの光に対する中間層26の屈折率をnとし、波長400nmの光に対する中間層26の屈折率をnとする。400nm以上700nm以下の対象波長域Wに2つの波長ピークが存在する条件は、長波長側の最低次のピーク波長λが以下の式(5)を満たし、かつ短波長側の最高次のピーク波長λm+1が以下の式(6)を満たすことである。ここでのmは1以上の整数である。
Figure 2023082047000014
Figure 2023082047000015
式(5)および式(6)を変形すると、それぞれ以下の式(7)および式(8)が得られる。
Figure 2023082047000016
Figure 2023082047000017
式(7)および式(8)の両方を満たすmが存在することが、400nm以上700nm以下の対象波長域Wにおいて2つの波長ピークが含まれるための条件である。
同様に、対象波長域Wに4つの波長ピークが存在する条件は、長波長側の最低次のピーク波長λが以下の式(9)を満たし、かつ低波長側の最高次のピーク波長λm+3が以下の式(10)を満たすことである。ここでのmは1以上の整数である。
Figure 2023082047000018
Figure 2023082047000019
式(9)および式(10)を変形すると、それぞれ以下の式(11)および式(12)が得られる。
Figure 2023082047000020
Figure 2023082047000021
式(11)および式(12)の両方を満たすmが存在することが、400nm以上700nm以下の対象波長域Wにおいて4つの波長ピークが含まれるための条件である。
同様に、対象波長域Wに6つの波長ピークが存在する条件は、長波長側の最低次のピーク波長λが以下の式(13)を満たし、かつ低波長側の最高次のピーク波長λm+5が以下の式(14)を満たすことである。ここでのmは1以上の整数である。
Figure 2023082047000022
Figure 2023082047000023
式(13)および式(14)を変形すると、それぞれ以下の式(15)および式(16)が得られる。
Figure 2023082047000024
Figure 2023082047000025
式(15)および式(16)の両方を満たすmが存在することが、400nm以上700nm以下の対象波長域Wにおいて6つの波長ピークが含まれるための条件である。
以上のように、フィルタ100の中間層26の厚さを適切に設計することにより、多モードフィルタを実現することができる。中間層26の厚さの代わりに、フィルタ100の中間層26の屈折率を適切に設計してもよい。あるいは、フィルタ100の中間層26の厚さおよび屈折率の両方を適切に設計してもよい。
図6は、互いに透過スペクトルが異なる複数の多モードフィルタが、複数の光検出素子60aである複数の画素上にそれぞれ配置された場合における、各画素での透過スペクトルの例を模式的に示す図である。図6には、画素A、画素B、および画素Cでの透過スペクトルが例示されている。複数の多モードフィルタは、画素ごとにピーク波長がわずかに異なるように設計されている。このような設計は、式(3)における厚さLおよび/または屈折率nをわずかに変化させることによって実現することができる。この場合、各画素では、対象波長域Wにおいて複数のピークが現れる。当該複数のピークのそれぞれのモード次数は、各画素において同じである。図6に示されている複数のピークのモード次数は、m、m+1、およびm+2である。本実施形態における光検出装置300は、画素ごとに異なる、複数のピーク波長の光を同時に検出することができる。
図7は、フィルタ100の透過スペクトルの計算結果の一例を示す図である。この例では、フィルタ100における第1反射層28aおよび第2反射層28bの各々は、TiO層およびSiO層が交互に積層された誘電体多層膜から形成されている。フィルタ1
00における中間層26は、TiO層から形成されている。図7に示す例において、実線によって表される透過スペクトルに対応する中間層26の厚さは、点線によって表される透過スペクトルに対応する中間層26の厚さとは異なる。透過スペクトルの計算には、RSoft社の厳密結合波理論(RCWA:Rigorous Coupled-Wave Analysis)に基づくDiffractMODが用いられた。図7に示すように、対象波長域Wにおける複数のピーク波長は、画素によって異なる。このように、本実施形態における光検出装置300では、多モードのフィルタ100の中間層26の厚さを画素ごとに変化させることにより、画素ごとに異なる、複数のピーク波長の光を同時に検出することができる。
また、図7に示す透過スペクトルの例において、第1フィルタおよび第2フィルタの透過スペクトルの各々は、複数の透過率の極大値の各々から波長が短くなる方向および波長が長くなる方向にそれぞれ延びる裾部を有し、第1フィルタにおける裾部の波長域と、第2フィルタにおける裾部の波長域とは、少なくとも一部が重なっている。
次に、複数の多モードフィルタによって再構成された複数の分離画像220を、複数の単一モードフィルタによって再構成された複数の分離画像220と比較して説明する。
図8Aは、9種類の多モードフィルタの各々の透過スペクトルを示す図である。図8Bは9種類の単一モードフィルタの各々の透過スペクトルを示す図である。図8Aに示す例では、各多モードフィルタの透過スペクトルは、対象波長域Wにおいて、8つまたは9つのピークを示す。図8Bに示す例では、各単一モードフィルタの透過スペクトルは、対象波長域Wにおいて、1つのピークを示す。フィルタアレイ100Cは、例えば、2次元に配列された100万個のフィルタ100を備える。当該100万個のフィルタ100は、図8Aに示す9種類の多モードフィルタをランダムに含む。あるいは、当該100万個のフィルタ100は、図8Bに示す9種類の単一モードフィルタをランダムに含む。ランダムな配置であることから、隣り合うフィルタが同種類のフィルタである場合もある。しかし、このような場合はまれであると考えられる。したがって、大きな問題にはならない。
図8Cは、元画像と、再構成された複数の分離画像220の2つの例とを示す図である。図8Cの上段は、元画像を示している。図8Cの中段は、図8Aに示す9種類の多モードフィルタによって再構成された複数の分離画像220の例を示している。図8Cの下段は、図8Bに示す9種類の単一モードフィルタによって再構成された複数の分離画像220の例を示している。上段、中段、および下段の各々における30枚の画像は、30個の波長域の光をそれぞれ検出することによって取得された。当該30個の波長域は、400nmから700nmまでの対象波長域Wを10nmごとに30等分して得られた。例えば、上段、中段、および下段の各々における一番上の左から1番目、2番目、3番目の画像は、それぞれ、400nmから410nmまでの波長域、410nmから420nmまでの波長域、420nmから430nmまでの波長域の光を検出することによって取得された。なお、図8Cに示す例において、下段の画像は中段の画像よりも暗い。これは、単一モードフィルタを透過した光の光量が、多モードフィルタを透過した光の光量よりも少ないからであると考えられる。
図8Dは、元画像と、再構成された各分離画像220との平均2乗誤差(Mean Squared Error:MSE)の計算結果を示す図である。平均2乗誤差は、以下の式(17)を用いて計算される。
Figure 2023082047000026
ここで、NおよびMは、それぞれ縦方向および横方向の画素数である。Ii、jは、位置(i、j)の画素における元画像の画素値である。I’i、jは、位置(i、j)の画素における再構成された各分離画像220の画素値である。
図8Dに示すように、元画像と、多モードフィルタによって再構成された各分離画像220とのMSEは、元画像と、単一モードフィルタによって再構成された各分離画像220とのMSEよりも十分に小さい。したがって、本実施形態における光検出装置300において、多モードフィルタによって再構成された複数の分離画像220は、元画像を精度よく再現することができる。単一モードフィルタによって再構成された複数の分離画像220は、元画像を精度よく再現することはできない。
以上のように、本実施形態における光検出システム400において、図1に示す信号処理回路200は、複数の画素から出力される信号に基づいて、複数の波長の情報を含む画像データを生成する。当該画像データは、当該複数の波長ごとに分光された複数の分離画像220を表すデータを含む。
複数の分離画像220の数をNとし、複数の画素の数をMとしたとき、複数の分離画像220の各々の画素数は、M/Nよりも大きい。図8Cの中段に示す例では、当該画素数は、Mに等しい。このように、本実施形態における光検出システム400では、複数の波長ごとに分光しても、複数の分離画像220の各々の解像度の低下を抑制することができる。
前述のように、本実施形態のフィルタアレイ100Cに含まれる複数の多モードフィルタのうち、第1フィルタおよび第2フィルタの透過スペクトルの各々は、複数の透過率の極大値の各々から波長が短くなる方向および波長が長くなる方向にそれぞれ延びる裾部を有し、第1フィルタにおける裾部の波長域と、第2フィルタにおける裾部の波長域とは、重なり合っていてもよい。図8Eは、分かり易さのために、図8Aの左上2つのフィルタの透過スペクトルを重ねて示した図であり、図8Fは、図8Eのうち、550nmから650nmの波長域を抽出した図である。各ピークは極大値と、極大値の両側に延びる裾部とからなり、1つのフィルタの裾部と、他のフィルタの裾部とで互いに波長域が重なっている。図8F中に矢印で示した2つの裾部の交点に当たる波長においては、2つのフィルタの透過率は同じである。
このような構成により、フィルタアレイ100Cの直下に配置されたイメージセンサの複数の画素のうちの少なくとも一部は、受光する波長域に互いに重なりが生じ、それらの画素では対象物からの波長情報を共有することになる。一方、フィルタアレイ100Cに含まれる複数の多モードフィルタのピークに重なりがなく、全ての画素で互いに異なる波長の光を受光する場合は、全ての画素で互いに異なる波長情報を取得することになる。すなわち前者の場合、各画素の波長情報に加え、波長情報を共有する画素間の相関情報も分離画像の再構成に利用できるので、元画像を精度よく再現できるという利点がある。
例えば、一列に並んだ3つの画素を仮定し、両端の2つの画素において対象物からの波長情報を共有しているとする。一般的に、3つの画素は物理的に距離が近いため、2つの
画素に挟まれた真ん中の画素が受光した光の波長は、両端2つの画素で受光した光の波長と同じであると期待できる。すなわち、波長情報を共有する画素間の相関情報から、他の画素の波長情報を推測でき、元画像を精度よく再現できる。
次に、フィルタ100における中間層26の屈折率が光検出装置300の波長分解能に与える影響を説明する。
前述した通り、フィルタアレイ100Cにおける複数のフィルタ100の各々は、図5に示すように、互いに厚さが異なる中間層26を備える。図9は、フィルタアレイ100Cにおける中間層26の厚さが最も近い2つのフィルタ100の例を模式的に示す図である。図9に示す例では、中間層26の厚さLのフィルタ100、および中間層26の厚さL+ΔLのフィルタ100が隣接して配置されている。中間層26の厚さLおよび厚さL+ΔLのフィルタ100が配置された画素を、それぞれ「画素A」および「画素B」と称する。フィルタアレイ100Cにおいて、図9に示す2つのフィルタ100が離れて配置されていても、以下の議論は成り立つ。
図9に示す例では、光検出装置300は、光学系40を備える。対象物からの光の像が、光学系40を構成するレンズの中心を通る場合、当該光の像は、フィルタ100に垂直に入射する。一方、対象物からの光の像が、光学系40を構成するレンズの中心以外を通る場合、当該光の像は、フィルタ100に有限の入射角度で斜めに入射する。当該有限の入射角度は、光学系40の開口数NAによって決定される。すなわち、光学系40からフィルタアレイ100Cに入射する光の入射角度の最小値は0°であり、入射角度の最大値は、sin-1(NA)°である。したがって、フィルタ100の透過スペクトルにおいて、ピーク波長は、式(3)に従い、入射角度θの増加に伴って短波長側にシフトする。
図10は、フィルタ100に光が垂直または斜めに入射した場合において、画素Aおよび画素Bによって検出される光の波長を説明する図である。図10の上段は、垂直入射のときに画素Aおよび画素Bによって検出された光のピークを示す。図10の中段は、斜め入射のときに画素Aおよび画素Bによって検出された光のピークを示す。図10の下段は、斜め入射のときに画素Bによって検出された光のピークを示す。以下の説明では、画素Aによって検出される光のモード次数mのピーク波長を、「画素Aのピーク波長」と称し、画素Bによって検出される光のモード次数mのピーク波長を、「画素Bのピーク波長」と称する。垂直入射では、画素Aのピーク波長は、λ=2nL/mであり、画素Bのピーク波長は、λ=2n(L+ΔL)/mである。図9に示す2つのフィルタ100における中間層26の厚さの差ΔLは、フィルタアレイ100C内の任意の2つのフィルタ100の組み合わせにおいて最も小さい。したがって、画素Aと画素Bとでのピーク波長の間隔ΔλΔL=2nΔL/mは、イメージセンサ60内の任意の2つの画素の組み合わせにおいて最も小さい。画素Aと画素Bとのピーク波長の当該間隔は、光検出装置300の波長分解能に相当する。
一方、斜め入射では、ピーク波長は短波長側にシフトする。斜め入射におけるピーク波長のシフト量Δλθiは、以下の式(18)によって表される。
Figure 2023082047000027
このため、Δλθi≧ΔλΔLの場合、斜め入射における画素Bのピーク波長が、垂直入射における画素Aのピーク波長に一致する可能性がある。図9に示す例では、画素Bによって、垂直入射および斜め入射の両方の光が同時に検出される。したがって、Δλθi≧ΔλΔLの場合、本来、画素Aによって検出されるべき光が、画素Bによって誤検出される。
以上の議論から、誤検出が発生しない条件は、Δλθi<ΔλΔLである。Δλθi<ΔλΔLを変形すると、以下の式(19)が得られる。
Figure 2023082047000028
さらに、誤検出が発生しない条件を、Δλθi<ΔλΔL/2としてもよい。以下の説明において、画素Aによってモード次数mのピーク波長の光が検出される波長域を、「波長域A」と称し、画素Bによってモード次数mのピーク波長の光が検出される波長域を、「波長域B」と称する。波長域Aの上限および波長域Bの下限をともに、(λ+λ)/2=λ+ΔλΔL/2=λ-ΔλΔL/2に設定すると、Δλθi<ΔλΔL/2により、斜め入射でも、画像Bのピーク波長は、波長域Aに入ることはない。これにより、信号処理回路200は、入射角度θに関わらず、波長域A内のピーク波長を、画素Aのピーク波長として処理し、波長域B内のピーク波長を、画素Bのピーク波長として処理することができる。その結果、誤検出の発生を、式(19)のときよりも抑制することができる。Δλθi<ΔλΔL/2を変形すると、以下の式(20)が得られる。
Figure 2023082047000029
式(19)および式(20)から、中間層26の屈折率nを大きくすることにより、入射角度θの影響を低減することができる。その結果、光検出装置300の波長分解能を向上させることができる。
図11Aおよび図11Bは、それぞれ屈折率n=1.5および屈折率n=2.35の中間層26を備えるフィルタ100の透過スペクトルの入射角度依存性を示す図である。図11Aに示す例では、入射角度θが0°から30°に変化すると、ピーク波長は26.1nmだけシフトする。図11Bに示す例では、入射角度が0°から30°に変化すると、ピーク波長は17.1nmだけシフトする。すなわち、中間層26の屈折率を大きくすることにより、入射角度θの変化に起因するピーク波長のシフト量を低減させることができる。したがって、式(19)および式(20)に従い、中間層26の屈折率を適切に設計することにより、光検出装置300の波長分解能を向上させることができる。
次に、本実施形態における光検出装置300と、特許文献3に開示された装置との差異を説明する。
特許文献3は、複数の単一モードフィルタが2次元に配列された装置を開示している。
当該複数の単一モードフィルタのピーク波長は、フィルタによって異なる。複数の単一モードフィルタが2次元に配列されたフィルタアレイの透過スペクトルにおける複数のピークの数がNとして表される場合、当該フィルタアレイを用いて複数の分離画像を再構成しても、各分離画像の空間解像度は1/Nに低下する。したがって、各分離画像は、図8Cの中段に示す例と異なり、元画像を精度よく再現することはできない。このように、特許文献3に開示された装置では、本実施形態における光検出装置300と同様の効果を得ることはできない。
また、特許文献5に開示される装置では、センサアレイにおける複数のセンサの各々が多モードフィルタの複数のピーク波長に対応する複数の波長の光を受光しておらず、また、当該複数の波長の情報を用いて複数の分離画像220を再構成していない。したがって、特許文献5に開示された装置では、本実施形態における光検出装置300と同様の効果を得ることはできない。
次に、図5に示す光検出装置300の変形例を説明する。
図12Aから図12Fは、図5に示す光検出装置300の変形例を模式的に示す図である。
図12Aに示すように、フィルタアレイ100Cにおいて、複数のフィルタ100が分割されていてもよい。すべてのフィルタ100が分割される必要はない。一部のフィルタ100が分割されていてもよい。
図12Bに示すように、一部の画素上にフィルタ100を配置しなくてもよい。言い換えれば、フィルタアレイ100Cにおいて、複数のフィルタ100の少なくとも1つは、透明であってもよい。
図12Cに示すように、フィルタアレイ100Cとイメージセンサ60との間にスペースを設けてもよい。言い換えれば、フィルタアレイ100Cとイメージセンサ60とは空間を介して分離していてもよい。
図12Dに示すように、1つのフィルタ100を複数の画素上に跨いで配置してもよい。言い換えれば、中間層26は、2つ以上のフィルタ100に跨り連続的に設けられていてもよい。第1反射層28aおよび/または第2反射層28bは、2つ以上のフィルタ100に跨り連続的に設けられていてもよい。
図12Eおよび図12Fに示すように、透明層27を配置して、フィルタアレイ100Cの段差を平坦化してもよい。言い換えれば、フィルタアレイ100Cは、上記の共振構造を備える2つ以上のフィルタ100の段差を平坦化する透明層27をさらに備えてもよい。図12Eに示す例では、フィルタアレイ100Cの第2反射層28bの上面に、段差が存在する。図12Fに示す例では、フィルタアレイ100Cの第1反射層28aの下面に、段差が存在する。透明層27によって2つ以上のフィルタ100の段差を平坦化することにより、透明層27上に他の部材を配置しやすくなる。
図12Eおよび図12Fに示すように、フィルタアレイ100C上に複数のマイクロレンズ40aを配置してもよい。複数のマイクロレンズ40aの各々は、複数のフィルタ100の1つのフィルタ100上に配置されている。言い換えれば、フィルタアレイ100Cは、2つ以上のマイクロレンズ40aをさらに備える。2つ以上のマイクロレンズ40aの各々は、上記の共振構造を備える2つ以上のフィルタ100の1つのフィルタ100上に配置されている。2つ以上のマイクロレンズ40aによって入射光を集光することに
より、効率よく光を検出することができる。
本開示における光検出装置、およびフィルタアレイは、例えば、多波長の2次元画像を取得するカメラおよび測定機器に有用である。本開示における光検出装置、およびフィルタアレイは、生体・医療・美容向けセンシング、食品の異物・残留農薬検査システム、リモートセンシングシステムおよび車載センシングシステム等にも応用できる。
26 中間層
27 透明層
28a 第1反射層
28b 第2反射層
40 光学系
60 イメージセンサ
60a 光検出素子
70 対象物
100 フィルタ
100C フィルタアレイ
120 画像
200 信号処理回路
220 分離画像
300 光検出装置
400 光検出システム

Claims (4)

  1. 複数のフィルタを含むフィルタアレイと、
    前記複数のフィルタを介した光に基づいて画像信号を取得するイメージセンサと、
    処理回路と、
    を備え、
    前記複数のフィルタのそれぞれは、第1反射層、第2反射層、および前記第1反射層と前記第2反射層との間の中間層を含み、
    前記処理回路は、前記複数のフィルタの透過スペクトルの空間分布に対応するデータ、および前記画像信号に基づいて、少なくとも2つ以上の波長それぞれに対応する複数の画像を生成する、
    カメラシステム。
  2. 前記複数のフィルタそれぞれの前記透過スペクトルは、複数の波長において透過率の極大値を有する、請求項1に記載のカメラシステム。
  3. 前記複数のフィルタのそれぞれは、ファブリ・ペローフィルタである、請求項1に記載のカメラシステム。
  4. 前記処理回路は、圧縮センシングのアルゴリズムを適用することにより、前記複数の画像を生成する、
    請求項1に記載のカメラシステム。
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